Melhore a qualidade do cimento e o controle do processo com análise Aeris XRD rápida e confiável. Saber mais
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A edição Cement do Aeris sonda diretamente a composição mineralógica do cimento e de seus intermediários.
Essas informações mineralógicas permitem que você avalie as propriedades físicas para controlar melhor o forno quando, por exemplo, estiver usando combustíveis alternativos.
Além disso, facilita a garantia de qualidade de cimentos (misturados). A edição Cement do Aeris é um difratômetro de raios X para bancada automatizado e fácil de usar para todos os tipos de fábricas de cimento.
A resistência, as propriedades de configuração, hidratação e resistência química do cimento estão ligadas diretamente à mineralogia do cimento. A difração de raios X é o método de sondagem direta desses minerais no cimento, permitindo uma previsão mais precisa das propriedades físicas do produto final que já está na fase de produção. Isso torna o processo de produção mais fácil, eficiente e ecológico.
O Aeris Cement edition é seu parceiro em todas as etapas do processo de produção de cimento, desde farinha crua, clínquer e cimento (misturado) até o produto final.
Uma análise rápida minimiza ciclos de comentários e permite uma intervenção precoce na otimização do processo. Tempo de análise padrão para clínquer ou cimento em apenas 5 minutos.
O tempo de operação do equipamento analítico é a chave para o controle do processo. Desde o começo, o Aeris foi projetado para o tempo máximo de atividade.
O difratômetro de raios X mais intuitivo. Com uma tela de toque integrada, você sempre obtém seus resultados com apenas alguns toques:
| Carregamento de amostra | Carregamento externo de amostras |
|---|---|
| Sample holders | Variedade de suportes de amostra de tamanho normal capazes de atender a todos os requisitos |
| Troca de amostra | Escolha entre uma plataforma de carregamento manual, um trocador de amostras de 6 posições ou um trocador de amostras de alta capacidade com 67 posições
|
| Automação | Compatível com integração de automação |
| Comprimento de onda | Cu |
|---|---|
| Tube setting | Opções de 300 W a 600 W em configuração de 30 kV ou 40 kV |
| Tube housing | Design patenteado com tecnologia de trajeto inteligente do feixe incidente resistente à corrosão (CRISP)
A tecnologia CRISP evita a corrosão no trajeto do feixe incidente causada pelo ar ionizado induzido por raios X. Patente n° US 8437451 B2
|
| Base configuration | Goniômetro vertical, acoplado e desacoplado θ-θ, amostras sempre horizontais |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmissão, incidência rasante |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | Bragg-Brentano, transmissão, incidência rasante |
| Angle positioning | Direct Optical Position Sensing (DOPS3) com precisão de posicionamento vitalícia |
| Scan Speed | Máx. 2,17°/s |
| Resolução | < 0,04° 2θ sobre LaB6 (com fendas Soller com 0,01 rad) |
| 2θ linearity | < 0,04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Escolha de estágios do spinner |
|---|---|
| Non-ambient | Opção de estágio de aquecimento (BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | Troca de estágios PreFIX sem alinhamento |
| Special stages | Mediante solicitação (manual, MPSS, in situ) |
| Detector | Escolha entre os detectores PIXcel1D e 1Der |
| Dimensões | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Sistema fechado com carregamento externo de amostras |
| External cooling water supply | Não é necessário |
| Compressed air supply | Não é necessário |
| Alimentação elétrica | 100 – 240 V, monofásica |
| Computador | PC do instrumento interno |
| Operação | Interface de usuário intuitiva com tela sensível ao toque de 10,4" |
| Interface | LAN, USB, HDMI |
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