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Marcas registradas

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Última atualização da lista de marcas registradas: 20 março de 2025

Marca Comercial	Status
1DER	®
AERIS	®
AERIS PANALYTICAL	™
ASD	™
(ASD Inc) logo	®
AMASS	®
AMPLIFY ANALYTICS	®
AMPLIFY ANALYTICS (+ Logo)	®
Archimedes	®
AXIOS	®
CHI-BLUE	®
CLAISSE	®
Claisse (+ Logo)	®
CREOPTIX	®
CUBIX	®
CubiX³	®
dCore	™
EAGON	®
Eagon 2	™
EasySAXS	®
EMPYREAN	®
EPSILON	®
EPSILON Xflow	®
ExpertSAXS	®
FIELDSPEC	®
FIPA	™
FLUOR’X	®
FORJ	™
GaliPIX^3D	®
Gemini	™
goLab	™
HandHeld 2	™
HighScore	®
Hydrosight	™
iCore	™
Indico Pro	™
INSITEC	®
(Logotipo Insitec)	®
(Logotipo da Insitec Measurement Systems)	®
ISYS	®
LabSizer	™
LABSPEC	®
LeNeo	®
LeDoser	™
LeDoser-12	™
M3 PALS	™
M4	™
MADLS	®
MALVERN	®
(Logotipo de colinas triangulares + Instrumentos Malvern)	®
马尔文 (Malvern em caracteres chineses)	®
MALVERN INSTRUMENTS	®
马尔文仪器 (Malvern Instruments em caracteres chineses)	™
Malvern Link	™
(Logotipo Malvern Plus Hills)	®
MALVERN PANALYTICAL	®
马尔文帕纳科 (MALVERN PANALYTICAL em caracteres chineses)	®
マルバーン·パナリティカル (MALVERN PANALYTICAL em Katakana)	®
말번 파날리티칼 (MALVERN PANALYTICAL em alfabeto coreano)	®
MALVERN PANALYTICAL (+ X Logo)	®
MASTERSIZER	®
Mastersizer 2000	™
MC (estilizado)	™
MDRS	®
MICROCAL	®
MORPHOLOGI	®
(Logotipo de colinas triangulares)	®
NanoSight	®
NIBS	™
Oil-Trace	®
Omnian	®
OmniSEC	®
OmniTrust	®
PANALYTICAL	®
帕纳科 (PANALYTICAL em caracteres chineses)	®
パナリティカル (PANALYTICAL em Katakana)	®
PANalytical AERIS	®
PANalytical + logo	®
PANTOS	™
PEAQ-ITC	®
PIXcel	®
PIXcel^1D	®
PIXcel^3D	®
PIXIRAD	®
QUALITYSPEC	®
REVONTIUM	®
SMART RETURN	™
Spraytec	™
SST	®
SST-mAX	®
SUPER SHARP TUBE	®
Stratos	®
SuperQ	®
SyNIRgi	™
TERRASPEC	®
TheOx	®
Ultrasizer	™
VENUS MINILAB	™
ViewSpec	™
Viscogel	™
VISCOTEK	®
Viscotek SEC-MALS	™
WAVEchip	®
WAVEcore	®
waveRAPID	®
SOMOS GRANDES FÃS DAS PEQUENAS COISAS	®
(X Logo)	®
X’CELERATOR	®
X'Pert³	®
ZETASIZER	®
ZETIUM	®
ZS Helix	™

Patentes

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Embora sejam tomadas medidas para garantir que as informações sejam completas e precisas, o processo de patenteamento é dinâmico, e o conteúdo desta lista poderá ser atualizado periodicamente em decorrência de novos depósitos, publicações, concessões, abandonos, expirações, caducidades, alterações de produtos, licenciamentos ou outras circunstâncias.

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Última atualização da lista de patentes: 20 março de 2025

Mastersizer

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
GB2494735B	Aparelho para medir a distribuição do tamanho das partículas por espalhamento de luz	Mastersizer 3000, Mastersizer 3000E e a linha Mastersizer 3000+
CN104067105B (ZL201280042740.0) EP2756283B1 (GB, FR, DE602012015707.0) US9869625B2 JP6154812B2	Aparelho e método para medir a distribuição do tamanho das partículas por espalhamento de luz	Mastersizer 3000, Mastersizer 3000+ Ultra
US10837889B2 GB2494734B	Aparelho e método para medir a distribuição do tamanho das partículas por espalhamento de luz	Mastersizer 3000, Mastersizer 3000E e a linha Mastersizer 3000+
WO2024023498A2 EP4312015A1	CARACTERIZAÇÃO DE PARTÍCULAS	Mastersizer 3000+: Pro e Ultra
WO2024023497A1	Qualidade dos dados	Mastersizer 3000+: Pro e Ultra
WO2024180386A1	CARACTERIZAÇÃO DE PARTÍCULAS	Mastersizer 3000+: Ultra

Zetasizer

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
EP2467701B1 (CH+LI, GB, FR, DE602010067652.8) CN102575984B (ZL201080036806.6) US9279765B2 JP5669843B2 US10317339B2 US11237106B2	Microrreologia de fluidos complexos baseada em espalhamento dinâmico de luz com detecção de modo de espalhamento único aprimorado	Linha Zetasizer Advance, Nano ZSP, Helix
CN103608671B (ZL201280027695.1) CN105891304B (ZL201610324224.7) EP2721399B1 (BE, CH+LI, DK, FR, GB, NL, DE602012031338.2, IT502017000050268) JP6023184B2 US9829525B2 US10274528B2 US11079420B2	Medição de carga de superfície	Acessório de célula de placa zeta
US8702942B2 CN103339500B (ZL201180060863.2) EP2652490B1 (GB, FR, DE602011046775.1) JP6006231B2 JP6453285B2 US10648945B2 US11988631B2	Eletroforese Doppler a laser que utiliza uma barreira de difusão	Linha Zetasizer Advance, Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano ZSP
EP2742337B1 (GB, FR, DE602012018122.2) US9816922B2	Caracterização de modo duplo de partículas	Zetasizer Helix
US10197485B2 US10520412B2 US10845287B2 US11435275B2 EP3353527B1 (GB, FR, DE602016077138.1) JP6936229B2 CN108291861B (ZL201680068213.5) JP7361079B EP4215900A1	Caracterização de partículas	Linha Zetasizer Advance
US10119910B2	Instrumento de caracterização de partículas	Zetasizer Advance: Ultra e Pro
US8675197B2 JP6059872B2 EP2404157B1 (GB, FR, DE602010066495.3)	Caracterização de partículas	Acessório Zetasizer Advance
EP3521806B1 (AT, FR, GB, DE602018077164.6) US11441991B2 CN111684261B (ZL201980011816.5) JP7320518B2	Espalhamento de luz dinâmico multi-ângulo	Zetasizer Advance: Ultra
Designs: DM/100202 (EM: D100202-0001, D100202-0002; GB: 81002020001000, 81002020002000; JP: JP1614066S; US: D878227S) CN304816039S (ZL201730635419.9)	Dispositivos de caracterização de partícula	Linha Zetasizer Advance

Insitec

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
US7871194B2 EP1869429B1 (GB, FR, DE602006060213.8)	Sistema e método de diluição	Insitec (alguns produtos)
EP2640499B1 (GB)	Método de mistura em pó e dispersor em linha	Insitec dry

Morphologi

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
EP2106536B1 (GB, FR, DE602008039489.1) US8111395B2 US8564774B2	Investigação espectrométrica da heterogeneidade	Morphologi G3-ID, Morphologi 4-ID
GB2522735B JP6560849B2	Método e aparelho para dispersão de pó	Morphologi G3-ID, Morphologi G3, Morphologi 4, Morphologi 4-ID
EP3510526B1 (GB, FR, DE60217072468.8) US11068740B2 CN109716355B (ZL201780054158.9) JP7234106B2	Identificação de limites de partículas	Morphologi 4, Morphologi 4-ID
US8004662B2 US8842266B2	AVALIAÇÃO DE MISTURA FARMACÊUTICA	Morphologi 4-ID
Designs: DM/100537 (EM: D100 537-0001, D100 537-0002; GB: 81005370001000, 81005370002000; JP: JP1622788S, JP1623345S; US: D862261S1) CN304677453S (ZL201730616458.4)	Instrumentos de medição [exceto para medição de tempo]	Morphologi 4, Morphologi 4-ID

Viscosizer

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
US11113362B2 JP6917897B2 EP3274864A1 CN107430593B (ZL201680017577.0)	Parametrização do modelo de vários componentes	Viscosizer TD

Hydro Sight

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
CN104704343B (ZL201380044016.6) EP2864760B1 (GB, FR, DE602013085354.1) US10509976B2	Caracterização de amostra de fluido heterogêneo	Hydro Sight

NanoSight

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
EP3071944B1 (GB, FR, DE602014059002.0) US9909970B2 JP6505101B2 CN105765364B (ZL201480063550.6)	Melhorias na ou relacionadas à calibração de instrumentos	NanoSight NS300, NanoSight Pro
WO2023148528A1 EP4476523A1 CN118984933A JP2025505204A	ANÁLISE DE PARTÍCULAS	NanoSight Pro
WO2024094987A1	APARELHO E MÉTODO PARA CARACTERIZAÇÃO DE PARTÍCULAS	NanoSight Pro

MicroCal ITC

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
CN101855541B (ZL200880114826.3) EP2208057B1 (CH+LI, GB, FR, DE602008065108.8) JP05542678B2 US8449175B2 US8827549B2	Aparelho de microcalorímetro de titulação isotérmica e método de uso	Linha MicroCal ITC
CN102232184B (ZL200980149081.9) EP2352993B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1) JP5476394B2 US9103782B2 US9404876B2 US10036715B2 US10254239B2 EP3144666B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009059932.1) US20200025698A1 EP3647776B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009065333.4)	Aparelho de microcalorímetro automático de titulação isotérmica e método de uso	Linha MicroCal ITC

MicroCal DSC

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
US8635045B2 CN103221808B (ZL201180057401.5) EP2646811B1 (GB, FR, DE 602011071793.6) IN336472 JP5925798B2	Método para descoberta automática de pico em dados calorimétricos	Linha MicroCal DSC
Designs: DM/097302 (EM: D097 302; GB: 80973020001000; JP: JP1619772S, JP1643496S; US: D826739S1) CN304227374S (ZL201730043139.9)	Microcalorímetro de varredura diferencial	Intervalo do PEAQ-DSC

OMNISEC

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
US9759644B2 US10551291B2	Viscosímetro de ponte capilar balanceado	OMNISEC
US9612183B2 EP2619543B1 (GB, FR, DE602011011174.4) JP5916734B2 CN103168223B (ZL201180046166.1) IN341558	Viscosímetro de ponte capilar modular	OMNISEC

QualitySpec 7000

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
US8164747B2 CA2667650C EP2092296B1 (CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6)	Aparelho, sistema e método para medições espectroscópicas ópticas	QualitySpec 7000

TerraSpec Halo

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
US9207118B2	Aparelho, sistema e método para varredura da instrumentação do espectrômetro de matriz de diodo e monocromador	TerraSpec Halo

QualitySpec Trek

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
US9207118B2	Aparelho, sistema e método para varredura da instrumentação do espectrômetro de matriz de diodo e monocromador	QualitySpec Trek

FRX apoiados no chão

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B (ZL201010223406.8) EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1) AU2010202662B2	Amostra fundida de esferas	Zetium Axios FAST Epsilon5
JP4950523B2	Instrumento e método para correção de anormalidades	Zetium* Axios FAST* 2830 ZT (analisador de wafers)* Epsilon5* SEMYOS*
US7949092B2	Dispositivo e método para realizar a análise por raios X	Zetium* Axios FAST* 2830 ZT (analisador de wafers)* Epsilon5* SEMYOS
US9658352B2 CN104833557B (ZL201510120748.X) JP656263B2 JP6804594B2	Método de criação de um padrão	Zetium Axios FAST
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6) JP6360151B2	Preparação dos pellets de amostra através de pressurização	Zetium Axios FAST
US10107551B2 EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2) JP6559486B2 CN105258987B (ZL201510504763.4)	Preparação de amostras para FRX com a utilização de fluxo e cadinho de platina	Zetium Axios FAST
US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B (ZL201610119027.1) EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4)	Análise quantitativa por raios X - Correção da espessura da matriz	Zetium* Axios FAST
US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B (ZL201610121520.7) EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9)	Análise quantitativa por raios X - Instrumento de trajeto óptico múltiplo	Zetium* Axios FAST
US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B (ZL201610121518.X) EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)	Análise quantitativa por raios X - Correção da razão	Zetium* Axios FAST
US9239305B2	Suporte de amostra	Zetium* Axios FAST* Epsilon5
US7720192B2 JP5574575B2 CN101311708B (ZL200810127759.0)	Aparelho de fluorescência de raios X	Zetium* Axios FAST* 2830 ZT (analisador de wafers)* Epsilon5* SEMYOS*
US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B (ZL200880018575.9) EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)	Fonte de raios X com cátodo de fio metálico	Zetium Axios FAST 2830 ZT (analisador de wafers) Epsilon5 SEMYOS
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)	Disposição do ânodo da ampola de raios X	Zetium Axios FAST 2830 ZT (analisador de wafers) Epsilon5 SEMYOS
US10281414B2 EP3330701B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2) EP3480587B1 (GB, FR, NL, DE602017061400.9) US10393683B2 JP6767961B2 CN108132267B (ZL201711251653.7)	Colimador cônico para medições de raios X	Zetium*
*· Opcional/não padrão no produto

FRX de bancada

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B (ZL201010223406.8) EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1)	Amostra fundida de esferas	Série Epsilon 1 Espectômetros Epsilon 3X Edição Epsilon 4 Air Quality
JP4950523B2	Instrumento e método para correção de anormalidades	Série Epsilon 1* Espectômetros Epsilon 3X* Edição Epsilon 4 Air Quality*
US7949092B2	Dispositivo e método para realizar a análise por raios X	Série Epsilon 1* Espectômetros Epsilon 3X* Edição Epsilon 4 Air Quality*
US9658352B2 CN104833557B (ZL201510120748.X) JP6562635B2 JP6804594B2	Método de criação de um padrão	Série Epsilon 1 Espectômetros Epsilon 3X Edição Epsilon 4 Air Quality
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6) JP6360151B2	Preparação dos pellets de amostra através de pressurização	Série Epsilon 1 Espectômetros Epsilon 3X Edição Epsilon 4 Air Quality
US10107551B2 JP6559486B2 CN105258987B (ZL201510504763.4) EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2)	Preparação de amostras para FRX com a utilização de fluxo e cadinho de platina	Série Epsilon 1 Espectômetros Epsilon 3X Edição Epsilon 4 Air Quality
US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B (ZL201610119027.1) EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4)	Análise quantitativa por raios X - Correção da espessura da matriz	Série Epsilon 1* Espectômetros Epsilon 3X* Edição Epsilon 4 Air Quality*
US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B (ZL201610121520.7) EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9)	Análise quantitativa por raios X - Instrumento de trajeto óptico múltiplo	Série Epsilon 1* Espectômetros Epsilon 3X* Edição Epsilon 4 Air Quality*
US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B (ZL201610121518.X) EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)	Análise quantitativa por raios X - Correção da razão	Série Epsilon 1* Espectômetros Epsilon 3X* Edição Epsilon 4 Air Quality*
US9239305B2	Suporte de amostra	Série Epsilon 1* Espectômetros Epsilon 3X* Edição Epsilon 4 Air Quality*
US9547094B2 CN104849295B (ZL201510155965.2) EP2908127B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2) JP6526983B2	Aparelho de análise por raios X	Série Epsilon 1 Espectômetros Epsilon 3X Edição Epsilon 4 Air Quality
US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B (ZL200880018575.9) EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)	Fonte de raios X com cátodo de fio metálico	Série Epsilon 1* Espectômetros Epsilon 3X* Edição Epsilon 4 Air Quality*
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)	Disposição do ânodo da ampola de raios X	Série Epsilon 1* Espectômetros Epsilon 3X* Edição Epsilon 4 Air Quality*
US11183355B2 EP3675148A1 JP7601502B2 CN111383876B (ZL201911390180.8)	Tubo de raio X	Revontium
EP24169034.6 (ainda não publicado)	Ajuste complementar de fundo calculado iterativamente	Revontium
EP24169094.0 (ainda não publicado)	Um equipamento para manuseio de amostras	Revontium
* Opcional/não padrão no produto

DRX apoiados no chão

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
JP4950523B2	Instrumento e método para correção de anormalidades	Linha Empyrean X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) CubiX³
US9506880B2 CN104251870B (ZL201410299083.9) EP2818851B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602013084303.1) JP6403452B2	Imagens por difração	Linha Empyrean# X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# CubiX³#
US7858945B2 JP5254066B2 CN101521246B (ZL200910129197.8) EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3)	Detector de imagens	Linha Empyrean# X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# CubiX³#
EP2088625B1 (GB, FR, NL, CH + LI, DE602009040563.2)	Detector de imagens	Linha Empyrean# X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# CubiX³#
US9110003B2 CN103383363B (ZL201310069293.4) EP2634566B1 (GB, FR, NL, DE602012058202.2) JP6198406B2	Microdifração	Linha Empyrean# X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# CubiX³#
US9640292B2 CN104777179B (ZL201410833194.3) EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1) JP6564683B2	Aparelho de raios X	Linha Empyrean X'Pert³ Powder CubiX³
US7756248B2 JP5145263B2 CN101545873B (ZL200910134609.7) EP2090883B1 (GB, FR, NL, DE602008002143D1)	Detecção de raios X na embalagem	Empyrean X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL)
US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B (ZL201110072597.7) EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)	Difração de raios X e tomografia computadorizada	Linha Empyrean X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³*
US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B (ZL200810095161.8) EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)	Equipamento de difração de raios X para dispersão de raios X	X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)*
US7477724B2	Instrumento de raios X	Linha Empyrean* X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³
US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B (ZL201210007967.3) EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)	Disposição do obturador de raios X	Linha Empyrean X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) CubiX³
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)	Disposição do ânodo da ampola de raios X	Linha Empyrean* X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³*
EP3553508A2 US11035805B2 JP7398875B2 CN110389142B (ZL201910295269.X)	Aparelho e método de análise por raios X	Empyrean*
US10359376B2 EP3273229B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017069169.0) JP6701133B2 CN107643308B (ZL201710593858.7)	Suporte de amostra para análise por raios X	Empyrean*
US10782252B2 CN110376231A EP3553506A2 JP7258633B2	Aparelho e método de análise por raios X com controle híbrido de divergência de feixes	Empyrean*
US10753890B2 EP3372994B1 (AT, CZ, GB, FR, NL, PL, DE602018003874.4) CN108572184B (ZL201810190461.8) JP6709814B2	Aparelho e método de difração de raios X de alta resolução	Empyrean*
EP3553509B1 (AT, GB, FR, NL, DE602019017362.8) JP7208851B2 US10900912B2 CN110389143B (ZL201910300453.9)	Aparelho de análise por raios X	Empyrean*
US10352881B2 EP3343209B1 (GB, FR, NL, DE602017032595.3) CN108240998B (ZL201711404282.1) JP6839645B2	Tomografia computadorizada	Empyrean*
US9753160B2 CN104285164B (ZL201380025271.6) EP2850458B1 (GB, FR, NL, DE602013040524.7, IT502018000029139) JP6277351B2	Sensor digital de raios X	Linha Empyrean X'Pert³ CubiX³
EP3719484B1 (AT, CZ, FR, GB, NL, PL, DE602019046393.6, IT502024000012301) US12007343B1 CN113661389B (ZL202080027081.8) JP7503076B2	Aparelho e método de moldagem de feixe de raios X	Empyrean*
EP4111184A1 US20230296538A1 CN116368379A JP2023538446A	Detector de raios X para equipamento de análise por difração de raios X	Empyrean* (com detector 1Der)
EP4094073A1 US20230293127A1 CN116438449A JP2023538445A	Identificação da distribuição de carga na difração de raios X	Empyrean* (com detector 1Der)
*Opcional / fora do padrão do produto # Disponível mediante solicitação

DRX de bancada

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
JP4950523B2	Instrumento e método para correção de anormalidades	Aeris
US9506880B2 CN104251870B (ZL201410299083.9) EP2818851B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602013084303.1) JP6403452B2	Imagens por difração	Aeris*
EP2088625B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602009040563.2)	Detector de imagens	Aeris*
US9640292B2 JP6564572B2 CN104777179B (ZL201410833194.3) EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1)	Aparelho de raios X	Aeris
US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B (ZL201110072597.7) EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)	Difração de raios X e tomografia computadorizada	Aeris*
US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B (ZL200810095161.8) EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)	Equipamento de difração de raios X para dispersão de raios X	Aeris*
US7477724B2	Instrumento de raios X	Aeris*
US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B (ZL201210007967.3) EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)	Disposição do obturador de raios X	Aeris
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)	Disposição do ânodo da ampola de raios X	Aeris*
US10753890B2 EP3372994B1 (AT, CZ, DE602018003874.4, GB, FR, NL, PL) CN108572184B (ZL201810190461.8) JP6709814B2	Aparelho e método de difração de raios X de alta resolução	Aeris*
EP4094073A1 US20230293127A1 CN116438449A JP2023538445A	Identificação da distribuição de carga na difração de raios X	Aeris* (com detector 1Der)
* Opcional/não padrão no produto

Preparação da amostra

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
WO2024164079A1	SISTEMA DE FUSÃO E MÉTODO DE REALIZAÇÃO DE FUSÃO DE AMOSTRAS UTILIZANDO O MESMO	FORJ
WO2024164080A1	SISTEMA DE FUSÃO E MÉTODO DE REALIZAÇÃO DE FUSÃO DE AMOSTRAS UTILIZANDO O MESMO	FORJ
WO2024164081A1	SISTEMA DE FUSÃO E MÉTODO DE REALIZAÇÃO DE FUSÃO DE AMOSTRAS UTILIZANDO O MESMO	FORJ
WO2024164082A1	SISTEMA DE FUSÃO E MÉTODO DE REALIZAÇÃO DE FUSÃO DE AMOSTRAS UTILIZANDO O MESMO	FORJ
WO2024164086A1	SISTEMA DE FUSÃO E MÉTODO DE REALIZAÇÃO DE FUSÃO DE AMOSTRAS UTILIZANDO O MESMO	FORJ*
WO2024164083A1	SISTEMA DE ENTREGA DE COMPRIMIDOS PARA DISPOSITIVO DE FUSÃO	FORJ*
Designs: US 29/873,668 (ainda não publicado) CA 224,605;235,581; 235,582; 235,583; 235,584; 235,585; 235,586; 235,587 (todos registrados) DM/232583: EM, GB (ambos registrados); BR (ainda não publicado) AU202316700 AU202410300 CN308681450S (ZL202330644590.1) ZA: A2023/01083, A2023/01084, A2023/01085, A2023/01086	Suporte de amostra	Cadinho e/ou cassete de molde FORJ
* Opcional/não padrão no produto

WAVEsystem (Creoptix)

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
EP3824469B1 (CH+LI, GB, FR, SE, DE602019066157.6)	Método para calcular os parâmetros cinéticos de uma rede de reações	WAVEdelta, WAVEcontrol
CN113811771B (ZL202080036463.7) EP3969910B2 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602021016832.2) JP2022532479A US20220162697A1	Métodos para determinar os parâmetros cinéticos de uma reação entre analitos e ligantes	WAVEdelta, WAVEcontrol
CN115667930A EP4172625B2 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602021016832.2) JP2023531046A US20230273202A1	Um método para determinar os parâmetros cinéticos de uma reação	WAVEdelta, WAVEcontrol
EP3448564B1 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602017039989.2) CN108883414B (ZL201780021418.2) JP6846434B2 US11135581B2	Métodos e montagens para recuperação de moléculas	WAVEdelta
EP2137514B1 (CH+LI, FR, GB, SE, DE502008016144.9) US8325347B2	Sensor óptico integrado	WAVE, WAVEdelta, WAVEchip

BreakThrough Analyzer (BTA)

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
10,487,954 B2 10,514,332	Calibração automatizada de detectores e mistura personalizada de gases	BreakThrough Analyzer (BTA), AutoChem III

AutoChem III

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
10,487,954 11,105,825 B2	Mecanismo de vedação KwikConnect para reatores de amostras	AutoChem III

AccuPyc III

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
11.874.155 B2 Patentes pendentes nos Estados Unidos e no exterior	Sistemas e métodos para calibração de picnômetros de gás e analisadores de adsorção de gases	AccuPyc III

AccuPore

Números de patentes	Título da patente	Equipamentos
Patentes pendentes nos Estados Unidos e no exterior	- -	AccuPore