En investigación de materiales, el científico tiene numerosas preguntas analíticas relacionadas con la constitución cristalina de muestras de materiales. La difracción de rayos X (XRD) es la única técnica de laboratorio que revela información estructural, como la composición química, la estructura cristalina, el tamaño de los cristales, la deformación, la orientación preferida y el espesor de las capas. Por lo tanto, los investigadores de materiales utilizan XRD para analizar una amplia gama de materiales, desde polvos y sólidos hasta las películas delgadas y nanomateriales.

La ciencia y la industria

Muchos investigadores, tanto en la industria como en laboratorios científicos, se basan en la difracción de rayos X como herramienta para desarrollar nuevos materiales o para mejorar la eficiencia de la producción. Las innovaciones en la difracción de rayos X siguen de cerca la investigación sobre nuevos materiales, como tecnologías de semiconductores o investigaciones farmacéuticas. Las actividades de investigación industrial se enfocan en la velocidad y la eficiencia en constante aumento de los procesos de producción. El análisis de difracción de rayos X totalmente automatizado en los sitios de producción de materiales de minería y de construcción se traduce en soluciones más rentables para el control de la producción.

Soluciones para cuestiones analíticas

El análisis de difracción de rayos X satisface muchas de las necesidades analíticas de un científico de materiales. En polvos, las fases químicas se identifican tanto cualitativa como cuantitativamente. La difracción de rayos X de alta resolución revela los parámetros de las capas como la composición, el espesor, la rugosidad y la densidad en películas delgadas semiconductoras. La dispersión de rayos X de ángulo pequeño y el análisis de la función de distribución de pares (PDF) ayudan a analizar las propiedades estructurales de los nanomateriales. Se pueden determinar las tensiones y la orientación preferida en una amplia gama de objetos sólidos y componentes de ingeniería.

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Tecnología
X-ray Diffraction (XRD)
Tipo de medición
Forma de partícula
Tamaño de partícula
Crystal structure determination
Phase identification
Phase quantification
Contaminant detection and analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
3D structure / imaging
Thin film metrology
Residual stress