Aprenda os fundamentos da medição de partículas e análise de raios X! Série de webinars gratuitos

Para aqueles que começaram a trabalhar com medição de partículas ou análise de raios X devido a mudanças na primavera ou pesquisa!
- “Fui designado para cuidar de medições de partículas e análises de raios X, mas para ser honesto, estou um pouco apreensivo…”
- “Será que consigo usar os equipamentos de análise desde os tempos de estudante?”
- “Vou usar a análise de raios X na pesquisa universitária, mas quero entender bem os princípios!”
- “Tem um bom tempo que não uso o equipamento de medição de distribuição de tamanho de partículas, quero revisar os fundamentos!”
Para todos vocês, realizaremos webinars que explicam claramente os princípios e fundamentos da medição de partículas e análise de raios X! E este ano, pela primeira vez, também faremos webinars com explicações sobre os fundamentos da fluidez dinâmica de pós e sobre o método de espraiamento dinâmico de luz (DLS), um novo método de teste geral na Farmacopeia Japonesa.
É um conteúdo popular todos os anos, mas, por ser uma transmissão ao vivo, é possível uma sessão de perguntas e respostas em tempo real, então fiquem à vontade para perguntar!
Vamos aproveitar esta oportunidade para aprender os fundamentos e utilizar os equipamentos com segurança! Estamos ansiosos pela sua participação.
Agenda dos Webinars
Data e Hora | Título do Webinar |
15 de maio de 2025, 14h às 15h | Aprenda os fundamentos da medição de partículas: dos princípios à aplicação (Encerrado. Agradecemos pela sua participação.) |
16 de maio de 2025, 14h às 15h | Explicação sobre o método de espraiamento dinâmico de luz (DLS), adicionado aos métodos gerais de teste na Farmacopeia Japonesa (18ª revisão, 2ª emenda) (Encerrado. Agradecemos pela sua participação.) |
22 de maio de 2025, 14h às 15h | Fundamentos da análise de forma de partículas (Encerrado. Agradecemos pela sua participação.) |
5 de junho de 2025, 14h às 15h | Princípios das tecnologias de medição de nanopartículas – Vantagens e desvantagens do método de rastreamento de partículas (PTA) |
12 de junho de 2025, 14h às 15h | Fundamentos da fluidez dinâmica de pós – “Estático”? “Dinâmico”? Qual é a diferença? |
19 de junho de 2025, 14h às 15h | Fundamentos da tecnologia de raios X (XRD e XRF) |
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{{ product.product_name }}
{{ product.product_strapline }}
{{ product.product_lede }}