Introducción 

La espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica analítica no destructiva que se utiliza para obtener información elemental de los diferentes tipos de materiales. Esta se utiliza en diversas industrias y aplicaciones, como producción de cemento, producción de vidrio, minería, enriquecimiento de minerales, hierro, acero y metales no ferrosos, petróleo y petroquímica, polímeros e industrias relacionadas, ciencia forense, productos farmacéuticos, productos de cuidado de la salud, sector medioambiental, alimentos y cosméticos. Los sistemas de espectrometría generalmente se dividen en dos grupos principales: los sistemas de dispersión por longitud de onda (WDXRF) y los sistemas de dispersión de energía (EDXRF). La diferencia entre ambos radica en el sistema de detección. ​

¿Qué es la EDXRF y cómo funciona?​

El concepto básico de todos los espectrómetros es una fuente de radiación, una muestra y un sistema de detección. En espectrómetros de EDXRF, el tubo de rayos X que actúa como fuente irradia una muestra directamente, y la fluorescencia procedente de la muestra se mide con un detector de dispersión de energía. Este detector es capaz de medir las diferentes energías de la radiación característica que proviene directamente de la muestra. El detector puede separar la radiación procedente de la muestra en la radiación de los diferentes elementos presentes en la muestra. Esta separación se denomina dispersión. ​  ​

Ventajas de la espectrometría de EDXRF

  • Diseño de instrumento compacto y pequeño
  • Mínima mantención
  • No hay necesidad de agua, aire comprimido o gases​
  • Bajo consumo eléctrico
  • Mejor resolución del sistema
  • Análisis elemental simultáneo

Epsilon 1

Epsilon 1

Analizador XRF pequeño, potente y portátil

Más detalles
Medición Análisis elemental, Detección y análisis de contaminantes, Cuantificación elemental
Rango primario F-Am
Resolución (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
Rendimiento de muestra Up to - 80per 8h day
Tecnología X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Información directa en sus procesos de producción

Más detalles
Medición Análisis elemental
Rango primario Na-Am
Resolución (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
Rendimiento de muestra on-line
Tecnología Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 4

Epsilon 4

Análisis elemental en la línea rápido y preciso

Más detalles
Medición Metrología de película delgada, Análisis elemental, Detección y análisis de contaminantes, Cuantificación elemental
Rango primario F-Am
Resolución (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
Rendimiento de muestra Up to - 160per 8h day
Tecnología X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 1

Epsilon 1

Analizador XRF pequeño, potente y portátil

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Información directa en sus procesos de producción

Epsilon 4

Epsilon 4

Análisis elemental en la línea rápido y preciso

Más detalles Más detalles Más detalles
Medición Análisis elemental, Detección y análisis de contaminantes, Cuantificación elemental Análisis elemental Metrología de película delgada, Análisis elemental, Detección y análisis de contaminantes, Cuantificación elemental
Rango primario F-Am Na-Am F-Am
Resolución (Mg-Ka) 135eV 135eV 135eV
LLD 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100%
Rendimiento de muestra Up to - 80per 8h day on-line Up to - 160per 8h day
Tecnología X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)