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Gamme X'Pert³

Système XRD polyvalent pour la recherche et le développement

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La nouvelle plateforme X'Pert³ succède à la gamme éprouvée X'Pert. Avec sa nouvelle électronique de contrôle embarquée, sa conformité aux normes de sécurité les plus strictes en terme de rayons X et de mécanique, ses améliorations dans l'éco-convivialité et sa fiabilité, la plateforme X'Pert³ est prête pour l'avenir.
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X'Pert³ MRD

Les systèmes X'Pert³ MRD offrent des solutions avancées et innovantes de diffraction des rayons X, de la recherche au développement et au contrôle des processus.

Les fonctionnalités incluent

  • Plaquette max. diamètre : 100 mm
  • SECS/GEM
  • Salle blanche ISO 4
X'Pert³ MRD

X'Pert³ MRD XL

Une plate-forme de montage PreFIX supplémentaire permet le montage en ligne d'un miroir à rayons X et d'un monochromateur haute résolution, augmentant ainsi considérablement l'intensité du faisceau incident.

Les fonctionnalités incluent

  • Plaquette max. diamètre : 300 mm
  • SECS/GEM
  • Salle blanche ISO 4
X'Pert³ MRD XL

Comment nos produits se comparent

  • X'Pert³ MRD

    La nouvelle génération de diffractomètres polyvalents pour la recherche en matériaux

    X'Pert³ MRD

    Technologie

    • Diffraction des rayons X (XRD)

    Type de mesure

    • Identification de phase
    • Quantification de la phase
    • Métrologie des couches minces
    • Contraintes résiduelles
    • Rugosité de l'interface
    • Analyse de l'épitaxie
    • Analyse de texture
    • Analyse de réseau réciproque

    Wafer max. diameter

    • 100 mm
    • SECS/GEM
    • Cleanroom ISO 4
    Plus de détails Demander un devis

  • X'Pert³ MRD XL

    La nouvelle génération de diffractomètres polyvalents pour la recherche en matériaux

    X'Pert³ MRD XL

    Technologie

    • Diffraction des rayons X (XRD)

    Type de mesure

    • Identification de phase
    • Quantification de la phase
    • Métrologie des couches minces
    • Contraintes résiduelles
    • Rugosité de l'interface
    • Analyse de l'épitaxie
    • Analyse de texture
    • Analyse de réseau réciproque

    Wafer max. diameter

    • 300 mm
    • SECS/GEM
    • Cleanroom ISO 4
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