Analisadores de XRF

Espectrômetros especializados de XRF para análise de composição elementar

Os espectrômetros de fluorescência de raios X (XRF) são poderosos instrumentos analíticos projetados para revelar a composição elementar de vários materiais. Esses dispositivos versáteis desempenham um papel fundamental na pesquisa científica, no controle de qualidade e em aplicações da indústria

Os analisadores de XRF se destacam na análise elementar. Medindo as energias e intensidades dos raios X emitidos, eles identificam quais elementos estão presentes e em quais concentrações. Esta informação é inestimável em campos como geologia, metalurgia, arqueologia e ciência ambiental, onde o conhecimento da composição elementar é crucial.

Revontium

Brilho compacto, análise avançada, possibilidades infinitas
Revontium

Zetium

Excelência elementar
Zetium

2830 ZT

Solução de metrologia de filme fino de semicondutores avançados
2830 ZT

Epsilon 1

Analisador de FRX pequeno, portátil e eficaz
Epsilon 1

Epsilon 4

Rapidez e precisão na análise elementar em linha
Epsilon 4

Epsilon Xflow

Informações diretas do seu processo de produção
Epsilon Xflow

Epsilon Xline

Controle em linha para processos contínuos rolo a rolo
Epsilon Xline

Linha CNA

Analisadores elementares on-line para controle eficaz de vários processos i...
Linha CNA

Axios FAST

Alta produtividade de amostras
Axios FAST

Que medições um analisador de XRF pode executar?

Os analisadores de XRF são instrumentos versáteis reconhecidos pela sua capacidade de fornecer análises elementares precisas e não destrutivas. Estes analisadores são inestimáveis em vários campos pela sua capacidade de fornecer uma ampla gama de medições e insights.

Quantificação elementar

A principal função da instrumentação de XRF é a quantificação elementar. Ao expor uma amostra a raios X de alta energia, um analisador de XRF pode medir com precisão a concentração de elementos dentro dessa amostra. 

Esta quantificação estende-se através da tabela periódica, desde elementos leves como carbono e oxigênio até metais pesados, como chumbo e urânio. Pesquisadores, fabricantes e profissionais de controle de qualidade dependem das máquinas de XRF para obter dados elementares precisos.

Análise não destrutiva

Uma das características de destaque da análise de XRF é sua natureza não destrutiva. Métodos tradicionais de análise química, como ICP, muitas vezes exigem a destruição/dissolução de amostras, tornando-as inúteis para testes adicionais ou preservação. 

Os espectrômetros de XRF, no entanto, permitem que você examine materiais sem alterá-los ou danificá-los. Isso os torna inestimáveis para analisar obras de arte valiosas, artefatos históricos ou amostras geológicas insubstituíveis.

Análise de multielementos

Os analisadores de XRF se destacam na análise de multielementos. Eles podem simultaneamente detectar e quantificar vários elementos dentro de uma única amostra, oferecendo uma imagem abrangente de sua composição. 

Esta capacidade é particularmente vantajosa ao lidar com materiais complexos, ligas ou amostras geológicas com diversos componentes elementares.

Análise de materiais

Os instrumentos de análise de XRF não se limitam a um tipo específico de material. Eles podem analisar uma grande variedade de tipos de amostra, incluindo:

  • Sólidos: Metais, ligas, polímeros, cerâmica, minerais e amostras geológicas.
  • Líquidos: Soluções, pastas e até óleos.
  • Pós: Pós farmacêuticos, metais em pó e muito mais.

Essa versatilidade garante que as máquinas de XRF possam ser aplicadas em diversos setores, desde produção e indústria farmacêutica, até a geologia e a ciência ambiental.

Exemplos de elementos medidos

Os analisadores de XRF podem medir uma grande variedade de elementos, incluindo, entre outros:

  • Metais comuns como ferro, cobre e alumínio.
  • Metais preciosos como ouro, prata e platina.
  • Poluentes ambientais como chumbo, arsênio e mercúrio.
  • Elementos de minerais raros como neodímio e europium.

Quer você esteja caracterizando materiais, garantindo a qualidade do produto ou conduzindo pesquisas científicas, os espectrômetros de XRF são ferramentas indispensáveis para análise elementar em vários setores.

Por que você deve escolher nossos instrumentos de XRF?

A Malvern Panalytical oferece uma gama versátil de espectrômetros de fluorescência de raios X e produtos relacionados para análise elementar e de filme fino. Esses analisadores de XRF são indicados para uma ampla variedade de requisitos de análise e processamento e de ambientes operacionais. Os espectrômetros vão desde sistemas de XRF de bancada por energia dispersiva até sistemas de XRF de alto desempenho por comprimento de onda dispersiva e produtos para medição de semicondutores.

Os analisadores de XRF podem ser configurados com opções de software dedicadas para tipos específicos de análises de fluorescência de raios X. Em conjunto com os módulos de aplicação (configuração, calibração e padrões de aplicação) ou como um pacote com produtos de preparação da amostra, são criadas soluções analíticas completas. Todos os produtos da Malvern Panalytical são respaldados pela nossa organização pós-venda e serviços técnicos.

Em nosso Centro de conhecimento, você encontrará mais informações sobre as muitas aplicações interessantes da XRF que são possíveis com nossos espectrômetros.

Revontium

Revontium

Brilho compacto, análise avançada, possibilidades infinitas

Zetium

Zetium

Excelência elementar

Série Epsilon

Série Epsilon

Rapidez e precisão na análise elementar e em linha

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Informações diretas do seu processo de produção

2830 ZT

2830 ZT

Solução de metrologia de filme fino de semicondutores avançados

Axios FAST

Axios FAST

Alta produtividade de amostras

Tipo de medição
Metrologia de filme fino
Análise elementar
Detecção e análise de contaminantes
Quantificação elementar
Identificação química
Tecnologia
X-ray Fluorescence (XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Gama elementar Na-Am Be-Am F-Am Na-Am B-Am B-Am
LLD 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Resolução (Mg-Ka) 145 eV 35eV 145eV 135eV 35eV 35eV
processamento de amostra 200per 8h day 160per 8h day - 240per 8h day Up to - 160per 8h day on-line up to 25 wafers per hour 240per 8h day - 480per 8h day
Format Compact Floorstanding WDXRF Benchtop EDXRF Realtime Semi Floorstanding WDXRF