Espectrômetros especializados de XRF para análise de composição elementar
Os espectrômetros de fluorescência de raios X (XRF) são poderosos instrumentos analíticos projetados para revelar a composição elementar de vários materiais. Esses dispositivos versáteis desempenham um papel fundamental na pesquisa científica, no controle de qualidade e em aplicações da indústria
Os analisadores de XRF se destacam na análise elementar. Medindo as energias e intensidades dos raios X emitidos, eles identificam quais elementos estão presentes e em quais concentrações. Esta informação é inestimável em campos como geologia, metalurgia, arqueologia e ciência ambiental, onde o conhecimento da composição elementar é crucial.
Em 2024, a Malvern Panalytical expandiu seu portfólio de XRF por meio da aquisição da SciAps, líder em instrumentos analíticos portáteis e de mão. Essa mudança estratégica traz os analisadores XRF manuais da Série X e o sistema portátil de bancada PowerHouse X para o portfólio da Malvern Panalytical, ampliando os recursos de análise elementar para além do laboratório e para o campo.
Essas soluções de alto desempenho para dispositivos móveis capacitam os usuários com análises rápidas e no local, tornando-as ideais para aplicações como classificação de metais e ligas, exploração de mineração e triagem de conformidade regulamentar.
Os analisadores de XRF são instrumentos versáteis reconhecidos pela sua capacidade de fornecer análises elementares precisas e não destrutivas. Estes analisadores são inestimáveis em vários campos pela sua capacidade de fornecer uma ampla gama de medições e insights.
A principal função da instrumentação de XRF é a quantificação elementar. Ao expor uma amostra a raios X de alta energia, um analisador de XRF pode medir com precisão a concentração de elementos dentro dessa amostra.
Esta quantificação estende-se através da tabela periódica, desde elementos leves como carbono e oxigênio até metais pesados, como chumbo e urânio. Pesquisadores, fabricantes e profissionais de controle de qualidade dependem das máquinas de XRF para obter dados elementares precisos.
Uma das características de destaque da análise de XRF é sua natureza não destrutiva. Métodos tradicionais de análise química, como ICP, muitas vezes exigem a destruição/dissolução de amostras, tornando-as inúteis para testes adicionais ou preservação.
Os espectrômetros de XRF, no entanto, permitem que você examine materiais sem alterá-los ou danificá-los. Isso os torna inestimáveis para analisar obras de arte valiosas, artefatos históricos ou amostras geológicas insubstituíveis.
Os analisadores de XRF se destacam na análise de multielementos. Eles podem simultaneamente detectar e quantificar vários elementos dentro de uma única amostra, oferecendo uma imagem abrangente de sua composição.
Esta capacidade é particularmente vantajosa ao lidar com materiais complexos, ligas ou amostras geológicas com diversos componentes elementares.
Os instrumentos de análise de XRF não se limitam a um tipo específico de material. Eles podem analisar uma grande variedade de tipos de amostra, incluindo:
Essa versatilidade garante que as máquinas de XRF possam ser aplicadas em diversos setores, desde produção e indústria farmacêutica, até a geologia e a ciência ambiental.
Os analisadores de XRF podem medir uma grande variedade de elementos, incluindo, entre outros:
Quer você esteja caracterizando materiais, garantindo a qualidade do produto ou conduzindo pesquisas científicas, os espectrômetros de XRF são ferramentas indispensáveis para análise elementar em vários setores.
A Malvern Panalytical oferece uma gama versátil de espectrômetros de fluorescência de raios X e produtos relacionados para análise elementar e de filme fino. Esses analisadores de XRF são indicados para uma ampla variedade de requisitos de análise e processamento e de ambientes operacionais.
Nosso portfólio agora inclui os analisadores de XRF manuais da Série X da SciAps e o sistema de bancada portátil PowerHouse X, expandindo nossos recursos para soluções portáteis de alto desempenho para análise em campo e em movimento.
Os espectrômetros vão desde sistemas de XRF de bancada por energia dispersiva até sistemas de XRF de alto desempenho por comprimento de onda dispersiva e produtos para medição de semicondutores.
Os analisadores de XRF podem ser configurados com opções de software dedicadas para tipos específicos de análises de fluorescência de raios X. Em conjunto com os módulos de aplicação (configuração, calibração e padrões de aplicação) ou como um pacote com produtos de preparação da amostra, são criadas soluções analíticas completas. Todos os produtos da Malvern Panalytical são respaldados pela nossa organização pós-venda e serviços técnicos.
Em nosso Centro de conhecimento, você encontrará mais informações sobre as muitas aplicações interessantes da XRF que são possíveis com nossos espectrômetros.
RevontiumBrilho compacto, análise avançada, possibilidades infinitas |
ZetiumExcelência elementar |
Série EpsilonRapidez e precisão na análise elementar e em linha |
2830 ZTSolução de metrologia de filme fino de semicondutores avançados |
Axios FASTAlta produtividade de amostras |
Série X da SciApsOs analisadores de XRF de alta precisão mais leves, menores e mais rápidos do mundo |
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| Tipo de medição | ||||||
| Metrologia de filme fino | ||||||
| Análise elementar | ||||||
| Detecção e análise de contaminantes | ||||||
| Quantificação elementar | ||||||
| Identificação química | ||||||
| Tecnologia | ||||||
| X-ray Fluorescence (XRF) | ||||||
| Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | ||||||
| Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | ||||||
| Gama elementar | ||||||
| LLD | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | |
| Resolução (Mg-Ka) | ||||||
| processamento de amostra | ||||||
| Format | Compact | Floorstanding WDXRF | Benchtop EDXRF | Semi | Floorstanding WDXRF | Handheld XRF |
