Dans la recherche en matériaux, les scientifiques se posent de nombreuses questions analytiques liées à la constitution cristalline des échantillons de matériaux. La diffraction des rayons X (XRD) est la seule technique de laboratoire qui révèle des informations structurelles telles que la composition chimique, la structure cristalline, la taille des cristallites, la déformation, l'orientation privilégiée et l'épaisseur de couche. Ces chercheurs utilisent donc la XRD pour analyser une large gamme de matériaux, des poudres et des solides aux couches minces et aux nanomatériaux.

La science et l'industrie

De nombreux chercheurs, dans les laboratoires industriels comme dans les laboratoires scientifiques, s'appuient sur la diffraction des rayons X en tant qu'outil permettant de développer de nouveaux matériaux ou d'améliorer l'efficacité de la production. Les innovations en matière de diffraction des rayons X suivent étroitement la recherche sur les nouveaux matériaux, comme dans les technologies semi-conductrices ou les études pharmaceutiques. La recherche industrielle vise à accroître constamment la vitesse et l'efficacité des processus de production. L'analyse entièrement automatisée par diffraction des rayons X sur les sites d'exploitation minière et de production de matériaux de construction apporte des solutions plus économiques pour le contrôle de la production.

Solutions pour les questions analytiques

L'analyse par diffraction des rayons X satisfait de nombreux besoins analytiques des scientifiques spécialisés dans les matériaux. Dans les poudres, les phases chimiques sont identifiées qualitativement et quantitativement. La diffraction des rayons X haute résolution révèle des paramètres tels que la composition, l'épaisseur, la rugosité et la densité des couches minces semi-conductrices. L'analyse par la diffusion de rayons X aux petits angles et la fonction de distribution de paires (PDF) aide à analyser les propriétés structurelles des nanomatériaux. Les contraintes et l'orientation privilégiée peuvent être déterminées dans un large éventail d'objets solides et de composants d'ingénierie.

Jetez-y un coup d'œil !

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Technologie
X-ray Diffraction (XRD)
Type de mesure
Forme des particules
Taille des particules
Crystal structure determination
Identification de phase
Phase quantification
Contaminant detection and analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
3D structure / imaging
Métrologie des couches minces
Residual stress