Introduction 

La spectrométrie de fluorescence X (XRF) est une technique d'analyse non destructive utilisée pour obtenir des informations élémentaires à partir de différents types de matériaux. Elle est employée dans de nombreuses industries et applications, notamment : la production de ciment, la production de verre, l'exploitation minière, l'enrichissement minéral, le fer, l'acier et les métaux non ferreux, le pétrole et les produits pétrochimiques, les polymères et les industries connexes, la médecine légale, les produits pharmaceutiques, les produits de santé, les produits environnementaux, l'alimentation et les cosmétiques. Les systèmes de spectromètre sont généralement divisés en deux groupes principaux : les systèmes à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) et les systèmes à dispersion d'énergie (EDXRF). La différence entre les deux porte sur le système de détection. ​

Qu'est-ce qu'EDXRF et comment fonctionne-t-il ?

Le concept de base de tous les spectromètres est constitué des éléments suivants : une source de rayonnement, un échantillon et un système de détection. Dans les spectromètres EDXRF, le tube à rayons X, qui agit en tant que source, irradie directement un échantillon et la fluorescence provenant de l'échantillon est mesurée avec un détecteur à dispersion d'énergie. Ce détecteur est capable de mesurer les différentes énergies du rayonnement caractéristique provenant directement de l'échantillon. Le détecteur peut distinguer le rayonnement de l'échantillon des rayonnements des différents éléments présents dans l'échantillon. Cette séparation est appelée dispersion. ​  ​

Avantages de la spectrométrie EDXRF

  • Conception d'un instrument petit et compact
  • Entretien minimal
  • Pas besoin d'eau, d'air comprimé ou de gaz
  • Faible consommation électrique
  • Meilleure résolution du système
  • Analyse élémentaire simultanée

Epsilon 1

Epsilon 1

Analyseur de spectrométrie de fluorescence X petit, puissant et mobile

Plus de détails
Mesure Analyse élémentaire, Détection et analyse de contaminants, Quantification élémentaire
Plage élémentaire Na-Am
Résolution (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
Débit d'échantillon Up to - 80per 8h day
Technologie X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Un aperçu direct de votre processus de production

Plus de détails
Mesure Analyse élémentaire
Plage élémentaire Na-Am
Résolution (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
Débit d'échantillon on-line
Technologie Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 4

Epsilon 4

Analyse élémentaire à proximité de ligne rapide et précise

Plus de détails
Mesure Métrologie des couches minces, Analyse élémentaire, Détection et analyse de contaminants, Quantification élémentaire
Plage élémentaire C-Am
Résolution (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
Débit d'échantillon Up to - 160per 8h day
Technologie X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 1

Epsilon 1

Analyseur de spectrométrie de fluorescence X petit, puissant et mobile

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Un aperçu direct de votre processus de production

Epsilon 4

Epsilon 4

Analyse élémentaire à proximité de ligne rapide et précise

Plus de détails Plus de détails Plus de détails
Mesure Analyse élémentaire, Détection et analyse de contaminants, Quantification élémentaire Analyse élémentaire Métrologie des couches minces, Analyse élémentaire, Détection et analyse de contaminants, Quantification élémentaire
Plage élémentaire Na-Am Na-Am C-Am
Résolution (Mg-Ka) 135eV 135eV 135eV
LLD 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100%
Débit d'échantillon Up to - 80per 8h day on-line Up to - 160per 8h day
Technologie X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)