Difratômetro de raios X para bancada Aeris Cement edition

Visão geral

A edição Cement do Aeris sonda diretamente a composição mineralógica do cimento e de seus intermediários.

Essas informações mineralógicas permitem que você avalie as propriedades físicas para controlar melhor o forno quando, por exemplo, estiver usando combustíveis alternativos.

Além disso, facilita a garantia de qualidade de cimentos (misturados). A edição Cement do Aeris é um difratômetro de raios X para bancada automatizado e fácil de usar para todos os tipos de fábricas de cimento.

Produção mais eficiente e ecológica

A resistência, as propriedades de configuração, hidratação e resistência química do cimento estão ligadas diretamente à mineralogia do cimento. A difração de raios X é o método de sondagem direta desses minerais no cimento, permitindo uma previsão mais precisa das propriedades físicas do produto final que já está na fase de produção. Isso torna o processo de produção mais fácil, eficiente e ecológico.

O Aeris Cement edition é seu parceiro em todas as etapas do processo de produção de cimento, desde farinha crua, clínquer e cimento (misturado) até o produto final.

Características

Integração plena em automação

O único difratômetro de bancada automatizável com alta produtividade de amostras: O Aeris pode ser conectado a uma correia ou um robô para um processamento de amostras rápido e automatizado.
O poder da combinação de tecnologias: A solução dupla, Aeris e Zetium, oferece uma caracterização de materiais completa adicionando informações sobre a composição elementar pelo Zetium e a identificação de fase pelo Aeris.
Suportes de amostra padrão do setor personalizados para suas necessidades: Coleção de suportes de amostra de 51,5 mm / Suportes de amostra de 40 mm

Análise rápida, máximo tempo de operação

Uma análise rápida minimiza ciclos de comentários e permite uma intervenção precoce na otimização do processo. Tempo de análise padrão para clínquer ou cimento em apenas 5 minutos.

O tempo de operação do equipamento analítico é a chave para o controle do processo. Desde o começo, o Aeris foi projetado para o tempo máximo de atividade.

Sólida e eficiente

Projeto reforçado: O único instrumento XRD de bancada com carregamento de amostra externo para máxima proteção contra poeira no interior do instrumento.
Exigências mínimas de infraestrutura: Sem água de refrigeração, sem trocador de calor, sem ar comprimido, a única coisa de que você precisa é de uma tomada monofásica.
Pronto para o setor: Compatível com todos os padrões comuns do setor, desde protocolos de interface LIMS até diversos suportes de amostra padrão do setor.

Um simples toque

O difratômetro de raios X mais intuitivo. Com uma tela de toque integrada, você sempre obtém seus resultados com apenas alguns toques:

Coloque sua amostra
Selecione o programa de medição
Ver resultados

Difração de Raios X com Cimento Aeris e 1Der

Especificação

Trocador de amostras

Carregamento de amostra	Carregamento externo de amostras
Sample holders	Variedade de suportes de amostra de tamanho normal capazes de atender a todos os requisitos
Troca de amostra	Escolha entre uma plataforma de carregamento manual, um trocador de amostras de 6 posições ou um trocador de amostras de alta capacidade com 67 posições
Automação	Compatível com integração de automação

Geração de raios X

Comprimento de onda	Cu
Tube setting	Opções de 300 W a 600 W em configuração de 30 kV ou 40 kV
Tube housing	Design patenteado com tecnologia de trajeto inteligente do feixe incidente resistente à corrosão (CRISP) A tecnologia CRISP evita a corrosão no trajeto do feixe incidente causada pelo ar ionizado induzido por raios X. Patente n° US 8437451 B2

Goniômetro

Base configuration	Goniômetro vertical, acoplado e desacoplado θ-θ, amostras sempre horizontais
Geometry	Bragg-Brentano, transmissão, incidência rasante
Radius	145 mm
Maximum 2θ range	Bragg-Brentano, transmissão, incidência rasante
Angle positioning	Direct Optical Position Sensing (DOPS3) com precisão de posicionamento vitalícia
Scan Speed	Máx. 2,17°/s
Resolução	< 0,04° 2θ sobre LaB6 (com fendas Soller com 0,01 rad)
2θ linearity	< 0,04° 2θ
Smallest addressable increment	0,001 °

Estágios / Detectores

Spinning	Escolha de estágios do spinner
Non-ambient	Opção de estágio de aquecimento (BTS-500, BTS-150)
Exchange of stages	Troca de estágios PreFIX sem alinhamento
Special stages	Mediante solicitação (manual, MPSS, in situ)
Detector	Escolha entre os detectores PIXcel^1D e 1Der

Geral

Dimensões	690 x 770 x 786 mm
Dust protection	Sistema fechado com carregamento externo de amostras
External cooling water supply	Não é necessário
Compressed air supply	Não é necessário
Alimentação elétrica	100 – 240 V, monofásica
Computador	PC do instrumento interno
Operação	Interface de usuário intuitiva com tela sensível ao toque de 10,4"
Interface	LAN, USB, HDMI