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La larga y exitosa historia de los difractómetros de investigación de materiales (MRD) de Malvern Panalytical continúa ahora con una nueva generación: X’Pert³ MRD y X’Pert³ MRD XL. El rendimiento y la confiabilidad mejorados de la nueva plataforma han agregado más capacidad analítica y potencia para estudios de dispersión de rayos X en:
Ambos sistemas ofrecen la misma amplia gama de aplicaciones con mapas de oblea completa de hasta 100 mm (X’Pert³ MRD) o 200 mm (X’Pert³ MRD XL).
Los sistemas MRD X'Pert³ ofrecen soluciones avanzadas e innovadoras de difracción de rayos X en la investigación, el desarrollo, el control de procesos y más.
Las tecnologías utilizadas hacen que todos los sistemas se puedan actualizar en terreno a todas las opciones existentes y a los nuevos desarrollos en hardware y software futuros.
Diseñado para la investigación y el desarrollo
Para uso con muestras de películas delgadas, obleas y materiales sólidos
Mapeo completo de obleas de hasta 100 mm
Posicionamiento de muestras versátil y flexible
Brazo extendido opcional para componentes ópticos
Precisión excepcional con el nuevo goniómetro de alta resolución que utiliza codificadores Heidenhain
Los X’Pert³ MRD y MRD XL de Malvern Panalytical son sistemas de soluciones de rayos X integrales que se pueden utilizar en muchas aplicaciones de industriales, incluidas las siguientes:
Ya sea para estudios de crecimiento o diseño de dispositivos, la medición de la calidad, el espesor, la tensión y la composición de la aleación de la capa, el uso de XRD de alta resolución ha estado en el centro de la investigación y el desarrollo de los dispositivos electrónicos y optoelectrónicos de semiconductores de capas múltiples. Gracias a su variedad de espejos de rayos X, monocromadores y detectores, el X’Pert3 MRD y el MRD XL ofrecen configuraciones de alta resolución para adaptarse a los diferentes sistemas de materiales, desde semiconductores correspondientes a la red, pasando por capas de amortiguadores relajados, hasta capas exóticas nuevas en sustratos no estándares
Las capas y los revestimientos policristalinos son un componente importante de muchos dispositivos de películas finas y capas múltiples. La evolución de la morfología de las capas policristalinas durante la deposición es un área de estudio clave en la investigación y el desarrollo de los materiales funcionales. El X’Pert3 MRD y el X’Pert3 MRD XL se pueden equipar plenamente con una variedad de hendiduras, espejos de rayos X de haz paralelo, lentes policapilares y hendiduras cruzadas y monocapilares con el fin de ofrecer toda la gama de óptica de haces incidentes para reflectometría, estrés, textura e identificación de fase.
Los dispositivos funcionales pueden contener películas finas desordenadas, amorfas o nanocompuestas. La flexibilidad de los sistemas X’Pert3 MRD y MRD XL permite incorporar múltiples métodos analíticos. Se dispone de una gama de óptica de alta resolución, hendiduras y colimadores de láminas paralelas, con el fin de proporcionar un rendimiento óptimo para métodos de incidencia rasante, difracción en plano y reflectometría.
El estudio del comportamiento de los materiales en una variedad de condiciones es una parte esencial de la investigación de materiales y el desarrollo de procesos. El X’Pert3 MRD y el MRD XL están diseñados para incorporar fácilmente la plataforma de muestras no ambientales DHS1100 de Anton Paar, lo que permite mediciones automatizadas en una gama de temperaturas y atmósfera inerte
Instrument gives excellent accuracy and is of good quality.Good intensity and rapid performance. It is easy to operate.
Yifan Zheng — Zhejiang University of Technology
| Dimensiones | 1972 x 1370 x 1131 mm |
|---|---|
| Peso | 1150 kg (solo instrumento) |
| Safety | Menos de 1 µSv.h a 10 cm de distancia de la superficie exterior del recinto |
| Certificación | Directiva de máquinas 2006/42/CE
Directiva EMC 2004/108/CE
Declaración de conformidad con cada instrumento |
| Compressed air supply | Línea doméstica, compresor o botella de aire; 2-5 bares (0,2 - 0,5 MPa) |
| Anode material | Cu, Co, Cr, otros bajo pedido |
| Foco | 0.4 mm x 12 mm (LFF) |
| Tube housing | Aislamiento cerámico
libre de plomo
Diseño patentado con tecnología CRISP
Aire ionizado inducido por rayos X |
| X-ray generator | 3 kW |
| Detector | Proporcional, lleno de Xe |
El PIXcel3D es un exclusivo detector de píxeles híbridos en estado sólido en 2D. Cada píxel es de 55 micrones x 55 micrones y la matriz del detector es de 256 x 256 píxeles. El detector, ahora basado en la tecnología Medipix3, aporta una señal al ruido sin igual, con su función de dispersión de punto de un píxel y varios niveles de discriminación energética.
Libere el potencial de sus datos
Hasta ahora, los datos de instrumentos con demasiada frecuencia quedan atrapados en registros manuales, hojas de cálculo o servidores para sitios específicos. Si conecta su X'Pert3 a nuestro Smart Manager y analiza continuamente los datos del instrumento en la nube, podrá liberar todo su potencial.
Esta es solo una de nuestras soluciones digitales que forman parte de Smart Manager de Malvern Panalytical.
Número de versión: 5
Número de versión: 7
Número de versión: 2
Número de versión: 4
Número de versión: 5
Número de versión: 3
Número de versión: 10
Número de versión: 9
Número de versión: 4
Número de versión: 5
Por favor, póngase en contacto con soporte para la última versión del software.
Para garantizar que su instrumento se mantenga en condiciones óptimas y funcione al más alto nivel, Malvern Panalytical ofrece una amplia gama de servicios. Nuestra experiencia y nuestros servicios de asistencia garantizan el óptimo funcionamiento de su instrumento.
Servicio durante toda la vida útil
Agregamos valor a sus procesos
Sistema XRD versátil para investigación y desarrollo. Una nueva generación de herramientas para su análisis de obleas.