DDCOM
Ultra-fast, bottom surface measuring crystal orientation in a compact package
Les fonctionnalités incluent
- Benchtop device
- Higher throughput due to no height alignment
Orientation cristalline rapide et précise
Un cristal est un motif répété d'atomes, ce qui signifie que ce que nous voyons du point de vue d'un électron/photon pénétrant dans ce cristal dépend de l'angle sous lequel nous regardons ce cristal. Il peut s'agir d'un canal traversant le cristal de part en part ou seulement les trois couches supérieures du matériau, de sorte que les propriétés du matériau peuvent être très différentes selon l'angle. Un bon contrôle des propriétés du matériau nécessite un bon contrôle de l'orientation du cristal.
Il s'agit d'un processus important pour l'implantation ionique, la lithographie, l'épitaxie, mais aussi, par exemple, pour la fabrication d'un laser ou de composants optiques.
La gamme Crystal Orientation est basée sur l'acquisition azimutale, une technique de mesure géométrique intelligente pour orienter des cristaux. Cela signifie que nous pouvons déterminer non seulement l'inclinaison de l'axe principal, mais aussi toutes les directions dans le plan en seulement 10 secondes. Les instruments peuvent mesurer pratiquement n'importe quelle forme à condition qu'il s'agisse d'un cristal unique, comme les wafers, les lingots, les boules, les palets, etc.
Ils sont bien conçus pour les applications industrielles telles que la fabrication de monocristaux ou de wafers et la recherche, mais aussi pour le contrôle qualité des wafers et d'autres dispositifs.
Nos systèmes Crystal Orientation de haute précision permettent de mesurer l'orientation des cristaux de manière simple et rapide, ce qui garantit que les propriétés souhaitées sont présentes pour les étapes de traitement suivantes.
Ultra-fast, bottom surface measuring crystal orientation in a compact package
Les fonctionnalités incluent
Ultra-fast, flexible, top surface measuring crystal orientation in a compact package
Les fonctionnalités incluent
Fully automated vertical three-axis X-ray diffractometer for ultra-fast crystal orientation
Les fonctionnalités incluent
Fast, precise and fully equipped solution for wafer orientation and sorting
Les fonctionnalités incluent
Integratable wafer orientation solution
Les fonctionnalités incluent
Fully automated in-line orientation and handling of ingots, boules, and pucks
Les fonctionnalités incluent