Essa amostra de verificação pode ser usada para garantir que a configuração de GISAXS (Grazing Incidence Small Angle Scattering, Dispersão de pequeno ângulo com incidência rasante) funcione corretamente. A amostra consiste em nanopartículas de Fe2O3 esféricas com uma distribuição de tamanho conhecida, vinculada à superfície de um wafer Si. As partículas têm uma proteção de poliestireno.
As especificações das partículas são certificadas pela análise de SEM e GISAXS.
