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Marque déposée

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Dernière mise à jour de la liste des marques : 20 mars 2025

Marque commerciale	Statut
1DER	®
AERIS	®
AERIS PANALYTICAL	™
ASD	™
Logo (ASD Inc)	®
AMASS	®
AMPLIFY ANALYTICS	®
AMPLIFY ANALYTICS (+ Logo)	®
Archimedes	®
AXIOS	®
CHI-BLUE	®
CLAISSE	®
Claisse (+ Logo)	®
CREOPTIX	®
CUBIX	®
CubiX³	®
dCore	™
EAGON	®
Eagon 2	™
EasySAXS	®
EMPYREAN	®
EPSILON	®
EPSILON Xflow	®
ExpertSAXS	®
FIELDSPEC	®
FIPA	™
FLUOR'X	®
FORJ	™
GaliPIX^3D	®
Gemini	™
goLab	™
HandHeld 2	™
HighScore	®
Hydrosight	™
iCore	™
Indico Pro	™
INSITEC	®
(Logo Insitec)	®
(Logo Insitec Measurement Systems)	®
ISYS	®
LabSizer	™
LABSPEC	®
LeNeo	®
LeDoser	™
LeDoser-12	™
M3 PALS	™
M4	™
MADLS :	®
MALVERN	®
(Logo « collines » triangulaire + Malvern Instruments)	®
马尔文 (Malvern en caractères chinois)	®
MALVERN INSTRUMENTS	®
马尔文仪器 (Malvern Instruments en caractères chinois)	™
Malvern Link	™
(Logo Malvern et « collines »)	®
MALVERN PANALYTICAL	®
马尔文帕纳科 (MALVERN PANALYTICAL en caractères chinois)	®
マルバーン·パナリティカル (MALVERN PANALYTICAL en katakana)	®
말번 파날리티칼 (MALVERN PANALYTICAL en script coréen)	®
MALVERN PANALYTICAL (+ X Logo)	®
MASTERSIZER	®
Mastersizer 2000	™
MC (stylisé)	™
MDRS	®
MICROCAL	®
MORPHOLOGI	®
(Logo « collines » triangulaire)	®
NanoSight	®
NIBS	™
Oil-Trace	®
Omnian	®
OmniSEC	®
OmniTrust	®
PANALYTICAL	®
帕纳科 (PANALYTICAL en caractères chinois)	®
パナリティカル (PANALYTICAL en katakana)	®
PANalytical AERIS	®
PANalytical + logo	®
PANTOS	™
PEAQ-ITC	®
PIXcel	®
PIXcel^1D	®
PIXcel^3D	®
PIXIRAD	®
QUALITYSPEC	®
REVONTIUM	®
SMART RETURN	™
Spraytec	™
SST	®
SST-mAX	®
TUBE SUPER SHARP	®
Stratos	®
SuperQ	®
SyNIRgi	™
TERRASPEC	®
TheOx	®
Ultrasizer	™
VENUS MINILAB	™
ViewSpec	™
Viscogel	™
VISCOTEK	®
Viscotek SEC-MALS	™
WAVEchip	®
WAVEcore	®
waveRAPID	®
WE'RE BIG ON SMALL	®
(X Logo)	®
X'CELERATOR	®
X'Pert³	®
ZETASIZER	®
ZETIUM	®
ZS Helix	™

Brevets

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Dernière mise à jour de la liste des brevets : 20 mars 2025

Mastersizer

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
GB2494735B	Appareil de mesure de la distribution granulométrique par diffusion de la lumière	Gamme Mastersizer 3000, Mastersizer 3000E et Mastersizer 3000+
CN104067105B (ZL201280042740.0) EP2756283B1 (GB, FR, DE602012015707.0) US9869625B2 JP6154812B2	Appareil et méthode de mesure de la distribution granulométrique par diffusion de la lumière	Mastersizer 3000, Mastersizer 3000+ Ultra
US10837889B2 GB2494734B	Appareil et méthode de mesure de la distribution granulométrique par diffusion de la lumière	Gamme Mastersizer 3000, Mastersizer 3000E, Mastersizer 3000+
WO2024023498A2 EP4312015A1	CARACTÉRISATION DES PARTICULES	Mastersizer 3000+ : Pro et Ultra
WO2024023497A1	Qualité des données	Mastersizer 3000+ : Pro et Ultra
WO2024180386A1	CARACTÉRISATION DES PARTICULES	Mastersizer 3000+ : Ultra

Zetasizer

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
EP2467701B1 (CH+LI, GB, FR, DE602010067652.8) CN102575984B (ZL201080036806.6) US9279765B2 JP5669843B2 US10317339B2 US11237106B2	Microrhéologie des fluides complexes basée sur la diffusion dynamique de la lumière, avec détection améliorée du mode de diffusion unique	Gamme Zetasizer Advance, Nano ZSP, Helix
CN103608671B (ZL201280027695.1) CN105891304B (ZL201610324224.7) EP2721399B1 (BE, CH+LI, DK, FR, GB, NL, DE602012031338.2, IT502017000050268) JP6023184B2 US9829525B2 US10274528B2 US11079420B2	Mesure de charge de surface	Accessoire de cellule de plaque Zeta
US8702942B2 CN103339500B (ZL201180060863.2) EP2652490B1 (GB, FR, DE602011046775.1) JP6006231B2 JP6453285B2 US10648945B2 US11988631B2	Électrophorèse Doppler laser utilisant une barrière de diffusion	Zetasizer Advance Range, Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano ZSP
EP2742337B1 (GB, FR, DE602012018122.2) US9816922B2	Caractérisation en mode double des particules	Zetasizer Helix
US10197485B2 US10520412B2 US10845287B2 US11435275B2 EP3353527B1 (GB, FR, DE602016077138.1) JP6936229B2 CN108291861B (ZL201680068213.5) JP7361079B EP4215900A1	Caractérisation des particules	Gamme Zetasizer Advance
US10119910B2	Instrument de caractérisation des particules	Zetasizer Advance : Ultra et Pro
US8675197B2 JP6059872B2 EP2404157B1 (GB, FR, DE602010066495.3)	Caractérisation des particules	Accessoire Zetasizer Advance
EP3521806B1 (AT, FR, GB, DE602018077164.6) US11441991B2 CN111684261B (ZL201980011816.5) JP7320518B2	Diffusion dynamique de la lumière multi-angle	Zetasizer Advance : Ultra
Designs : DM/100202 (EM: D100202-0001, D100202-0002; GB: 81002020001000, 81002020002000; JP: JP1614066S; US: D878227S) CN304816039S (ZL201730635419.9)	Appareils de caractérisation des particules	Gamme Zetasizer Advance

Insitec

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
US7871194B2 EP1869429B1 (GB, FR, DE602006060213.8)	Système et méthode de dilution	Insitec (certains produits)
EP2640499B1 (GB)	Disperseur en ligne et méthode de mélange de poudre	Insitec en voie sèche

Morphologi

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
EP2106536B1 (GB, FR, DE602008039489.1) US8111395B2 US8564774B2	Étude spectrométrique de l'hétérogénéité	Morphologi G3-ID, Morphologi 4-ID
GB2522735B JP6560849B2	Méthode et appareil pour la dispersion de poudre	Morphologi G3-ID, Morphologi G3, Morphologi 4, Morphologi 4-ID
EP3510526B1 (GB, FR, DE60217072468.8) US11068740B2 CN109716355B (ZL201780054158.9) JP7234106B2	Identification des limites des particules	Morphologi 4, Morphologi 4-ID
US8004662B2 US8842266B2	ÉVALUATION DES MÉLANGES PHARMACEUTIQUES	Morphologi 4-ID
Designs : DM/100537 (EM : D100 537-0001, D100 537-0002; GB: 81005370001000, 81005370002000; JP: JP1622788S, JP1623345S; US: D862261S1) CN304677453S (ZL201730616458.4)	Instruments de mesure (à l'exclusion de ceux destinés à mesurer le temps)	Morphologi 4, Morphologi 4-ID

Viscosizer

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
US11113362B2 JP6917897B2 EP3274864A1 CN107430593B (ZL201680017577.0)	Paramétrage de modèle multi-composants	Viscosizer TD

L'Hydro Sight

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
CN104704343B (ZL201380044016.6) EP2864760B1 (GB, FR, DE602013085354.1) US10509976B2	Caractérisation d'échantillons de fluides hétérogènes	L'Hydro Sight

NanoSight

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
EP3071944B1 (GB, FR, DE602014059002.0) US9909970B2 JP6505101B2 CN105765364B (ZL201480063550.6)	Améliorations de ou en rapport avec l'étalonnage des instruments	NanoSight NS300, NanoSight Pro
WO2023148528A1 EP4476523A1 CN118984933A JP2025505204A	ANALYSE DES PARTICULES	NanoSight Pro
WO2024094987A1	DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE CARACTÉRISATION DES PARTICULES	NanoSight Pro

MicroCal ITC

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
CN101855541B (ZL200880114826.3) EP2208057B1 (CH+LI, GB, FR, DE602008065108.8) JP05542678B2 US8449175B2 US8827549B2	Appareil et méthode d'utilisation du microcalorimètre de titration isotherme	Gamme ITC MicroCal
CN102232184B (ZL200980149081.9) EP2352993B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1) JP5476394B2 US9103782B2 US9404876B2 US10036715B2 US10254239B2 EP3144666B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009059932.1) US20200025698A1 EP3647776B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009065333.4)	Appareil et méthode d'utilisation du microcalorimètre isothermique de titrage automatique	Gamme ITC MicroCal

Les systèmes MicroCal DSC

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
US8635045B2 CN103221808B (ZL201180057401.5) EP2646811B1 (GB, FR, DE 602011071793.6) IN336472 JP5925798B2	Méthode de recherche automatique des pics dans les données calorimétriques	Gamme DSC MicroCal
Designs : DM/097302 (EM : D097 302 ; GB : 80973020001000 ; JP : JP1619772S, JP1643496S ; US : D826739S1) CN304227374S (ZL201730043139.9)	Microcalorimètre à balayage différentiel	Gamme PEAQ-DSC

OMNISEC

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
US9759644B2 US10551291B2	Viscosimètre à capillaire en pont équilibré	OMNISEC
US9612183B2 EP2619543B1 (GB, FR, DE602011011174.4) JP5916734B2 CN103168223B (ZL201180046166.1) IN341558	Viscosimètre modulaire à capillaire en pont	OMNISEC

QualitySpec 7000

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
US8164747B2 CA2667650C EP2092296B1 (CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6)	Appareil, système et méthode de mesure spectroscopique optique	QualitySpec 7000

TerraSpec Halo

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
US9207118B2	Appareil, système et méthode pour la lecture de l'instrumentation du spectromètre monochromateur et à barrettes de diodes	TerraSpec Halo

QualitySpec Trek

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
US9207118B2	Appareil, système et méthode pour la lecture de l'instrumentation du spectromètre monochromateur et à barrettes de diodes	QualitySpec Trek

XRF posé au sol

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B (ZL201010223406.8) EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1) AU2010202662B2	Four à perles	Zetium Axios FAST Epsilon5
JP4950523B2	Appareil et méthode de correction des aberrations	Zetium* Axios FAST* 2830 ZT (analyseur de wafer)* Epsilon5* SEMYOS*
US7949092B2	Dispositif et méthode d'analyse par rayons X	Zetium* Axios FAST* 2830 ZT (analyseur de wafer)* Epsilon5* SEMYOS
US9658352B2 CN104833557B (ZL201510120748.X) JP656263B2 JP6804594B2	Méthode de conception d'un étalon	Zetium Axios FAST
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6) JP6360151B2	Préparation de granulés d'échantillon par pressage	Zetium Axios FAST
US10107551B2 EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2) JP6559486B2 CN105258987B (ZL201510504763.4)	Préparation d'échantillons pour XRF à l'aide d'un fondant et d'un creuset en platine	Zetium Axios FAST
US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B (ZL201610119027.1) EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4)	Analyse quantitative par rayons X – correction de l'épaisseur de la matrice	Zetium* Axios FAST
US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B (ZL201610121520.7) EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9)	Analyse quantitative par rayons X – instrument à trajet optique multiple	Zetium* Axios FAST
US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B (ZL201610121518.X) EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)	Analyse quantitative par rayons X – correction du rapport	Zetium* Axios FAST
US9239305B2	Porte-échantillon	Zetium* Axios FAST* Epsilon5
US7720192B2 JP5574575B2 CN101311708B (ZL200810127759.0)	Appareil de fluorescence X	Zetium* Axios FAST* 2830 ZT (analyseur de wafer)* Epsilon5* SEMYOS*
US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B (ZL200880018575.9) EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)	Source de rayons X avec cathode à fil métallique	Zetium Axios FAST 2830 ZT (analyseur de wafer) Epsilon5 SEMYOS
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)	Disposition de l'anode du tube à rayons X	Zetium Axios FAST 2830 ZT (analyseur de wafer) Epsilon5 SEMYOS
US10281414B2 EP3330701B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2) EP3480587B1 (GB, FR, NL, DE602017061400.9) US10393683B2 JP6767961B2 CN108132267B (ZL201711251653.7)	Collimateur conique pour les mesures par rayons X	Zetium*
*·en option/non standard dans le produit

XRF de paillasse

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B (ZL201010223406.8) EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1)	Four à perles	Gamme Epsilon 1 Spectromètres Epsilon 3X Epsilon 4 édition qualité de l'air
JP4950523B2	Appareil et méthode de correction des aberrations	Gamme Epsilon 1* Spectromètres Epsilon 3X Epsilon 4 édition qualité de l'air*
US7949092B2	Dispositif et méthode d'analyse par rayons X	Gamme Epsilon 1* Spectromètres Epsilon 3X Epsilon 4 édition qualité de l'air*
US9658352B2 CN104833557B (ZL201510120748.X) JP6562635B2 JP6804594B2	Méthode de conception d'un étalon	Gamme Epsilon 1 Spectromètres Epsilon 3X Epsilon 4 édition qualité de l'air
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6) JP6360151B2	Préparation de granulés d'échantillon par compression	Gamme Epsilon 1 Spectromètres Epsilon 3X Epsilon 4 édition qualité de l'air
US10107551B2 JP6559486B2 CN105258987B (ZL201510504763.4) EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2)	Préparation d'échantillons pour XRF à l'aide d'un fondant et d'un creuset en platine	Gamme Epsilon 1 Spectromètres Epsilon 3X Epsilon 4 édition qualité de l'air
US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B (ZL201610119027.1) EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4)	Analyse quantitative par rayons X – correction de l'épaisseur de la matrice	Gamme Epsilon 1* Spectromètres Epsilon 3X Epsilon 4 édition qualité de l'air*
US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B (ZL201610121520.7) EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9)	Analyse quantitative par rayons X – instrument à trajet optique multiple	Gamme Epsilon 1* Spectromètres Epsilon 3X Epsilon 4 édition qualité de l'air*
US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B (ZL201610121518.X) EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)	Analyse quantitative par rayons X – correction du rapport	Gamme Epsilon 1* Spectromètres Epsilon 3X Epsilon 4 édition qualité de l'air*
US9239305B2	Porte-échantillon	Gamme Epsilon 1* Spectromètres Epsilon 3X Epsilon 4 édition qualité de l'air*
US9547094B2 CN104849295B (ZL201510155965.2) EP2908127B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2) JP6526983B2	Appareil d'analyse par rayons X	Gamme Epsilon 1 Spectromètres Epsilon 3X Epsilon 4 édition qualité de l'air
US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B (ZL200880018575.9) EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)	Source de rayons X avec cathode à fil métallique	Gamme Epsilon 1* Spectromètres Epsilon 3X Epsilon 4 édition qualité de l'air*
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)	Disposition de l'anode du tube à rayons X	Gamme Epsilon 1* Spectromètres Epsilon 3X Epsilon 4 édition qualité de l'air*
US11183355B2 EP3675148A1 JP7601502B2 CN111383876B (ZL201911390180.8)	Tube à rayons X	Revontium
EP24169034.6 (non encore publié)	Ajustement itératif du fond complémentaire calculé	Revontium
EP24169094.0 (non encore publié)	Un appareil de manipulation d'échantillons	Revontium
* en option/non standard dans le produit

XRD posé au sol

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
JP4950523B2	Appareil et méthode de correction des aberrations	Empyrean X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) Gamme CubiX³
US9506880B2 CN104251870B (ZL201410299083.9) EP2818851B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602013084303.1) JP6403452B2	Imagerie par diffraction	Empyrean# X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# Gamme CubiX³#
US7858945B2 JP5254066B2 CN101521246B (ZL200910129197.8) EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3)	Détecteur d'imagerie	Empyrean# X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# Gamme CubiX³#
EP2088625B1 (GB, FR, NL, CH + LI, DE602009040563.2)	Détecteur d'imagerie	Empyrean# X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# Gamme CubiX³#
US9110003B2 CN103383363B (ZL201310069293.4) EP2634566B1 (GB, FR, NL, DE602012058202.2) JP6198406B2	Micro-diffraction	Empyrean# X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# Gamme CubiX³#
US9640292B2 CN104777179B (ZL201410833194.3) EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1) JP6564683B2	Appareils à rayons X	Empyrean X'Pert³ Powder Gamme CubiX³
US7756248B2 JP5145263B2 CN101545873B (ZL200910134609.7) EP2090883B1 (GB, FR, NL, DE602008002143D1)	Détection de rayons X dans l'emballage	Empyrean X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL)
US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B (ZL201110072597.7) EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)	Diffraction des rayons X et tomodensitométrie	Empyrean X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* Gamme CubiX³*
US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B (ZL200810095161.8) EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)	Équipement de diffraction des rayons X pour la diffusion de rayons X	X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)*
US7477724B2	Instrument à rayons X	Empyrean* X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* Gamme CubiX³
US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B (ZL201210007967.3) EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)	Disposition de l'obturateur à rayons X	Empyrean X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) Gamme CubiX³
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)	Disposition de l'anode du tube à rayons X	Empyrean* X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* Gamme CubiX³*
EP3553508A2 US11035805B2 JP7398875B2 CN110389142B (ZL201910295269.X)	Appareil et méthode d'analyse par rayons X	Empyrean*
US10359376B2 EP3273229B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017069169.0) JP6701133B2 CN107643308B (ZL201710593858.7)	Porte-échantillon pour analyse par rayons X	Empyrean*
US10782252B2 CN110376231A EP3553506A2 JP7258633B2	Appareil et méthode d'analyse par rayons X avec contrôle hybride de la divergence du faisceau	Empyrean*
US10753890B2 EP3372994B1 (AT, CZ, GB, FR, NL, PL, DE602018003874.4) CN108572184B (ZL201810190461.8) JP6709814B2	Méthode et appareil de diffraction des rayons X haute résolution	Empyrean*
EP3553509B1 (AT, GB, FR, NL, DE602019017362.8) JP7208851B2 US10900912B2 CN110389143B (ZL201910300453.9)	Appareil d'analyse par rayons X	Empyrean*
US10352881B2 EP3343209B1 (GB, FR, NL, DE602017032595.3) CN108240998B (ZL201711404282.1) JP6839645B2	Tomodensitométrie	Empyrean*
US9753160B2 CN104285164B (ZL201380025271.6) EP2850458B1 (GB, FR, NL, DE602013040524.7, IT502018000029139) JP6277351B2	Capteur de rayons X numérique	Empyrean X'Pert³ Gamme CubiX³
EP3719484B1 (AT, CZ, FR, GB, NL, PL, DE602019046393.6, IT502024000012301) US12007343B1 CN113661389B (ZL202080027081.8) JP7503076B2	Appareil et procédé de mise en forme d'un faisceau de rayons X	Empyrean*
EP4111184A1 US20230296538A1 CN116368379A JP2023538446A	Détecteur de rayons X pour appareil d'analyse par diffraction des rayons X	Empyrean* (avec détecteur 1Der)
EP4094073A1 US20230293127A1 CN116438449A JP2023538445A	Identification du partage de charge en diffraction des rayons X	Empyrean* (avec détecteur 1Der)
* en option/non standard dans le produit # disponible sur demande spéciale

XRD de paillasse

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
JP4950523B2	Appareil et méthode de correction des aberrations	Aeris
US9506880B2 CN104251870B (ZL201410299083.9) EP2818851B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602013084303.1) JP6403452B2	Imagerie par diffraction	Aeris*
EP2088625B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602009040563.2)	Détecteur d'imagerie	Aeris*
US9640292B2 JP6564572B2 CN104777179B (ZL201410833194.3) EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1)	Appareils à rayons X	Aeris
US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B (ZL201110072597.7) EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)	Diffraction des rayons X et tomodensitométrie	Aeris*
US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B (ZL200810095161.8) EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)	Équipement de diffraction des rayons X pour la diffusion de rayons X	Aeris*
US7477724B2	Instrument à rayons X	Aeris*
US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B (ZL201210007967.3) EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)	Disposition de l'obturateur à rayons X	Aeris
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)	Disposition de l'anode du tube à rayons X	Aeris*
US10753890B2 EP3372994B1 (AT, CZ, DE602018003874.4, GB, FR, NL, PL) CN108572184B (ZL201810190461.8) JP6709814B2	Méthode et appareil de diffraction des rayons X haute résolution	Aeris*
EP4094073A1 US20230293127A1 CN116438449A JP2023538445A	Identification du partage de charge en diffraction des rayons X	Aeris* (avec détecteur 1Der)
* en option/non standard dans le produit

Préparation des échantillons

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
WO2024164079A1	SYSTÈME DE FUSION ET PROCÉDÉ DE RÉALISATION D'UNE FUSION D'ÉCHANTILLONS À L'AIDE DE CELUI-CI	FORJ
WO2024164080A1	SYSTÈME DE FUSION ET PROCÉDÉ DE RÉALISATION D'UNE FUSION D'ÉCHANTILLONS À L'AIDE DE CELUI-CI	FORJ
WO2024164081A1	SYSTÈME DE FUSION ET PROCÉDÉ DE RÉALISATION D'UNE FUSION D'ÉCHANTILLONS À L'AIDE DE CELUI-CI	FORJ
WO2024164082A1	SYSTÈME DE FUSION ET PROCÉDÉ DE RÉALISATION D'UNE FUSION D'ÉCHANTILLONS À L'AIDE DE CELUI-CI	FORJ
WO2024164086A1	SYSTÈME DE FUSION ET PROCÉDÉ DE RÉALISATION D'UNE FUSION D'ÉCHANTILLONS À L'AIDE DE CELUI-CI	FORJ*
WO2024164083A1	SYSTÈME D'ADMINISTRATION DE PILULES POUR APPAREIL DE FUSION	FORJ*
Designs : US 29/873,668 (non encore publié) CA 224,605;235,581; 235,582; 235,583; 235,584; 235,585; 235,586; 235,587 (tous enregistrés) DM/232583 : EM, GB (tous deux enregistrés) ; BR (non encore publié) AU202316700 AU202410300 CN308681450S (ZL202330644590.1) ZA : A2023/01083, A2023/01084, A2023/01085, A2023/01086	Porte-échantillon	Cassette de creuset et/ou de moule FORJ
* en option/non standard dans le produit

WAVEsystem (Creoptix)

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
EP3824469B1 (CH+LI, GB, FR, SE, DE602019066157.6)	Méthode de calcul des paramètres cinétiques d'un réseau de réactions	WAVEdelta, WAVEcontrol
CN113811771B (ZL202080036463.7) EP3969910B2 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602021016832.2) JP2022532479A US20220162697A1	Méthodes de détermination des paramètres cinétiques d'une réaction entre un analyte et des ligands	WAVEdelta, WAVEcontrol
CN115667930A EP4172625B2 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602021016832.2) JP2023531046A US20230273202A1	Procédé de détermination des paramètres cinétiques d'une réaction	WAVEdelta, WAVEcontrol
EP3448564B1 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602017039989.2) CN108883414B (ZL201780021418.2) JP6846434B2 US11135581B2	Méthodes et dispositifs de récupération de molécules	WAVEdelta
EP2137514B1 (CH+LI, FR, GB, SE, DE502008016144.9) US8325347B2	Capteur optique intégré	WAVE, WAVEdelta, WAVEchip

BreakThrough Analyzer (BTA)

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
10,487,954 B2 10,514,332	Étalonnage automatisé des détecteurs et mélange de gaz sur mesure	Analyseur de percées (BTA), AutoChem III

AutoChem III

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
10,487,954 11,105,825 B2	Mécanisme d'étanchéité KwikConnect pour réacteurs d'échantillonnage	AutoChem III

AccuPyc III

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
11,874,155 B2 Brevets américains et étrangers en instance	Systèmes et méthodes d'étalonnage des pycnomètres à gaz et des analyseurs d'adsorption de gaz	AccuPyc III

AccuPore

Numéros de brevet	Titre du brevet	Instruments
Brevets américains et étrangers en instance	- -	AccuPore