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Gamme Mastersizer
Granulomètres les plus utilisés au monde
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Plus de détails
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| Mesure |
Taille des particules |
| Gamme de tailles des particules : |
0.01µm - 3500µm
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| Technologie |
Diffraction Laser |
| Type de dispersion |
Liquide, Poudre, Voie sèche et liquide |
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Gamme Zetasizer
Les systèmes les plus utilisés au monde pour les mesures de la taille et de la charge des nanoparticules, des protéines et des colloïdes
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Plus de détails
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| Mesure |
Taille moléculaire, Masse molaire, Taille des particules, Potentiel zêta |
| Plage de température |
0°C - 120°C
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| Gamme de tailles des particules : |
0.3nm - 10µm
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| Technologie |
Chromatographie d'exclusion de taille (SEC), Diffusion dynamique de la lumière, Électrophorèse laser Doppler, Diffusion statique de la lumière |
| Type de dispersion |
Liquide |
| Type de cellules de mesure d'échantillon |
Cuvette |
| Molecular Measurement Type |
Chromotography, Batch measurement |
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Gamme Morphologi
Imagerie automatisée pour la caractérisation avancée des particules
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Plus de détails
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| Mesure |
Identification chimique, Forme des particules, Taille des particules |
| Gamme de tailles des particules : |
0.5µm - 1000µm
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| Technologie |
Analyse d'images |
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2830 ZT
Solution avancée de métrologie des couches minces de semi-conducteurs
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Plus de détails
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| Mesure |
Identification chimique, Métrologie des couches minces, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| Plage élémentaire |
Be-U
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| Résolution (Mg-Ka) |
35eV
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| Débit d'échantillon |
up to 25 wafers per hour
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| LLD |
0.1 ppm - 100%
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| Technologie |
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) |
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Epsilon 1 pour l'analyse de cartographie élémentaire
Focalisez-vous sur les détails pour saisir la vision d'ensemble
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Plus de détails
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| Mesure |
Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| Plage élémentaire |
Na-Am
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| Résolution (Mg-Ka) |
145eV
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| LLD |
1 ppm - 100%
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| Débit d'échantillon |
40per 8h day - 80per 8h day
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| Technologie |
X-ray Fluorescence (XRF) |
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Epsilon 4
Analyse élémentaire à proximité de ligne rapide et précise
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Plus de détails
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| Mesure |
Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| Plage élémentaire |
C-Am
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| Résolution (Mg-Ka) |
135eV
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| LLD |
1 ppm - 100%
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| Débit d'échantillon |
80per 8h day - 160per 8h day
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| Technologie |
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
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Epsilon 4 Polymers plastics and paints
Increase your polymer product consistency
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Plus de détails
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| Mesure |
Elemental analysis, Elemental quantification |
| Technologie |
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |