La mesure de la taille, de la forme et du potentiel zêta des particules est importante dans l'industrie de l'électronique, en particulier durant la production de matières premières pour les circuits intégrés utilisés dans la plupart des équipements électroniques tels que les ordinateurs, les téléphones mobiles et les appareils numériques. La présence d'une seule particule surdimensionnée peut endommager un wafer ou provoquer une panne dans un LCD.

Qu'il s'agisse de recherche, de conception mais aussi de fabrication ou de contrôle qualité des composants électroniques, l'instrumentation facile à utiliser de Malvern, combinée avec sa connaissance des applications et de l'industrie, peut vous aider à caractériser des matériaux dont notamment :

  • les slurrys CMP utilisés pour polir les tranches de silicium et autres wafers pour la production de cellules photovoltaïques
  • les particules de soudure et les encres de sérigraphie utilisées pour les circuits imprimés.
  • l'argent, le carbone conducteur et les pâtes utilisées pour les circuits imprimés et pour divers affichages ( EL, LCD, LED)
  • les nanoparticules utilisées comme colorants pour les affichages à cristaux liquides couleurs.

Gamme Mastersizer

Gamme Zetasizer

Gamme Morphologi

Epsilon 1 pour l'analyse de cartographie élémentaire

Epsilon 4

Gamme Mastersizer

Granulomètres les plus utilisés au monde

Gamme Zetasizer

Les systèmes les plus utilisés au monde pour les mesures de la taille et de la charge des nanoparticules, des protéines et des colloïdes

Gamme Morphologi

Imagerie automatisée pour la caractérisation avancée des particules

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Focalisez-vous sur les détails pour saisir la vision d'ensemble

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Analyse élémentaire à proximité de ligne rapide et précise

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Type de mesure Particle size Molecular size, Particle size, Molecular weight, Zeta potential Particle shape, Particle size, Chemical identification Contaminant detection and analysis, Elemental analysis, Elemental quantification Elemental analysis, Elemental quantification, Contaminant detection and analysis
Gamme de tailles des particules : 0.01µm - 3500µm 0.3nm - 10µm 0.5µm - 1000µm
Plage de température 0°C - 120°C
Plage élémentaire Na-Am C-Am
Débit d'échantillon 40per 8h day - 80per 8h day 80per 8h day - 160per 8h day
Résolution (Mg-Ka) 145eV 135eV
Technologie Laser Diffraction Dynamic Light Scattering, Static Light Scattering, Size Exclusion Chromatography (SEC), Electrophoretic Light Scattering Image analysis X-ray Fluorescence (XRF) Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
LLD 1 ppm - 100% 1 ppm - 100%
Type de dispersion Dry, Wet, Wet and Dry Wet
Type de cellules de mesure d'échantillon Cuvette