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Edición Research de Aeris

Análisis de fases para cada muestra

  • Su compañero para exploraciones rápidas en el laboratorio
  • Sistema XRD de mesa de alta precisión
  • Sistema totalmente automatizable
  • Opciones de software fáciles de usar para obtener resultados rápidos

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Descripción general

La combinación de la facilidad de uso y el rendimiento hace que su trabajo alcance un nuevo nivel.

Aeris Research Edition le brinda mejor información y conocimientos más profundos para que pueda encontrar las respuestas de manera más eficaz, perfeccionar sus materiales, avanzar en sus conocimientos y expandir las fronteras de la ciencia.

Lo que le deja tiempo para trabajar en el lado interesante de la ciencia

Cualquier proyecto en que esté trabajando, la adquisición rápida de la información de la fase de la muestra en cuestión puede ser crucial para su investigación. 

Simplemente recopile los datos de difracción de los rayos X con Aeris Research y, a continuación, utilice el paquete HighScore para obtener una gran cantidad de información cristalográfica. 

Usted tiene todo lo que necesita para obtener los mejores datos de cualquier tipo de material policristalino, ya que cuenta con configuraciones de medición que incluyen reflexión, transmisión e incidencia rasante de difracción de rayos X (GIXRD, del inglés Grazing Incidence X-Ray Diffraction).

Un toque sencillo

El difractómetro de rayos X más intuitivo: Aeris es un difractómetro de rayos X de sobremesa sencillo y fácil de usar para el usuario. Con su funcionamiento intuitivo, Aeris hace la difracción de rayos X tan simple que es accesible para todos. 

La exclusiva interfaz de usuario con pantalla táctil le permite realizar fácilmente el proceso de medición de sus muestras. Los resultados siempre están a unos pocos toques:

  1. Coloque su muestra
  2. Seleccione el programa de medición
  3. Vea los resultados

El mejor rendimiento en su clase

Expectativas superadas 

Aeris es su herramienta fundamental para la identificación rápida y confiable de fases y para el análisis de Rietveld de muestras de polvo. 

Gracias a la incorporación de tecnologías con beneficios comprobados en los sistemas de gama alta de Malvern Panalytical, la edición Research de Aeris ofrece una calidad de datos que anteriormente solo era posible con un sistema de suelo de tamaño completo.

La herramienta ideal para enseñar

Con el detector 2D opcional, puede enseñar los aspectos básicos de la difracción de polvo de forma visual. 

Rápido, flexible y preparado para el futuro

Aeris es muy flexible y ofrece posibilidades para todo tipo de mediciones de difracción de polvo. 

El instrumento puede adaptarse a diversos tipos de soportes de muestra en combinación con un cambiador de muestras y se puede equipar con etapa de calentamiento de laboratorio BTS 500.

Requisitos mínimos de infraestructura

Sin agua de enfriamiento, sin enfriador, sin aire comprimido.

Lo único que necesita es una toma de corriente monofásica.

The instrument is desktop, easy to use, analyzes the samples very quickly and is economic."

Sacari Sacari Elisban Juani — Universidad Nacional Jorge Basadre Grohmann

Especificación

Manipulación de muestras

Carga de muestra Carga externa de muestras
Sample holders Una variedad de soportes de muestras de tamaño regular capaces de cumplir con todos los requisitos
Cambio de muestra
Elija entre un muelle de carga manual, un cambiador de muestras de 6 posiciones o un cambiador de muestras de alta capacidad de 67 posiciones
Automatización
Compatible con la integración de automatización

Generación de rayos X

Longitud de onda
Cu / Co
Tube setting
Opciones de 300 W a 600 W en configuración de 30 kV o 40 kV
Tube housing
Diseño patentado con tecnología de trayectoria inteligente del haz incidente resistente a la corrosión (CRISP, del inglés Corrosion-Resistant Incident Smart Beam Path).
La tecnología CRISP evita la corrosión en la trayectoria del haz incidente causada por el aire ionizado inducido por los rayos X. Patente n.º US 8437451 B2.

Goniómetro

Base configuration
Goniómetro vertical, acoplado y desacoplado θ-θ, muestras siempre horizontales
Geometry
Bragg-Brentano, transmisión, incidencia rasante
Radius
145 mm
Maximum 2θ range
-4°< 2θ ≤ 142° (con detector de exploración y longitud activa completa)
Angle positioning
Sistema de posicionamiento óptico directo (DOPS3) con precisión de posicionamiento de por vida
Scan Speed
Máx. 2,17°/s
Resolución
<0,04° 2θ en LaB6 (con ranuras Soller de 0,01 rad)
2θ linearity
<0,04° 2θ
Smallest addressable increment
0,001 °

Plataformas y detectores

Spinning
Elección de plataformas del dispositivo de giro
Non-ambient
Opción de plataforma de calentamiento (BTS-500, BTS-150)
Exchange of stages
Intercambio de prefijos sin alineamiento de plataformas
Special stages
A pedido (manual, MPSS, in situ)
Detector
Elija entre los detectores PIXcel1D, PIXcel3D y 1Der

General

Dimensiones
690 x 770 x 786 mm
Dust protection
Sistema cerrado con carga externa de muestras
External cooling water supply
No es necesario    
Compressed air supply
No es necesario
Fuente de energía
De 100 a 240 V, monofásico
Computadora
Computadora instrumental interna
Operación
Interfaz de usuario intuitiva con pantalla táctil de 10,4 pulgadas
Interface LAN, USB, HDMI

Accesorios

Detectores

1Der

Máxima versatilidad y claridad de datos en detección 1D

El 1Der es la incorporación más reciente a un portafolio de detectores de estado sólido líderes para aplicaciones de difracción de rayos X (XRD). Junto con una gama inigualable de configuraciones ópticas, el 1Der se integra perfectamente en las plataformas XRD para combinar facilidad de uso con la máxima flexibilidad y claridad de datos en todas las aplicaciones 0D y 1D.

El 1Der es compatible con todas las fuentes de rayos X que se utilizan en el Empyrean y el Aeris.

PIXcel1D

Tecnología Medipix como detector de tiras dedicado

Con el detector PIXcel1D cuenta con un detector de tiras dedicado para aplicaciones 0D y 1D. Puede medir hasta 255 veces más rápido que con un detector puntual tradicional, sin comprometer la calidad de los datos. Al no requerir agua de enfriamiento, flujo de nitrógeno líquido, gas de conteo ni calibraciones que consumen tiempo, es una solución rentable.

Con una resolución y un rango dinámico inigualables, el PIXcel1D se puede utilizar con todos nuestros difractómetros.

PIXcel3D

El primer detector en llevar datos 0D, 1D, 2D y 3D a su difractómetro

El PIXcel3D es un exclusivo detector de píxeles híbridos en estado sólido en 2D. Cada píxel es de 55 micrones x 55 micrones y la matriz del detector es de 256 x 256 píxeles. El detector, ahora basado en la tecnología Medipix3, aporta una señal al ruido sin igual, con su función de dispersión de punto de un píxel y varios niveles de discriminación energética.

Software

HighScore

Enfoque de patrón completo para la identificación de fases y mucho más

Ya sea que esté interesado en un control mejorado del proceso o en realizar investigaciones y desarrollos, la comprensión de los materiales comienza muy a menudo con la comprensión del patrón de difracción de polvo.

Aunque Malvern Panalytical lo ayuda a obtener el mejor patrón de difracción de polvo con nuestros difractómetros, una de las principales preocupaciones para usted es identificar los contenidos de su muestra. HighScore es el software ideal para identificación de fases, análisis de fases semicuantitativos, tratamiento de patrones, ajuste de perfiles y más. El paquete de software contiene muchas funciones de apoyo para mostrar, manipular y evaluar los datos de difracción. HighScore es compatible con todos los formatos de datos de XRD de Malvern Panalytical, así como con la mayoría de los patrones de difracción de otros proveedores.

HighScore Plus

La herramienta ideal para el análisis cristalográfico y mucho más

Ya sea que esté interesado en un control mejorado del proceso o en realizar investigaciones y desarrollos, la comprensión de los materiales comienza muy a menudo con la comprensión del patrón de difracción de polvo.

Después de la identificación de todas las fases presentes en la muestra mediante HighScore de Malvern Panalytical, este conjunto de programas todo en uno con la opción “Plus” continúa apoyándolo en sus análisis. Ya sea que esté interesado en la cuantificación con o sin el método Rietveld, en el ajuste de perfiles o en el tratamiento de patrones, HighScore Plus es la solución para ayudarlo a realizar sus análisis diarios.

Estamos orgullosos de mostrar videos tutoriales elaborados por nuestro cliente, instalación de difracción JIAM de la Universidad de Tennessee, EE. UU. Desplácese hacia abajo para ver más videos.

Búsqueda de coincidencias

Bases de datos de referencia

La identificación de fases por difracción de rayos X significa comparar datos medidos desconocidos con datos de referencia conocidos. Estos datos de referencia se suelen tomar de una o varias bases de datos. El proceso de comparación también se denomina búsqueda de coincidencias.

La calidad y el contenido de las diferentes bases de datos de referencia varían considerablemente, dependiendo de la calidad de los datos y del proceso editorial. En términos generales, existe una relación entre precio y calidad.

XRD2DScan

Visualización y conversión de datos 2D

XRD2DScan es el paquete de software de Malvern Panalytical para la visualización, la corrección, la integración, la conversión y el análisis de datos de difracción 2D. 

Cámaras que no se encuentran a temperatura ambiente

BTS 150/500 – benchtop heating stages

Cost-effective attachment for non-ambient XRD

Anton Paar BTS 150 and BTS 500 benchtop heating stages are compact and cost-effective solutions for basic non-ambient X-ray diffraction experiments in reflection geometry. BTS 150 is equipped with a Peltier heating element enabling a temperature range from – 10 ºC to 150 ºC. The resistance heater of BTS 500 allows the heating of a sample from ambient temperature up to 500 ºC. Both heating stages can be used with an air, vacuum or inert gas atmosphere. A thermocouple is placed close to the sample for accurate temperature measurement and control. An optional beam knife can be used to minimize low- angle background.

Tubos de rayos X

Tubos de rayos X

Malvern Panalytical ofrece una amplia gama de tubos de rayos X.

Más información
Tubos de rayos X

Manejo de muestras

Cambiador de muestras de alta capacidad

Para entornos de alto rendimiento, el Cambiador de Muestras de Alta Capacidad de Aeris es la mejor solución. Con tecnología robótica probada, permite el análisis autónomo de más de 60 muestras, proporcionando una eficiencia de recursos un 50% superior.

Más información
Cambiador de muestras de alta capacidad

Manejo automatizado de muestras

Total integración en laboratorios automatizados operados a través de la interfaz UAI. Las muestras pueden suministrarse al instrumento mediante un sistema de transporte por cinta conectado al cambiador automatizable o mediante un brazo robótico que coloca las muestras directamente en la plataforma del cambiador.

Manejo automatizado de muestras

Cambiador de muestras de 6 posiciones

El cambiador de muestras de 6 posiciones permite el procesamiento por lotes de hasta 6 muestras a la vez, mejorando la eficiencia y reduciendo la necesidad de intervención del operador. Ideal para laboratorios con carga de trabajo media.

Cambiador de muestras de 6 posiciones

Carga manual de muestras

Para usuarios con volúmenes de muestra bajos o cambios poco frecuentes, la plataforma externa permite cargar y reemplazar una única muestra. La muestra se transfiere automáticamente a la zona de medición de XRD, garantizando un manejo preciso en cada análisis.

Carga manual de muestras

Manuales de usuario

Descargas de software

23 June 2025

1.7a

OmniTrust software update v1.7a

1.7a

20 July 2023

1.60

OmniAccess   

  • Flexible/configurable roles in Empyrean and Aeris (now aligns with Zetasizer) 
  • Summary of roles/permissions 
  • Default roles for instrument applications 
  • Support for complex domains 
  • Wizard for initial set up and massively improved UI to improve configuration/set up 

OmniTrail  

  • Record Audit trail events viewable in OmniTrail. 
  • Show/compare authorization files 

More information can be found in the Release and Installation Notes.

1.60

16 December 2021

1.40

OmniAccess   

  • Flexible/configurable roles in Empyrean and Aeris (now aligns with Zetasizer) 
  • Summary of roles/permissions 
  • Default roles for instrument applications 
  • Support for complex domains 
  • Wizard for initial set up and massively improved UI to improve configuration/set up 

OmniTrail  

  • Record Audit trail events viewable in OmniTrail. 
  • Show/compare authorization files 

More information can be found in the Release and Installation Notes.

1.40

Soporte

Servicios

Soluciones para maximizar la rentabilidad de su inversión

Para garantizar que su instrumento se mantenga en condiciones óptimas y funcione al más alto nivel, Malvern Panalytical ofrece una amplia gama de servicios. Nuestra experiencia y nuestros servicios de asistencia garantizan el óptimo funcionamiento de su instrumento.

Soporte

Servicio durante toda la vida útil

  • Asistencia telefónica y remota
  • Mantenimiento preventivo y revisiones
  • Acuerdos flexibles de atención al cliente
  • Certificados de rendimiento
  • Actualizaciones de hardware y software
  • Asistencia local y global

Experiencia

Agregamos valor a sus procesos 

  • Desarrollo y optimización de preparación de muestras
  • Metodologías analíticas 
  • Soluciones listas para usar para XRD 
  • Operaciones a través de IQ/OQ/PQ, aseguramiento de la calidad (GLP, ISO17025) o estudios interlaboratorios o cooperativos
  • Servicios de asesoría

Capacitación y educación

  • Capacitación in situ o en nuestros centros de competencia
  • Amplia gama de cursos básicos y avanzados sobre productos, aplicaciones y software
Un tamaño pequeño con un GRAN impacto.

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XRD de alta calidad y rápida, personalizada acorde a sus necesidades. Listo para la automatización e integración. El compacto moderno.

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