Propiedad intelectual

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Marcas comerciales

Marca comercialEstado
1DER®
AERIS®
AERIS PANALYTICAL®
(ASD Inc) logo®
AMASS®
AMPLIFY ANALYTICS®
AMPLIFY ANALYTICS (+ Logo)®
Archimedes®
AXIOS®
CHI-BLUE®
Claisse®
Claisse (+ Logo)®
(CLS Logo)®
CONCEPT LIFE SCIENCES®
CONCEPT LIFE SCIENCES (+ Logo)®
CREOPTIX®
CUBIX®
CUBIX3®
dCore
EAGON®
Eagon 2®
EASY SAXS®
EMPYREAN®
EPSILON®
EPSILON X-FLOW®
EXPERT SAXS®
EASY SAXS®
FieldSpec®
FIPA
FLUOR’X®
GALIPIX 3D®
Gemini
goLab
HandHeld 2
HIGHSCORE®
Hydrosight
iCore
Indico Pro
Insitec®
(Insitec logo)®
(Insitec Measurement Systems logo)®
ISys®
LabSizer
LabSpec®
LeNeo®
LeDoser
LeDoser-12
M3 PALS
M4
MADLS®
Malvern®
(Triangular hills logo + Malvern Instruments)®
Malvern in Chinese characters®
Malvern Instruments®
Malvern Instruments in Chinese characters®
Malvern Link
(Malvern Plus Hills Logo)®
MALVERN PANALYTICAL®
MALVERN PANALYTICAL in Chinese characters®
MALVERN PANALYTICAL in Katakana®
MALVERN PANALYTICAL in Korean script®
MALVERN PANALYTICAL (+ X Logo)®
Mastersizer®
Mastersizer 2000
MC (stylised)®
MDRS®
Microcal®
Morphologi®
(Triangular hills logo)®
Nanosight®
NIBS
OIL-TRACE®
OMNIAN®
OMNISEC®
OMNITRUST®
PANALYTICAL®
PANALYTICAL LOGO (picture)®
PANTOS®
PEAQ-ITC®
PIXCEL®
PIXCEL 1D®
PIXCEL 3D®
PIXIRAD®
QualitySpec®
Spraytec
SST®
SST-MAX®
SUPER SHARP TUBE®
STRATOS®
SUPER Q®
SyNIRgi
TerraSpec®
TheOx® Advanced®
Ultrasizer
VENUS MINILAB®
ViewSpec
Viscogel
Viscotek®
Viscotek SEC-MALS
WAVECHIP®
WE'RE BIG ON SMALL
(X Logo)®
X’CELERATOR®
XPERT3®
Zetasizer®
ZETIUM®
ZS Helix®

Patentes

Malvern Panalytical tiene un rango único de productos líderes en el mercado que están protegidos por las siguientes patentes y solicitudes de patente

Mastersizer

Números de patenteTítulo de patenteInstrumentos
EP1167946B1 (GB, FR, DE60135521D1)Sistema cambiador de muestrasHydro MV, Hydro LV, Hydro EV
GB2364774B
US6800251B2
Sistema cambiador de muestras para utilizar en un equipo de caracterización de partículasHydro MV, Hydro LV
GB2494735BEquipo para medir la distribución del tamaño de partículas mediante dispersión de luzMS3000, MS3000E
CN104067105B
EP2756283B1 (GB, FR, DE602012015707.0)
US9869625B2
JP6154812B
Equipo y método para medir la distribución del tamaño de partículas mediante dispersión de luzMS3000, MS3000E
US10837889B2
GB2494734B
Equipo y método para medir la distribución del tamaño de partículas mediante dispersión de luzMS3000, MS3000E

Zetasizer

Números de patenteTítulo de patenteInstrumentos
US7217350B2
Movilidad y efectos derivados de la carga superficialGama Zetasizer Advance, Nano ZS, Nano Z, Nano ZS90, Nano ZSP, Helix
EP2467701A1
CN102575984B
US9279765B2
JP5669843B2
US10317339B2
US20200096443A1
Microrreología dinámica basada en dispersión de luz de líquidos complejos con detección mejorada del modo de dispersión únicaGama Zetasizer Advance, Nano ZSP, Helix
CN103608671B
CN105891304B
EP2721399B1 (BE, CH+LI, DK, FR, GB, NL, DE602012031338.2, IT502017000050268)
JP06023184B2
US9829525B2
US10274528B2
US20200072888A1
Medición de carga superficialAccesorio de celda de la placa Zeta
US8702942B2
CN103339500B
EP2652490B1 (GB, FR, DE602011046775.1)
JP06006231B2
JP06453285B2
US10648945B2
Electroforesis de láser Doppler con una barrera de difusiónGama Zetasizer Advance, Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano ZSP
EP2742337B1 (GB, FR, DE602012018122.2)
US9816922B2
Caracterización de modo doble de partículasZetasizer Helix
US10197485B2
US10520412B2
US10845287B2
EP3353527A1
JP2018535429A
CN108291861A
Caracterización de partículasGama Zetasizer Advance
US10119910B2Instrumento de caracterización de partículasZetasizer Advance: Ultra y Pro
US8675197B2
JP6059872B2
EP2404157B1
Caracterización de partículasAccesorio Zetasizer Advance
EP3521806A1
US20210063295A1
CN111684261A
WO2019154882A1
Dispersión de luz dinámica de ángulo múltipleZetasizer Advance: Ultra

Insitec

Números de patenteTítulo de patenteInstrumentos
US7418881B2
EP1592957B1 (GB)
Método y sistema de diluciónInsitec (algunos productos)
US7871194B2
EP1869429A2
Método y sistema de diluciónInsitec (algunos productos)
EP2640499B1 (GB)Método de mezcla de polvo y dispersador en líneaInsitec Dry

Morphologi

Números de patenteTítulo de patenteInstrumentos
EP2106536B1 (GB, FR, DE602008039489.1)
US8111395B2
US8564774B2
Investigación espectrométrica de la heterogeneidadMorphologi G3-ID
GB2522735B
JP6560849B2
Método y equipo para la dispersión de polvoMorphologi G3-ID, Morphologi G3

Viscosizer

Números de patenteTítulo de patenteInstrumentos
US2018067901A1
JP2018511129A
EP3274864A1
CN107430593A
Parametrización de modelos de múltiples componentesViscosizer TD

Hydro Sight

Números de patenteTítulo de patenteInstrumentos
US8456633B2Monitoreo de proceso espectrométricoHydro Sight
CN104704343B
EP2864760A2
US10509976B2
Caracterización de muestra de fluido heterogéneaHydro Sight

NanoSight

Números de patenteTítulo de patenteInstrumentos
US7751053B2
JP04002577B2
EP1499871B1 (FR, DE60335872.1)
GB2388189B
US7399600B2
Detección óptica para el análisis de partículasNanoSight NS300
NanoSight NS500
NanoSight LM10
EP3071944B1 (GB, FR, DE602014059002.0)
US9909970B2
JP6505101B2
CN105765364A
Mejoras en o relacionadas con la calibración de instrumentosNanoSight NS300

MicroCal ITC

Números de patenteTítulo de patenteInstrumentos
CN101855541B
EP2208057A1
JP05542678B2
US8449175C1
US8827549C1
Equipo de microcalorímetro de titulación isotérmica y método de usoRango de equipos MicroCal ITC
CN102232184B
EP2352993B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1)
JP5476394B2
US9103782B2
US9404876B2
US10036715B2
US10254239B2
EP3144666B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009059932.1)
US20200025698A1
EP3647776A1
Equipo de microcalorímetro de titulación isotérmica automática y método de usoRango de equipos MicroCal ITC

MicroCal DSC

Números de patenteTítulo de patenteInstrumentos
US8635045B2
CN103221808B
EP2646811A1
IN336472
JP5925798B2
Método para la determinación automática del pico en datos calorimétricosRango de equipos MicroCal DSC

OMNISEC

Números de patenteTítulo de patenteInstrumentos
US9759644B2
US10551291B2
Viscosímetro de puente capilar equilibradoOMNISEC
US9612183B2
EP2619543B1 (GB, FR, DE602011011174.4)
JP05916734B2
CN103168223B
IN341558
Viscosímetro de puente capilar modularOMNISEC

XRF de piso

Números de patenteTítulo de patenteInstrumentos
US8210000B2
JP5554163B2
CN101941789B
EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1)
Horno perlaZetium
Axios FAST
Epsilon5
US6823043B2Determinación de parámetros de materiales
Zetium*
Axios FAST*
2830 ZT (analizador de obleas)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US7949092B2
Dispositivo y método para realizar análisis de rayos X
Zetium*
Axios FAST*
2830 ZT (analizador de obleas)*
Epsilon5*
SEMYOS
US6574305B2
Dispositivo y método para la inspección de la condición de una muestraZetium*
Axios FAST*
2830 ZT (analizador de obleas)*
Epsilon5*
SEMYOS*
JP4111336B2Dispositivo para probar la muestra con rayos X
Epsilon5

US7042978B2Estudio de muestras de materialZetium*
Axios FAST*
Epsilon5
SEMYOS*
JP5782451B2
EP2510397B1 (GB, FR, NL, DE602010021859.7)
Método para fabricar una estructura multicapas con un patrón lateral para la aplicación en el rango de la longitud de onda de la radiación UV, además de las estructuras bf e Imag construidas según este métodoZetium*
Axios FAST
2830 ZT (analizador de obleas)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US9658352B2
CN104833557B
JP656263B2
JP6804594B2
Método de preparación de un estándarZetium
Axios FAST
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2
Preparación de bolitas de muestra mediante presiónZetium
Axios FAST
US10107551B2
EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2)
JP6559486B2
CN105258987B
Preparación de las muestras para XRF con crisol de platino y flujoZetium
Axios FAST
US9784699B2
JP6861469B2
CN105937890B
EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
Análisis cuantitativo de rayos X: corrección del espesor de la matrizZetium*
Axios FAST
US9739730B2
JP6706932B2
CN105938113B
EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
Análisis cuantitativo de rayos X: instrumento de camino óptico múltipleZetium*
Axios FAST
US9851313B2
JP6762734B2
CN105938112B 
EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)
Análisis cuantitativo de rayos X: corrección de la relaciónZetium*
Axios FAST
JP3936912B2Contenedor de muestra con cubierta flotante para el análisis de rayos X de líquidosZetium
Axios FAST
2830 ZT (analizador de obleas)
Epsilon5
SEMYOS
US9239305B2Soporte de muestrasZetium*
Axios FAST*
Epsilon5
US7978820B2
Difracción y fluorescencia de rayos XZetium*
Axios FAST*
2830 ZT (analizador de obleas)*
Epsilon5*
SEMYOS
US7720192B2
JP5574575B2
CN101311708B
Equipo de fluorescencia de rayos XZetium*
Axios FAST*
2830 ZT (analizador de obleas)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US7194067B2
Sistema óptico de rayos XZetium*
Axios FAST*
2830 ZT (analizador de obleas)*
Epsilon5*
SEMYOS
US8223923B2
JP5266310B2
CN101720491B
EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)
Fuente de rayos X con cátodo de cable de metalZetium
Axios FAST
2830 ZT (analizador de obleas)
Epsilon5
SEMYOS
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
Distribución del ánodo del tubo de rayos X
Zetium
Axios FAST
2830 ZT (analizador de obleas)
Epsilon5
SEMYOS
US10281414B2
EP3330701B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2)
EP3480587A1
US10393683B2
JP6767961B2
CN108132267A
Colimador cónico para mediciones de rayos X.Zetium*
* Opcional/no estándar en el producto

XRF de mesa de trabajo

Números de patenteTítulo de patenteInstrumentos
US8210000B2
JP5554163B2
CN101941789B
EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1)
Horno perlaRango Epsilon 1
Espectrómetros Epsilon 3X
Edición de calidad del aire Epsilon 4
US6823043B2Determinación de parámetros de materiales
Rango Epsilon 1 *
Espectrómetros Epsilon 3X*
Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US7949092B2
Dispositivo y método para realizar análisis de rayos X
Rango Epsilon 1 *
Espectrómetros Epsilon 3X*
Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US6574305B2
Dispositivo y método para la inspección de la condición de una muestraRango Epsilon 1 *
Espectrómetros Epsilon 3X*
Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US7042978B2Estudio de muestras de materialRango Epsilon 1 *
Espectrómetros Epsilon 3X*
Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US9658352B2
CN104833557B 
JP6562635B2
JP6804594B2
Método de preparación de un estándarRango Epsilon 1
Espectrómetros Epsilon 3X
Edición de calidad del aire Epsilon 4
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2
Preparación de bolitas de muestra mediante presiónRango Epsilon 1
Espectrómetros Epsilon 3X
Edición de calidad del aire Epsilon 4
US10107551B2
JP6559486B2
CN105258987B 
EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2)
Preparación de las muestras para XRF con crisol de platino y flujoRango Epsilon 1
Espectrómetros Epsilon 3X
Edición de calidad del aire Epsilon 4
US9784699B2
JP6861469B2
CN105937890B
EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
Análisis cuantitativo de rayos X: corrección del espesor de la matrizRango Epsilon 1 *
Espectrómetros Epsilon 3X*
Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US9739730B2
JP6706932B2
CN105938113B 
EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9)
Análisis cuantitativo de rayos X: instrumento de camino óptico múltipleRango Epsilon 1 *
Espectrómetros Epsilon 3X*
Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US9851313B2
JP6762734B2
CN105938112B 
EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)
Análisis cuantitativo de rayos X: corrección de la relaciónRango Epsilon 1 *
Espectrómetros Epsilon 3X*
Edición de calidad del aire Epsilon 4*
JP3936912B2Contenedor de muestra con cubierta flotante para el análisis de rayos X de líquidosRango Epsilon 1
Espectrómetros Epsilon 3X
Edición de calidad del aire Epsilon 4
US9239305B2Soporte de muestrasRango Epsilon 1 *
Espectrómetros Epsilon 3X*
Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US9547094B2
CN104849295B
EP2908127B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2)
JP6526983B2
Equipo de análisis de rayos X
Rango Epsilon 1
Espectrómetros Epsilon 3X
Edición de calidad del aire Epsilon 4
US7978820B2
Difracción y fluorescencia de rayos XRango Epsilon 1 *
Espectrómetros Epsilon 3X*
Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US7194067B2
Sistema óptico de rayos XRango Epsilon 1 *
Espectrómetros Epsilon 3X*
Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US8223923B2
JP5266310B2
CN101720491B
EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)
Fuente de rayos X con cátodo de cable de metalRango Epsilon 1 *
Espectrómetros Epsilon 3X*
Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
Distribución del ánodo del tubo de rayos X
Rango Epsilon 1 *
Espectrómetros Epsilon 3X*
Edición de calidad del aire Epsilon 4*
* Opcional/no estándar en el producto

XRD de piso

Números de patenteTítulo de patenteInstrumentos
US6815684B2
Equipo analítico de rayos X suministrado con un detector de rayos X sensible a la posición de estado sólidoEmpyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
Rango CubiX³
US6823043B2Determinación de parámetros de materiales
Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Rango CubiX³*
US6574305B2
Dispositivo y método para la inspección de la condición de una muestraEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Rango CubiX³*
US9506880B2
CN104251870B
EP2818851A1
JP6403452B2
Imágenes de difracciónEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Rango CubiX³*
US7116754B2DifractómetroEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Rango CubiX³*
US8488740B2
JP6009156B2
CN102565108B
EP2455747B1 (GB, FR, NL, DE602011022779.3)
Difractómetro
Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Rango CubiX³*
US7858945B2
JP5254066B2
CN101521246B
EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3)
Detector de imágenesEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Rango CubiX³*
EP2088625B1 (GB, FR, NL, CH + LI, DE602009040563.2)Detector de imágenesEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Rango CubiX³*
US9110003B2
CN103383363B
EP2634566B1 (GB, FR, NL, DE602012058202.2)
JP6198406B2
Microdifracción
Empyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
Rango CubiX³
US6704390B2
Equipo de análisis de rayos X proporcionado con un espejo multicapa y un colimador de salidaEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Rango CubiX³*
US9640292B2
CN104777179B
EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1)
JP6564683B2
Equipo de rayos X
Empyrean
X'Pert³ Powder
Rango CubiX³
US7756248B2
JP5145263B2
CN101545873B
EP2090883B1 (GB, FR, NL, DE602008002143D1)
Detección de rayos X en el empaque
Empyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
US8477904B2
JP5752434B2
CN102253065B
EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)
Difracción de rayos X y tomografía computarizadaEmpyrean
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Rango CubiX³*
US7542547B2
JP5280057B2
CN101256160B
EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)
Equipo de difracción de rayos X para la dispersión de rayos X
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
EP1287342B1 (GB, FR, DE60147121.0)Difractómetro de rayos XEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Rango CubiX³*
US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0)
Instrumento de rayos XEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Rango CubiX³
US7194067B2
Sistema óptico de rayos XEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Rango CubiX³*
US8437451B2
JP5999901B2
CN102610290B
EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)
Distribución del obturador de rayos XEmpyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
Rango CubiX³
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
Distribución del ánodo del tubo de rayos X
Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Rango CubiX³*
EP3553508A2
US20190317030A1
JP2019184609A
CN110389142A
Equipo y método de análisis de rayos XEmpyrean*
US10359376B2
EP3273229A1
JP6701133B2
CN107643308A
Soporte de muestras para el análisis de rayos XEmpyrean*
* Opcional/no estándar en el producto

QualitySpec 7000

Números de patenteTítulo de patenteInstrumentos
US8164747B2
CA2667650C
EP2092296B1 (CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6)
Equipo, sistema y método para mediciones espectroscópicas ópticasQualitySpec 7000

TerraSpec Halo

Números de patenteTítulo de patenteInstrumentos
US9207118B2Equipo, sistema y método para escanear monocromador e instrumentación de espectrómetro de haz de diodosTerraSpec Halo

QualitySpec Trek

Números de patenteTítulo de patenteInstrumentos
US9207118B2Equipo, sistema y método para escanear monocromador e instrumentación de espectrómetro de haz de diodosQualitySpec Trek

XRD de mesa de trabajo

Números de patenteTítulo de patenteInstrumentos
US6815684B2
Equipo analítico de rayos X suministrado con un detector de rayos X sensible a la posición de estado sólidoAeris*
US6823043B2Determinación de parámetros de materiales
Aeris*
US9506880B2
CN104251870B
EP2818851A1
JP6403452B2
Imágenes de difracciónAeris*
US7116754B2DifractómetroAeris*
US8488740B2
JP6009156B2
CN102565108B
EP2455747B1 (GB, FR, NL, DE602011022779.3)
DifractómetroAeris*
US7858945B2
JP5254066B2
CN101521246B
EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3)
Detector de imágenesAeris*
EP2088625B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602009040563.2)Detector de imágenesAeris*
US6704390B2
Equipo de análisis de rayos X proporcionado con un espejo multicapa y un colimador de salidaAeris*
US9640292B2
JP6564572B2
CN104777179B
EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1)
Equipo de rayos XAeris
US8477904B2
JP5752434B2
CN102253065B
EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)
Difracción de rayos X y tomografía computarizadaAeris*
US7542547B2
JP5280057B2
CN101256160B
EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)
Equipo de difracción de rayos X para la dispersión de rayos X
Aeris*
EP1287342B1 (GB, FR, DE60147121.0)Difractómetro de rayos XAeris*
US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0)
Instrumento de rayos XAeris*
US7194067B2
Sistema óptico de rayos XAeris*
US8437451B2
JP5999901B2
CN102610290B
EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)
Distribución del obturador de rayos XAeris
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
Distribución del ánodo del tubo de rayos X
Aeris*

* Opcional/no estándar en el producto