Aeris Guía de usuario
Número de versión: 8
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La edición Metals de Aeris es un difractómetro de rayos X de laboratorio para realizar un análisis rápido y confiable de sintetizado, hierro directamente reducido y austenita retenida.
Aeris es totalmente automatizable y se puede incorporar fácilmente en el control de la producción industrial.
La edición Metals de Aeris es su socio en cada etapa del proceso de producción, desde la materia prima hasta el producto final.
La difracción de rayos X (XRD) es una tecnología clave en cada etapa del proceso de fabricación de acero. Es una herramienta valiosa para la caracterización rápida y precisa de los materiales para materias primas e intermedias que se emplean en el proceso de fabricación de acero (como mena de hierro, sinterizado y hierro directamente reducido).
La aplicación de XRD también es ideal para el control de la calidad de los productos finales, dado que ofrece una cuantificación rápida y precisa de fases del metal como la austenita retenida.
El rápido análisis minimiza los ciclos de retroalimentación y permite una intervención temprana para optimizar el proceso. Los tiempos de medición habituales de Aeris son inferiores a 10 minutos por muestra.
El tiempo de actividad del equipo analítico es clave para obtener un control confiable del proceso. Desde su base, Aeris ha sido diseñado para una disponibilidad máxima.
El difractómetro de rayos X más intuitivo. Con la pantalla táctil incorporada, los resultados están a unos pocos toques:
| Carga de muestra | Carga externa de muestras |
|---|---|
| Sample holders | Una variedad de soportes de muestras de tamaño regular capaces de cumplir con todos los requisitos |
| Cambio de muestra | Elija entre un muelle de carga manual, un cambiador de muestras de 6 posiciones o un cambiador de muestras de alta capacidad de 67 posiciones
|
| Automatización | Compatible con la integración de automatización |
| Longitud de onda | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | Opciones de 300 W a 600 W en configuración de 30 kV o 40 kV |
| Tube housing | Diseño patentado con tecnología de trayectoria inteligente del haz incidente resistente a la corrosión (CRISP, del inglés Corrosion-Resistant Incident Smart Beam Path).
La tecnología CRISP evita la corrosión en la trayectoria del haz incidente causada por el aire ionizado inducido por los rayos X. Patente n.º US 8437451 B2.
|
| Base configuration | Goniómetro vertical, acoplado y desacoplado θ-θ, muestras siempre horizontales |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmisión, incidencia rasante |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4°< 2θ ≤ 142° (con detector de exploración y longitud activa completa) |
| Angle positioning | Sistema de posicionamiento óptico directo (DOPS3) con precisión de posicionamiento de por vida |
| Scan Speed | Máx. 2,17°/s |
| Resolución | <0,04° 2θ en LaB6 (con ranuras Soller de 0,01 rad) |
| 2θ linearity | <0,04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Elección de plataformas del dispositivo de giro |
|---|---|
| Non-ambient | Opción de plataforma de calentamiento (BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | Intercambio de prefijos sin alineamiento de plataformas |
| Special stages | A pedido (manual, MPSS, in situ) |
| Detector | Elija entre los detectores PIXcel1D y 1Der |
| Dimensiones | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Sistema cerrado con carga externa de muestras |
| External cooling water supply | No es necesario |
| Compressed air supply | No es necesario |
| Fuente de energía | De 100 a 240 V, monofásico |
| Computadora | Computadora instrumental interna |
| Operación | Interfaz de usuario intuitiva con pantalla táctil de 10,4 pulgadas |
| Interface | LAN, USB, HDMI |
Número de versión: 8
Número de versión: 8
Número de versión: 6
Número de versión: 7
Número de versión: 8
Número de versión: 8
Número de versión: 8
Número de versión: 2
Número de versión: 4
Número de versión: 3
Número de versión: 2
Número de versión: 4
Número de versión: 2
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
Para garantizar que su instrumento se mantenga en condiciones óptimas y funcione al más alto nivel, Malvern Panalytical ofrece una amplia gama de servicios. Nuestra experiencia y nuestros servicios de asistencia garantizan el óptimo funcionamiento de su instrumento.
Servicio durante toda la vida útil
Agregamos valor a sus procesos
La edición Metals de Aeris es un difractómetro de rayos X de laboratorio para realizar un análisis rápido y confiable de sintetizado, hierro directamente reducido y austenita retenida.
Aeris es totalmente automatizable y se puede incorporar fácilmente en el control de la producción industrial.
La edición Metals de Aeris es su socio en cada etapa del proceso de producción, desde la materia prima hasta el producto final.
La difracción de rayos X (XRD) es una tecnología clave en cada etapa del proceso de fabricación de acero. Es una herramienta valiosa para la caracterización rápida y precisa de los materiales para materias primas e intermedias que se emplean en el proceso de fabricación de acero (como mena de hierro, sinterizado y hierro directamente reducido).
La aplicación de XRD también es ideal para el control de la calidad de los productos finales, dado que ofrece una cuantificación rápida y precisa de fases del metal como la austenita retenida.
El rápido análisis minimiza los ciclos de retroalimentación y permite una intervención temprana para optimizar el proceso. Los tiempos de medición habituales de Aeris son inferiores a 10 minutos por muestra.
El tiempo de actividad del equipo analítico es clave para obtener un control confiable del proceso. Desde su base, Aeris ha sido diseñado para una disponibilidad máxima.
El difractómetro de rayos X más intuitivo. Con la pantalla táctil incorporada, los resultados están a unos pocos toques:
| Carga de muestra | Carga externa de muestras |
|---|---|
| Sample holders | Una variedad de soportes de muestras de tamaño regular capaces de cumplir con todos los requisitos |
| Cambio de muestra | Elija entre un muelle de carga manual, un cambiador de muestras de 6 posiciones o un cambiador de muestras de alta capacidad de 67 posiciones
|
| Automatización | Compatible con la integración de automatización |
| Longitud de onda | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | Opciones de 300 W a 600 W en configuración de 30 kV o 40 kV |
| Tube housing | Diseño patentado con tecnología de trayectoria inteligente del haz incidente resistente a la corrosión (CRISP, del inglés Corrosion-Resistant Incident Smart Beam Path).
La tecnología CRISP evita la corrosión en la trayectoria del haz incidente causada por el aire ionizado inducido por los rayos X. Patente n.º US 8437451 B2.
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| Base configuration | Goniómetro vertical, acoplado y desacoplado θ-θ, muestras siempre horizontales |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmisión, incidencia rasante |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4°< 2θ ≤ 142° (con detector de exploración y longitud activa completa) |
| Angle positioning | Sistema de posicionamiento óptico directo (DOPS3) con precisión de posicionamiento de por vida |
| Scan Speed | Máx. 2,17°/s |
| Resolución | <0,04° 2θ en LaB6 (con ranuras Soller de 0,01 rad) |
| 2θ linearity | <0,04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Elección de plataformas del dispositivo de giro |
|---|---|
| Non-ambient | Opción de plataforma de calentamiento (BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | Intercambio de prefijos sin alineamiento de plataformas |
| Special stages | A pedido (manual, MPSS, in situ) |
| Detector | Elija entre los detectores PIXcel1D y 1Der |
| Dimensiones | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Sistema cerrado con carga externa de muestras |
| External cooling water supply | No es necesario |
| Compressed air supply | No es necesario |
| Fuente de energía | De 100 a 240 V, monofásico |
| Computadora | Computadora instrumental interna |
| Operación | Interfaz de usuario intuitiva con pantalla táctil de 10,4 pulgadas |
| Interface | LAN, USB, HDMI |
Número de versión: 8
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Número de versión: 6
Número de versión: 7
Número de versión: 8
Número de versión: 8
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Número de versión: 2
Número de versión: 4
Número de versión: 3
Número de versión: 2
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