Na pesquisa de materiais, o cientista tem várias questões analíticas relacionadas à constituição cristalina de amostras de material. Difração de raios X (XRD) é a única técnica laboratorial que revela informações estruturais, como composição química, estrutura do cristal, tamanho do cristalito, orientação preferida e espessura da camada. Por esse motivo, os pesquisadores de materiais usam XRD para analisar uma ampla gama de materiais, desde pós e sólidos até filmes finos e nanomateriais.

Ciência e indústria

Muitos pesquisadores, em laboratórios industriais e também científicos, contam com a difração de raios X como uma ferramenta para desenvolver novos materiais ou para aumentar a eficiência de produção. As inovações na difração de raios X seguem de perto a pesquisa sobre novos materiais, como tecnologias de semicondutores ou investigações farmacêuticas. A pesquisa industrial é direcionada para a velocidade e a eficiência cada vez maiores dos processos de produção. A análise de difração de raios X totalmente automatizada nos locais de produção de materiais de mineração e construção resulta em soluções mais econômicas para controle de produção.

Soluções para questões analíticas

A análise de difração de raios X atende às várias das necessidades analíticas de um cientista de materiais. Nos pós, as fases químicas são identificadas qualitativamente, bem como quantitativamente. A difração de raios X de alta resolução revela os parâmetros de camada, como composição, espessura, rugosidade e densidade em filmes finos de semicondutores. A dispersão de raios X de ângulo pequeno e a análise da função de distribuição em pares (PDF) ajudam a analisar as propriedades estruturais dos nanomateriais. A orientação preferida e as tensões podem ser determinadas em uma ampla gama de objetos sólidos e componentes projetados.

Dê uma olhada!

A Malvern Panalytical o convida a ver mais detalhadamente a ampla gama de aplicações que um difratômetro pode suportar para resolver problemas analíticos.

Aeris

Aeris

XRD facilitado

Mais detalhes
Medição Crystal structure determination, Identificação de fase, Phase quantification
Material do ânodo do tubo de raios X Cu /Co (option)
Tecnologia X-ray Diffraction (XRD)

Variedades do Empyrean

Variedades do Empyrean

A solução multifuncional para suas necessidades analíticas

Mais detalhes
Medição Forma da partícula, Tamanho da partícula, Crystal structure determination, Identificação de fase, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging
Configuração de Goniômetro Vertical goniometer, Θ-Θ
Tecnologia X-ray Diffraction (XRD)

Aeris

Aeris

XRD facilitado

Variedades do Empyrean

Variedades do Empyrean

A solução multifuncional para suas necessidades analíticas

Mais detalhes Mais detalhes
Medição Crystal structure determination, Identificação de fase, Phase quantification Forma da partícula, Tamanho da partícula, Crystal structure determination, Identificação de fase, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging
Material do ânodo do tubo de raios X Cu /Co (option)  
Configuração de Goniômetro   Vertical goniometer, Θ-Θ
Tecnologia X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD)

Aeris

Variedades do Empyrean

X'Pert³ MRD

X'Pert³ MRD XL

Aeris Variedades do Empyrean X'Pert³ MRD X'Pert³ MRD XL

Benchtop X-ray diffractometer

A solução multifuncional para suas necessidades analíticas

Versatile materials research diffraction system

Versatile materials research diffraction system

Mais detalhes Mais detalhes Mais detalhes Mais detalhes
Tecnologia
X-ray Diffraction (XRD)
Tipo de medição
Forma da partícula
Tamanho da partícula
Crystal structure determination
Identificação de fase
Phase quantification
Contaminant detection and analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
3D structure / imaging
Metrologia de filme fino
Residual stress