Causas e Soluções para “Dados Estranhos” em Medidores de Distribuição de Tamanho de Partículas por Difração e Espalhamento a Laser

Olá a todos!
Hoje, vamos falar sobre as causas e soluções para os “dados estranhos” que costumam ocorrer em dispositivos de medição de distribuição de tamanho de partículas por difração e espalhamento a laser.

Artigos de referência

Caso 1: Pico Anômalo ao Limite Superior de Medição

Quando ocorre um pico anômalo ao limite superior de medição, as seguintes causas e contramedidas podem ser consideradas.

Desalinhamento do Eixo Óptico

Isto ocorre quando o eixo óptico do dispositivo está desalinhado, fazendo com que a luz transmitida entre em um detector incorreto. A solução é realinhar o eixo óptico.

“Nebulosidade” Devido a Variações de Temperatura de Solventes Orgânicos

No caso de solventes orgânicos, especialmente, a dispersão de luz devido a variações de temperatura pode causar picos anômalos. Uma solução é permitir que o meio de dispersão atinja a temperatura da sala de medição algumas horas antes da medição.

Caso 2: Pico Anômalo Acima de 100 μm

Quando ocorre um pico anômalo acima de 100 μm, as seguintes causas e contramedidas podem ser consideradas.

Mistura de Bolhas

É possível reduzir a mistura de bolhas alterando a velocidade de agitação, o tipo de surfactante ou sua concentração.

Agregados

Picos anômalos podem ocorrer devido ao agrupamento de partículas grandes. Aumentar a intensidade ou o tempo de dispersão ultrassônica, ou aplicar ultrassom durante o pré-tratamento, pode reduzir a influência dos agregados.

Caso 3: Pico de Subμm a Váriosμm Torna-se Bimodal ou Trimodal

Quando se observa um pico de subμm a váriosμm se tornar bimodal ou trimodal, as seguintes causas podem ser consideradas.

Valores Teóricos Irregulares de Espalhamento de Mie

Uma amplitude de distribuição mais ampla pode causar picos irregulares. Modificar as condições de cálculo ou verificar com um dispositivo de medição de distribuição de tamanho de partículas por imagem é importante.

Amostra com Múltiplos Picos

Se a amostra contiver vários tamanhos de partículas, múltiplos picos podem aparecer.

Caso 4: Pico Grande em Subμm ao Medir Amostras Acima de 1 μm

Quando ocorre um pico grande em subμm ao medir amostras acima de 1 μm, as seguintes causas podem ser consideradas.

“Luz parasita” do detector principal para o traseiro

Isso ocorre quando a luz entra ao contrário, confundindo o dispositivo e as partículas minúsculas.

Limitações Princípios

A luz espalhada por nanopartículas é fraca, enquanto a de partículas acima de 1 μm é forte, dificultando a identificação da presença de nanopartículas. O aumento no coeficiente de absorção pode, em alguns casos, resolver este problema.

Caso 5: Diâmetro de Partícula Aumenta Durante a Medição, Enfraquecendo a Luz Dispersa (Aumento da Transmitância)

Quando o diâmetro das partículas aumenta durante a medição e a luz dispersa enfraquece, as seguintes causas podem ser consideradas.

Dissolução da Amostra

Partículas pequenas na amostra podem se dissolver primeiro, deslocando a distribuição do tamanho das partículas para tamanhos maiores. Usar um meio de dispersão que não dissolva pode ser eficaz.

Progresso da Agregação

A agitação ou circulação pode levar à agregação de partículas. Mudar o meio de dispersão ou usar uma célula de alta concentração para medir o líquido original são opções possíveis.

Estas são as explicações sobre as causas e soluções para “dados estranhos” em dispositivos de medição de distribuição de tamanho de partículas por difração e espalhamento a laser. Considerar essas causas e soluções durante o uso do dispositivo é crucial para obter resultados de medição precisos.

Se estiver com problemas, não hesite em nos contatar.

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