Los difractómetros de rayos X Malvern Panalytical están diseñados para obtener la máxima calidad de datos de difracción, en combinación con la facilidad de uso y la flexibilidad para cambiar rápidamente a diferentes aplicaciones.
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Download nowServimos a la comunidad de difracción de rayos X desde hace casi un siglo
Los difractómetros de rayos X Malvern Panalytical están diseñados para obtener la máxima calidad de datos de difracción, en combinación con la facilidad de uso y la flexibilidad para cambiar rápidamente a diferentes aplicaciones.
Nuestros difractómetros son utilizados en muchos entornos, desde universidades e institutos de investigación hasta laboratorios de control de procesos industriales. Cualquiera sea el tipo de difracción de rayos X (XRD) que necesite, ofrecemos el instrumento adecuado, respaldado por nuestra organización mundial de ventas y servicio.
Nuestros difractómetros polifuncionales están equipados con módulos PreFIX (rayos X de intercambio rápido prealineados), lo que ofrece un cambio sencillo para el usuario en la trayectoria óptica. Por este motivo, ofrecemos la mayoría de las aplicaciones en una sola plataforma de difractómetros. Obtenga más información en nuestro centro de conocimientos acerca de las diversas y emocionantes aplicaciones de XRD que ofrece nuestro equipo.
![]() AerisCompact X-ray diffractometer |
![]() Gama EmpyreanMultipurpose X-ray diffractometer |
![]() X'Pert³Thin Film Analysis XRD Systems |
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Más detalles | Más detalles | Más detalles | |
Tecnología | |||
X-ray Diffraction (XRD) | |||
Tipo de medición | |||
Forma de partícula | |||
Tamaño de partícula | |||
Determinación de la estructura de cristal | |||
Identificación de fases | |||
Cuantificación de fases | |||
Detección y análisis de contaminantes | |||
Análisis de epitaxia | |||
Rugosidad de interfaz | |||
Imágenes y estructuras 3D | |||
Metrología de película delgada | |||
Esfuerzo residual | |||
Cleanroom ISO 4 | |||
SECS/GEM |