Measuring particle size, particle shape and zeta potential is important in the electronics industry especially during the manufacture of raw materials for integrated circuits used in most electronic equipment such as computers, mobile phones and digital appliances. The presence of a single oversize particle can cause damage to a wafer or a failure in an LCD.

Throughout research and design and in the manufacture and quality control of electronic components Malvern Panalytical’s easy-to-use instrumentation, combined with its industry and applications knowledge, can help you characterize materials including:

  • CMP slurries used in polishing silicon and other wafers for photovoltaic cells production
  • Solder particles and screen print inks used in printed circuit boards
  • Silver, conductive carbon and pastes used for PCBs and a variety of displays (EL, LCD, LED)
  • Nanoparticles used for dye materials in colored liquid crystal display devices.

Rango de equipos Mastersizer

Rango de equipos Zetasizer

Rango de equipos Morphologi

Epsilon 1 para análisis de puntos pequeños

Epsilon 4

Rango de equipos Mastersizer

Los analizadores de tamaño de partículas más usados en el mundo.

Rango de equipos Zetasizer

Los sistemas más utilizados del mundo para mediciones de tamaño y carga de nanopartículas, coloides y proteínas

Rango de equipos Morphologi

Imágenes automatizadas para la caracterización avanzada de partículas

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Se centra en los detalles para capturar el panorama general

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Análisis elemental en la línea rápido y preciso

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Tipo de medición Particle size Molecular size, Particle size, Molecular weight, Zeta potential Particle shape, Particle size, Chemical identification Contaminant detection and analysis, Elemental analysis, Elemental quantification Elemental analysis, Elemental quantification, Contaminant detection and analysis
Rango de tamaño de partículas 0.01µm - 3500µm 0.3nm - 10µm 0.5µm - 1000µm
Rango de temperatura 0°C - 120°C
Rango primario Na-Am C-Am
Rendimiento de muestra 40per 8h day - 80per 8h day 80per 8h day - 160per 8h day
Resolución (Mg-Ka) 145eV 135eV
Tecnología Laser Diffraction Dynamic Light Scattering, Static Light Scattering, Size Exclusion Chromatography (SEC), Electrophoretic Light Scattering Image analysis X-ray Fluorescence (XRF) Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
LLD 1 ppm - 100% 1 ppm - 100%
Tipo de dispersión Dry, Wet, Wet and Dry Wet
Tipo de células de muestra Cuvette