La fluorescencia de rayos X es una técnica analítica que se puede utilizar para determinar la composición química de una amplia variedad de tipos de muestras, entre los que se encuentran sólidos, líquidos, lodos y polvos sueltos. La XRF también se utiliza para determinar el espesor y la composición de capas y recubrimientos. Esta puede analizar elementos desde berilio (Be) hasta uranio (U) en gamas de concentración de un 100 %p a niveles sub-ppm.
La XRF es un método de emisión atómica, similar en este sentido a la espectroscopia de emisión óptica (OES, del inglés "Optical Emission Spectroscopy"), al plasma de acoplamiento inductivo (ICP, del inglés "Inductive Coupling Plasma") y al análisis de activación de neutrones (espectroscopía gamma). Estos métodos permiten medir la longitud de onda y la intensidad de la "luz" (rayos X en este caso) emitida por átomos energizados en la muestra.
En la FRX, la irradiación por un haz primario de rayos X procedente de un tubo de rayos X provoca la emisión de rayos X fluorescentes con energías discretas características de los elementos presentes en la muestra.
Figura, derecha: Ejemplo del proceso de fluorescencia de rayos X (XRF): 1) Fotón entrante 2) Fotón característico.
La XRF es una técnica analítica versátil que encuentra usos en un amplio espectro de industrias y campos científicos. Su adaptabilidad y precisión la han convertido en una herramienta indispensable para comprender y manipular la composición elemental de los materiales. Desde ayudar en la identificación de materiales y el control de calidad en las industrias hasta la preservación del patrimonio cultural y el avance de la investigación científica, la XRF continúa desempeñando un papel fundamental en mejorar nuestra comprensión del mundo elemental.
La XRF se utiliza ampliamente utilizada en procesos de calidad y control. Los usuarios pueden obtener rápidamente resultados precisos y exactos con un esfuerzo limitado en la preparación de muestras, y se puede automatizar fácilmente para su uso en entornos industriales de alto rendimiento. La precisión y la naturaleza no destructiva de XRF la convierten en una herramienta invaluable para el control de calidad en varios sectores de fabricación, como los siguientes:
La XRF juega un papel fundamental en la investigación y el desarrollo de materiales:
En los campos farmacéutico y médico, la XRF también tiene diversas aplicaciones:
Desde la preparación de muestras hasta la generación de informes de resultados, le ayudamos a desarrollar su flujo de trabajo ideal para satisfacer sus necesidades de análisis elemental.
El análisis de XRF es una técnica sólida que combina alta precisión y exactitud con una preparación fácil y rápida de muestras. Se puede automatizar fácilmente para su uso en entornos industriales de alto rendimiento; además, la XRF proporciona información cualitativa y cuantitativa de una muestra.
La tecnología que se utiliza para la separación (dispersión), la identificación y la medición de la intensidad del espectro de fluorescencia de rayos X de una muestra da lugar a dos tipos principales de espectrómetro: sistemas de dispersión de longitud de onda (WDXRF, del inglés “Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence”) y de dispersión de energía (EDXRF, del inglés “Energy Dispersive X-Ray Fluorescence”).
Obtenga más información sobre estos tipos de espectrómetros y las tecnologías detrás de ellos aquí:
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RevontiumBrillo compacto, análisis potente y posibilidades infinitas |
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2830 ZTSolución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores |
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Tipo de medición | |||||
Metrología de película delgada | |||||
Análisis elemental | |||||
Detección y análisis de contaminantes | |||||
Cuantificación elemental | |||||
Identificación química | |||||
Tecnología | |||||
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |||||
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |||||
Rango primario | |||||
LLD | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% |
Resolución (Mg-Ka) | |||||
Rendimiento de muestra |