Aeris Guía de usuario
Número da versão: 8
Melhore a qualidade do cimento e o controle do processo com análise Aeris XRD rápida e confiável. Saber mais
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A edição Cement do Aeris sonda diretamente a composição mineralógica do cimento e de seus intermediários.
Essas informações mineralógicas permitem que você avalie as propriedades físicas para controlar melhor o forno quando, por exemplo, estiver usando combustíveis alternativos.
Além disso, facilita a garantia de qualidade de cimentos (misturados). A edição Cement do Aeris é um difratômetro de raios X para bancada automatizado e fácil de usar para todos os tipos de fábricas de cimento.
A resistência, as propriedades de configuração, hidratação e resistência química do cimento estão ligadas diretamente à mineralogia do cimento. A difração de raios X é o método de sondagem direta desses minerais no cimento, permitindo uma previsão mais precisa das propriedades físicas do produto final que já está na fase de produção. Isso torna o processo de produção mais fácil, eficiente e ecológico.
O Aeris Cement edition é seu parceiro em todas as etapas do processo de produção de cimento, desde farinha crua, clínquer e cimento (misturado) até o produto final.
Uma análise rápida minimiza ciclos de comentários e permite uma intervenção precoce na otimização do processo. Tempo de análise padrão para clínquer ou cimento em apenas 5 minutos.
O tempo de operação do equipamento analítico é a chave para o controle do processo. Desde o começo, o Aeris foi projetado para o tempo máximo de atividade.
O difratômetro de raios X mais intuitivo. Com uma tela de toque integrada, você sempre obtém seus resultados com apenas alguns toques:
| Carregamento de amostra | Carregamento externo de amostras |
|---|---|
| Sample holders | Variedade de suportes de amostra de tamanho normal capazes de atender a todos os requisitos |
| Troca de amostra | Escolha entre uma plataforma de carregamento manual, um trocador de amostras de 6 posições ou um trocador de amostras de alta capacidade com 67 posições
|
| Automação | Compatível com integração de automação |
| Comprimento de onda | Cu |
|---|---|
| Tube setting | Opções de 300 W a 600 W em configuração de 30 kV ou 40 kV |
| Tube housing | Design patenteado com tecnologia de trajeto inteligente do feixe incidente resistente à corrosão (CRISP)
A tecnologia CRISP evita a corrosão no trajeto do feixe incidente causada pelo ar ionizado induzido por raios X. Patente n° US 8437451 B2
|
| Base configuration | Goniômetro vertical, acoplado e desacoplado θ-θ, amostras sempre horizontais |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmissão, incidência rasante |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | Bragg-Brentano, transmissão, incidência rasante |
| Angle positioning | Direct Optical Position Sensing (DOPS3) com precisão de posicionamento vitalícia |
| Scan Speed | Máx. 2,17°/s |
| Resolução | < 0,04° 2θ sobre LaB6 (com fendas Soller com 0,01 rad) |
| 2θ linearity | < 0,04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Escolha de estágios do spinner |
|---|---|
| Non-ambient | Opção de estágio de aquecimento (BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | Troca de estágios PreFIX sem alinhamento |
| Special stages | Mediante solicitação (manual, MPSS, in situ) |
| Detector | Escolha entre os detectores PIXcel1D e 1Der |
| Dimensões | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Sistema fechado com carregamento externo de amostras |
| External cooling water supply | Não é necessário |
| Compressed air supply | Não é necessário |
| Alimentação elétrica | 100 – 240 V, monofásica |
| Computador | PC do instrumento interno |
| Operação | Interface de usuário intuitiva com tela sensível ao toque de 10,4" |
| Interface | LAN, USB, HDMI |
Número da versão: 8
Número da versão: 8
Número da versão: 6
Número da versão: 7
Número da versão: 8
Número da versão: 8
Número da versão: 8
Número da versão: 2
Número da versão: 4
Número da versão: 3
Número da versão: 2
Número da versão: 4
Número da versão: 2
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
Para garantir que o instrumento permaneça em condição máxima e funcione no nível mais elevado, a Malvern Panalytical oferece uma grande variedade de serviços. Nosso conhecimento e nossos serviços de suporte garantem o funcionamento ideal do instrumento.
Manutenção para sempre
Agregando valor aos seus processos
A edição Cement do Aeris sonda diretamente a composição mineralógica do cimento e de seus intermediários.
Essas informações mineralógicas permitem que você avalie as propriedades físicas para controlar melhor o forno quando, por exemplo, estiver usando combustíveis alternativos.
Além disso, facilita a garantia de qualidade de cimentos (misturados). A edição Cement do Aeris é um difratômetro de raios X para bancada automatizado e fácil de usar para todos os tipos de fábricas de cimento.
A resistência, as propriedades de configuração, hidratação e resistência química do cimento estão ligadas diretamente à mineralogia do cimento. A difração de raios X é o método de sondagem direta desses minerais no cimento, permitindo uma previsão mais precisa das propriedades físicas do produto final que já está na fase de produção. Isso torna o processo de produção mais fácil, eficiente e ecológico.
O Aeris Cement edition é seu parceiro em todas as etapas do processo de produção de cimento, desde farinha crua, clínquer e cimento (misturado) até o produto final.
Uma análise rápida minimiza ciclos de comentários e permite uma intervenção precoce na otimização do processo. Tempo de análise padrão para clínquer ou cimento em apenas 5 minutos.
O tempo de operação do equipamento analítico é a chave para o controle do processo. Desde o começo, o Aeris foi projetado para o tempo máximo de atividade.
O difratômetro de raios X mais intuitivo. Com uma tela de toque integrada, você sempre obtém seus resultados com apenas alguns toques:
| Carregamento de amostra | Carregamento externo de amostras |
|---|---|
| Sample holders | Variedade de suportes de amostra de tamanho normal capazes de atender a todos os requisitos |
| Troca de amostra | Escolha entre uma plataforma de carregamento manual, um trocador de amostras de 6 posições ou um trocador de amostras de alta capacidade com 67 posições
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| Automação | Compatível com integração de automação |
| Comprimento de onda | Cu |
|---|---|
| Tube setting | Opções de 300 W a 600 W em configuração de 30 kV ou 40 kV |
| Tube housing | Design patenteado com tecnologia de trajeto inteligente do feixe incidente resistente à corrosão (CRISP)
A tecnologia CRISP evita a corrosão no trajeto do feixe incidente causada pelo ar ionizado induzido por raios X. Patente n° US 8437451 B2
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| Base configuration | Goniômetro vertical, acoplado e desacoplado θ-θ, amostras sempre horizontais |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmissão, incidência rasante |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | Bragg-Brentano, transmissão, incidência rasante |
| Angle positioning | Direct Optical Position Sensing (DOPS3) com precisão de posicionamento vitalícia |
| Scan Speed | Máx. 2,17°/s |
| Resolução | < 0,04° 2θ sobre LaB6 (com fendas Soller com 0,01 rad) |
| 2θ linearity | < 0,04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Escolha de estágios do spinner |
|---|---|
| Non-ambient | Opção de estágio de aquecimento (BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | Troca de estágios PreFIX sem alinhamento |
| Special stages | Mediante solicitação (manual, MPSS, in situ) |
| Detector | Escolha entre os detectores PIXcel1D e 1Der |
| Dimensões | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Sistema fechado com carregamento externo de amostras |
| External cooling water supply | Não é necessário |
| Compressed air supply | Não é necessário |
| Alimentação elétrica | 100 – 240 V, monofásica |
| Computador | PC do instrumento interno |
| Operação | Interface de usuário intuitiva com tela sensível ao toque de 10,4" |
| Interface | LAN, USB, HDMI |
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Número da versão: 6
Número da versão: 7
Número da versão: 8
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Número da versão: 2
Número da versão: 4
Número da versão: 3
Número da versão: 2
Número da versão: 4
Número da versão: 2
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More information can be found in the Release and Installation Notes.
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