Técnicas de análisis de rayos X con instrumentos de fluorescencia y difracción de rayos X
En muchos entornos de producción o de I+D, se pueden utilizar rayos X para caracterizar materiales y muestras. La gama de longitud de onda de rayos X (de 0,01 nm a 10 nm) los hace excepcionalmente adecuados para analizar estructuras y elementos en el nivel atómico.
Existen algunas técnicas principales sobre cómo se pueden utilizar los rayos X para ayudar a caracterizar su muestra.
Se pueden utilizar la difracción de rayos X (XRD, del inglés “X-ray diffraction”) y la dispersión de rayos X; por ejemplo, para analizar la estructura cristalina de una muestra (cristalografía de rayos X), o a fin de identificar y cuantificar las fases cristalinas en una muestra (difracción de polvo de rayos X o XRPD).
Los difractómetros de XRD también se puede extender con herramientas y accesorios a fin de visualizar la estructura interna de un objeto o utilizar la dispersión de rayos X para determinar las distribuciones del tamaño de las nanopartículas.
La fluorescencia de rayos X (XRF, del inglés “X-ray fluorescence”) es una técnica rápida y no destructiva ampliamente utilizada para determinar la composición elemental de un material que solo requiere una preparación mínima de la muestra.
Los analizadores XRF se pueden utilizar para diversas aplicaciones, que van desde el análisis de bienes entrantes en busca de elementos tóxicos hasta el análisis preciso en entornos de producción crítica y de alto rendimiento.
Malvern Panalytical cuenta con una variedad de analizadores XRF para satisfacer sus desafíos.
XRD y XRF son técnicas complementarias con varias similitudes, ya que ambas utilizan una fuente de rayos X y un detector de rayos X, pero la información proporcionada por las dos técnicas es muy diferente.
La XRD proporciona información sobre las fases cristalinas presentes en una muestra y puede distinguir entre compuestos; por ejemplo, diferentes estados de oxidación (Fe2O3/Fe3O4) o entre diferentes polimorfos (hematita en comparación con maghemita, ambos con óxido férrico Fe2O3).
La XRF proporciona información sobre la composición química (elemental) de una muestra; es decir, qué elementos (Fe, O) están presentes y en qué cantidades. Uno de los principales beneficios de XRF es que puede detectar la cantidad de un elemento químico hasta 100 ppb (parte por mil millones). La preparación de la muestra de XRF también es rápida, fácil y segura en comparación con técnicas alternativas.
Malvern Panalytical es un proveedor líder a nivel mundial de equipos analíticos de rayos X con décadas de experiencia.
Ofrecemos una amplia gama de soluciones que van desde sistemas de sobremesa fáciles de utilizar hasta sistemas integrales de piso con potencia completa para XRF y XRD.
Estas técnicas son complementarias y, en muchos entornos de control de producción, se utilizan ambos tipos de equipos para garantizar una óptima garantía de calidad.
AerisEl futuro es compacto |
EmpyreanEl difractómetro inteligente |
ZetiumExcelencia elemental |
Gama EpsilonAnálisis elemental rápido y preciso junto a la línea y en la línea |
Axios FASTAlto rendimiento de muestras |
Epsilon XflowInformación directa en sus procesos de producción |
|
|---|---|---|---|---|---|---|
| Tecnología | ||||||
| X-ray Diffraction (XRD) | ||||||
| X-ray Fluorescence (XRF) | ||||||
| Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | ||||||
| Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | ||||||
