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Rango de equipos Mastersizer
Los analizadores de tamaño de partículas más usados en el mundo.
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Más detalles
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| Medición |
Tamaño de partícula |
| Rango de tamaño de partículas |
0.01µm - 3500µm
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| Tecnología |
Difracción láser |
| Tipo de dispersión |
Wet, Dry, Wet and Dry |
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Rango de equipos Zetasizer
Los sistemas más utilizados del mundo para mediciones de tamaño y carga de nanopartículas, coloides y proteínas
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Más detalles
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| Medición |
Tamaño molecular, Peso molecular, Tamaño de partícula, Potencial zeta |
| Rango de temperatura |
0°C - 120°C
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| Rango de tamaño de partículas |
0.3nm - 10µm
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| Tecnología |
Cromatografía por exclusión de tamaño (SEC), Dispersión de luz dinámica, Dispersión de luz electroforética, Dispersión de luz estática |
| Tipo de dispersión |
Wet |
| Tipo de células de muestra |
Cuvette |
| Molecular Measurement Type |
Chromotography, Batch measurement |
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Rango de equipos Morphologi
Imágenes automatizadas para la caracterización avanzada de partículas
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Más detalles
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| Medición |
Identificación química, Forma de partícula, Tamaño de partícula |
| Rango de tamaño de partículas |
0.5µm - 1000µm
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| Tecnología |
Análisis de imágenes |
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2830 ZT
Solución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores
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Más detalles
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| Medición |
Identificación química, Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| Rango primario |
Be-U
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| Resolución (Mg-Ka) |
35eV
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| Rendimiento de muestra |
up to 25 wafers per hour
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| LLD |
0.1 ppm - 100%
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| Tecnología |
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) |
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Epsilon 1 para análisis de puntos pequeños
Se centra en los detalles para capturar el panorama general
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Más detalles
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| Medición |
Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| Rango primario |
Na-Am
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| Resolución (Mg-Ka) |
145eV
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| LLD |
1 ppm - 100%
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| Rendimiento de muestra |
40per 8h day - 80per 8h day
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| Tecnología |
X-ray Fluorescence (XRF) |
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Epsilon 4
Análisis elemental en la línea rápido y preciso
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Más detalles
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| Medición |
Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| Rango primario |
C-Am
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| Resolución (Mg-Ka) |
135eV
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| LLD |
1 ppm - 100%
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| Rendimiento de muestra |
80per 8h day - 160per 8h day
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| Tecnología |
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
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Epsilon 4 Polymers plastics and paints
Increase your polymer product consistency
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Más detalles
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| Medición |
Elemental analysis, Elemental quantification |
| Tecnología |
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |