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Epsilon Xline associe notre technologie XRF (EDXRF) à dispersion d'énergie avancée à une fonctionnalité en ligne. Cette solution avancée permet la surveillance en temps réel des matériaux et le contrôle de procédé dans les procédés de revêtement rouleau à rouleau (R2R). L'analyse directe permet une optimisation continue de la composition et du chargement des matériaux, ce qui permet de réduire la production hors spécifications au minimum et d'optimiser la rentabilité. Adaptable, l'Epsilon Xline permet un contrôle de procédé précis et sûr sur une large gamme de surfaces et d'éléments.
Automatisation complète en ligne : Profitez d'une production R2R continue grâce aux capacités d'intégration transparente de l'Epsilon Xline, adaptées à une large gamme d'applications de couches minces et de revêtements.
Simple et sûr : Contrairement aux instruments portables ou traditionnels, l'Epsilon Xline est entièrement compatible avec les rayons X et facile à utiliser, et fournit des données analytiques extrêmement précises.
Une vie d'expérience : S'appuyant sur l'expérience de plus de 70 ans de Malvern Panalytical en analyse élémentaire , l'Epsilon XLINE a été développé en collaboration avec nos partenaires industriels pour répondre à leurs besoins d'aujourd'hui – tout en regardant ensemble l'avenir de l'industrie.
Rendement maximisé : Réalisez une production rentable grâce à une surveillance en temps réel et sans interruption, ce qui vous donne les informations directes et le contrôle dont vous avez besoin pour tirer le meilleur parti de vos opérations.
Efficacité optimale des matériaux : Éliminez les incohérences, évitez le gaspillage de matériaux précieux et garantissez un produit haut de gamme avec notre solution conforme aux normes industrielles.
Précision prouvée et brevetée : Développé et testé avec des clients, l'Epsilon Xline est doté d'une technologie brevetée de correction de hauteur qui garantit une analyse stable pour des résultats précis.
Les catalyseurs au platine représentant plus de 20 % du coût global de votre pile à combustible, il est essentiel d'optimiser le revêtement du catalyseur grâce à une dispersion uniforme et à une stratification homogène. Et une surveillance rapide et précise des procédés est la solution idéale ! L'Epsilon XLINE facilite le contrôle opérationnel efficace et vous aide à :
La fluorescence X (XRF) est une technologie d'analyse élémentaire non destructive qui permet une surveillance en ligne pendant les procédés de revêtement des membranes catalytiques – sans avoir à prélever d'échantillons et sans changements chimiques ou physiques.
L'analyse en ligne en temps réel qui en découle permet d'optimiser rapidement un grand nombre de paramètres de procédés et de propriétés de produit.
La technologie éprouvée et robuste utilisée dans l'Epsilon Xline et dans toute notre série d'instruments Epsilon bénéficie des dernières avancées technologiques en matière d'excitation et de détection.
Un trajet optique bien conçu, un large éventail de fonctions d'excitation couvrant les éléments légers et plus lourds et un système de détection SDD haute résolution rapide contribuent à la puissance de l'Epsilon Xline. Ces innovations se traduisent par une répétabilité et une précision accrues des résultats et une maintenance réduite.
| Types d'échantillons | Ligne de revêtement
|
|---|---|
| Coating types | Continu, voies, patchs
|
| Line speed continuous coating | Maximum 30 m/min |
| Line speed patch coating | Maximum 11 m/min
|
| Type | Fenêtre latérale, métal-céramique
50 µm (Be)
|
|---|---|
| Anode material | Ag |
| Tube setting | Contrôlé par logiciel, tensions applicables 4 - 50 kV, max. 3 mA, puissance du tube max. 15 W
|
| X-Ray filtering | Six, sélectionnables par logiciel (Cu 300 µm ; Cu 500 µm ; Al 50 µm ; Al 200 µm ; Ti 7 µm ; AG 100 µm
|
| Type | Détecteur de dérive Si haute résolution SDD10
Fenêtre : 8 µm (Be) |
|---|---|
| Résolution | < 145 eV @ 5,9 keV/1 000 cps
typiquement 135 eV @ 5,9 keV/1 000 cps
|
| Radiation levels | < 1 µSv/h à 10 cm de la surface extérieure
|
|---|
Intégrez l'Epsilon Xline à vos lignes de production harmonieusement grâce à la connectivité OPC intégrée. Le progiciel dédié inclus facilite la configuration de votre Epsilon Xline pour différents matériaux et modes de mesure. En saisissant les commandes directement dans l'instrument – ou via une console distante – l'interface conviviale affiche une vue d'ensemble des données de suivi complètes.
Progiciel EDXRF analytique pour systèmes de paillasse Epsilon
Détermination de la composition et de l'épaisseur des revêtements et multicouches
Veuillez contacter l'assistance pour obtenir les derniers manuels d'utilisation.
Veuillez contacter l'assistance pour obtenir la dernière version du logiciel.
Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.
Service à vie
Ajout de valeur à vos procédés
Epsilon Xline associe notre technologie XRF (EDXRF) à dispersion d'énergie avancée à une fonctionnalité en ligne. Cette solution avancée permet la surveillance en temps réel des matériaux et le contrôle de procédé dans les procédés de revêtement rouleau à rouleau (R2R). L'analyse directe permet une optimisation continue de la composition et du chargement des matériaux, ce qui permet de réduire la production hors spécifications au minimum et d'optimiser la rentabilité. Adaptable, l'Epsilon Xline permet un contrôle de procédé précis et sûr sur une large gamme de surfaces et d'éléments.
Automatisation complète en ligne : Profitez d'une production R2R continue grâce aux capacités d'intégration transparente de l'Epsilon Xline, adaptées à une large gamme d'applications de couches minces et de revêtements.
Simple et sûr : Contrairement aux instruments portables ou traditionnels, l'Epsilon Xline est entièrement compatible avec les rayons X et facile à utiliser, et fournit des données analytiques extrêmement précises.
Une vie d'expérience : S'appuyant sur l'expérience de plus de 70 ans de Malvern Panalytical en analyse élémentaire , l'Epsilon XLINE a été développé en collaboration avec nos partenaires industriels pour répondre à leurs besoins d'aujourd'hui – tout en regardant ensemble l'avenir de l'industrie.
Rendement maximisé : Réalisez une production rentable grâce à une surveillance en temps réel et sans interruption, ce qui vous donne les informations directes et le contrôle dont vous avez besoin pour tirer le meilleur parti de vos opérations.
Efficacité optimale des matériaux : Éliminez les incohérences, évitez le gaspillage de matériaux précieux et garantissez un produit haut de gamme avec notre solution conforme aux normes industrielles.
Précision prouvée et brevetée : Développé et testé avec des clients, l'Epsilon Xline est doté d'une technologie brevetée de correction de hauteur qui garantit une analyse stable pour des résultats précis.
Les catalyseurs au platine représentant plus de 20 % du coût global de votre pile à combustible, il est essentiel d'optimiser le revêtement du catalyseur grâce à une dispersion uniforme et à une stratification homogène. Et une surveillance rapide et précise des procédés est la solution idéale ! L'Epsilon XLINE facilite le contrôle opérationnel efficace et vous aide à :
La fluorescence X (XRF) est une technologie d'analyse élémentaire non destructive qui permet une surveillance en ligne pendant les procédés de revêtement des membranes catalytiques – sans avoir à prélever d'échantillons et sans changements chimiques ou physiques.
L'analyse en ligne en temps réel qui en découle permet d'optimiser rapidement un grand nombre de paramètres de procédés et de propriétés de produit.
La technologie éprouvée et robuste utilisée dans l'Epsilon Xline et dans toute notre série d'instruments Epsilon bénéficie des dernières avancées technologiques en matière d'excitation et de détection.
Un trajet optique bien conçu, un large éventail de fonctions d'excitation couvrant les éléments légers et plus lourds et un système de détection SDD haute résolution rapide contribuent à la puissance de l'Epsilon Xline. Ces innovations se traduisent par une répétabilité et une précision accrues des résultats et une maintenance réduite.
| Types d'échantillons | Ligne de revêtement
|
|---|---|
| Coating types | Continu, voies, patchs
|
| Line speed continuous coating | Maximum 30 m/min |
| Line speed patch coating | Maximum 11 m/min
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| Type | Fenêtre latérale, métal-céramique
50 µm (Be)
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|---|---|
| Anode material | Ag |
| Tube setting | Contrôlé par logiciel, tensions applicables 4 - 50 kV, max. 3 mA, puissance du tube max. 15 W
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| X-Ray filtering | Six, sélectionnables par logiciel (Cu 300 µm ; Cu 500 µm ; Al 50 µm ; Al 200 µm ; Ti 7 µm ; AG 100 µm
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| Type | Détecteur de dérive Si haute résolution SDD10
Fenêtre : 8 µm (Be) |
|---|---|
| Résolution | < 145 eV @ 5,9 keV/1 000 cps
typiquement 135 eV @ 5,9 keV/1 000 cps
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| Radiation levels | < 1 µSv/h à 10 cm de la surface extérieure
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|---|
Intégrez l'Epsilon Xline à vos lignes de production harmonieusement grâce à la connectivité OPC intégrée. Le progiciel dédié inclus facilite la configuration de votre Epsilon Xline pour différents matériaux et modes de mesure. En saisissant les commandes directement dans l'instrument – ou via une console distante – l'interface conviviale affiche une vue d'ensemble des données de suivi complètes.
Progiciel EDXRF analytique pour systèmes de paillasse Epsilon
Détermination de la composition et de l'épaisseur des revêtements et multicouches
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Veuillez contacter l'assistance pour obtenir la dernière version du logiciel.
Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.
Service à vie
Ajout de valeur à vos procédés
Analyse élémentaire avancée pour l'inspection en ligne du produit. Pour une surveillance continue et fiable en toute simplicité.