La conception des diffractomètres à rayons X de Malvern Panalytical permet d'obtenir des diffractogrammes d'excellente qualité. Leur simplicité d'utilisation et leur flexibilité permettent de passer d'une application à l'autre très rapidement.
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La conception des diffractomètres à rayons X de Malvern Panalytical permet d'obtenir des diffractogrammes d'excellente qualité. Leur simplicité d'utilisation et leur flexibilité permettent de passer d'une application à l'autre très rapidement.
Nos diffractomètres sont utilisés dans de nombreux environnements, des universités et instituts de recherche aux laboratoires de contrôle des procédés industriels. Quels que soient vos besoins en diffraction des rayons X (XRD), nous avons l'instrument que vous recherchez. Et vous pourrez compter sur notre réseau de vente et d'après-vente dans le monde entier.
Polyvalents, nos diffractomètres (Aeris, Empyrean, X’Pert3 MRD (XL) sont tous équipés de modules PreFIX (modules pré-alignés interchangeables rapidement) qui simplifient le changement de trajet optique. C'est pour cette raison que nous proposons la plupart des applications sur une même plateforme de diffractomètre. Découvrez dans notre centre de connaissances de nombreuses applications XRD passionnantes.
![]() AerisCompact X-ray diffractometer |
![]() Gamme EmpyreanMultipurpose X-ray diffractometer |
![]() Gamme X'Pert³Thin Film Analysis XRD Systems |
![]() Crystal orientation rangeFast and accurate orientation of wafers and ingots |
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Technologie | ||||
Diffraction des rayons X (XRD) | ||||
Type de mesure | ||||
Forme des particules | ||||
Taille des particules | ||||
Détermination de la structure cristalline | ||||
Identification de phase | ||||
Quantification de la phase | ||||
Détection et analyse de contaminants | ||||
Analyse de l'épitaxie | ||||
Rugosité de l'interface | ||||
Imagerie/structure 3D | ||||
Métrologie des couches minces | ||||
Contraintes résiduelles | ||||
Crystal orientation | ||||
Cleanroom ISO 4 | ||||
SECS/GEM |