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Diffractomètres à rayons X (XRD)

Au service de la communauté de diffraction des rayons X depuis presque un siècle

Diffractomètres à rayons X (XRD)

La conception des diffractomètres à rayons X de Malvern Panalytical permet d'obtenir des diffractogrammes d'excellente qualité. Leur simplicité d'utilisation et leur flexibilité permettent de passer d'une application à l'autre très rapidement.

Solutions DRX

Nos diffractomètres sont utilisés dans de nombreux environnements, des universités et instituts de recherche aux laboratoires de contrôle des procédés industriels. Quels que soient vos besoins en diffraction des rayons X (XRD), nous avons l'instrument que vous recherchez. Et vous pourrez compter sur notre réseau de vente et d'après-vente dans le monde entier.

Polyvalents, nos diffractomètres (Aeris, Empyrean, X’Pert3 MRD (XL) sont tous équipés de modules PreFIX (modules pré-alignés interchangeables rapidement) qui simplifient le changement de trajet optique. C'est pour cette raison que nous proposons la plupart des applications sur une même plateforme de diffractomètre. Découvrez dans notre centre de connaissances de nombreuses applications XRD passionnantes.

Aeris

Préparez-vous à être surpris par notre système XRD extrêmement précis et rapide. Des résultats précis peuvent être prêts en moins de cinq minutes.
Aeris

Gamme Empyrean

Nos optiques multicœurs nouvellement conçues permettent la plus grande variété de mesures sans aucune intervention manuelle.
Gamme Empyrean

Gamme X'Pert³

La longue et fructueuse histoire de nos diffractomètres de recherche sur les matériaux se poursuit avec une nouvelle génération de X'Pert³.
Gamme X'Pert³

Solutions d'orientation des cristaux

Gamme Crystal Orientation

Gamme Crystal Orientation

Nos solutions d'orientation des cristaux sont conçues pour les applications de boules, de lingots, de rondelles et de plaquettes.

Notre gamme de solutions d’orientation des cristaux est conçue pour les applications en lingots, plaquettes et cristaux. L'orientation des cristaux est simplifiée dans une gamme d'environnements grâce à nos instruments - de l'analyse en ligne à la recherche sur ordinateur, nous avons ce qu'il vous faut.

Comment nos produits se comparent

  • Aeris

    L'avenir est compact

    Aeris

    Technologie

    • Diffraction des rayons X (XRD)

    Type de mesure

    • Forme des particules
    • Taille des particules
    • Détermination de la structure cristalline
    • Identification de phase
    • Quantification de la phase
    • Détection et analyse de contaminants
    • Analyse de l'épitaxie
    • Rugosité de l'interface
    • Imagerie/structure 3D
    • Métrologie des couches minces
    • Contraintes résiduelles
    • Crystal orientation
    • Cleanroom ISO 4
    • SECS/GEM
  • Gamme Empyrean

    Diffractomètres à rayons X polyvalents

    Gamme Empyrean

    Technologie

    • Diffraction des rayons X (XRD)

    Type de mesure

    • Forme des particules
    • Taille des particules
    • Détermination de la structure cristalline
    • Identification de phase
    • Quantification de la phase
    • Détection et analyse de contaminants
    • Analyse de l'épitaxie
    • Rugosité de l'interface
    • Imagerie/structure 3D
    • Métrologie des couches minces
    • Contraintes résiduelles
    • Crystal orientation
    • Cleanroom ISO 4
    • SECS/GEM
  • Gamme X'Pert³

    Système XRD polyvalent pour la recherche et le développement

    Gamme X'Pert³

    Technologie

    • Diffraction des rayons X (XRD)

    Type de mesure

    • Forme des particules
    • Taille des particules
    • Détermination de la structure cristalline
    • Identification de phase
    • Quantification de la phase
    • Détection et analyse de contaminants
    • Analyse de l'épitaxie
    • Rugosité de l'interface
    • Imagerie/structure 3D
    • Métrologie des couches minces
    • Contraintes résiduelles
    • Crystal orientation
    • Cleanroom ISO 4
    • SECS/GEM
  • Gamme Crystal Orientation

    Orientation cristalline rapide et précise

    Gamme Crystal Orientation

    Technologie

    • Diffraction des rayons X (XRD)

    Type de mesure

    • Forme des particules
    • Taille des particules
    • Détermination de la structure cristalline
    • Identification de phase
    • Quantification de la phase
    • Détection et analyse de contaminants
    • Analyse de l'épitaxie
    • Rugosité de l'interface
    • Imagerie/structure 3D
    • Métrologie des couches minces
    • Contraintes résiduelles
    • Crystal orientation
    • Cleanroom ISO 4
    • SECS/GEM