Hay una amplia gama de analizadores XRF disponibles en el mercado, desde equipos portátiles y de sobremesa más pequeños hasta sistemas de suelo más grandes. Todos estos sistemas varían en funcionalidad y rendimiento, pero todos están desarrollados para resolver los desafíos elementales que tienen los usuarios. Aunque la percepción es que los dispositivos de mano son siempre las soluciones más económicas, hay equipos de sobremesa portátiles disponibles como el Epsilon 1, que cumplen con presupuestos similares, por lo general, en el rango de USD 25 000 a USD 50 000.
Entonces, si los equipos de sobremesa están disponibles en un rango de precios similar al de un dispositivo de mano, ¿cuál debería ser el factor decisivo? ¿Debe optar por la percepción de disparo fácil con una pistola XRF para obtener un resultado? ¿O hay más aspectos que considerar para tomar la decisión correcta? Entre las principales ventajas del Epsilon 1 portátil con respecto a un dispositivo de mano, se incluye lo siguiente:
Para obtener más información, lea nuestrasCinco razones por las que debe elegir un XRF portátil en lugar de un XRF de mano.
Entonces, ¿cómo elijo la solución adecuada para mi desafío y qué presupuesto debo reservar? No se preocupe por esta pregunta; contamos con especialistas de todo el mundo disponibles para analizar sus muestras y desafíos elementales con usted, y aconsejarle qué espectrómetros de XRF son capaces de satisfacer sus necesidades. Para comunicarse con nosotros, haga clic en Comunicarse con el Departamento de Ventas.
ZetiumExcelencia elemental |
Epsilon 1Analizador XRF pequeño, potente y portátil |
Epsilon 4Análisis elemental en la línea rápido y preciso |
Epsilon XflowInformación directa en sus procesos de producción |
2830 ZTSolución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores |
Axios FASTAlto rendimiento de muestras |
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Tipo de medición | ||||||
Metrología de película delgada | ||||||
Análisis elemental | ||||||
Detección y análisis de contaminantes | ||||||
Cuantificación elemental | ||||||
Identificación química | ||||||
Tecnología | ||||||
X-ray Fluorescence (XRF) | ||||||
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | ||||||
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | ||||||
Rango primario | Be-Am | Na-Am | F-Am | Na-Am | B-Am | B-Am |
LLD | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% |
Resolución (Mg-Ka) | 35eV | 135eV | 135eV | 135eV | 35eV | 35eV |
Rendimiento de muestra | 160per 8h day - 240per 8h day | Up to - 80per 8h day | Up to - 160per 8h day | on-line | up to 25 wafers per hour | 240per 8h day - 480per 8h day |