Présentation
Epsilon Xline associe notre technologie XRF (EDXRF) à dispersion d'énergie avancée à une fonctionnalité en ligne. Cette solution avancée permet la surveillance en temps réel des matériaux et le contrôle de procédé dans les procédés de revêtement rouleau à rouleau (R2R). L'analyse directe permet une optimisation continue de la composition et du chargement des matériaux, ce qui permet de réduire la production hors spécifications au minimum et d'optimiser la rentabilité. Adaptable, l'Epsilon Xline permet un contrôle de procédé précis et sûr sur une large gamme de surfaces et d'éléments.
Fonctionnalités
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Automatisation complète en ligne : Profitez d'une production R2R continue grâce aux capacités d'intégration transparente de l'Epsilon Xline, adaptées à une large gamme d'applications de couches minces et de revêtements.
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Simple et sûr : Contrairement aux instruments portables ou traditionnels, l'Epsilon Xline est entièrement compatible avec les rayons X et facile à utiliser, et fournit des données analytiques extrêmement précises.
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Une vie d'expérience : S'appuyant sur l'expérience de plus de 70 ans de Malvern Panalytical en analyse élémentaire , l'Epsilon XLINE a été développé en collaboration avec nos partenaires industriels pour répondre à leurs besoins d'aujourd'hui – tout en regardant ensemble l'avenir de l'industrie.
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Rendement maximisé : Réalisez une production rentable grâce à une surveillance en temps réel et sans interruption, ce qui vous donne les informations directes et le contrôle dont vous avez besoin pour tirer le meilleur parti de vos opérations.
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Efficacité optimale des matériaux : Éliminez les incohérences, évitez le gaspillage de matériaux précieux et garantissez un produit haut de gamme avec notre solution conforme aux normes industrielles.
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Précision prouvée et brevetée : Développé et testé avec des clients, l'Epsilon Xline est doté d'une technologie brevetée de correction de hauteur qui garantit une analyse stable pour des résultats précis.
Pourquoi Epsilon Xline ?
- Contrôle de procédé en ligne non destructif – aucun échantillonnage requis
- Gamme de modes de balayage pour s'adapter aux procédés de revêtement en continu et multi-voies
- Facile à intégrer dans les processus de production avec des protocoles de communication standard
- Capable de mesurer tous les éléments précieux d'intérêt, y compris le platine et le cérium
- Capable de mesurer des couches minces avec une excellente précision
- Convient à une gamme de largeurs de rouleaux
- Bras robotisé breveté unique qui permet un contrôle optimal de la distance en faisant passer la tête de mesure au-dessus de la ligne de production dans toutes les directions
Relever les défis de la production de piles à combustible
Les catalyseurs au platine représentant plus de 20 % du coût global de votre pile à combustible, il est essentiel d'optimiser le revêtement du catalyseur grâce à une dispersion uniforme et à une stratification homogène. Et une surveillance rapide et précise des procédés est la solution idéale ! L'Epsilon XLINE facilite le contrôle opérationnel efficace et vous aide à :
- Réduire votre production hors spécifications au minimum
- Éviter le gaspillage de platine précieux
- Produire des produits finis compétitifs
Analyse élémentaire au sein de votre procédé
La fluorescence X (XRF) est une technologie d'analyse élémentaire non destructive qui permet une surveillance en ligne pendant les procédés de revêtement des membranes catalytiques – sans avoir à prélever d'échantillons et sans changements chimiques ou physiques.
L'analyse en ligne en temps réel qui en découle permet d'optimiser rapidement un grand nombre de paramètres de procédés et de propriétés de produit.
Des résultats hautement répétables et des mesures précises combinés à une maintenance réduite
La technologie éprouvée et robuste utilisée dans l'Epsilon Xline et dans toute notre série d'instruments Epsilon bénéficie des dernières avancées technologiques en matière d'excitation et de détection.
Un trajet optique bien conçu, un large éventail de fonctions d'excitation couvrant les éléments légers et plus lourds et un système de détection SDD haute résolution rapide contribuent à la puissance de l'Epsilon Xline. Ces innovations se traduisent par une répétabilité et une précision accrues des résultats et une maintenance réduite.
