Omnian para análise elementar sem padrão de uma ampla gama de materiais

Ao se deparar com amostras totalmente desconhecidas, ou em casos em que padrões de calibração ou materiais de referência não são facilmente acessíveis ou nem um pouco disponíveis, a análise XRF sem padrão é uma solução valiosa. O Omnian permite aos usuários obter a melhor análise possível quando métodos ou padrões certificados de FRX dedicados não existem. Disponível para Zetium, Axios ou MagiX e os espectrômetros da linha de bancada Epsilon, o Omnian entrega resultados rápidos e confiáveis, independentemente do tipo de amostra ou da matriz.

O Omnian cobre todos os elementos de F a U. Os resultados quantitativos podem ser obtidos para uma ampla variedade de tipos de amostra, como pós compactos, amostras fundidas, pós soltos e líquidos. Além da análise elementar das amostras de rotina, o Omnian permite a análise fácil e rápida de amostras "únicas", triagem e análise de falhas.

Para uma avaliação rápida, o Omnian gera resultados confiáveis em apenas dois minutos usando o modo de Análise rápida em sistemas de FRX por WD. Isso é possível por meio da combinação da estratégia de economia de tempo de medição de pico elementar específica em conjunto com o uso de cálculos em segundo plano, que podem ser gerados apenas por uma estratégia de análise. O programa baseado em análise poderá ser aumentado com canais específicos se uma precisão mais alta para análise elementar secundária e de traço for necessária.

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O módulo Omnian é uma combinação de amostras de software e configuração. As amostras de configuração são projetadas cuidadosamente para permitir a análise até mesmo das mais desafiadoras das matrizes. Feitas de materiais de partida puros, as amostras de configuração são usadas para realizar o ajuste fino do software Omnian para as sutilezas do espectrômetro enquanto incorpora recursos de elementos espectrais que superam as limitações de outras estratégias semiquantitativas.

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O módulo Omnian consiste em:

• Conjunto de amostras de configuração e uma amostra de monitor de desvio

• Documentação com informações de concentração, uso e manuseio das amostras de configuração

• Mala para armazenamento seguro

O módulo Omnian e as amostras de configuração são projetados para uso de forma combinada com os instrumentos da Malvern Panalytical, incluindo Zetium, Axios ou MagiX e a linha de bancada Epsilon. Determinados requisitos mínimos se aplicam. O módulo pode ser fornecido pré-calibrado com novos sistemas, mas pode também ser implantado em instrumentos existentes que executam o software SuperQ. As amostras de configuração do Omnian estão também disponíveis separadamente.