Stress Plus

Análisis de tensión en recubrimientos policristalinos

El software Stress Plus de Malvern Panalytical está dedicado al análisis de difracción de rayos X (XRD) de tensión residual en recubrimientos policristalinos. El software realiza análisis de esfuerzo residual sen²ψ con técnicas unidireccionales y multidireccionales. Stress Plus es un módulo opcional del software Stress de Malvern Panalytical, que comparte sus características clave.

Descargar folleto
Solicitar una cotización Solicitar una demostración Contactar a ventas

Características

Análisis de recubrimientos con mayor sensibilidad

Una técnica que se suele emplear en el análisis de difracción de rayos X de revestimientos policristalinos orientados aleatoriamente es aumentar la sensibilidad de la señal de XRD aplicando un ángulo de incidencia rasante de los rayos X. En dicha geometría, ya no es posible realizar un análisis clásico de tensión residual. Para superar esta limitación, Malvern Panalytical.alytical y su socio de colaboración, el Instituto Max Planck de Stuttgart (Alemania), han desarrollado modificaciones pioneras en el análisis de tensión clásico de sen²ψ. Se combinan los datos de varios picos {hkl} y un algoritmo de conversión calcula las verdaderas inclinaciones de ψ para todas las combinaciones posibles de ángulos del instrumento.

Análisis de revestimientos con fuerte orientación preferida

A veces, se aplica deliberadamente una orientación preferida a los revestimientos a fin de mejorar sus propiedades, por ejemplo, para maximizar su resistencia al desgaste. Al igual que los recubrimientos con mayor sensibilidad, el análisis de tensión sen²ψ tradicional no es posible en materiales con orientación preferida. En su lugar, los datos se recopilan aplicando una inclinación de chi a los escaneos simétricos normales para medir planos de la red, que no son paralelos a la superficie de la muestra. Stress Plus permite combinar datos de diferentes picos {hkl}, cada uno con su propia inclinación, en un gráfico sen²ψ modificado. Stress Plus contabiliza automáticamente los cambios de los picos debidos a la tensión, asignando índices de Miller correctos e identificado los picos de revestimientos y sustratos o de subcapas.

Fácil de configurar y utilizar 

Las mediciones de tensión residual en revestimientos son totalmente compatibles tanto con Data Collector como con Stress Plus. Data Collector contiene programas de medición especiales para configurar la estrategia de recopilación de datos. Stress Plus toma todos los parámetros del archivo .XRDML y genera los valores de tensión residual de la misma manera intuitiva que el programa Stress.

Libertad experimental

Stress Plus calcula todos los resultados intermedios y los datos de tensión final al instante. La influencia de todos los parámetros se refleja directamente en el resultado final. La opción de analizar conjuntos de datos combinados a partir de varios archivos de datos proporciona una libertad experimental completa. Se pueden añadir datos adicionales en cualquier momento. Stress Plus permite al usuario configurar valores predeterminados y el recálculo instantáneo de resultados ante cambios de parámetros de entrada, lo que lo hace ideal tanto para análisis de rutina como para aplicaciones de investigación.

Especificación

Sistemas de medición 

Se pueden utilizar los siguientes sistemas para recopilar y almacenar datos de tensión:

  • Empyrean con Data Collector 4.0 y superior
  • X’Pert PRO con X’Pert Data Collector 1.3 o 2.0 y superior
  • X’Pert³ con la última versión de Data Collector 4.3 y superior

Configuración recomendada del sistema

Diseñado para sistemas operativos Windows 8.1 (64 bits) y Windows 10 (64 bits) Current Branch for Business. 

Una configuración de computadora que coincida con los requisitos (mínimos) de hardware para el sistema operativo Windows deseado será suficiente.

Versión actual 2.3