Quantificação de concentrações elementares usando FRX e PFTNA
Em várias aplicações, saber a concentração elementar é um fator crítico no controle das propriedades do material ou para garantir o seguimento dos regulamentos de segurança e saúde. Por esse motivo, não é no geral suficiente apenas detectar a presença de elementos, mas é preciso também quantificar suas concentrações.
O grau de precisão necessário depende da aplicação.
Fluorescência de raios X e Pulsed Fast Thermal Neutron Activation são técnicas analíticas não destrutivas, estáveis e fáceis de usar para determinar a composição elementar de vários materiais em uma ampla gama de aplicações. Para se quantificar as concentrações elementares com essas técnicas, as intensidades medidas são comparadas com as intensidades de materiais de referência certificados ou padrões internos com concentrações conhecidas. Esses padrões devem se assemelhar o máximo possível ao material de amostra para a obtenção de resultados precisos. As intensidades medidas são também afetadas pelas propriedades físicas da amostra e, dessa forma, várias correções geralmente precisam ser aplicadas, as quais são cuidadas pelo software do usuário.
Em vários setores, uma triagem rápida do material de amostra de composição desconhecida é necessária sem ter padrões dedicados.
Nesses casos, um software de análise sem padrão Omnian pode ser usado para determinar a composição elementar geral e fornecer valores semiquantitativos das concentrações elementares.
Espectrômetros WDXRF de piso de alto padrão
Espectrômetros EDXRF de bancada e em linha
Espectrômetro WDXRF simultâneo de alto rendimento
Solução de metrologia de filme fino de semicondutores avançados
Analisadores elementares em linha para correia transportadora cruzada
Análise sofisticada de concentrações elementares ultrabaixas
