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Seus clientes exigem consistência superior no desempenho do polímero e na segurança do consumidor, independentemente do local de produção. O Epsilon 4, um espectrômetro de bancada de fluorescência de raios X por energia dispersiva (EDXRF), oferece análise elementar com repetibilidade e precisão superiores, atendendo às demandas de consistência do cliente.
Os procedimentos de medição fáceis de usar e os requisitos limitados de serviços públicos permitem uma análise reproduzível perto de linhas de produção e em vários locais de produção. O Epsilon 4 oferece resultados confiáveis durante meses sem recalibragem. Nunca foi tão fácil garantir a qualidade do seu produto.
O poder da FRX de bancada: Aliando as mais recentes tecnologias de excitação e detecção e design inteligente, o desempenho analítico do Epsilon 4 se aproxima ao dos mais potentes espectrômetros de chão. A excitação seletiva e a cuidadosa combinação da saída da ampola de raios X com os recursos do sistema de detecção estão por trás do excelente desempenho do sistema.
Rápido e sensível: A rapidez nas medições é obtida com a mais recente tecnologia de detectores de desvio de silício que produz intensidades significativamente maiores. Os exclusivos componentes eletrônicos do detector proporcionam uma capacidade de contagem linear superior a 1.500.000 cps (com 50% de tempo morto) e uma resolução independente de contagem geralmente melhor que 135 eV para melhorar a separação das linhas analíticas no espectro. Isso permite que o espectrômetro Epsilon 4 opere em potência total e, consequentemente, proporcione uma produtividade muito maior de amostras, em comparação com os instrumentos tradicionais de bancada de EDXRF.
Custos de operação baixos: O Epsilon 4 não requer o uso de ácidos, gases e coifas de fumaça caros, como o ICP e o AAS. O único requisito é eletricidade da rede e, em alguns casos, o uso de hélio para aumentar a sensibilidade de elementos leves na amostra. Além disso, nenhum componente dos espectrômetros de FRX fica exposto a fricção ou calor e, portanto, dura por muitos anos.
Análise não destrutiva: As medições com o Epsilon 4 são realizadas diretamente nos pós soltos ou produtos finais, com pouca ou nenhuma preparação da amostra. Como a FRX é uma técnica não destrutiva, outras técnicas analíticas poderão ser usadas após a medição da amostra, se necessário.
O Epsilon 4 oferece diretamente seu valor para o produtor de polímeros, plásticos e tintas. Possibilita total rastreabilidade por meio de análise rápida e direta em todos os processos de produção e perto deles.
Validação da qualidade das matérias-primas recebidas e análise quanto à presença de aditivos, resíduos de catalisadores e elementos tóxicos em produtos finais. As soluções ADPOL, TOXEL e RoHS de calibração exclusivas da Malvern Panalytical fornecem suporte a seus usuários para oferecer segurança ao consumidor, além de qualidade e desempenho consistentes e de ponta ao produto.
O acesso às amostras de calibração corretas é fundamental em FRX.
Para a indústria de plásticos e polímeros, desenvolvemos soluções exclusivas de calibração para analisar com precisão os aditivos e resíduos de catalisadores (ADPOL), elementos tóxicos (TOXEL) e garantir a conformidade com RoHS (RoHS) de acordo com a ASTM F2617 e IEC 62321-3-1.
Os espectrômetros Epsilon 4 podem lidar com uma grande variedade de tipos de amostra, que vão de alguns miligramas a amostras em massa maiores. As amostras podem ser medidas como:
Great tool. Quick analysis, easy-to-use repeatable. Very helpful and competent assistance.
Omar Scaccabarozzi — Analyst
| Capacidade de amostras | Trocador de amostras removível de 10 posições |
|---|---|
| Tamanho da amostra | O espectrômetro pode acomodar amostras (pós soltos, líquidos, pastas e sólidos) de até 52 mm de diâmetro |
| Features | O spinner é incluído para melhorar a precisão dos resultados de líquidos, pastas e pós |
| Features | Janela lateral de cerâmica e metal, com estabilidade máxima
Janela de berílio fina, de 50 micrômetros, para alta sensibilidade de elementos leves (Na, Mg, Al, Si) |
|---|---|
| Tube setting | Ampola de raios X com ânodo de Ag para melhorar o desempenho das análises de P, S e Cl |
| Tipo de detector | Detector de desvio de silício (SDD) de alta resolução, normalmente 135 eV a Mn-Kα |
|---|---|
| Features | Máx. Contagem de 1.500.000 contagens/s com 50% de tempo morto
Detector com janela de entrada fina para alta sensibilidade |
| Software |
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Pacote de software analítico EDXRF para sistemas de bancada Epsilon
Análise sem padrões de todos os tipos de amostras
Determinação da composição e da espessura de revestimentos e multicamadas
Protegendo seus dados e satisfazendo os auditores.
Identificação instantânea de material
Accurate elemental analysis by XRF of functional polymer additives
Para análise de materiais restritos pelo RoHS
Para análise precisa de elementos tóxicos em polímeros
O Claisse está sempre pronto para atender às suas necessidades!
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Para garantir que o instrumento permaneça em condição máxima e funcione no nível mais elevado, a Malvern Panalytical oferece uma grande variedade de serviços. Nosso conhecimento e nossos serviços de suporte garantem o funcionamento ideal do instrumento.
Manutenção para sempre
Agregando valor aos seus processos
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