X'Pert³

Sistema XRD versátil para investigación y desarrollo

La gama de sistemas de difracción de rayos X X'Pert³ de Malvern Panalytical continúa el éxito de la plataforma X'Pert. Con sus nuevos sistemas electrónicos de control incorporados, su cumplimiento de las normas de seguridad más recientes y más estrictas de rayos X y de movimiento, sus avances en características ecológicas y su confiabilidad, la plataforma X'Pert³ está lista para el futuro.

• Componentes de haz incidente (CRISP) de más larga duración 
• Máximo tiempo de actividad con obturadores neumáticos y atenuadores de haz 
• Fácil extensión a nuevas aplicaciones gracias a la tecnología PreFIX de 2.ª generación 
• Intercambio de la posición de los tubos rápido, confiable y sin necesidad de herramientas 
• Nuevos sistemas electrónicos de control incorporados con conexión directa a Internet 
• Cumplimiento de los reglamentos de seguridad más estrictos

X'Pert³ MRD

Los sistemas X'Pert³ MRD ofrecen soluciones de difracción de rayos X avanzadas e innovadoras desde la investigación hasta el desarrollo y el control de procesos.

Las características incluyen

  • Oblea máx. diámetro: 100 mm
  • SECS/GEMA
  • Sala limpia ISO 4
X'Pert³ MRD

X'Pert³ MRD XL

Una plataforma de montaje PreFIX adicional permite montar un espejo de rayos X y un monocromador de alta resolución en línea, aumentando significativamente la intensidad del haz incidente.

Las características incluyen

  • Oblea máx. diámetro: 300 mm
  • SECS/GEMA
  • Sala limpia ISO 4
X'Pert³ MRD XL

Cómo se comparan nuestros productos

  • X'Pert³ MRD

    Versátil sistema XRD de investigación y desarrollo

    X'Pert³ MRD

    Tecnología

    • X-ray Diffraction (XRD)

    Tipo de medición

    • Identificación de fases
    • Cuantificación de fases
    • Metrología de película delgada
    • Esfuerzo residual
    • Rugosidad de interfaz
    • Análisis de epitaxia
    • Análisis de textura
    • Análisis del espacio recíproco

    Wafer max. diameter

    • 100 mm
    • SECS/GEM
    • Cleanroom ISO 4
  • X'Pert³ MRD XL

    Versátil sistema XRD de investigación, desarrollo y control de calidad

    X'Pert³ MRD XL

    Tecnología

    • X-ray Diffraction (XRD)

    Tipo de medición

    • Identificación de fases
    • Cuantificación de fases
    • Metrología de película delgada
    • Esfuerzo residual
    • Rugosidad de interfaz
    • Análisis de epitaxia
    • Análisis de textura
    • Análisis del espacio recíproco

    Wafer max. diameter

    • 300 mm
    • SECS/GEM
    • Cleanroom ISO 4