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Marque déposée

Marque commercialeStatut
1DER®
AERIS®
AERIS PANALYTICAL®
(ASD Inc) logo®
AMASS®
AMPLIFY ANALYTICS®
AMPLIFY ANALYTICS (+ Logo)®
Archimedes®
AXIOS®
CHI-BLUE®
Claisse®
Claisse (+ Logo)®
(CLS Logo)®
CONCEPT LIFE SCIENCES®
CONCEPT LIFE SCIENCES (+ Logo)®
CREOPTIX®
CUBIX®
CUBIX3®
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EAGON®
Eagon 2®
EASY SAXS®
EMPYREAN®
EPSILON®
EPSILON X-FLOW®
EXPERT SAXS®
EASY SAXS®
FieldSpec®
FIPA
FLUOR’X®
GALIPIX 3D®
Gemini
goLab
HandHeld 2
HIGHSCORE®
Hydrosight
iCore
Indico Pro
Insitec®
(Insitec logo)®
(Insitec Measurement Systems logo)®
ISys®
LabSizer
LabSpec®
LeNeo®
LeDoser
LeDoser-12
M3 PALS
M4
MADLS®
Malvern®
(Triangular hills logo + Malvern Instruments)®
Malvern in Chinese characters®
Malvern Instruments®
Malvern Instruments in Chinese characters®
Malvern Link
(Malvern Plus Hills Logo)®
MALVERN PANALYTICAL®
MALVERN PANALYTICAL in Chinese characters®
MALVERN PANALYTICAL in Katakana®
MALVERN PANALYTICAL in Korean script®
MALVERN PANALYTICAL (+ X Logo)®
Mastersizer®
Mastersizer 2000
MC (stylised)®
MDRS®
Microcal®
Morphologi®
(Triangular hills logo)®
Nanosight®
NIBS
OIL-TRACE®
OMNIAN®
OMNISEC®
OMNITRUST®
PANALYTICAL®
PANALYTICAL LOGO (picture)®
PANTOS®
PEAQ-ITC®
PIXCEL®
PIXCEL 1D®
PIXCEL 3D®
PIXIRAD®
QualitySpec®
Spraytec
SST®
SST-MAX®
SUPER SHARP TUBE®
STRATOS®
SUPER Q®
SyNIRgi
TerraSpec®
TheOx® Advanced®
Ultrasizer
VENUS MINILAB®
ViewSpec
Viscogel
Viscotek®
Viscotek SEC-MALS
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X’CELERATOR®
XPERT3®
Zetasizer®
ZETIUM®
ZS Helix®

Brevets

Malvern Panalytical dispose d'une gamme de produits uniques, à la pointe du marché, protégés par les demandes de brevet et les brevets suivants.

Mastersizer

Numéros de brevetTitre du brevetInstruments
EP1167946B1 (GB, FR, DE60135521D1)Système de passeur d'échantillonsHydro MV, Hydro LV, Hydro EV
GB2364774B
US6800251B2
Système de passeur d'échantillons à utiliser dans un appareil de caractérisation des particulesHydro MV, Hydro LV
GB2494735BAppareil de mesure de la distribution granulométrique par diffusion de la lumièreMS3000, MS3000E
CN104067105B
EP2756283B1 (GB, FR, DE602012015707.0)
US9869625B2
JP6154812B
Appareil et méthode de mesure de la distribution granulométrique par diffusion de la lumièreMS3000, MS3000E
US10837889B2
GB2494734B
Appareil et méthode de mesure de la distribution granulométrique par diffusion de la lumièreMS3000, MS3000E

Zetasizer

Numéros de brevetTitre du brevetInstruments
US7217350B2
Mobilité et effets découlant de la charge de surfaceZetasizer Advance Range, Nano ZS, Nano Z, Nano ZS90, Nano ZSP, Helix
EP2467701A1
CN102575984B
US9279765B2
JP5669843B2
US10317339B2
US20200096443A1
Microrhéologie des fluides complexes basée sur la diffusion dynamique de la lumière, avec détection améliorée du mode de diffusion uniqueGamme Zetasizer Advance, Nano ZSP, Helix
CN103608671B
CN105891304B
EP2721399B1 (BE, CH+LI, DK, FR, GB, NL, DE602012031338.2, IT502017000050268)
JP06023184B2
US9829525B2
US10274528B2
US20200072888A1
Mesure de charge de surfaceAccessoire de cellule de plaque Zeta
US8702942B2
CN103339500B
EP2652490B1 (GB, FR, DE602011046775.1)
JP06006231B2
JP06453285B2
US10648945B2
Électrophorèse Doppler laser utilisant une barrière de diffusionZetasizer Advance Range, Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano ZSP
EP2742337B1 (GB, FR, DE602012018122.2)
US9816922B2
Caractérisation en mode double des particulesZetasizer Helix
US10197485B2
US10520412B2
US10845287B2
EP3353527A1
JP2018535429A
CN108291861A
Caractérisation des particulesGamme Zetasizer Advance
US10119910B2Instrument de caractérisation des particulesZetasizer Advance : Ultra et Pro
US8675197B2
JP6059872B2
EP2404157B1
Caractérisation des particulesAccessoire Zetasizer Advance
EP3521806A1
US20210063295A1
CN111684261A
WO2019154882A1
Diffusion dynamique de la lumière multi-angleZetasizer Advance : Ultra

Insitec

Numéros de brevetTitre du brevetInstruments
US7418881B2
EP1592957B1 (GB)
Système et méthode de dilutionInsitec (certains produits)
US7871194B2
EP1869429A2
Système et méthode de dilutionInsitec (certains produits)
EP2640499B1 (GB)Disperseur en ligne et méthode de mélange de poudreInsitec en voie sèche

Morphologi

Numéros de brevetTitre du brevetInstruments
EP2106536B1 (GB, FR, DE602008039489.1)
US8111395B2
US8564774B2
Étude spectrométrique de l'hétérogénéitéMorphologi G3-ID
GB2522735B
JP6560849B2
Méthode et appareil pour la dispersion de poudreMorphologi G3-ID, Morphologi G3

Viscosizer

Numéros de brevetTitre du brevetInstruments
US2018067901A1
JP2018511129A
EP3274864A1
CN107430593A
Paramétrage de modèle multi-composantsViscosizer TD

L'Hydro Sight

Numéros de brevetTitre du brevetInstruments
US8456633B2Surveillance de processus spectrométriqueL'Hydro Sight
CN104704343B
EP2864760A2
US10509976B2
Caractérisation d'échantillons de fluides hétérogènesL'Hydro Sight

NanoSight

Numéros de brevetTitre du brevetInstruments
US7751053B2
JP04002577B2
EP1499871B1 (FR, DE60335872.1)
GB2388189B
US7399600B2
Détection optique pour l'analyse des particulesNanoSight NS300
NanoSight NS500
NanoSight LM10
EP3071944B1 (GB, FR, DE602014059002.0)
US9909970B2
JP6505101B2
CN105765364A
Améliorations de ou en rapport avec l'étalonnage des instrumentsNanoSight NS300

ITC MicroCal

Numéros de brevetTitre du brevetInstruments
CN101855541B
EP2208057A1
JP05542678B2
US8449175C1
US8827549C1
Appareil et méthode d'utilisation du microcalorimètre de titration isothermeGamme ITC MicroCal
CN102232184B
EP2352993B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1)
JP5476394B2
US9103782B2
US9404876B2
US10036715B2
US10254239B2
EP3144666B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009059932.1)
US20200025698A1
EP3647776A1
Appareil et méthode d'utilisation du microcalorimètre isothermique de titrage automatiqueGamme ITC MicroCal

Les systèmes MicroCal DSC

Numéros de brevetTitre du brevetInstruments
US8635045B2
CN103221808B
EP2646811A1
IN336472
JP5925798B2
Méthode de recherche automatique des pics dans les données calorimétriquesGamme DSC MicroCal

OMNISEC

Numéros de brevetTitre du brevetInstruments
US9759644B2
US10551291B2
Viscosimètre à capillaire en pont équilibréOMNISEC
US9612183B2
EP2619543B1 (GB, FR, DE602011011174.4)
JP05916734B2
CN103168223B
IN341558
Viscosimètre modulaire à capillaire en pontOMNISEC

XRF posé au sol

Numéros de brevetTitre du brevetInstruments
US8210000B2
JP5554163B2
CN101941789B
EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1)
Four à perlesZetium
Axios FAST
Epsilon5
US6823043B2Détermination des paramètres du matériau
Zetium*
Axios FAST*
2830 ZT (analyseur de wafer)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US7949092B2
Dispositif et méthode d'analyse par rayons X
Zetium*
Axios FAST*
2830 ZT (analyseur de wafer)*
Epsilon5*
SEMYOS
US6574305B2
Dispositif et méthode d'inspection de l'état d'un échantillonZetium*
Axios FAST*
2830 ZT (analyseur de wafer)*
Epsilon5*
SEMYOS*
JP4111336B2Dispositif de test de l'échantillon à l'aide de rayons X
Epsilon5

US7042978B2Examen des échantillons de matériauxZetium*
Axios FAST*
Epsilon5
SEMYOS*
JP5782451B2
EP2510397B1 (GB, FR, NL, DE602010021859.7)
Procédé de fabrication d'une structure multicouche avec un schéma latéral pour application dans la gamme de longueurs d'onde xuv, et des structures bf et Imag fabriquées selon cette méthodeZetium*
Axios FAST
2830 ZT (analyseur de wafer)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US9658352B2
CN104833557B
JP656263B2
JP6804594B2
Méthode de conception d'un étalonZetium
Axios FAST
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2
Préparation de granulés d'échantillon par pressageZetium
Axios FAST
US10107551B2
EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2)
JP6559486B2
CN105258987B
Préparation d'échantillons pour XRF à l'aide d'un fondant et d'un creuset en platineZetium
Axios FAST
US9784699B2
JP6861469B2
CN105937890B
EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
Analyse quantitative par rayons X – correction de l'épaisseur de la matriceZetium*
Axios FAST
US9739730B2
JP6706932B2
CN105938113B
EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
Analyse quantitative par rayons X – instrument à trajet optique multipleZetium*
Axios FAST
US9851313B2
JP6762734B2
CN105938112B 
EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)
Analyse quantitative par rayons X – correction du rapportZetium*
Axios FAST
JP3936912B2Conteneur d'échantillons avec couvercle flottant pour l'analyse des liquides par rayons XZetium
Axios FAST
2830 ZT (analyseur de wafer)
Epsilon5
SEMYOS
US9239305B2Porte-échantillonZetium*
Axios FAST*
Epsilon5
US7978820B2
Diffraction des rayons X et fluorescenceZetium
Axios FAST*
2830 ZT (analyseur de wafer)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US7720192B2
JP5574575B2
CN101311708B
Appareil de fluorescence XZetium*
Axios FAST*
2830 ZT (analyseur de wafer)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US7194067B2
Système optique à rayons XZetium
Axios FAST*
2830 ZT (analyseur de wafer)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US8223923B2
JP5266310B2
CN101720491B
EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)
Source de rayons X avec cathode à fil métalliqueZetium
Axios FAST
2830 ZT (analyseur de wafer)
Epsilon5
SEMYOS
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
Disposition de l'anode du tube à rayons X
Zetium
Axios FAST
2830 ZT (analyseur de wafer)
Epsilon5
SEMYOS
US10281414B2
EP3330701B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2)
EP3480587A1
US10393683B2
JP6767961B2
CN108132267A
Collimateur conique pour les mesures par rayons XZetium*
*·en option/non standard dans le produit

XRF de paillasse

Numéros de brevetTitre du brevetInstruments
US8210000B2
JP5554163B2
CN101941789B
EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1)
Four à perlesGamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air
US6823043B2Détermination des paramètres du matériau
Gamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air*
US7949092B2
Dispositif et méthode d'analyse par rayons X
Gamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air*
US6574305B2
Dispositif et méthode d'inspection de l'état d'un échantillonGamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air*
US7042978B2Examen des échantillons de matériauxGamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air*
US9658352B2
CN104833557B 
JP6562635B2
JP6804594B2
Méthode de conception d'un étalonGamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2
Préparation de granulés d'échantillon par pressageGamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air
US10107551B2
JP6559486B2
CN105258987B 
EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2)
Préparation d'échantillons pour XRF à l'aide d'un fondant et d'un creuset en platineGamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air
US9784699B2
JP6861469B2
CN105937890B
EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
Analyse quantitative par rayons X – correction de l'épaisseur de la matriceGamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air*
US9739730B2
JP6706932B2
CN105938113B 
EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9)
Analyse quantitative par rayons X – instrument à trajet optique multipleGamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air*
US9851313B2
JP6762734B2
CN105938112B 
EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)
Analyse quantitative par rayons X – correction du rapportGamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air*
JP3936912B2Conteneur d'échantillons avec couvercle flottant pour l'analyse des liquides par rayons XGamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air
US9239305B2Porte-échantillonGamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air*
US9547094B2
CN104849295B
EP2908127B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2)
JP6526983B2
Appareil d'analyse par rayons X
Gamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air
US7978820B2
Diffraction des rayons X et fluorescenceGamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air*
US7194067B2
Système optique à rayons XGamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air*
US8223923B2
JP5266310B2
CN101720491B
EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)
Source de rayons X avec cathode à fil métalliqueGamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air*
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
Disposition de l'anode du tube à rayons X
Gamme Epsilon 1
Spectromètres Epsilon 3X
Epsilon 4 Édition qualité de l'air*
* en option/non standard dans le produit

XRD posé au sol

Numéros de brevetTitre du brevetInstruments
US6815684B2
Appareil d'analyse par rayons X analytique fourni avec un détecteur de rayons X à semi-conducteurs sensible à la positionEmpyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
Gamme CubiX³
US6823043B2Détermination des paramètres du matériau
Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Gamme CubiX³*
US6574305B2
Dispositif et méthode d'inspection de l'état d'un échantillonEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Gamme CubiX³*
US9506880B2
CN104251870B
EP2818851A1
JP6403452B2
Imagerie par diffractionEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Gamme CubiX³*
US7116754B2DiffractomètreEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Gamme CubiX³*
US8488740B2
JP6009156B2
CN102565108B
EP2455747B1 (GB, FR, NL, DE602011022779.3)
Diffractomètre
Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Gamme CubiX³*
US7858945B2
JP5254066B2
CN101521246B
EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3)
Détecteur d'imagerieEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Gamme CubiX³*
EP2088625B1 (GB, FR, NL, CH + LI, DE602009040563.2)Détecteur d'imagerieEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Gamme CubiX³*
US9110003B2
CN103383363B
EP2634566B1 (GB, FR, NL, DE602012058202.2)
JP6198406B2
Microdiffraction
Empyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
Gamme CubiX³
US6704390B2
Appareil d'analyse par rayons X fourni avec un miroir multicouche et un collimateur de sortieEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Gamme CubiX³*
US9640292B2
CN104777179B
EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1)
JP6564683B2
Appareils à rayons X
Empyrean
X'Pert³ Powder
Plage CubiX³
US7756248B2
JP5145263B2
CN101545873B
EP2090883B1 (GB, FR, NL, DE602008002143D1)
Détecteur de rayons X dans l'emballage
Empyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
US8477904B2
JP5752434B2
CN102253065B
EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)
Diffraction des rayons X et tomodensitométrieEmpyrean
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Gamme CubiX³*
US7542547B2
JP5280057B2
CN101256160B
EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)
Équipement de diffraction des rayons X pour la diffusion des rayons X
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
EP1287342B1 (GB, FR, DE60147121.0)Diffractomètres à rayons XEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Gamme CubiX³*
US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0)
Instrument à rayons XEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Plage CubiX³
US7194067B2
Système optique à rayons XEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Gamme CubiX³*
US8437451B2
JP5999901B2
CN102610290B
EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)
Disposition de l'obturateur à rayons XEmpyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
Gamme CubiX³
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
Disposition de l'anode du tube à rayons X
Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Gamme CubiX³*
EP3553508A2
US20190317030A1
JP2019184609A
CN110389142A
Appareil et méthode d'analyse par rayons XEmpyrean*
US10359376B2
EP3273229A1
JP6701133B2
CN107643308A
Porte-échantillon pour analyse par rayons XEmpyrean*
* en option/non standard dans le produit

QualitySpec 7000

Numéros de brevetTitre du brevetInstruments
US8164747B2
CA2667650C
EP2092296B1 (CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6)
Appareil, système et méthode de mesure spectroscopique optiqueQualitySpec 7000

TerraSpec Halo

Numéros de brevetTitre du brevetInstruments
US9207118B2Appareil, système et méthode pour la lecture de l'instrumentation du spectromètre monochromateur et à barrettes de diodesTerraSpec Halo

QualitySpec Trek

Numéros de brevetTitre du brevetInstruments
US9207118B2Appareil, système et méthode pour la lecture de l'instrumentation du spectromètre monochromateur et à barrettes de diodesQualitySpec Trek

XRD de paillasse

Numéros de brevetTitre du brevetInstruments
US6815684B2
Appareil d'analyse par rayons X analytique fourni avec un détecteur de rayons X à semi-conducteurs sensible à la positionAeris*
US6823043B2Détermination des paramètres du matériau
Aeris*
US9506880B2
CN104251870B
EP2818851A1
JP6403452B2
Imagerie par diffractionAeris*
US7116754B2DiffractomètreAeris*
US8488740B2
JP6009156B2
CN102565108B
EP2455747B1 (GB, FR, NL, DE602011022779.3)
DiffractomètreAeris*
US7858945B2
JP5254066B2
CN101521246B
EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3)
Détecteur d'imagerieAeris*
EP2088625B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602009040563.2)Détecteur d'imagerieAeris*
US6704390B2
Appareil d'analyse par rayons X fourni avec un miroir multicouche et un collimateur de sortieAeris*
US9640292B2
JP6564572B2
CN104777179B
EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1)
Appareils à rayons XAeris
US8477904B2
JP5752434B2
CN102253065B
EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)
Diffraction des rayons X et tomodensitométrieAeris*
US7542547B2
JP5280057B2
CN101256160B
EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)
Équipement de diffraction des rayons X pour la diffusion des rayons X
Aeris*
EP1287342B1 (GB, FR, DE60147121.0)Diffractomètres à rayons XAeris*
US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0)
Instrument à rayons XAeris*
US7194067B2
Système optique à rayons XAeris*
US8437451B2
JP5999901B2
CN102610290B
EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)
Disposition de l'obturateur à rayons XAeris
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
Disposition de l'anode du tube à rayons X
Aeris*

* en option/non standard dans le produit