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Difractómetros de rayos X (XRD)

Servimos a la comunidad de difracción de rayos X desde hace casi un siglo

Los difractómetros de rayos X Malvern Panalytical están diseñados para obtener la máxima calidad de datos de difracción, en combinación con la facilidad de uso y la flexibilidad para cambiar rápidamente a diferentes aplicaciones.

Soluciones XRD

Nuestros difractómetros son utilizados en muchos entornos, desde universidades e institutos de investigación hasta laboratorios de control de procesos industriales. Cualquiera sea el tipo de difracción de rayos X (XRD) que necesite, ofrecemos el instrumento adecuado, respaldado por nuestra organización mundial de ventas y servicio.

Nuestros difractómetros polifuncionales (Aeris, Empyrean, X’Pert3 MRD XL) están equipados con módulos PreFIX (rayos X de intercambio rápido prealineados), lo que ofrece un cambio sencillo para el usuario en la trayectoria óptica. Por este motivo, ofrecemos la mayoría de las aplicaciones en una sola plataforma de difractómetros. Obtenga más información en nuestro centro de conocimientos acerca de las diversas y emocionantes aplicaciones de XRD que ofrece nuestro equipo.

Aeris

Prepárese para sorprenderse con nuestro sistema XRD rápido y de alta precisión. Los resultados precisos pueden estar listos en menos de cinco minutos.
Aeris

Gama Empyrean

Nuestra óptica MultiCore de nuevo diseño permite la mayor variedad de mediciones sin ninguna intervención manual.
Gama Empyrean

X'Pert³

La larga y exitosa historia de nuestros difractómetros de investigación de materiales continúa con una nueva generación de X'Pert³.
X'Pert³

Soluciones de orientación de cristales

Gama Crystal Orientation

Gama Crystal Orientation

Nuestras soluciones de orientación de cristal están diseñadas teniendo en cuenta aplicaciones de bolas, lingotes, discos y obleas.

Nuestra gama de soluciones de orientación de cristales está diseñada teniendo en cuenta aplicaciones de lingotes, obleas y cristales. La orientación de los cristales se simplifica en una variedad de entornos con nuestros instrumentos: desde análisis en línea hasta investigación de escritorio, lo tenemos cubierto.

Aeris

Aeris

Compact X-ray diffractometer

Gama Empyrean

Gama Empyrean

Multipurpose X-ray diffractometer

X'Pert³

X'Pert³

Thin Film Analysis XRD Systems

Gama Crystal Orientation

Gama Crystal Orientation

Fast and accurate orientation of wafers and ingots

Tecnología
X-ray Diffraction (XRD)
Tipo de medición
Forma de partícula
Tamaño de partícula
Determinación de la estructura de cristal
Identificación de fases
Cuantificación de fases
Detección y análisis de contaminantes
Análisis de epitaxia
Rugosidad de interfaz
Imágenes y estructuras 3D
Metrología de película delgada
Esfuerzo residual
Crystal orientation
Cleanroom ISO 4
SECS/GEM