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Marcas comerciales

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Última actualización de la lista de marcas comerciales: 20 de marzo del 2025

Marca comercial	Estado
1DER	®
AERIS	®
AERIS PANALYTICAL	™
ASD	™
Logotipo (ASD Inc)	®
AMASS	®
AMPLIFY ANALYTICS	®
AMPLIFY ANALYTICS (+ logotipo)	®
Archimedes	®
AXIOS	®
CHI-BLUE	®
CLAISSE	®
Claisse (+ logotipo)	®
CREOPTIX	®
CUBIX	®
CubiX³	®
dCore	™
EAGON	®
Eagon 2	™
EasySAXS	®
EMPYREAN	®
EPSILON	®
EPSILON Xflow	®
ExpertSAXS	®
FIELDSPEC	®
FIPA	™
FLUOR’X	®
FORJ	™
GaliPIX^3D	®
Gemini	™
goLab	™
HandHeld 2	™
HighScore	®
Hydrosight	™
iCore	™
Indico Pro	™
INSITEC	®
(Logotipo de Insitec)	®
(Logotipo de Insitec Measurement Systems)	®
ISYS	®
LabSizer	™
LABSPEC	®
LeNeo	®
LeDoser	™
LeDoser-12	™
PALS en M3	™
M4	™
MADLS	®
MALVERN	®
(Logotipo de Triangular hills + Malvern Instruments)	®
马尔文 (Malvern en caracteres chinos)	®
MALVERN INSTRUMENTS	®
马尔文仪器 (Malvern Instruments en caracteres chinos)	™
Malvern Link	™
(Logotipo de Malvern Plus Hills)	®
MALVERN PANALYTICAL	®
MALVERN PANALYTICAL (马尔文帕纳科 en caracteres chinos)	®
MALVERN PANALYTICAL (en katakana)	®
MALVERN PANALYTICAL (en alfabeto coreano)	®
MALVERN PANALYTICAL (+ logotipo X)	®
MASTERSIZER	®
Mastersizer 2000	™
MC (estilizado)	™
MDRS	®
MICROCAL	®
MORPHOLOGI	®
(Logotipo de colinas triangulares)	®
NanoSight	®
NIBS	™
Oil-Trace	®
Omnian	®
OmniSEC	®
OmniTrust	®
PANALYTICAL	®
帕纳科 (PANALYTICAL en caracteres chinos)	®
パナリティカル (PANALYTICAL en katakana)	®
PANalytical AERIS	®
Logotipo PANalytical +	®
PANTOS	™
PEAQ-ITC	®
PIXcel	®
PIXcel^1D	®
PIXcel^3D	®
PIXIRAD	®
QUALITYSPEC	®
REVONTIUM	®
SMART RETURN	™
Spraytec	™
SST	®
SST-mAX	®
SUPER SHARP TUBE	®
Stratos	®
SuperQ	®
SyNIRgi	™
TERRASPEC	®
TheOx	®
Ultrasizer	™
VENUS MINILAB	™
ViewSpec	™
Viscogel	™
VISCOTEK	®
Viscotek SEC-MALS	™
WAVEchip	®
WAVEcore	®
waveRAPID	®
SOMOS GRANDES EN LO PEQUEÑO	®
(Logotipo X)	®
X’CELERATOR	®
X'Pert³	®
ZETASIZER	®
ZETIUM	®
ZS Helix	™

Patentes

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Aunque se hacen esfuerzos para garantizar que esta lista sea exhaustiva, el proceso de patentes es dinámico, por lo que el contenido de la lista cambiará con el tiempo (por razones como nuevas solicitudes de patentes, publicaciones, emisión de una patente, desistimiento, vencimiento, pérdida de vigencia de una patente, cambios en el producto, licencias u otras circunstancias).

Esta lista puede no ser exhaustiva. Los productos enumerados pueden estar protegidos por patentes adicionales o pendientes, y otros productos que no se enumeran aquí pueden estar protegidos por una o más patentes o patentes pendientes. La ausencia de patentes o productos en esta lista no impide que se hagan cumplir todos los derechos legales asociados con la patente o el producto.

Última actualización de las patentes: 20 de marzo del 2025

Mastersizer

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
GB2494735B	Equipo para medir la distribución del tamaño de partículas mediante dispersión de luz	Gama Mastersizer 3000, Mastersizer 3000E, Mastersizer 3000+
CN104067105B (ZL201280042740.0) EP2756283B1 (GB, FR, DE602012015707.0) US9869625B2 JP6154812B2	Equipo y método para medir la distribución del tamaño de partículas mediante dispersión de luz	Mastersizer 3000, Mastersizer 3000+ Ultra
US10837889B2 GB2494734B	Equipo y método para medir la distribución del tamaño de partículas mediante dispersión de luz	Gama Mastersizer 3000, Mastersizer 3000E, Mastersizer 3000+
WO2024023498A2 EP4312015A1	CARACTERIZACIÓN DE PARTÍCULAS	Mastersizer 3000+: Pro y Ultra
WO2024023497A1	Calidad de los datos	Mastersizer 3000+: Pro y Ultra
WO2024180386A1	CARACTERIZACIÓN DE PARTÍCULAS	Mastersizer 3000+: Ultra

Zetasizer

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
EP2467701B1 (CH+LI, GB, FR, DE602010067652.8) CN102575984B (ZL201080036806.6) US9279765B2 JP5669843B2 US10317339B2 US11237106B2	Microrreología dinámica basada en dispersión de luz de líquidos complejos con detección mejorada del modo de dispersión única	Gama Zetasizer Advance, Nano ZSP, Helix
CN103608671B (ZL201280027695.1) CN105891304B (ZL201610324224.7) EP2721399B1 (BE, CH+LI, DK, FR, GB, NL, DE602012031338.2, IT502017000050268) JP6023184B2 US9829525B2 US10274528B2 US11079420B2	Medición de carga superficial	Accesorio de celda de la placa Zeta
US8702942B2 CN103339500B (ZL201180060863.2) EP2652490B1 (GB, FR, DE602011046775.1) JP6006231B2 JP6453285B2 US10648945B2 US11988631B2	Electroforesis de láser Doppler con una barrera de difusión	Gama Zetasizer Advance, Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano ZSP
EP2742337B1 (GB, FR, DE602012018122.2) US9816922B2	Caracterización de modo doble de partículas	Zetasizer Helix
US10197485B2 US10520412B2 US10845287B2 US11435275B2 EP3353527B1 (GB, FR, DE602016077138.1) JP6936229B2 CN108291861B (ZL201680068213.5) JP7361079B EP4215900A1	Caracterización de partículas	Gama Zetasizer Advance
US10119910B2	Instrumento de caracterización de partículas	Zetasizer Advance: Ultra y Pro
US8675197B2 JP6059872B2 EP2404157B1 (GB, FR, DE602010066495.3)	Caracterización de partículas	Accesorio Zetasizer Advance
EP3521806B1 (AT, FR, GB, DE602018077164.6) US11441991B2 CN111684261B (ZL201980011816.5) JP7320518B2	Dispersión de luz dinámica de ángulo múltiple	Zetasizer Advance: Ultra
Diseños: DM/100202 (EM: D100202-0001, D100202-0002; GB: 81002020001000, 81002020002000; JP: JP1614066S; EE. UU.: D878227S) CN304816039S (ZL201730635419.9)	Dispositivos de caracterización de partículas	Gama Zetasizer Advance

Insitec

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
US7871194B2 EP1869429B1 (GB, FR, DE602006060213.8)	Método y sistema de dilución	Insitec (algunos productos)
EP2640499B1 (GB)	Método de mezcla de polvo y dispersador en línea	Insitec Dry

Morphologi

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
EP2106536B1 (GB, FR, DE602008039489.1) US8111395B2 US8564774B2	Investigación espectrométrica de la heterogeneidad	Morphologi G3-ID, Morphologi 4-ID
GB2522735B JP6560849B2	Método y equipo para la dispersión de polvo	Morphologi G3-ID, Morphologi G3, Morphologi 4, Morphologi 4-ID
EP3510526B1 (GB, FR, DE60217072468.8) US11068740B2 CN109716355B (ZL201780054158.9) JP7234106B2	Identificación de los límites de las partículas	Morphologi 4, Morphologi 4-ID
US8004662B2 US8842266B2	EVALUACIÓN DE MEZCLAS FARMACÉUTICAS	Morphologi 4-ID
Diseños: DM/100537 (EM: D100 537-0001, D100 537-0002; GB: 81005370001000, 81005370002000; JP: JP1622788S, JP1623345S; EE. UU.: D862261S1) CN304677453S (ZL201730616458.4)	Instrumentos de medición [distintos del tiempo de medición]	Morphologi 4, Morphologi 4-ID

Viscosizer

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
US11113362B2 JP6917897B2 EP3274864A1 CN107430593B (ZL201680017577.0)	Parametrización de modelos de múltiples componentes	Viscosizer TD

Hydro Sight

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
CN104704343B (ZL201380044016.6) EP2864760B1 (GB, FR, DE602013085354.1) US10509976B2	Caracterización de muestra de fluido heterogénea	Hydro Sight

NanoSight

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
EP3071944B1 (GB, FR, DE602014059002.0) US9909970B2 JP6505101B2 CN105765364B (ZL201480063550.6)	Mejoras en o relacionadas con la calibración de instrumentos	NanoSight NS300, NanoSight Pro
WO2023148528A1 EP4476523A1 CN118984933A JP2025505204A	ANÁLISIS DE PARTÍCULAS	NanoSight Pro
WO2024094987A1	APARATO Y MÉTODO DE CARACTERIZACIÓN DE PARTÍCULAS	NanoSight Pro

MicroCal ITC

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
CN101855541B (ZL200880114826.3) EP2208057B1 (CH+LI, GB, FR, DE602008065108.8) JP05542678B2 US8449175B2 US8827549B2	Equipo de microcalorímetro de titulación isotérmica y método de uso	Rango de equipos MicroCal ITC
CN102232184B (ZL200980149081.9) EP2352993B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1) JP5476394B2 US9103782B2 US9404876B2 US10036715B2 US10254239B2 EP3144666B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009059932.1) US20200025698A1 EP3647776B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009065333.4)	Equipo de microcalorímetro de titulación isotérmica automática y método de uso	Rango de equipos MicroCal ITC

MicroCal DSC

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
US8635045B2 CN103221808B (ZL201180057401.5) EP2646811B1 (GB, FR, DE 602011071793.6) IN336472 JP5925798B2	Método para la determinación automática del pico en datos calorimétricos	Rango de equipos MicroCal DSC
Diseños: DM/097302 (EM: D097 302; GB: 80973020001000; JP: JP1619772S, JP1643496S; EE. UU.: D826739S1) CN304227374S (ZL201730043139.9)	Microcalorímetro de barrido diferencial	Gama PEAQ-DSC

OMNISEC

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
US9759644B2 US10551291B2	Viscosímetro de puente capilar equilibrado	OMNISEC
US9612183B2 EP2619543B1 (GB, FR, DE602011011174.4) JP5916734B2 CN103168223B (ZL201180046166.1) IN341558	Viscosímetro de puente capilar modular	OMNISEC

QualitySpec 7000

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
US8164747B2 CA2667650C EP2092296B1 (CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6)	Equipo, sistema y método para mediciones espectroscópicas ópticas	QualitySpec 7000

TerraSpec Halo

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
US9207118B2	Equipo, sistema y método para escanear monocromador e instrumentación de espectrómetro de haz de diodos	TerraSpec Halo

QualitySpec Trek

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
US9207118B2	Equipo, sistema y método para escanear monocromador e instrumentación de espectrómetro de haz de diodos	QualitySpec Trek

XRF de piso

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B (ZL201010223406.8) EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1) AU2010202662B2	Horno perla	Zetium Axios FAST Epsilon5
JP4950523B2	Aparato y método para corregir aberraciones	Zetium* Axios FAST* 2830 ZT (analizador de obleas)* Epsilon5* SEMYOS*
US7949092B2	Dispositivo y método para realizar análisis de rayos X	Zetium* Axios FAST* 2830 ZT (analizador de obleas)* Epsilon5* SEMYOS
US9658352B2 CN104833557B (ZL201510120748.X) JP656263B2 JP6804594B2	Método de preparación de un estándar	Zetium Axios FAST
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6) JP6360151B2	Preparación de bolitas de muestra mediante presión	Zetium Axios FAST
US10107551B2 EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2) JP6559486B2 CN105258987B (ZL201510504763.4)	Preparación de las muestras para XRF con crisol de platino y flujo	Zetium Axios FAST
US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B (ZL201610119027.1) EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4)	Análisis cuantitativo de rayos X: corrección del espesor de la matriz	Zetium* Axios FAST
US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B (ZL201610121520.7) EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9)	Análisis cuantitativo de rayos X: instrumento de camino óptico múltiple	Zetium* Axios FAST
US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B (ZL201610121518.X) EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)	Análisis cuantitativo de rayos X: corrección de la relación	Zetium* Axios FAST
US9239305B2	Soporte de muestras	Zetium* Axios FAST* Epsilon5
US7720192B2 JP5574575B2 CN101311708B (ZL200810127759.0)	Equipo de fluorescencia de rayos X	Zetium* Axios FAST* 2830 ZT (analizador de obleas)* Epsilon5* SEMYOS*
US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B (ZL200880018575.9) EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)	Fuente de rayos X con cátodo de cable de metal	Zetium Axios FAST 2830 ZT (analizador de obleas) Epsilon5 SEMYOS
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)	Distribución del ánodo del tubo de rayos X	Zetium Axios FAST 2830 ZT (analizador de obleas) Epsilon5 SEMYOS
US10281414B2 EP3330701B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2) EP3480587B1 (GB, FR, NL, DE602017061400.9) US10393683B2 JP6767961B2 CN108132267B (ZL201711251653.7)	Colimador cónico para mediciones de rayos X.	Zetium*
* Opcional/no estándar en el producto

XRF de mesa de trabajo

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B (ZL201010223406.8) EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1)	Horno perla	Rango Epsilon 1 Espectrómetros Epsilon 3X Edición de calidad del aire Epsilon 4
JP4950523B2	Aparato y método para corregir aberraciones	Rango Epsilon 1* Espectrómetros Epsilon 3X* Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US7949092B2	Dispositivo y método para realizar análisis de rayos X	Rango Epsilon 1* Espectrómetros Epsilon 3X* Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US9658352B2 CN104833557B (ZL201510120748.X) JP6562635B2 JP6804594B2	Método de preparación de un estándar	Rango Epsilon 1 Espectrómetros Epsilon 3X Edición de calidad del aire Epsilon 4
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6) JP6360151B2	Preparación de bolitas de muestra mediante presión	Rango Epsilon 1 Espectrómetros Epsilon 3X Edición de calidad del aire Epsilon 4
US10107551B2 JP6559486B2 CN105258987B (ZL201510504763.4) EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2)	Preparación de las muestras para XRF con crisol de platino y flujo	Rango Epsilon 1 Espectrómetros Epsilon 3X Edición de calidad del aire Epsilon 4
US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B (ZL201610119027.1) EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4)	Análisis cuantitativo de rayos X: corrección del espesor de la matriz	Rango Epsilon 1* Espectrómetros Epsilon 3X* Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B (ZL201610121520.7) EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9)	Análisis cuantitativo de rayos X: instrumento de camino óptico múltiple	Rango Epsilon 1* Espectrómetros Epsilon 3X* Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B (ZL201610121518.X) EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)	Análisis cuantitativo de rayos X: corrección de la relación	Rango Epsilon 1* Espectrómetros Epsilon 3X* Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US9239305B2	Soporte de muestras	Rango Epsilon 1* Espectrómetros Epsilon 3X* Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US9547094B2 CN104849295B (ZL201510155965.2) EP2908127B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2) JP6526983B2	Equipo de análisis de rayos X	Rango Epsilon 1 Espectrómetros Epsilon 3X Edición de calidad del aire Epsilon 4
US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B (ZL200880018575.9) EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)	Fuente de rayos X con cátodo de cable de metal	Rango Epsilon 1* Espectrómetros Epsilon 3X* Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)	Distribución del ánodo del tubo de rayos X	Rango Epsilon 1* Espectrómetros Epsilon 3X* Edición de calidad del aire Epsilon 4*
US11183355B2 EP3675148A1 JP7601502B2 CN111383876B (ZL201911390180.8)	Tubo de rayos X	Revontium
EP24169034.6 (aún no se ha publicado)	Ajuste complementario de fondo calculado iterativamente	Revontium
EP24169094.0 (aún no se ha publicado)	Un aparato de manipulación de muestras	Revontium
* Opcional/no estándar en el producto

XRD de piso

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
JP4950523B2	Aparato y método para corregir aberraciones	Empyrean X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) Rango CubiX³
US9506880B2 CN104251870B (ZL201410299083.9) EP2818851B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602013084303.1) JP6403452B2	Imágenes de difracción	Empyrean# X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# Rango CubiX³#
US7858945B2 JP5254066B2 CN101521246B (ZL200910129197.8) EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3)	Detector de imágenes	Empyrean# X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# Rango CubiX³#
EP2088625B1 (GB, FR, NL, CH + LI, DE602009040563.2)	Detector de imágenes	Empyrean# X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# Rango CubiX³#
US9110003B2 CN103383363B (ZL201310069293.4) EP2634566B1 (GB, FR, NL, DE602012058202.2) JP6198406B2	Microdifracción	Empyrean# X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# Rango CubiX³#
US9640292B2 CN104777179B (ZL201410833194.3) EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1) JP6564683B2	Equipo de rayos X	Empyrean X'Pert³ Powder Rango CubiX³
US7756248B2 JP5145263B2 CN101545873B (ZL200910134609.7) EP2090883B1 (GB, FR, NL, DE602008002143D1)	Detección de rayos X en el empaque	Empyrean X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL)
US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B (ZL201110072597.7) EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)	Difracción de rayos X y tomografía computarizada	Empyrean X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* Rango CubiX³*
US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B (ZL200810095161.8) EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)	Equipo de difracción de rayos X para la dispersión de rayos X	X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)*
US7477724B2	Instrumento de rayos X	Empyrean* X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* Rango CubiX³
US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B (ZL201210007967.3) EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)	Distribución del obturador de rayos X	Empyrean X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) Rango CubiX³
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)	Distribución del ánodo del tubo de rayos X	Empyrean* X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* Rango CubiX³*
EP3553508A2 US11035805B2 JP7398875B2 CN110389142B (ZL201910295269.X)	Equipo y método de análisis de rayos X	Empyrean*
US10359376B2 EP3273229B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017069169.0) JP6701133B2 CN107643308B (ZL201710593858.7)	Soporte de muestras para el análisis de rayos X	Empyrean*
US10782252B2 CN110376231A EP3553506A2 JP7258633B2	Aparato y método para el análisis de rayos X con control híbrido de la divergencia del haz	Empyrean*
US10753890B2 EP3372994B1 (AT, CZ, GB, FR, NL, PL, DE602018003874.4) CN108572184B (ZL201810190461.8) JP6709814B2	Método y aparato de difracción de rayos X de alta resolución	Empyrean*
EP3553509B1 (AT, GB, FR, NL, DE602019017362.8) JP7208851B2 US10900912B2 CN110389143B (ZL201910300453.9)	Equipo de análisis de rayos X	Empyrean*
US10352881B2 EP3343209B1 (GB, FR, NL, DE602017032595.3) CN108240998B (ZL201711404282.1) JP6839645B2	Tomografía computarizada	Empyrean*
US9753160B2 CN104285164B (ZL201380025271.6) EP2850458B1 (GB, FR, NL, DE602013040524.7, IT502018000029139) JP6277351B2	Sensor de rayos X digital	Empyrean X'Pert³ Rango CubiX³
EP3719484B1 (AT, CZ, FR, GB, NL, PL, DE602019046393.6, IT502024000012301) US12007343B1 CN113661389B (ZL202080027081.8) JP7503076B2	Aparato y método de conformación de rayos X	Empyrean*
EP4111184A1 US20230296538A1 CN116368379A JP2023538446A	Detector de rayos X para el equipo de análisis de difracción de rayos X	Empyrean* (con detector 1Der)
EP4094073A1 US20230293127A1 CN116438449A JP2023538445A	Identificación del intercambio de carga en la difracción de rayos X	Empyrean* (con detector 1Der)
* Opcional/no estándar en el producto # Disponible por petición especial

XRD de mesa de trabajo

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
JP4950523B2	Aparato y método para corregir aberraciones	Aeris
US9506880B2 CN104251870B (ZL201410299083.9) EP2818851B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602013084303.1) JP6403452B2	Imágenes de difracción	Aeris*
EP2088625B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602009040563.2)	Detector de imágenes	Aeris*
US9640292B2 JP6564572B2 CN104777179B (ZL201410833194.3) EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1)	Equipo de rayos X	Aeris
US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B (ZL201110072597.7) EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)	Difracción de rayos X y tomografía computarizada	Aeris*
US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B (ZL200810095161.8) EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)	Equipo de difracción de rayos X para la dispersión de rayos X	Aeris*
US7477724B2	Instrumento de rayos X	Aeris*
US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B (ZL201210007967.3) EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)	Distribución del obturador de rayos X	Aeris
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)	Distribución del ánodo del tubo de rayos X	Aeris*
US10753890B2 EP3372994B1 (AT, CZ, DE602018003874.4, GB, FR, NL, PL) CN108572184B (ZL201810190461.8) JP6709814B2	Método y aparato de difracción de rayos X de alta resolución	Aeris*
EP4094073A1 US20230293127A1 CN116438449A JP2023538445A	Identificación del intercambio de carga en la difracción de rayos X	Aeris* (con detector 1Der)
* Opcional/no estándar en el producto

Preparación de muestra

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
WO2024164079A1	SISTEMA Y MÉTODO DE FUSIÓN PARA REALIZAR LA FUSIÓN DE LA MUESTRA	FORJ
WO2024164080A1	SISTEMA Y MÉTODO DE FUSIÓN PARA REALIZAR LA FUSIÓN DE LA MUESTRA	FORJ
WO2024164081A1	SISTEMA Y MÉTODO DE FUSIÓN PARA REALIZAR LA FUSIÓN DE LA MUESTRA	FORJ
WO2024164082A1	SISTEMA Y MÉTODO DE FUSIÓN PARA REALIZAR LA FUSIÓN DE LA MUESTRA	FORJ
WO2024164086A1	SISTEMA Y MÉTODO DE FUSIÓN PARA REALIZAR LA FUSIÓN DE LA MUESTRA	FORJ*
WO2024164083A1	SISTEMA DE ADMINISTRACIÓN DE COMPRIMIDOS PARA EL DISPOSITIVO DE FUSIÓN	FORJ*
Diseños: EE. UU. 29/873,668 (aún no publicado) CA 224,605;235,581; 235,582; 235,583; 235,584; 235,585; 235,586; 235,587 (todos registrados) DM/232583: EM, GB (ambos registrados); BR (aún no publicado) AU202316700 AU202410300 CN308681450S (ZL202330644590.1) ZA: A2023/01083, A2023/01084, A2023/01085, A2023/01086	Soporte de muestras	Crisol o casete de molde FORJ
* Opcional/no estándar en el producto

Sistema WAVESystem (Creoptix)

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
EP3824469B1 (CH+LI, GB, FR, SE, DE602019066157.6)	Método para calcular los parámetros cinéticos de una red de reacción	WAVEdelta, WAVEcontrol
CN113811771B (ZL202080036463.7) EP3969910B2 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602021016832.2) JP2022532479A US20220162697A1	Métodos para determinar los parámetros cinéticos de una reacción entre el analito y los ligandos	WAVEdelta, WAVEcontrol
CN115667930A EP4172625B2 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602021016832.2) JP2023531046A US20230273202A1	Un método para determinar los parámetros cinéticos de una reacción	WAVEdelta, WAVEcontrol
EP3448564B1 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602017039989.2) CN108883414B (ZL201780021418.2) JP6846434B2 US11135581B2	Métodos y conjuntos para la recuperación de moléculas	WAVEdelta
EP2137514B1 (CH+LI, FR, GB, SE, DE502008016144.9) US8325347B2	Sensor óptico integrado	WAVE, WAVEdelta, WAVEchip

BreakThrough Analyzer (BTA)

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
10 487 954 B2 10 514 332	Calibración automatizada del detector y mezcla de gas personalizada	Analizador BreakThrough (BTA), AutoChem III

AutoChem III

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
10 487 954 11 105 825 B2	Mecanismo de sellado KwikConnect para reactores de muestra	AutoChem III

AccuPyc III

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
11 874 155 B2 Patentes estadounidenses y extranjeras pendientes	Sistemas y métodos para calibrar los picnómetros de gas y analizadores de adsorción de gas	AccuPyc III

AccuPore

Números de patente	Título de patente	Instrumentos
Patentes estadounidenses y extranjeras pendientes	- -	AccuPore