Aeris Guía de usuario
Número de versión: 8
Mejore la calidad del cemento y el control del proceso con un análisis rápido y confiable de Aeris XRD. Más información
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La edición Cement de Aeris analiza directamente la composición mineralógica del cemento y sus productos intermedios.
Esta información mineralógica le permite analizar las propiedades físicas para controlar de mejor forma el horno cuando, por ejemplo, se utilizan combustibles alternativos.
Además, facilita el aseguramiento de calidad de cementos (mezclados). La edición Cement de Aeris es un difractómetro de rayos X de laboratorio fácil de utilizar y automatizable para todas las plantas de cemento.
La fuerza, las propiedades de fraguado, las propiedades de hidratación y la resistencia química del cemento están directamente relacionadas con la mineralogía del cemento. La difracción de rayos X es el método para analizar de manera directa estos minerales en el cemento, lo que permite predecir mejor las propiedades físicas del producto final que ya se encuentra en la fase de producción y facilita un proceso de producción más eficiente y más ecológico.
La edición Cement de Aeris es su socio en cada etapa del proceso de producción de cemento, desde la molienda de crudo, el clínker y el cemento (mezclado) hasta el producto final.
El rápido análisis minimiza los ciclos de retroalimentación y permite una intervención temprana para optimizar el proceso. El tiempo de análisis estándar para clínker y cemento es solo de 5 minutos.
El tiempo de actividad del equipo analítico es clave para obtener un control confiable del proceso. Desde su base, Aeris ha sido diseñado para una disponibilidad máxima.
El difractómetro de rayos X más intuitivo. Con la pantalla táctil incorporada, los resultados están a unos pocos toques:
| Carga de muestra | Carga externa de muestras |
|---|---|
| Sample holders | Una variedad de soportes de muestras de tamaño regular capaces de cumplir con todos los requisitos |
| Cambio de muestra | Elija entre un muelle de carga manual, un cambiador de muestras de 6 posiciones o un cambiador de muestras de alta capacidad de 67 posiciones
|
| Automatización | Compatible con la integración de automatización |
| Longitud de onda | Cu |
|---|---|
| Tube setting | Opciones de 300 W a 600 W en configuración de 30 kV o 40 kV |
| Tube housing | Diseño patentado con tecnología de trayectoria inteligente del haz incidente resistente a la corrosión (CRISP, del inglés Corrosion-Resistant Incident Smart Beam Path).
La tecnología CRISP evita la corrosión en la trayectoria del haz incidente causada por el aire ionizado inducido por los rayos X. Patente n.º US 8437451 B2.
|
| Base configuration | Goniómetro vertical, acoplado y desacoplado θ-θ, muestras siempre horizontales |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmisión, incidencia rasante |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4°< 2θ ≤ 142° (con detector de exploración y longitud activa completa) |
| Angle positioning | Sistema de posicionamiento óptico directo (DOPS3) con precisión de posicionamiento de por vida |
| Scan Speed | Máx. 2,17°/s |
| Resolución | <0,04° 2θ en LaB6 (con ranuras Soller de 0,01 rad) |
| 2θ linearity | <0,04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Elección de plataformas del dispositivo de giro |
|---|---|
| Non-ambient | Opción de plataforma de calentamiento (BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | Intercambio de prefijos sin alineamiento de plataformas |
| Special stages | A pedido (manual, MPSS, in situ) |
| Detector | Elija entre los detectores PIXcel1D y 1Der |
| Dimensiones | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Sistema cerrado con carga externa de muestras |
| External cooling water supply | No es necesario |
| Compressed air supply | Not needed |
| Fuente de energía | De 100 a 240 V, monofásico |
| Computadora | Computadora instrumental interna |
| Operación | Interfaz de usuario intuitiva con pantalla táctil de 10,4 pulgadas |
| Interface | LAN, USB, HDMI |
Número de versión: 8
Número de versión: 8
Número de versión: 6
Número de versión: 7
Número de versión: 8
Número de versión: 8
Número de versión: 8
Número de versión: 2
Número de versión: 4
Número de versión: 3
Número de versión: 2
Número de versión: 4
Número de versión: 2
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
Para garantizar que su instrumento se mantenga en condiciones óptimas y funcione al más alto nivel, Malvern Panalytical ofrece una amplia gama de servicios. Nuestra experiencia y nuestros servicios de asistencia garantizan el óptimo funcionamiento de su instrumento.
Servicio durante toda la vida útil
Agregamos valor a sus procesos
La edición Cement de Aeris analiza directamente la composición mineralógica del cemento y sus productos intermedios.
Esta información mineralógica le permite analizar las propiedades físicas para controlar de mejor forma el horno cuando, por ejemplo, se utilizan combustibles alternativos.
Además, facilita el aseguramiento de calidad de cementos (mezclados). La edición Cement de Aeris es un difractómetro de rayos X de laboratorio fácil de utilizar y automatizable para todas las plantas de cemento.
La fuerza, las propiedades de fraguado, las propiedades de hidratación y la resistencia química del cemento están directamente relacionadas con la mineralogía del cemento. La difracción de rayos X es el método para analizar de manera directa estos minerales en el cemento, lo que permite predecir mejor las propiedades físicas del producto final que ya se encuentra en la fase de producción y facilita un proceso de producción más eficiente y más ecológico.
La edición Cement de Aeris es su socio en cada etapa del proceso de producción de cemento, desde la molienda de crudo, el clínker y el cemento (mezclado) hasta el producto final.
El rápido análisis minimiza los ciclos de retroalimentación y permite una intervención temprana para optimizar el proceso. El tiempo de análisis estándar para clínker y cemento es solo de 5 minutos.
El tiempo de actividad del equipo analítico es clave para obtener un control confiable del proceso. Desde su base, Aeris ha sido diseñado para una disponibilidad máxima.
El difractómetro de rayos X más intuitivo. Con la pantalla táctil incorporada, los resultados están a unos pocos toques:
| Carga de muestra | Carga externa de muestras |
|---|---|
| Sample holders | Una variedad de soportes de muestras de tamaño regular capaces de cumplir con todos los requisitos |
| Cambio de muestra | Elija entre un muelle de carga manual, un cambiador de muestras de 6 posiciones o un cambiador de muestras de alta capacidad de 67 posiciones
|
| Automatización | Compatible con la integración de automatización |
| Longitud de onda | Cu |
|---|---|
| Tube setting | Opciones de 300 W a 600 W en configuración de 30 kV o 40 kV |
| Tube housing | Diseño patentado con tecnología de trayectoria inteligente del haz incidente resistente a la corrosión (CRISP, del inglés Corrosion-Resistant Incident Smart Beam Path).
La tecnología CRISP evita la corrosión en la trayectoria del haz incidente causada por el aire ionizado inducido por los rayos X. Patente n.º US 8437451 B2.
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| Base configuration | Goniómetro vertical, acoplado y desacoplado θ-θ, muestras siempre horizontales |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmisión, incidencia rasante |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4°< 2θ ≤ 142° (con detector de exploración y longitud activa completa) |
| Angle positioning | Sistema de posicionamiento óptico directo (DOPS3) con precisión de posicionamiento de por vida |
| Scan Speed | Máx. 2,17°/s |
| Resolución | <0,04° 2θ en LaB6 (con ranuras Soller de 0,01 rad) |
| 2θ linearity | <0,04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Elección de plataformas del dispositivo de giro |
|---|---|
| Non-ambient | Opción de plataforma de calentamiento (BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | Intercambio de prefijos sin alineamiento de plataformas |
| Special stages | A pedido (manual, MPSS, in situ) |
| Detector | Elija entre los detectores PIXcel1D y 1Der |
| Dimensiones | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Sistema cerrado con carga externa de muestras |
| External cooling water supply | No es necesario |
| Compressed air supply | Not needed |
| Fuente de energía | De 100 a 240 V, monofásico |
| Computadora | Computadora instrumental interna |
| Operación | Interfaz de usuario intuitiva con pantalla táctil de 10,4 pulgadas |
| Interface | LAN, USB, HDMI |
Número de versión: 8
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Número de versión: 6
Número de versión: 7
Número de versión: 8
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Número de versión: 2
Número de versión: 4
Número de versión: 3
Número de versión: 2
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