Cet échantillon de vérification peut être utilisé pour s'assurer que la configuration de la diffusion de rayons X aux petits angles en incidence rasante (GISAXS) fonctionne correctement. L'échantillon est composé de nanoparticules de Fe2O3 sphériques de granulométrie connue, fixées à la surface d'un wafer Si. Les particules ont une coque de polystyrène.
Les caractéristiques des particules sont certifiées par des analyses SEM et GISAXS.
