Causas y soluciones para ‘Datos Extraños’ comunes en Analizadores de Distribución de Tamaño de Partícula por Difracción y Dispersión Láser

¡Hola a todos!
Hoy hablaré sobre las causas comunes de ‘Datos Extraños‘ en los dispositivos de medición de distribución de tamaño de partículas por difracción y dispersión láser, y cómo solucionarlos.

Artículos de referencia

Caso 1: Pico anómalo adherido al límite superior de medición

Cuando aparece un pico anómalo adherido al límite superior de medición, se pueden considerar las siguientes causas y soluciones.

Desviación del eje óptico

La causa es la desviación del eje óptico del dispositivo, que hace que la luz transmitida entre en otro detector que no es el original. La solución es volver a ajustar el eje óptico.

‘Borrosidad’ debida a desigualdades de temperatura del disolvente orgánico

En el caso de los disolventes orgánicos, las desigualdades de temperatura pueden hacer que la luz se disperse y se formen picos anómalos. La solución es equilibrar la temperatura del disolvente con la temperatura de la sala de medición unas horas antes de la medición.

Caso 2: Pico anómalo mayor a 100 μm

Cuando aparece un pico anómalo superior a 100 μm, se pueden considerar las siguientes causas y soluciones.

Ingreso de burbujas

Se puede suprimir el ingreso de burbujas variando la velocidad de agitación o el tipo y la concentración de tensioactivo.

Agregados

Los agregados de partículas grandes pueden causar picos anómalos. Se puede mitigar el efecto de los agregados aumentando la intensidad o el tiempo de dispersión por ultrasonido, o aplicando ultrasonidos durante el pretratamiento.

Caso 3: Picos de submicras a varias decenas de micras se vuelven bimodales o trimodales

Si los picos de submicras a varias decenas de micras se vuelven bimodales o trimodales, se pueden considerar las siguientes causas.

Irregularidades en los valores teóricos de dispersión de Mie

Cuando se amplía el ancho de la distribución, los picos pueden volverse irregulares. La solución es cambiar las condiciones de cálculo o verificar con un dispositivo de medición de distribución de tamaño de partículas basado en imagen.

La muestra en sí tiene múltiples picos

Si la muestra en sí incluye múltiples tamaños de partículas, también pueden aparecer múltídos picos.

Caso 4: Medición de muestras mayores a 1 μm muestra un gran pico en submicras

En la medición de muestras mayores a 1 μm, si aparece un gran pico en submicras, se pueden considerar las siguientes causas.

Luz parasitaria del detector principal

La causa es que la luz entra por detrás y el dispositivo confunde partículas pequeñas.

Limitaciones del principio

La luz dispersada de nanopartículas es débil, mientras que la luz dispersada de partículas mayores a 1 μm es fuerte, por lo que es difícil distinguir la presencia de nanopartículas. Aumentar el índice de absorción (tasa de absorción) del índice de refracción puede ser una solución.

Caso 5: El tamaño de las partículas aumenta continuamente durante la medición y la luz dispersa se debilita (la transmisión aumentan)

Si el tamaño de las partículas aumenta durante la medición y la luz dispersa se debilita, se pueden considerar las siguientes causas.

Disolución de la muestra

Los pequeños partículas en la muestra se disuelven primero, desplazando la distribución del tamaño hacia una dirección mayor. Usar un medio dispersor que no disuelva es efectivo como solución.

Progresión de la agregación

La causa es que las partículas se agregan durante la agitación o circulación. Cambiar el medio dispersor o usar celdas con capacidad de alta concentración para medir la muestra original puede considerarse como solución.

Estas son las explicaciones de las causas y soluciones para ‘Datos Extraños’ comunes en los dispositivos de medición de distribución de tamaño de particulas por difracción y dispersión láser. Es esencial tener en cuenta estas causas y soluciones para obtener resultados de medición precisos cuando se utiliza el dispositivo.

No dudes en contactarnos si tienes alguna pregunta.

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