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Analyseurs par fluorescence X

Spectromètres de fluorescence X experts pour l'analyse de la composition élémentaire

Les spectromètres de fluorescence X (XRF) sont de puissants instruments analytiques conçus pour révéler la composition élémentaire de divers matériaux. Ces appareils polyvalents jouent un rôle central dans la recherche scientifique, le contrôle qualité et les applications industrielles

Les analyseurs XRF excellent en analyse élémentaire. En mesurant les énergies et les intensités des rayons X émis, ils identifient quels éléments sont présents et dans quelles concentrations. Cette information est inestimable dans des domaines comme la géologie, la métallurgie, l'archéologie et les sciences de l'environnement, où la connaissance de la composition élémentaire est cruciale.

Revontium

Compact brilliance, powerful analysis, endless possibilities
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Zetium

L'excellence élémentaire
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Epsilon 1

Analyseur de spectrométrie de fluorescence X petit, puissant et mobile
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Analyse élémentaire à proximité de ligne rapide et précise
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Un aperçu direct de votre processus de production
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2830 ZT

Solution avancée de métrologie des couches minces de semi-conducteurs
2830 ZT

Axios FAST

Cadence d'analyse élevée
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Quelles mesures un analyseur XRF peut-il effectuer ?

Les analyseurs XRF sont des instruments polyvalents réputés pour leur capacité à fournir des analyses élémentaires précises et non destructives. Ces analyseurs sont précieux dans divers domaines pour leur capacité à fournir une large gamme de mesures et d'informations.

Quantification élémentaire

La principale fonction de l'instrumentation XRF est la quantification élémentaire. En exposant un échantillon à des rayons X de haute énergie, un analyseur XRF peut mesurer avec précision la concentration des éléments dans cet échantillon. 

Cette quantification s'étend à travers le tableau périodique, des éléments légers comme le carbone et l'oxygène aux métaux lourds comme le plomb et l'uranium. Les chercheurs, les fabricants et les professionnels du contrôle qualité dépendent des machines XRF pour obtenir des données élémentaires précises.

Analyse non destructive

L'une des caractéristiques les plus remarquables de l'analyse XRF est sa nature non destructive. Les méthodes d'analyse chimique traditionnelles telles que l'ICP nécessitent souvent la destruction ou la dissolution des échantillons, ce qui les rend inutiles pour d'autres essais ou pour la conservation. 

Les spectromètres XRF, cependant, vous permettent d'examiner les matériaux sans les altérer ou les endommager. Cela les rend inestimables pour analyser des œuvres d'art précieuses, des artefacts historiques ou des échantillons géologiques irremplaçables.

Analyse multi-éléments

Les analyseurs XRF excellent dans l'analyse multi-éléments. Ils peuvent détecter et quantifier simultanément plusieurs éléments au sein d'un même échantillon, offrant une image complète de sa composition. 

Cette capacité est particulièrement avantageuse lorsqu'il s'agit de matériaux complexes, d'alliages ou d'échantillons géologiques avec divers composants élémentaires.

Analyse des matériaux

Les instruments d'analyse XRF ne sont pas limités à un type spécifique de matériau. Ils peuvent analyser une grande variété de types d'échantillons, notamment :

  • Solides Métaux, alliages, polymères, céramiques, minéraux, et des échantillons géologiques.
  • Liquides Solutions, boues et même huiles.
  • Poudres : Poudres pharmaceutiques, métaux en poudre, et plus encore.

Cette polyvalence garantit que les machines XRF peuvent être utilisées dans diverses industries, de la fabrication et des produits pharmaceutiques à la géologie et à la science de l'environnement.

Exemples d'éléments mesurés

Les analyseurs XRF peuvent mesurer un large éventail d'éléments, y compris, mais sans s'y limiter :

  • Métaux communs comme le fer, le cuivre et l'aluminium.
  • Métaux précieux tels que l'or, l'argent et le platine.
  • Polluants environnementaux comme le plomb, l'arsenic et le mercure.
  • Éléments des terres rares comme le néodyme et l'europium.

Qu'il s'agisse de caractériser des matériaux, de garantir la qualité des produits ou de mener des recherches scientifiques, les spectromètres XRF sont des outils indispensables pour l'analyse élémentaire dans divers secteurs.

Pourquoi devriez-vous choisir nos instruments XRF?

Malvern Panalytical propose une gamme polyvalente de spectromètres de fluorescence X et de produits connexes dédiés à l'analyse élémentaire et de couches minces. Ces analyseurs par fluorescence X couvrent un large éventail d'exigences en matière d'analyse, de cadence et d'environnements d'exploitation. La gamme de spectromètres s'étend des spectromètres de fluorescence X de paillasse à dispersion d'énergie aux spectromètres de fluorescence X hautes performances à dispersion de longueur d'onde et comprend des produits dédiés à la mesure des semi-conducteurs.

Les spectromètres de fluorescence X peuvent être configurés avec des options logicielles dédiées pour des types spécifiques d'analyse par fluorescence X. Ils peuvent être associés à des modules d'application (paramétrage des applications, calibrations et étalons) ou fournis avec des produits de préparation d'échantillons pour des solutions d'analyse complètes. Tous les produits Malvern Panalytical sont pris en charge par notre service après-vente et notre service à la clientèle.

Dans notre Centre de connaissances, vous trouverez plus d'informations sur les nombreuses applications XRF intéressantes qui sont possibles avec nos spectromètres.

Revontium

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Compact brilliance, powerful analysis, endless possibilities

Zetium

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L'excellence élémentaire

Gamme Epsilon

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Analyse élémentaire rapide et précise de et en ligne

Epsilon Xflow

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Un aperçu direct de votre processus de production

2830 ZT

2830 ZT

Solution avancée de métrologie des couches minces de semi-conducteurs

Axios FAST

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Cadence d'analyse élevée

Type de mesure
Métrologie des couches minces
Analyse élémentaire
Détection et analyse de contaminants
Quantification élémentaire
Identification chimique
Technologie
Fluorescence X (XRF)
Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF)
Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)
Plage élémentaire Be-Am F-Am Na-Am B-Am B-Am
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Résolution (Mg-Ka) 35eV 145eV 135eV 35eV 35eV
Débit d'échantillon 160per 8h day - 240per 8h day Up to - 160per 8h day on-line up to 25 wafers per hour 240per 8h day - 480per 8h day
Format Compact Floorstanding WDXRF Benchtop EDXRF Realtime Semi Floorstanding WDXRF