Aeris Guía de usuario
Número de versión: 8
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La combinación de la facilidad de uso y el rendimiento hace que su trabajo alcance un nuevo nivel.
Aeris Research Edition le brinda mejor información y conocimientos más profundos para que pueda encontrar las respuestas de manera más eficaz, perfeccionar sus materiales, avanzar en sus conocimientos y expandir las fronteras de la ciencia.
Cualquier proyecto en que esté trabajando, la adquisición rápida de la información de la fase de la muestra en cuestión puede ser crucial para su investigación.
Simplemente recopile los datos de difracción de los rayos X con Aeris Research y, a continuación, utilice el paquete HighScore para obtener una gran cantidad de información cristalográfica.
Usted tiene todo lo que necesita para obtener los mejores datos de cualquier tipo de material policristalino, ya que cuenta con configuraciones de medición que incluyen reflexión, transmisión e incidencia rasante de difracción de rayos X (GIXRD, del inglés Grazing Incidence X-Ray Diffraction).
El difractómetro de rayos X más intuitivo: Aeris es un difractómetro de rayos X de sobremesa sencillo y fácil de usar para el usuario. Con su funcionamiento intuitivo, Aeris hace la difracción de rayos X tan simple que es accesible para todos.
La exclusiva interfaz de usuario con pantalla táctil le permite realizar fácilmente el proceso de medición de sus muestras. Los resultados siempre están a unos pocos toques:
Expectativas superadas
Aeris es su herramienta fundamental para la identificación rápida y confiable de fases y para el análisis de Rietveld de muestras de polvo.
Gracias a la incorporación de tecnologías con beneficios comprobados en los sistemas de gama alta de Malvern Panalytical, la edición Research de Aeris ofrece una calidad de datos que anteriormente solo era posible con un sistema de suelo de tamaño completo.
Con el detector 2D opcional, puede enseñar los aspectos básicos de la difracción de polvo de forma visual.
Aeris es muy flexible y ofrece posibilidades para todo tipo de mediciones de difracción de polvo.
El instrumento puede adaptarse a diversos tipos de soportes de muestra en combinación con un cambiador de muestras y se puede equipar con etapa de calentamiento de laboratorio BTS 500.
Sin agua de enfriamiento, sin enfriador, sin aire comprimido.
Lo único que necesita es una toma de corriente monofásica.
The instrument is desktop, easy to use, analyzes the samples very quickly and is economic."
Sacari Sacari Elisban Juani — Universidad Nacional Jorge Basadre Grohmann
| Carga de muestra | Carga externa de muestras |
|---|---|
| Sample holders | Una variedad de soportes de muestras de tamaño regular capaces de cumplir con todos los requisitos |
| Cambio de muestra | Elija entre un muelle de carga manual, un cambiador de muestras de 6 posiciones o un cambiador de muestras de alta capacidad de 67 posiciones
|
| Automatización | Compatible con la integración de automatización |
| Longitud de onda | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | Opciones de 300 W a 600 W en configuración de 30 kV o 40 kV |
| Tube housing | Diseño patentado con tecnología de trayectoria inteligente del haz incidente resistente a la corrosión (CRISP, del inglés Corrosion-Resistant Incident Smart Beam Path).
La tecnología CRISP evita la corrosión en la trayectoria del haz incidente causada por el aire ionizado inducido por los rayos X. Patente n.º US 8437451 B2.
|
| Base configuration | Goniómetro vertical, acoplado y desacoplado θ-θ, muestras siempre horizontales |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmisión, incidencia rasante |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4°< 2θ ≤ 142° (con detector de exploración y longitud activa completa) |
| Angle positioning | Sistema de posicionamiento óptico directo (DOPS3) con precisión de posicionamiento de por vida |
| Scan Speed | Máx. 2,17°/s |
| Resolución | <0,04° 2θ en LaB6 (con ranuras Soller de 0,01 rad) |
| 2θ linearity | <0,04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Elección de plataformas del dispositivo de giro |
|---|---|
| Non-ambient | Opción de plataforma de calentamiento (BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | Intercambio de prefijos sin alineamiento de plataformas |
| Special stages | A pedido (manual, MPSS, in situ) |
| Detector | Elija entre los detectores PIXcel1D, PIXcel3D y 1Der |
| Dimensiones | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Sistema cerrado con carga externa de muestras |
| External cooling water supply | No es necesario |
| Compressed air supply | No es necesario |
| Fuente de energía | De 100 a 240 V, monofásico |
| Computadora | Computadora instrumental interna |
| Operación | Interfaz de usuario intuitiva con pantalla táctil de 10,4 pulgadas |
| Interface | LAN, USB, HDMI |
Número de versión: 8
Número de versión: 8
Número de versión: 6
Número de versión: 7
Número de versión: 8
Número de versión: 8
Número de versión: 8
Número de versión: 2
Número de versión: 4
Número de versión: 3
Número de versión: 2
Número de versión: 4
Número de versión: 2
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
Para garantizar que su instrumento se mantenga en condiciones óptimas y funcione al más alto nivel, Malvern Panalytical ofrece una amplia gama de servicios. Nuestra experiencia y nuestros servicios de asistencia garantizan el óptimo funcionamiento de su instrumento.
Servicio durante toda la vida útil
Agregamos valor a sus procesos
La combinación de la facilidad de uso y el rendimiento hace que su trabajo alcance un nuevo nivel.
Aeris Research Edition le brinda mejor información y conocimientos más profundos para que pueda encontrar las respuestas de manera más eficaz, perfeccionar sus materiales, avanzar en sus conocimientos y expandir las fronteras de la ciencia.
Cualquier proyecto en que esté trabajando, la adquisición rápida de la información de la fase de la muestra en cuestión puede ser crucial para su investigación.
Simplemente recopile los datos de difracción de los rayos X con Aeris Research y, a continuación, utilice el paquete HighScore para obtener una gran cantidad de información cristalográfica.
Usted tiene todo lo que necesita para obtener los mejores datos de cualquier tipo de material policristalino, ya que cuenta con configuraciones de medición que incluyen reflexión, transmisión e incidencia rasante de difracción de rayos X (GIXRD, del inglés Grazing Incidence X-Ray Diffraction).
El difractómetro de rayos X más intuitivo: Aeris es un difractómetro de rayos X de sobremesa sencillo y fácil de usar para el usuario. Con su funcionamiento intuitivo, Aeris hace la difracción de rayos X tan simple que es accesible para todos.
La exclusiva interfaz de usuario con pantalla táctil le permite realizar fácilmente el proceso de medición de sus muestras. Los resultados siempre están a unos pocos toques:
Expectativas superadas
Aeris es su herramienta fundamental para la identificación rápida y confiable de fases y para el análisis de Rietveld de muestras de polvo.
Gracias a la incorporación de tecnologías con beneficios comprobados en los sistemas de gama alta de Malvern Panalytical, la edición Research de Aeris ofrece una calidad de datos que anteriormente solo era posible con un sistema de suelo de tamaño completo.
Con el detector 2D opcional, puede enseñar los aspectos básicos de la difracción de polvo de forma visual.
Aeris es muy flexible y ofrece posibilidades para todo tipo de mediciones de difracción de polvo.
El instrumento puede adaptarse a diversos tipos de soportes de muestra en combinación con un cambiador de muestras y se puede equipar con etapa de calentamiento de laboratorio BTS 500.
Sin agua de enfriamiento, sin enfriador, sin aire comprimido.
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The instrument is desktop, easy to use, analyzes the samples very quickly and is economic."
Sacari Sacari Elisban Juani — Universidad Nacional Jorge Basadre Grohmann
| Carga de muestra | Carga externa de muestras |
|---|---|
| Sample holders | Una variedad de soportes de muestras de tamaño regular capaces de cumplir con todos los requisitos |
| Cambio de muestra | Elija entre un muelle de carga manual, un cambiador de muestras de 6 posiciones o un cambiador de muestras de alta capacidad de 67 posiciones
|
| Automatización | Compatible con la integración de automatización |
| Longitud de onda | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | Opciones de 300 W a 600 W en configuración de 30 kV o 40 kV |
| Tube housing | Diseño patentado con tecnología de trayectoria inteligente del haz incidente resistente a la corrosión (CRISP, del inglés Corrosion-Resistant Incident Smart Beam Path).
La tecnología CRISP evita la corrosión en la trayectoria del haz incidente causada por el aire ionizado inducido por los rayos X. Patente n.º US 8437451 B2.
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| Base configuration | Goniómetro vertical, acoplado y desacoplado θ-θ, muestras siempre horizontales |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmisión, incidencia rasante |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4°< 2θ ≤ 142° (con detector de exploración y longitud activa completa) |
| Angle positioning | Sistema de posicionamiento óptico directo (DOPS3) con precisión de posicionamiento de por vida |
| Scan Speed | Máx. 2,17°/s |
| Resolución | <0,04° 2θ en LaB6 (con ranuras Soller de 0,01 rad) |
| 2θ linearity | <0,04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Elección de plataformas del dispositivo de giro |
|---|---|
| Non-ambient | Opción de plataforma de calentamiento (BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | Intercambio de prefijos sin alineamiento de plataformas |
| Special stages | A pedido (manual, MPSS, in situ) |
| Detector | Elija entre los detectores PIXcel1D, PIXcel3D y 1Der |
| Dimensiones | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Sistema cerrado con carga externa de muestras |
| External cooling water supply | No es necesario |
| Compressed air supply | No es necesario |
| Fuente de energía | De 100 a 240 V, monofásico |
| Computadora | Computadora instrumental interna |
| Operación | Interfaz de usuario intuitiva con pantalla táctil de 10,4 pulgadas |
| Interface | LAN, USB, HDMI |
Número de versión: 8
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Número de versión: 6
Número de versión: 7
Número de versión: 8
Número de versión: 8
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Número de versión: 2
Número de versión: 4
Número de versión: 3
Número de versión: 2
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OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
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