Los conocimientos específicos de la industria comienzan aquí: vea cómo Aeris XRD ofrece resultados que importan. Más información

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Aeris

El futuro es compacto

  • Sistema XRD de sobremesa de alta precisión
  • Resultados precisos en menos de cinco minutos
  • Opciones de detectores 0D, 1D y 2D
  • Configuraciones de medición flexibles

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Descripción general

Déjese sorprender por nuestro sistema de XRD rápido y de alta precisión: Aeris. Puede obtener resultados precisos en menos de cinco minutos. Hasta ahora, la obtención rápida de datos de alta calidad solo se había conseguido con sistemas de XRD de gran tamaño instalados en el suelo. El compacto Aeris es pequeño, poderoso y el primero de su tipo. 

Si se combina la carga de muestras en un solo paso con su acceso controlado por el usuario y la opción de diseñar programas de recopilación de datos sin conexión, el resultado es un sistema práctico y versátil para todos los usuarios, desde principiantes hasta expertos.   

No importa dónde se encuentre su aplicación en el espectro entre versatilidad y especialización, Aeris puede ayudarlo.  

Om_logo.png   Funciona con OmniTrust: la solución de cumplimiento de Malvern Panalytical para el entorno regulado

Características

Preparado para el futuro 

Como un difractómetro moderno y multipropósito*, el diseño modular de Aeris hace que las actualizaciones y adiciones opcionales sean sencillas, y la disponibilidad garantizada del producto supone tranquilidad para el futuro. 

* Condiciones no ambientales, reflexión, transmisión, incidencia de grazado, difracción 2D.

Fácil de usar

Con Aeris, no todos los usuarios necesitan experiencia en XRD. 

Su interfaz intuitiva, los programas de medición precargados y la facilidad para colocar las muestras permiten que todos puedan obtener resultados reproducibles.

Carga de muestras fácil y reproducible

Los soportes para muestras fabricados con precisión de Aeris y el sistema de carga externo facilitan que todos los usuarios carguen las muestras correctamente siempre, para cada tipo de muestra, desde polvos hasta sólidos. 

Compatibilidad con entornos regulados

Con el acceso controlado de los usuarios y el software de cumplimiento, Aeris está listo para todos los flujos de trabajo regulados (de acuerdo con la regulación 21 CFR Parte 11). 

Gestión sencilla de múltiples usuarios.

Rápido y preciso

Con su goniómetro clásico y su computadora integrada, los componentes de alto rendimiento de Aeris y las plataformas de muestra de precisión proporcionan resultados exactos en tan solo cinco minutos. 

Aeris: The future is compact

Great value to purchase, fast and easy to use, fantastic data; it's a winner!

Damian G. Research

Especificación

Manipulación de muestras

Carga de muestra Carga externa de muestras
Sample holders Una variedad de soportes de muestras de tamaño regular capaces de cumplir con todos los requisitos
Cambio de muestra
Cambiador de muestras de tamaño completo con seis posiciones
Automatización
Compatible con la integración de automatización

Generación de rayos X

Longitud de onda
Cu / Co
Tube setting
Opciones de 300 W a 600 W en configuración de 30 kV o 40 kV
Tube housing
Diseño patentado con tecnología de trayectoria inteligente del haz incidente resistente a la corrosión (CRISP, del inglés Corrosion-Resistant Incident Smart Beam Path).
La tecnología CRISP evita la corrosión en la trayectoria del haz incidente causada por el aire ionizado inducido por los rayos X. Patente n.º US 8437451 B2.

Goniómetro

Base configuration
Goniómetro vertical, acoplado y desacoplado θ-θ, muestras siempre horizontales
Geometry
Bragg-Brentano, transmisión, incidencia rasante
Radius
145 mm
Maximum 2θ range
-4°< 2θ ≤ 142° (con detector de exploración y longitud activa completa)
Angle positioning
Sistema de posicionamiento óptico directo (DOPS3) con precisión de posicionamiento de por vida
Scan Speed
Máx. 2,17°/s
Resolución
<0,04° 2θ en LaB6 (con ranuras Soller de 0,01 rad)
2θ linearity
<0,04° 2θ
Smallest addressable increment
0,001 °

Plataformas y detectores

Spinning
Elección de plataformas del dispositivo de giro
Non-ambient
Opción de plataforma de calentamiento (BTS-500, BTS-150)
Exchange of stages
Intercambio de prefijos sin alineamiento de plataformas
Special stages
A pedido (manual, MPSS, in situ)
Detector
Elija entre los detectores PIXcel1D, PIXcel3D y 1Der

General

Dimensiones
690 x 770 x 786 mm
Dust protection
Sistema cerrado con carga externa de muestras
External cooling water supply
No es necesario
Compressed air supply
No es necesario
Fuente de energía
De 100 a 240 V, monofásico
Computadora
Computadora instrumental interna
Operación
Interfaz de usuario intuitiva con pantalla táctil de 10,4 pulgadas
Interface LAN, USB, HDMI

Accesorios

Detectores

1Der

Máxima versatilidad y claridad de datos en detección 1D

El 1Der es la incorporación más reciente a un portafolio de detectores de estado sólido líderes para aplicaciones de difracción de rayos X (XRD). Junto con una gama inigualable de configuraciones ópticas, el 1Der se integra perfectamente en las plataformas XRD para combinar facilidad de uso con la máxima flexibilidad y claridad de datos en todas las aplicaciones 0D y 1D.

El 1Der es compatible con todas las fuentes de rayos X que se utilizan en el Empyrean y el Aeris.

PIXcel1D

Tecnología Medipix como detector de tiras dedicado

Con el detector PIXcel1D cuenta con un detector de tiras dedicado para aplicaciones 0D y 1D. Puede medir hasta 255 veces más rápido que con un detector puntual tradicional, sin comprometer la calidad de los datos. Al no requerir agua de enfriamiento, flujo de nitrógeno líquido, gas de conteo ni calibraciones que consumen tiempo, es una solución rentable.

Con una resolución y un rango dinámico inigualables, el PIXcel1D se puede utilizar con todos nuestros difractómetros.

PIXcel3D

El primer detector en llevar datos 0D, 1D, 2D y 3D a su difractómetro

El PIXcel3D es un exclusivo detector de píxeles híbridos en estado sólido en 2D. Cada píxel es de 55 micrones x 55 micrones y la matriz del detector es de 256 x 256 píxeles. El detector, ahora basado en la tecnología Medipix3, aporta una señal al ruido sin igual, con su función de dispersión de punto de un píxel y varios niveles de discriminación energética.

Manejo de muestras

Aeris combina un manejo externo de muestras sencillo con una operación clara e intuitiva con solo presionar un botón. Ofrece una variedad de opciones de manipulación actualizables para colocar la muestra en su plataforma externa. Su diseño modular permite escalar según las necesidades del laboratorio, incluyendo un mayor rendimiento. Las opciones de manejo abarcan desde la carga manual de una única muestra hasta la carga automática de múltiples muestras en entornos de alto rendimiento. Además, Aeris está diseñado para integrarse completamente en laboratorios automatizados. Los soportes de muestra se manipulan con precisión mediante estaciones de posicionamiento externas y pueden cambiarse sin interrumpir mediciones en curso.

Carga manual de muestras

Para usuarios con volúmenes de muestra bajos o cambios poco frecuentes, la plataforma externa permite cargar y reemplazar una única muestra. La muestra se transfiere automáticamente a la zona de medición de XRD, garantizando un manejo preciso en cada análisis.

Carga manual de muestras

Cambiador de muestras de 6 posiciones

El cambiador de muestras de 6 posiciones permite el procesamiento por lotes de hasta 6 muestras a la vez, mejorando la eficiencia y reduciendo la necesidad de intervención del operador. Ideal para laboratorios con carga de trabajo media.

Cambiador de muestras de 6 posiciones

Cambiador de muestras de alta capacidad

Para entornos de alto rendimiento, el Cambiador de Muestras de Alta Capacidad de Aeris es la mejor solución. Con tecnología robótica probada, permite el análisis autónomo de más de 60 muestras, proporcionando una eficiencia de recursos un 50% superior.

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Cambiador de muestras de alta capacidad

Manejo automatizado de muestras

Total integración en laboratorios automatizados operados a través de la interfaz UAI. Las muestras pueden suministrarse al instrumento mediante un sistema de transporte por cinta conectado al cambiador automatizable o mediante un brazo robótico que coloca las muestras directamente en la plataforma del cambiador.

Manejo automatizado de muestras

Soluciones de software

Los instrumentos y las mediciones de Aeris se ejecutan mediante su software de recopilación de datos integrado con programas de medición precargados. Los usuarios también pueden escribir sus propios programas. 

Para la cuantificación de fases, contenido amorfo, etc., el software integrado RoboRiet puede realizar análisis automatizados con visualización inmediata en pantalla y transferencia a bases de datos de resultados. 

La medición y el análisis también pueden automatizarse mediante X’Pert Industry. Industry ofrece una función de scripting única para personalizar la recopilación de datos y los métodos de cuantificación basados en líneas de calibración para cualquier aplicación de control de procesos. Los informes de resultados también se pueden configurar por completo para sistemas LIMS. 

También puede realizar sus propios análisis en profundidad gracias a nuestros paquetes informáticos HighScore Plus o Stress Plus. 

Para el cumplimiento normativo y la integridad de los datos, Omnitrust cubre los requisitos de gestión de usuarios y auditoría de datos en un entorno regulado.

RoboRiet

Una implementación especial “solo de ejecución” del método Rietveld y de asentamientos de perfiles para la cuantificación de fases de XRD, cuantificación de fase amorfa y mucho más. 

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RoboRiet

Industry

Software para el análisis de difracción de rayos X de rutina en un entorno industrial, que va desde sistemas no regulados hasta completamente regulados, y desde sistemas manuales controlados hasta sistemas completamente automatizados.

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Industry

HighScore Plus

Tras la identificación de todas las fases presentes en su muestra, este paquete de software todo en uno seguirá prestando apoyo a su análisis, desde la cuantificación con o sin el método Rietveld hasta el ajuste de perfiles y el tratamiento de patrones.

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HighScore Plus

Stress Plus

El software Stress Plus está dedicado al análisis de difracción de rayos X (XRD) de tensión residual en recubrimientos policristalinos. El software realiza análisis de esfuerzo residual sin²ψ con técnicas unidireccionales y multidireccionales. 

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Stress Plus

Ediciones especializadas

Aeris facilita la caracterización y el análisis de cualquier muestra tanto en entornos de investigación como industriales. Sin embargo, a veces su aplicación necesita una solución especializada, o necesita que su sistema alternativo a un sistema de xrd de sobremesa esté calibrado y listo para la acción.

Para satisfacer esta necesidad, también se ofrecen ediciones de Aeris adaptadas y específicas para el sector. Estas versiones industriales especializadas incluyen paquetes de conocimientos personalizables, precalibrados para sus métodos analíticos o material de muestra específicos. Su Aeris estará preparado para la medición y el análisis automatizados mediante el software Roboriet incorporado. ¡Listo cuando usted lo esté! 

Encuentre su edición a continuación:

Manuales de usuario

Descargas de software

23 June 2025

1.7a

OmniTrust software update v1.7a

1.7a

20 July 2023

1.60

OmniAccess   

  • Flexible/configurable roles in Empyrean and Aeris (now aligns with Zetasizer) 
  • Summary of roles/permissions 
  • Default roles for instrument applications 
  • Support for complex domains 
  • Wizard for initial set up and massively improved UI to improve configuration/set up 

OmniTrail  

  • Record Audit trail events viewable in OmniTrail. 
  • Show/compare authorization files 

More information can be found in the Release and Installation Notes.

1.60

16 December 2021

1.40

OmniAccess   

  • Flexible/configurable roles in Empyrean and Aeris (now aligns with Zetasizer) 
  • Summary of roles/permissions 
  • Default roles for instrument applications 
  • Support for complex domains 
  • Wizard for initial set up and massively improved UI to improve configuration/set up 

OmniTrail  

  • Record Audit trail events viewable in OmniTrail. 
  • Show/compare authorization files 

More information can be found in the Release and Installation Notes.

1.40

Soporte

Servicios

Soluciones para maximizar la rentabilidad de su inversión

Para garantizar que su instrumento se mantenga en condiciones óptimas y funcione al más alto nivel, Malvern Panalytical ofrece una amplia gama de servicios. Nuestra experiencia y nuestros servicios de asistencia garantizan el óptimo funcionamiento de su instrumento.

Soporte

Servicio durante toda la vida útil

  • Asistencia telefónica y remota
  • Mantenimiento preventivo y revisiones
  • Acuerdos flexibles de atención al cliente
  • Certificados de rendimiento
  • Actualizaciones de hardware y software
  • Asistencia local y global

Experiencia

Agregamos valor a sus procesos 

  • Desarrollo y optimización de preparación de muestras
  • Metodologías analíticas 
  • Soluciones listas para usar para XRD 
  • Operaciones a través de IQ/OQ/PQ, aseguramiento de la calidad (GLP, ISO17025) o estudios interlaboratorios o cooperativos
  • Servicios de asesoría

Capacitación y educación

  • Capacitación in situ o en nuestros centros de competencia
  • Amplia gama de cursos básicos y avanzados sobre productos, aplicaciones y software
Un tamaño pequeño con un GRAN impacto.

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XRD de alta calidad y rápida, personalizada acorde a sus necesidades. Listo para la automatización e integración. El compacto moderno.

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