En investigación de materiales, el científico tiene numerosas preguntas analíticas relacionadas con la constitución cristalina de muestras de materiales. La difracción de rayos X (XRD) es la única técnica de laboratorio que revela información estructural, como la composición química, la estructura cristalina, el tamaño de los cristales, la deformación, la orientación preferida y el espesor de las capas. Por lo tanto, los investigadores de materiales utilizan XRD para analizar una amplia gama de materiales, desde polvos y sólidos hasta las películas delgadas y nanomateriales.

La ciencia y la industria

Muchos investigadores, tanto en la industria como en laboratorios científicos, se basan en la difracción de rayos X como herramienta para desarrollar nuevos materiales o para mejorar la eficiencia de la producción. Las innovaciones en la difracción de rayos X siguen de cerca la investigación sobre nuevos materiales, como tecnologías de semiconductores o investigaciones farmacéuticas. Las actividades de investigación industrial se enfocan en la velocidad y la eficiencia en constante aumento de los procesos de producción. El análisis de difracción de rayos X totalmente automatizado en los sitios de producción de materiales de minería y de construcción se traduce en soluciones más rentables para el control de la producción.

Soluciones para cuestiones analíticas

El análisis de difracción de rayos X satisface muchas de las necesidades analíticas de un científico de materiales. En polvos, las fases químicas se identifican tanto cualitativa como cuantitativamente. La difracción de rayos X de alta resolución revela los parámetros de las capas como la composición, el espesor, la rugosidad y la densidad en películas delgadas semiconductoras. La dispersión de rayos X de ángulo pequeño y el análisis de la función de distribución de pares (PDF) ayudan a analizar las propiedades estructurales de los nanomateriales. Se pueden determinar las tensiones y la orientación preferida en una amplia gama de objetos sólidos y componentes de ingeniería.

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Malvern Panalytical te invita a dar un vistazo a la amplia gama de aplicaciones que puede admitir un difractómetro para resolver problemas analíticos.

Aeris

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XRD sencilla

Más detalles
Medición Crystal structure determination, Phase identification, Phase quantification
Maaterial del ánodo del tubo de rayos X Cu /Co (option)
Tecnología X-ray Diffraction (XRD)

Gama Empyrean

Gama Empyrean

La solución polifuncional para sus necesidades analíticas

Más detalles
Medición Forma de partícula, Tamaño de partícula, Crystal structure determination, Phase identification, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging
Configuración del goniómetro Vertical goniometer, Θ-Θ
Tecnología X-ray Diffraction (XRD)

Aeris

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XRD sencilla

Gama Empyrean

Gama Empyrean

La solución polifuncional para sus necesidades analíticas

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Medición Crystal structure determination, Phase identification, Phase quantification Forma de partícula, Tamaño de partícula, Crystal structure determination, Phase identification, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging
Maaterial del ánodo del tubo de rayos X Cu /Co (option)  
Configuración del goniómetro   Vertical goniometer, Θ-Θ
Tecnología X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD)

Aeris

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X'Pert³ MRD

X'Pert³ MRD XL

Aeris Gama Empyrean X'Pert³ MRD X'Pert³ MRD XL

Benchtop X-ray diffractometer

La solución polifuncional para sus necesidades analíticas

Versatile research & development XRD system

Versatile research, development & quality control XRD system

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Tecnología
X-ray Diffraction (XRD)
Tipo de medición
Forma de partícula
Tamaño de partícula
Crystal structure determination
Phase identification
Phase quantification
Contaminant detection and analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
3D structure / imaging
Thin film metrology
Residual stress