La identificación de fases principales y secundarias simples o múltiples en una muestra desconocida es la aplicación principal de la difracción de rayos X de muestras pulverizadas clásica.
Una fase es un sólido cristalino con una disposición tridimensional regular de los átomos. Las posiciones e intensidades pico de la difracción medida son como una huella digital de una determinada fase cristalina.
La identificación se logra mediante la comparación del patrón medido con las entradas de las bases de datos de referencia utilizando un algoritmo de coincidencia de búsqueda. Esto también se conoce como análisis cualitativo de fases.
La identificación de fases es la aplicación más importante de la difracción de rayos X de muestras pulverizadas (XRD o XRPD). La XRPD se aplica no solo en muestras pulverizadas, sino también en sólidos policristalinos, suspensiones y películas delgadas.
Las muestras de polvo inorgánico se miden con mayor frecuencia en la clásica geometría de reflexión Bragg-Brentano. Por otro lado, normalmente se prefiere una geometría de transmisión para materiales orgánicos (por ejemplo, productos farmacéuticos y polímeros), materiales cristalinos líquidos y suspensiones.
En el caso de películas delgadas, es más apropiada una configuración de incidencia por roce.
Los sistemas de difracción de rayos X Empyrean con sus plataformas de goniómetros verticales son muy adecuados para la identificación de fases en polvos, películas delgadas, sólidos y suspensiones. Estos instrumentos polifuncionales se utilizan predominantemente en entornos de investigación. También se admite la detección de polimorfos de alto rendimiento sobre una placa de pocillos.
El difractómetro de laboratorio Aeris con su interfaz de usuario intuitiva, la mejor calidad de datos y un alto rendimiento de muestras es una excelente herramienta para el análisis de fases de rutina de muestras pulverizadas y sólidas tanto en entornos industriales como de investigación.
HighScore (Plus) es un potente paquete de software que permite la búsqueda de picos y la fácil identificación de fases, incluso en mezclas de fases complejas. HighScore (Plus) permite la búsqueda simultánea en varias bases de datos de referencia y ofrece muchas opciones para la automatización y la elaboración de informes. También admite el análisis de grupos para muestras agrupadas con una composición de fases similar.
AerisEl futuro es compacto |
Gama EmpyreanLa solución polifuncional para sus necesidades analíticas |
|
---|---|---|
Tecnología | ||
X-ray Diffraction (XRD) | ||
Tipo de medición | ||
Identificación de fases | ||
Maaterial del ánodo del tubo de rayos X |