Em todo o mundo, as soluções de difração de raios X (XRD) da PANalytical são a escolha preferida para análises rápidas e precisas das concentrações de clínquer e fase de cimento. O desenvolvimento de novos cimentos com baixas emissões de CO2 levou a um aumento na necessidade de análises mineralógicas compatíveis e independentes do operador.
A difração de raios X é a ferramenta ideal para quantificação direta da composição mineralógica de matérias-primas, clínquer e produtos de cimento. O CubiX³ Cement possui um detector projetado para coleta rápida de dados e a medição da amostra leva menos de cinco minutos. Especialmente configurado para produção de alto rendimento e controle de processos em indústrias de cimento, o difratômetro pode ser integrado em uma configuração de automação para uma variedade de tipos de amostras (por exemplo, anéis de 40 mm ou 51 mm) e alimentado por um robô ou uma correia de transporte.
