¿Cómo puedo confiar en mis datos? ¿Afecta la tecnología de medida de alguna manera a los datos? o alternativamente ¿Afecta el operario durante la preparación de muestras o los parámetros de análisis empleados? Para responder a estas preguntas, necesitamos considerar el uso de técnicas de medida independientes y complementarias con el objetivo de proporcionar confianza y validación de las medidas. Dos técnicas complementarias son NTA y DLS. Esta Nota de aplicación describe ambas tecnologías y los resultados complementarios que proporcionan, mientras que además explora cómo su utilización conjunta proporciona una completa plataforma de parámetros de medida disponible para aquellos interesados en la caracterización de materiales a escala nano.

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