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Epsilon Xline

Contrôle en ligne pour les procédés continus rouleau à rouleau

  • XRF avancé à dispersion d'énergie avec fonctionnalité en ligne
  • Surveillance en temps réel du couchage roll-to-roll (R2R)
  • Analyse directe pour une optimisation continue

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Présentation

Epsilon Xline associe notre technologie XRF (EDXRF) à dispersion d'énergie avancée à une fonctionnalité en ligne. Cette solution avancée permet la surveillance en temps réel des matériaux et le contrôle de procédé dans les procédés de revêtement rouleau à rouleau (R2R). L'analyse directe permet une optimisation continue de la composition et du chargement des matériaux, ce qui permet de réduire la production hors spécifications au minimum et d'optimiser la rentabilité. Adaptable, l'Epsilon Xline permet un contrôle de procédé précis et sûr sur une large gamme de surfaces et d'éléments.  

Fonctionnalités

  • Automatisation complète en ligne : Profitez d'une production R2R continue grâce aux capacités d'intégration transparente de l'Epsilon Xline, adaptées à une large gamme d'applications de couches minces et de revêtements. 

  • Simple et sûr : Contrairement aux instruments portables ou traditionnels, l'Epsilon Xline est entièrement compatible avec les rayons X et facile à utiliser, et fournit des données analytiques extrêmement précises. 

  • Une vie d'expérience : S'appuyant sur l'expérience de plus de 70 ans de Malvern Panalytical en analyse élémentaire , l'Epsilon XLINE a été développé en collaboration avec nos partenaires industriels pour répondre à leurs besoins d'aujourd'hui – tout en regardant ensemble l'avenir de l'industrie. 

  • Rendement maximisé : Réalisez une production rentable grâce à une surveillance en temps réel et sans interruption, ce qui vous donne les informations directes et le contrôle dont vous avez besoin pour tirer le meilleur parti de vos opérations. 

  • Efficacité optimale des matériaux : Éliminez les incohérences, évitez le gaspillage de matériaux précieux et garantissez un produit haut de gamme avec notre solution conforme aux normes industrielles. 

  • Précision prouvée et brevetée : Développé et testé avec des clients, l'Epsilon Xline est doté d'une technologie brevetée de correction de hauteur qui garantit une analyse stable pour des résultats précis. 

Pourquoi Epsilon Xline ?

  • Contrôle de procédé en ligne non destructif – aucun échantillonnage requis
  • Gamme de modes de balayage pour s'adapter aux procédés de revêtement en continu et multi-voies
  • Facile à intégrer dans les processus de production avec des protocoles de communication standard 
  • Capable de mesurer tous les éléments précieux d'intérêt, y compris le platine et le cérium 
  • Capable de mesurer des couches minces avec une excellente précision
  • Convient à une gamme de largeurs de rouleaux
  • Bras robotisé breveté unique qui permet un contrôle optimal de la distance en faisant passer la tête de mesure au-dessus de la ligne de production dans toutes les directions

Relever les défis de la production de piles à combustible

Les catalyseurs au platine représentant plus de 20 % du coût global de votre pile à combustible, il est essentiel d'optimiser le revêtement du catalyseur grâce à une dispersion uniforme et à une stratification homogène. Et une surveillance rapide et précise des procédés est la solution idéale ! L'Epsilon XLINE facilite le contrôle opérationnel efficace et vous aide à :  

  • Réduire votre production hors spécifications au minimum  
  • Éviter le gaspillage de platine précieux  
  • Produire des produits finis compétitifs 

Analyse élémentaire au sein de votre procédé

La fluorescence X  (XRF) est une technologie d'analyse élémentaire non destructive qui permet une surveillance en ligne pendant les procédés de revêtement des membranes catalytiques – sans avoir à prélever d'échantillons et sans changements chimiques ou physiques.  

L'analyse en ligne en temps réel qui en découle permet d'optimiser rapidement un grand nombre de paramètres de procédés et de propriétés de produit. 

Des résultats hautement répétables et des mesures précises combinés à une maintenance réduite

La technologie éprouvée et robuste utilisée dans l'Epsilon Xline et dans toute notre série d'instruments Epsilon bénéficie des dernières avancées technologiques en matière d'excitation et de détection. 

Un trajet optique bien conçu, un large éventail de fonctions d'excitation couvrant les éléments légers et plus lourds et un système de détection SDD haute résolution rapide contribuent à la puissance de l'Epsilon Xline. Ces innovations se traduisent par une répétabilité et une précision accrues des résultats et une maintenance réduite. 

Spécifications

Manipulation des échantillons

Types d'échantillons
Ligne de revêtement
Coating types
Continu, voies, patchs
Line speed continuous coating
Maximum 30 m/min
Line speed patch coating
Maximum 11 m/min

Tube à rayons X

Type
Fenêtre latérale, métal-céramique
50 µm (Be)
Anode material Ag
Tube setting
Contrôlé par logiciel, tensions applicables 4 - 50 kV, max. 3 mA, puissance du tube max. 15 W
X-Ray filtering
Six, sélectionnables par logiciel (Cu 300 µm ; Cu 500 µm ; Al 50 µm ; Al 200 µm ; Ti 7 µm ; AG 100 µm

Détecteur

Type
Détecteur de dérive Si haute résolution SDD10
Fenêtre : 8 µm (Be)
Résolution
< 145 eV @ 5,9 keV/1 000 cps
typiquement 135 eV @ 5,9 keV/1 000 cps

Normes de sécurité

Radiation levels
< 1 µSv/h à 10 cm de la surface extérieure

Accessoires

Connectivité intégrée

Intégrez l'Epsilon Xline à vos lignes de production harmonieusement grâce à la connectivité OPC intégrée. Le progiciel dédié inclus facilite la configuration de votre Epsilon Xline pour différents matériaux et modes de mesure. En saisissant les commandes directement dans l'instrument – ou via une console distante – l'interface conviviale affiche une vue d'ensemble des données de suivi complètes.  

Logiciel Epsilon

Progiciel EDXRF analytique pour systèmes de paillasse Epsilon

La plate-forme logicielle Epsilon d'analyse par spectrométrie de fluorescence X est utilisée dans toute la gamme des systèmes de paillasse Epsilon 1 et Epsilon 4 EDXRF de PANalytical. Le logiciel offre toutes les fonctions nécessaires à la configuration et au fonctionnement d'un système de paillasse Epsilon. L'assemblage du programme analytique est grandement facilité par le haut degré d'intelligence intégré au logiciel, ce qui permet aux utilisateurs de bénéficier d'un demi-siècle d'expertise en applications. L'analyse XRF quotidienne est une tâche de routine qui peut être facilement réalisée par du personnel inexpérimenté après un minimum d'instructions. De nombreuses fonctionnalités sont présentes pour améliorer l'ergonomie du logiciel.

Stratos

Détermination de la composition et de l'épaisseur des revêtements et multicouches

Le module logiciel Stratos est doté d'un algorithme qui permet de déterminer simultanément la composition chimique et l'épaisseur des couches de matériaux à partir des mesures effectuées. Le logiciel propose un moyen rapide, simple et non destructif d'analyser les revêtements, les couches superficielles et les structures multicouches. Virtual Analyst fournit des informations lors de la configuration des programmes de mesure pour les piles complexes. 


Disponible à la fois pour les spectromètres EDXRF Epsilon 4 et XRF Zetium, Stratos offre des résultats rapides et fiables, quel que soit le type d'échantillon ou la matrice.

Manuels d'utilisation

Veuillez contacter l'assistance pour obtenir les derniers manuels d'utilisation.

Téléchargements de logiciels

Veuillez contacter l'assistance pour obtenir la dernière version du logiciel.

Assistance

Équipements

Solutions pour optimiser votre retour sur investissement

Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.

Assistance

Service à vie

  • Assistance téléphonique et à distance
  • Maintenance préventive et contrôles
  • Contrats de service client flexibles
  • Certificat de performances
  • Mises à niveau matérielles et logicielles
  • Assistance locale et mondiale

Expertise

Ajout de valeur à vos procédés 

  • Développement/optimisation de la préparation d'échantillons
  • Méthodes analytiques 
  • Solutions clé en main pour XRD 
  • Opérations via QI/QO/QP, assurance qualité (BPL, ISO17025) ou études d'essais comparatifs/interlaboratoires
  • Services de conseils

Formation et éducation

  • Formation sur site ou dans nos centres de compétence
  • Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels
Contrôle en ligne simplifié.

Contrôle en ligne simplifié.

Analyse élémentaire avancée pour l'inspection en ligne du produit. Pour une surveillance continue et fiable en toute simplicité.

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