Quantification des concentrations élémentaires à l'aide de la fluorescence X (XRF) et de l'activation thermique/neutronique à pulsations rapides (PFTNA)
Dans de nombreuses applications, il est essentiel de connaître la concentration élémentaire pour assurer le contrôle des propriétés du matériau ou garantir le respect des réglementations en matière de santé et de sécurité. Par conséquent, il n'est généralement pas suffisant de détecter la présence d'éléments. Il faut également quantifier leur concentration.
Le niveau de précision requis dépend de l'application.
La fluorescence X et l'activation thermique/neutronique à pulsations rapides sont des techniques analytiques non destructives, stables et faciles à utiliser permettant de déterminer la composition élémentaire de divers matériaux dans un large éventail d'applications. Pour quantifier les concentrations élémentaires à l'aide de ces techniques, les intensités mesurées sont comparées aux intensités de matériaux de référence certifiés ou d'étalons maison dont les concentrations sont connues. Ces étalons doivent être aussi similaires que possible au matériau d'échantillonnage pour obtenir des résultats précis. De plus, les intensités mesurées étant également affectées par les propriétés physiques de l'échantillon, diverses corrections doivent souvent être appliquées par le logiciel utilisateur.
Dans de nombreuses industries, une analyse rapide du matériau d'échantillonnage de composition inconnue doit être effectuée sans étalons dédiés.
Le cas échéant, un logiciel d'analyse sans étalon tel qu'Omnian peut être utilisé pour déterminer la composition élémentaire globale et obtenir des résultats semi-quantitatifs des concentrations élémentaires.
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