Software de difração de raio X

Pacote de software DRX da Malvern Panalytical

Nossos pacotes de software de DRX são projetados para extrair cada bit de informação de um material. Em nossos instrumentos, oferecemos softwares intuitivos para a coleta de dados, adaptados para uso em pesquisas ou em controle de processos, além de módulos de análise modernos para as diversas aplicações de DRX possíveis.

Software para coleta de dados em difratômetros multifuncionais

Com esses módulos de software, você pode desfrutar de todas as funcionalidades do seu Empyrean, X’Pert³ Powder ou X’Pert³ MRD multifuncional.

O Data Collector é a caixa de ferramentas do software central de aquisição de dados para Empyrean, X’Pert³ MRD (XL) e X’Pert³ Powder. O XRD2DScan possibilita a conversão fácil de conjuntos de dados em 2D para traçados 1D para análises adicionais. 

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Data Collector

O Data Collector é o seu painel de controle para todas as medições feitas em pós, filmes finos, nanomateriais e objetos sólidos.

XRD2DScan

Visualize seus dados de difração em 2D e converta-os para diversas análises 1D com o XRD2DScan.

Software para aplicações de controle de processos de difração de pós

Controle seu CubiX³ ou X’Pert³ Powder para medições de difração de pó e obtenha resultados quantitativos com base na linha de calibração.

O Industry foi projetado para ambientes industriais com interface por botões e amplos recursos de LIMS e automação. Com a interface Walk-up opcional, os ambientes de vários usuários são totalmente compatíveis. O Quantify é uma versão simplificada com 10 módulos de análise quantitativa pré-programados.

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Industry

Nosso software Industry foi projetado para análises rotineiras de difração de raios X de alto volume em um ambiente industrial.

Quantify

O Quantify é um software autônomo para aquisição de dados básicos e análises de fase quantitativa com base na linha de calibração

Módulos de software para difração de pós

Nossa família HighScore de softwares para difração de pós foi projetada para extrair todas as informações de fase de pós soltos e prensados e outras amostras policristalinas.

Saiba mais sobre o HighScore, o software de correspondência de pesquisa mais avançado do mundo, com seu amplo suporte a vários bancos de dados de correspondência de pesquisa, como o CanDI-X. A opção HighScore Plus oferece rotinas adicionais para cristalografia, cluster ilimitado e análise por Rietveld, além de todas as funcionalidades do HighScore. O RoboRiet oferece perfil e quantificação por Rietveld "somente execução", ideal para ambientes industriais.

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HighScore

O HighScore, nosso software de difração de pó, também pode ser usado para identificação de fase e perfil profundo de fases em revestimentos policristalinos.

Opção Plus para o HighScore  

Além do HighScore, nossa opção Plus adiciona cristalográficos, cluster ilimitado, ajustes por Rietveld/estrutura e muito mais na mesma interface de usuário.

Bancos de dados de referência para correspondência de pesquisa

Oferecemos suporte para a maior variedade de bancos de dados de correspondência de pesquisa, para oferecer o melhor desempenho na identificação de fase.

RoboRiet

O RoboRiet é uma implementação especial "somente execução" de perfil e método Rietveld, ideal para ambientes industriais.

Análise de DRX de filmes finos

Com os nossos módulos de software para filmes finos, você pode obter informações detalhadas sobre espessura, composição, orientação preferencial, qualidade epitaxial e tensão residual presente nas camadas.

Esses parâmetros essenciais de camada fina são quantificados de maneira rápida e fácil com o novo pacote completo de software de simulação e análise de material avançado (AMASS). 

Para camadas policristalinas e pilhas de camadas, é possível determinar a composição da fase, também como uma função de profundidade, com nosso software HighScore, e determinar as tensões residuais com nosso software Stress Plus.

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AMASS

Nosso pacote de software AMASS oferece todas as funcionalidades de que você precisa para caracterizar suas estruturas em camadas, permitindo uma determinação rápida e fácil dos principais parâmetros de filme fino.

Stress Plus

Com nosso módulo Stress Plus combinado ao pacote de software Stress, é possível determinar as tensões residuais em filmes policristalinos.

Análise de tamanho e forma de nanomateriais

Software EasySAXS para análise de dados de nanopartículas e nanoestruturas. Ele oferece informações sobre estruturas e dimensões em nanoescala, formatos de nanopartículas e áreas de superfície. O software também é compatível com a análise de dispersão de raios X em ângulo ultrapequeno (USAXS).

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Software de análises de dados SAXS avançados

EasySAXS é um pacote de software avançado e de fácil utilização para a análise de dados de dispersão de raios X em pequeno ângulo (SAXS).

Análise de objetos sólidos

Nossos módulos de software de Texture e Stress revelam a orientação preferencial e as tensões residuais presentes nos componentes usinados, como metais laminados e extrudados.

O Stress é elogiado por especialistas de todo o mundo por sua funcionalidade extensa e intuitiva. O módulo opcional Stress Plus agrega a análise de tensão residual em filmes finos ao pacote Stress.
O Texture oferece uma ampla funcionalidade para análise de figuras de polo, funções de distribuição de orientação (ODFs) e figuras de polo inverso.

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Stress

Nosso pacote intuitivo Stress calcula as tensões residuais nas suas amostras usando o método sin2Ψ.

Stress Plus

Com a opção Stress Plus, é possível ampliar a funcionalidade do software Stress para a análise de filmes policristalinos e finos.

Texture

O Texture é um pacote de software que permite analisar, calcular e visualizar as orientações preferenciais de cristalito.