X'Pert³ MRD
The X'Pert³ MRD systems offer advanced and innovative X-ray diffraction solutions from research to process development and process control.
Features include
- Wafer max. diameter: 100 mm
- SECS/GEM
- Cleanroom ISO 4
X'Pert³ is now a Smart Instrument!. Find out more
Find out moreLa gama de sistemas de difracción de rayos X X'Pert³ de Malvern Panalytical continúa el éxito de la plataforma X'Pert. Con sus nuevos sistemas electrónicos de control incorporados, su cumplimiento de las normas de seguridad más recientes y más estrictas de rayos X y de movimiento, sus avances en características ecológicas y su confiabilidad, la plataforma X'Pert³ está lista para el futuro.
• Componentes de haz incidente (CRISP) de más larga duración
• Máximo tiempo de actividad con obturadores neumáticos y atenuadores de haz
• Fácil extensión a nuevas aplicaciones gracias a la tecnología PreFIX de 2.ª generación
• Intercambio de la posición de los tubos rápido, confiable y sin necesidad de herramientas
• Nuevos sistemas electrónicos de control incorporados con conexión directa a Internet
• Cumplimiento de los reglamentos de seguridad más estrictos
The X'Pert³ MRD systems offer advanced and innovative X-ray diffraction solutions from research to process development and process control.
Features include
An extra PreFIX mounting platform allows mounting of an X-ray mirror and a high-resolution monochromator in-line, increasing significantly the intensity of the incident beam.
Features include
X'Pert³ MRDVersátil sistema XRD de investigación y desarrollo |
X'Pert³ MRD XLVersátil sistema XRD de investigación, desarrollo y control de calidad |
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Tecnología | ||
X-ray Diffraction (XRD) | ||
Tipo de medición | ||
Identificación de fases | ||
Cuantificación de fases | ||
Metrología de película delgada | ||
Esfuerzo residual | ||
Rugosidad de interfaz | ||
Análisis de epitaxia | ||
Análisis de textura | ||
Análisis del espacio recíproco | ||
Wafer max. diameter | 100 mm | 300 mm |
SECS/GEM | ||
Cleanroom ISO 4 |