Innovation élémentaire

Développement continu, meilleure expérience client 

Des innovations scientifiquement éprouvées, axées sur les avantages, obtenues grâce à la technologie SumXcore – intégration de WDXRF, EDXRF et XRD – et incorporées à la plate-forme Zetium, offrent une flexibilité, des performances et une polyvalence optimales et sont en voie de révolutionner le monde de la XRF.

Innovation élémentaire

Intelligence élémentaire

Le matériel d'analyse de pointe nécessite des logiciels d'analyse et une expertise avancés 
Un pas de géant pour notre logiciel SuperQ renommé qui donne accès à de nouvelles combinaisons technologiques et possibilités d'analyse. Grâce à Virtual Analyst, elle améliore l'expérience de l'utilisateur lors de la configuration et de l'exploitation du système.
Intelligence élémentaire

Assistance élémentaire

Assistance transparente et fiable quel que soit l'endroit
 
Du service à l'expertise, de la formation à l'analyse en laboratoire, l'utilisateur est soutenu sous tous les angles. Grâce à un réseau mondial constitué d'ingénieurs expérimentés, ainsi qu'au plus grand bassin de scientifiques d’application de l’industrie, Malvern Panalytical est toujours à votre disposition pour vous aider à répondre à vos besoins analytiques. 
Assistance élémentaire

Technologie élémentaire

60 ans d'expérience et d'héritage - le point de départ idéal
Zetium fait partie de la prochaine génération de spectromètres WDXRF remarquablement efficaces, comprenant les spectromètres Axios, MagiX et PW2400. Cet héritage de technologie éprouvée a été affiné et mis au premier plan, constituant ainsi les bases de la plate-forme Zetium.
Technologie élémentaire

Amélioration des performances d'analyse

  • Choix de puissance de 1 à 2,4, 3 ou 4 kW pour une meilleure sensibilité
  • Gamme de matériaux d'anode de tube à rayons X Rh, Cr, Mo et Au pour des applications spécifiques
  • Détecteur Duplex pour une meilleure sensibilité et une plus large gamme dynamique pour les analyses des métaux de transition
  • Détecteur à scintillation HiPer pour une gamme dynamique améliorée pour les éléments lourds (jusqu'à 3,5 Mcps) idéal pour l'analyse haute précision du Nb et Mo dans les aciers
  • Analyse séquentielle chaux vive et XRF avec le THETA core

Expérience utilisateur supérieure

  • Logiciel simple et intuitif avec le Virtual Analyst
  • Série complète de modules de configuration d'applications et solutions logicielles
  • Analyse XRF non standardisée leader de l'industrie avec Omnian - analyse de matériaux inconnus ou de matériaux pour lesquels des étalons ne sont pas disponibles
  • Analyse élémentaire multi-élément avec cartographie
  • Masques de collimateur programmables pour des tailles d'échantillon comprises entre 6 et 37 mm

Rendement d'échantillons maximum

  • Technologie sumXcore - Durées de mesure réduites jusqu'à 50 % avec ED core
  • Choix de puissance de 1 à 2,4, 3 ou 4 kW pour des durées d'analyse plus rapides
  • Canaux Hi-Per pour une mesure simultanée des éléments légers
  • Un chargement continu et direct réduit considérablement le temps d'inactivité de l'instrument
  • Lit de passeur d'échantillons haute capacité (jusqu'à 209 positions) pour des applications à rendement élevé
  • Option de lecteur de code-barres pour le chargement d'échantillons et la saisie de données rapides et sans erreur

Robustesse

  • Le dispositif anti-poussière minimise la contamination et optimise le temps en fonctionnement de l'instrument
  • Revêtement CHI-BLUE sur la fenêtre du tube à rayons X pour une meilleure solidité du tube et une plus grande résistance à la corrosion
  • Identification du type d'échantillon (solides et liquides)
  • Lecteur code-barres pour une saisie d'échantillons sans erreur

 Faible coût de propriété

  • Gain de place, conception compacte 
  • Sas de petite taille, pour des mises sous vide rapides et faible consommation d'hélium pour l'analyse de liquides
  • Modules de service faciles d'accès pour un entretien plus rapide de l'instrument et des temps d'arrêt minimaux
  • Un refroidisseur dédié évacue la chaleur dans le laboratoire, évitant un climatiseur supplémentaire.
  • Solution en packages économiques

Solutions adaptées aux différentes industries

Les éditions industrielles du spectromètre XRF Zetium sont proposées avec des modèles d'expertise dédiés et des configurations matérielles et logicielles prévues pour des industries spécifiques. Conçues pour être mises en place et étalonnées rapidement, ces éditions industrielles disposent de modules d'application traçables propriétaires de grande qualité, incluant des étalons de calibration et des instructions de préparation d'échantillons. Les modèles d'applications inclus sont parfaitement adaptés aux applications industrielles standard et conformes aux normes internationales. Les industries utilisant cette approche sont notamment les industries du ciment, des minéraux, des métaux, des produits pétrochimiques, des polymères et des plastiques. La configuration de l'édition Ultimate répond aux besoins les plus exigeants quelle que soit l’industrie.

Packages d'amélioration du système

La conception modulaire de la plate-forme Zetium permet des configurations customisables pour répondre aux besoins les plus exigeants.
 
  •     Améliorations des performances axées sur les tâches
  •     Débit d'échantillons élevé -–augmentation de la capacité du passeur d'échantillons et temps d’inactivité des instruments minimal
  •     Protection contre les échantillons poussiéreux et les déversements de liquides
  •     Introduction d'échantillons sans erreur grâce au lecteur de codes-barres
  •     Manipulation variable selon le type d'échantillon, y compris analyse élémentaire
Packages d'amélioration du système

SumXcore

ED core
La plate-forme Zetium incarne la technologie SumXcore - une intégration de WDXRF, EDXRF et XRD. Cette combinaison unique de possibilités le place dans une classe à part en ce qui concerne la puissance analytique, la vitesse et la flexibilité des tâches.
 
Avantages de la combinaison WD/ED XRF
Flexibilité maximale des tâches et performances améliorées grâce aux mesures SumXcore simultanées
Bénéficie d'une réduction spectaculaire des durées de mesure allant jusqu'à 50 % ou d'une plus grande précision
Détecteur SDD haute résolution, avec atténuation du signal variable, pour une flexibilité de performance optimale
Analyse élémentaire du Na – Am, en concentrations en ppm – 100 %
Suit les éléments inattendus qui peuvent affecter l'analyse des éléments du procédé sans augmenter la durée de la mesure
Améliore votre programme AQ/CQ et augmente la confiance dans la qualité grâce à deux résultats indépendants pour chaque mesure
SumXcore

SuperQ 6 avec Virtual Analyst

Virtual Analyst prend des informations de diverses sources, telles que les compositions des étalons, les mesures réelles et les objectifs des données utilisateur, pour calculer la réponse du système, le configurer et réaliser la méthode.
 
  • Accès à la puissance de la plate-forme Zetium
  • Simple et intuitif avec flux adapté aux tâches
  • Améliorations de la correction de matrice pour une plus grande précision des données, des métaux aux polymères 
  • Virtual Analyst - l'incarnation de décennies de savoir-faire spécialisé.
SuperQ 6 avec Virtual Analyst

Analyse élémentaire avec cartographie

L'analyse élémentaire avec cartographie de distribution élémentaire est un outil idéal pour la recherche de matériaux et le dépannage de procédé de production. Cette technique ne se limite désormais plus aux établissements de recherche et est maintenant disponible partout où vous en avez besoin.
 
  • Idéale pour la recherche de matériaux et le dépannage de procédé de production
  • Temps d'analyse pratique
  • Chemin optique à couplage direct pour une plus grande sensibilité
  • Utilisation d'ED Core pour une analyse multi-éléments rapide, simultanée par zone
  • Surface d'analyse de 500 µm (FWHM), amplitude du pas de 100 µm
  • Analyse Omnian quantitative, qualitative et non standardisée
  • Préparation d'échantillons simple
Analyse élémentaire avec cartographie