DDCOM

Mesure ultra-rapide de l'orientation du cristal sur la surface inférieure dans un boîtier compact

  • Orientation précise du cristal complet en quelques secondes
  • Faible consommation d’énergie et coûts d’exploitation
  • Haute précision jusqu'à 0,01°

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Aperçu

Déterminez précisément l'orientation des cristaux en quelques secondes à l'aide de notre méthode efficace et précise. Avec une consommation d'énergie et des coûts d'exploitation faibles, le DDCOM est idéal pour les applications de recherche et d'industrie.

Orientation des cristaux ultra-rapide et précise (jusqu'à (1/100)o) au bout des doigts. Le DDCOM acquiert des résultats fiables plus de 100 fois plus rapidement que les méthodes traditionnelles avec des gains de temps supplémentaires grâce à la géométrie de mesure ascendante. Cet instrument hautement polyvalent utilise un tube à rayons X refroidi par air et une conception mobile pour garantir des coûts de fonctionnement réduits et un maximum de commodité.

Fonctionnalités

  • Rapide et précis

    Cette méthode ne nécessite qu'une seule rotation d'acquisition pour recueillir toutes les données nécessaires à la détermination de l'orientation des cristaux. La mesure relative à l'axe de rotation augmente le traitement tout en fournissant des résultats précis en seulement quelques secondes.

  • Format compact et convivial

    La conception compacte du DDCOM permet au système de s'adapter à n'importe quel environnement. Le logiciel est à la fois puissant et intuitif, ce qui le rend pratique et facile à utiliser pour un large éventail d'utilisateurs.

  • Contrôle précis et efficace

    Assurez le contrôle des processus de coupe, de broyage et de rodage avec une précision élevée jusqu'à 1/100o. Le DDCOM fournit une orientation complète du réseau des cristaux uniques. Grâce aux paramètres de cristal préprogrammés, il détermine également l'orientation arbitraire inconnue de diverses structures. La fonction de réglage azimutal et le marquage de l'orientation des cristaux aident à affiner le flux de travail pour une plus grande efficacité.

  • Polyvalent et économique

    Le DDCOM est bien équipé pour les environnements de recherche et de production dans lesquels divers types d'échantillons doivent être analysés. Les coûts d'exploitation du DDCOM sont faibles, grâce à sa faible consommation d'énergie et à son tube à rayons X refroidi par air. Aucun refroidissement par eau n'est nécessaire.

Matériaux mesurables

L'instrument peut mesurer une gamme de matériaux différents de structures variables, ce qui offre flexibilité à tous les laboratoires. Voici quelques exemples de matériaux mesurables :

  • Cubique, orientation inconnue arbitraire : Si, Ge, GaAs, GaP, InP
  • Cubique, orientation spéciale : Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3
  • Tétragonal : MgF2, TiO2, SrLaAlO4
  • Hexagonal et trigonal : SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2 (quartz), Al2O3 (saphir), GaPO4, La3Ga5SiO14
  • Orthorhombique : Mg2SiO4, NdGaO

Applications clés

Contrôle de l'orientation des cristaux pour la coupe, le broyage et le rodage
En raison de son faible encombrement, de ses capacités d'automatisation et de sa vitesse de mesure rapide, le DDCOM XRD vous offre un moyen pratique et convivial de mesurer l'orientation des cristaux permettant un contrôle précis et efficace des processus de coupe, de broyage et de rodage.
Réglage et marquage de l'orientation des cristaux
Le DDCOM est équipé pour le réglage azimutal et le marquage de l'orientation des cristaux. Le marquage des wafers repose sur une excellente précision et une surveillance rapide. Le DDCOM fournit la vitesse et la précision dont votre processus a besoin. Léger et mobile, il s'intègre facilement à votre installation existante ou dans le cadre d'un nouveau processus.
Contrôle qualité
La vitesse de mesure et le temps de production sont cruciaux pour le contrôle qualité de la production, mais pour les mesures de routine, il est également important de maintenir des coûts d'exploitation bas. Le DDCOM est efficace non seulement en termes de débit et de productivité grâce à la géométrie de mesure descendante, mais également en termes de consommation d'énergie, ce qui permet de réduire vos coûts et de garantir un fonctionnement optimal de vos processus, sans compromettre la qualité.
Étude de matériaux
Capable de mesurer une gamme polyvalente de types de cristaux dans un faible encombrement de laboratoire, le DDCOM est idéal pour les flux de travail de recherche standard. Les coûts de fonctionnement sont réduits grâce à une consommation d'énergie minimisée et à un tube à rayons X refroidi par air ne nécessitant pas de refroidissement par eau. Le DDCOM est également accessible et facile à utiliser à divers niveaux d'expérience, ce qui en fait une solution pratique pour les laboratoires de recherche.

Spécifications

Spécification technique

X-ray generator
Tube à rayons X refroidi par air 30 W, anode en Cu
Détecteur
Deux compteurs à scintillation
Sample holders
Plateau tournant précis, précision de réglage de 0,01°, outils pour le positionnement et le marquage définis des échantillons

Spécifications physiques

Dimensions
600 mm × 600 mm × 850 mm
Poids
80 kg
Alimentation
100-230 V, 500 W, monophasé
Plage de température ambiante
≤ 30° C

Options de configuration

Options
Dispositif de cartographie des wafers (diamètre maximal 225 mm)
Dispositif de chargement automatique à partir de cassettes

Exemples de matériaux mesurables

Matériaux
Cubique, orientation inconnue arbitraire : Si, Ge, GaAs, GaP, AlAs, AlP, InP, NaCl, AgCl, CaF 2
Cubique, orientation spéciale : Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC 3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl 2 O 4 , SrTiO 3 , LaTiO 3
Tétragonal : MgF 2 , TiO 2 , SrLaAlO 4
Hexagonal / trigonal : SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO 3 , SiO 2 (quartz), Al 2 O 3 (saphir), GaPO 4 , La 3 Ga 5 SiO 14
Orthorhombique : Mg 2 SiO 4 , NdGaO 3
Autres matériaux en fonction des demandes des clients

Accessoires

Améliorez votre flux de travail

Dispositif de cartographie des wafers

Complément optionnel pour l'exploration et la cartographie de l'orientation des cristaux ou des distorsions de surface.

Chargement automatique à partir de la cassette

Un outil supplémentaire permettant le chargement automatisé des échantillons à partir d'une cassette, améliorant ainsi le temps de production et l'efficacité du flux de travail.

Manuels d'utilisation

Téléchargements de logiciels

Veuillez contacter l'assistance pour obtenir la dernière version du logiciel.

Assistance

Services d'assistance 

  • Assistance téléphonique et à distance
  • Maintenance préventive et contrôles
  • Contrats de service client flexibles
  • Certificat de performances
  • Mises à niveau matérielles et logicielles
  • Assistance locale et mondiale

Expertise

  • Solutions clés en main pour la métrologie élémentaire et structurelle des semi-conducteurs
  • Automatisation et conseil
  • Formation et éducation
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