Spectromètres de fluorescence X pour l'analyse de la composition élémentaire
Les spectromètres de fluorescence X (XRF) sont de puissants instruments analytiques conçus pour révéler la composition élémentaire de divers matériaux. Ces appareils polyvalents jouent un rôle central dans la recherche scientifique, le contrôle qualité et les applications industrielles
Les analyseurs XRF excellent en analyse élémentaire. En mesurant les énergies et les intensités des rayons X émis, ils identifient quels éléments sont présents et dans quelles concentrations. Ces informations sont inestimables dans des domaines comme la géologie, la métallurgie, l'archéologie et les sciences de l'environnement, où la connaissance de la composition élémentaire est cruciale.
En 2024, Malvern Panalytical a élargi sa gamme d'analyseurs XRF grâce à l'acquisition de SciAps, leader dans le domaine des instruments d'analyse mobiles et portatifs. Cette évolution stratégique permet d'intégrer les analyseurs XRF portatifs de la série X et le système de paillasse PowerHouse X mobile dans la gamme Malvern Panalytical, étendant ainsi les capacités d'analyse élémentaire au-delà du laboratoire et du terrain.
Ces solutions mobiles hautes performances offrent aux utilisateurs une analyse rapide et immédiate, ce qui les rend idéales pour des applications telles que le tri des métaux et des alliages, l'exploration minière et le contrôle de conformité réglementaire.
Les analyseurs XRF sont des instruments polyvalents réputés pour leur capacité à fournir des analyses élémentaires précises et non destructives. Ces analyseurs sont précieux dans divers domaines pour leur capacité à fournir une large gamme de mesures et d'informations.
La principale fonction de l'instrumentation XRF est la quantification élémentaire. En exposant un échantillon à des rayons X de haute énergie, un analyseur XRF peut mesurer avec précision la concentration des éléments dans cet échantillon.
Cette quantification s'étend à travers le tableau périodique, des éléments légers comme le carbone aux métaux lourds comme le plomb et l'uranium. Les instruments XRF aident les chercheurs, les fabricants et les professionnels du contrôle qualité à obtenir des données élémentaires précises.
L'une des caractéristiques les plus remarquables de l'analyse XRF est sa nature non destructive. Les méthodes d'analyse chimique traditionnelles telles que l'ICP nécessitent souvent la destruction ou la dissolution des échantillons, ce qui les rend inutiles pour d'autres essais ou pour la conservation.
Les spectromètres XRF vous permettent d'examiner les matériaux sans les altérer ou les endommager. Cela les rend indispensables pour analyser des œuvres d'art, des artefacts historiques ou des échantillons géologiques irremplaçables.
Les analyseurs XRF excellent dans l'analyse multi-éléments. Ils peuvent détecter et quantifier simultanément plusieurs éléments au sein d'un même échantillon, offrant une image complète de sa composition.
Cette capacité est particulièrement avantageuse lorsqu'il s'agit de matériaux complexes, d'alliages ou d'échantillons géologiques avec divers composants élémentaires.
Les instruments d'analyse XRF ne sont pas limités à un type spécifique de matériau. Ils peuvent analyser une grande variété de types d'échantillons, notamment :
Cette polyvalence garantit que les machines XRF peuvent être utilisées dans diverses industries, de la fabrication et des produits pharmaceutiques à la géologie et à la science de l'environnement.
Les analyseurs XRF peuvent mesurer un large éventail d'éléments, y compris, mais sans s'y limiter :
Qu'il s'agisse de caractériser des matériaux, de garantir la qualité des produits ou de mener des recherches scientifiques, les spectromètres XRF sont des outils indispensables pour l'analyse élémentaire dans divers secteurs.
Malvern Panalytical propose une gamme polyvalente de spectromètres de fluorescence X et de produits connexes dédiés à l'analyse élémentaire et de couches minces. Ces analyseurs par fluorescence X couvrent un large éventail d'exigences en matière d'analyse, de cadence et d'environnements d'exploitation.
Notre portefeuille comprend désormais les analyseurs XRF portatifs SciAps série X et le système de paillasse PowerHouse X mobile, étendant ainsi nos capacités à fournir des solutions mobiles hautes performances pour l'analyse sur le terrain et en déplacement.
La gamme de spectromètres s'étend des spectromètres de fluorescence X de paillasse à dispersion d'énergie aux spectromètres de fluorescence X hautes performances à dispersion de longueur d'onde et comprend des produits dédiés à la mesure des semi-conducteurs.
Les analyseurs XRF peuvent être configurés avec des options logicielles dédiées pour des types spécifiques d'analyse par fluorescence X. Ils peuvent être associés à des modules d'application (paramétrage des applications, calibrations et étalons) ou fournis avec des produits de préparation d'échantillons pour des solutions d'analyse complètes. Tous les produits Malvern Panalytical sont pris en charge par notre service après-vente et notre service client.
Retrouvez dans notre centre de connaissances plus d'informations sur les nombreuses applications XRF intéressantes qui sont possibles avec nos spectromètres.
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| Type de mesure | ||||||
| Métrologie des couches minces | ||||||
| Analyse élémentaire | ||||||
| Détection et analyse de contaminants | ||||||
| Quantification élémentaire | ||||||
| Identification chimique | ||||||
| Technologie | ||||||
| Fluorescence X (XRF) | ||||||
| Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) | ||||||
| Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) | ||||||
| Plage élémentaire | ||||||
| LLD | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% |
| Résolution (Mg-Ka) | ||||||
| Débit d'échantillon | ||||||
| Format | Compact | Floorstanding WDXRF | Benchtop EDXRF | Realtime | Semi | Floorstanding WDXRF |
