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Difração de raios X (XRD)

Desde pós e sólidos até filmes finos e nanomateriais

Na pesquisa de materiais, o cientista tem várias questões analíticas relacionadas à constituição cristalina de amostras de material. Difração de raios X (XRD) é a única técnica laboratorial que revela informações estruturais, como composição química, estrutura do cristal, tamanho do cristalito, orientação preferida e espessura da camada. Por esse motivo, os pesquisadores de materiais usam XRD para analisar uma ampla gama de materiais, desde pós e sólidos até filmes finos e nanomateriais.

Ciência e indústria

Muitos pesquisadores, em laboratórios industriais e também científicos, contam com a difração de raios X como uma ferramenta para desenvolver novos materiais ou para aumentar a eficiência de produção. As inovações na difração de raios X seguem de perto a pesquisa sobre novos materiais, como tecnologias de semicondutores ou investigações farmacêuticas. A pesquisa industrial é direcionada para a velocidade e a eficiência cada vez maiores dos processos de produção. A análise de difração de raios X totalmente automatizada nos locais de produção de materiais de mineração e construção resulta em soluções mais econômicas para controle de produção.

Soluções para questões analíticas

A análise de difração de raios X atende às várias das necessidades analíticas de um cientista de materiais. Nos pós, as fases químicas são identificadas qualitativamente, bem como quantitativamente. A difração de raios X de alta resolução revela os parâmetros de camada, como composição, espessura, rugosidade e densidade em filmes finos de semicondutores. A dispersão de raios X de ângulo pequeno e a análise da função de distribuição em pares (PDF) ajudam a analisar as propriedades estruturais dos nanomateriais. A orientação preferida e as tensões podem ser determinadas em uma ampla gama de objetos sólidos e componentes projetados.

Dê uma olhada!

A Malvern Panalytical o convida a ver mais detalhadamente a ampla gama de aplicações que um difratômetro pode suportar para resolver problemas analíticos.

Aeris

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Benchtop X-ray diffractometer

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Variedades do Empyrean

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X'Pert³

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Thin Film Analysis XRD Systems

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Tecnologia
X-ray Diffraction (XRD)
Tipo de medição
Forma da partícula
Tamanho da partícula
Determinação de estrutura cristalina
Identificação de fase
Quantificação de fase
Detecção e análise de contaminantes
Análise de epitaxia
Rugosidade da interface
Estrutura/imagem 3D
Metrologia de filme fino
Tensão residual
Cleanroom ISO 4
SECS/GEM