SciAps série X

Les analyseurs XRF haute précision les plus légers, les plus compacts et les plus rapides au monde

La série X est la gamme d'analyseurs XRF portatifs haute précision la plus légère, la plus compacte et la plus rapide au monde. Nos nouveaux modèles ultra-rapides de moins de 1,3 kg peuvent être utilisés toute la journée sans vous fatiguer.

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Plateforme standardisée et adaptée au terrain

  • Deux appareils photo pour une visée précise, la documentation photo, la lecture de codes QR et de codes-barres

  • Conception légère, équilibrée, ergonomique et autonome

  • La technologie de protection du détecteur (DPT) garantit la sûreté du détecteur grâce à une fenêtre haute résistance sophistiquée

  • Connectivité complète : surveillez les tests, vérifiez la qualité et imprimez des rapports en temps réel

  • Coûts d'entretien les plus bas du secteur

  • Système d'exploitation Android intuitif

Value X

Les pistolets XRF X-200 et X-50, entièrement repensés, sont les moins chers du marché, ce qui ne les empêche pas d'offrir d'excellentes performances en matière d'analyse et de rapidité, avec toute la précision et le rendement de la série X-5.

Ils proposent une meilleure dissipation thermique, un poids réduit et une nouvelle interface utilisateur.

Premium X

Leur poids de 1,25 kg font des analyseurs de la série X-500 les plus légers jamais créés, encastrés dans un châssis principalement métallique pour une durabilité et un cycle d'utilisation optimaux. 

Leur forme compacte permet d'accéder aux emplacements de test les plus difficiles, tandis que le tout nouvel écran 2,7 pouces (68,6 mm) permet de visualiser depuis l'arrière la qualité et la composition chimique.

Spécifications

Série Premium X : analyseur XRF X-550

Poids
1,35 kg avec batterie
Dimensions
8,5 x 9,5 x 2,4 pouces
Alimentation
Batterie rechargeable Li-ion intégrée, chargement dans l'appareil ou avec un chargeur externe, alimentation secteur, remplacement à chaud (temps de remplacement 60 s max.)
Affichage
Écran tactile interactif couleurs de 2,7 pouces, accélérateur graphique Qualcomm Adreno 306 2D/3D de 400 MHz
Écran à l'arrière permettant une visualisation facile des résultats, lisible quelles que soient les conditions
Security
Utilisation protégée par mot de passe (niveau utilisateur) et paramètres internes (admin)
Tests réglementaires
CE, RoHS, homologation USFDA, Canada RED Act
Excitation source
Tube à rayons X de 5 W. 40 kV, 200 μA anode de Rh et 10 kV, 500 μA pour la vérification des alliages
50 kV, 200 μA anode d'Au pour la plupart des autres applications
Détecteur
Détecteur au silicium à diffusion de 20 mm2 (surface active), résolution 140 eV, largeur à mi-hauteur à la raie Mn-K-alpha de 5,95
X-Ray filtering
Disque à filtres 6 emplacements pour l'optimisation du faisceau
Processing electronics and host processor
Microprocesseur ARM Cortex A53 quatre cœurs de 1,2 GHz, 64/32 bits
RAM : 2 Go de mémoire LPDDR3
Stockage : eMMC de 16 Go (stockage)
Pulse processor
14 bits avec vitesse de numérisation de 80 MSPS, analyseur multicanaux (MCA) 8K, USB 2.0 pour un transfert de données haut débit vers le processeur hôte
Filtrage numérique implémenté sur FPGA pour un traitement haute vitesse des impulsions, 20 nS – 24 µS (délai de crête)
Plage de température
De -12 °C à 54 °C pour un cycle d'utilisation à 25 %
Calibration type Paramètres fondamentaux. Pour les applications en géochimie et en analyse environnementale des sols, les utilisateurs peuvent également choisir la méthode « Normalisation Compton » et/ou utiliser des étalonnages dérivés empiriquement.
Calibration check
Étalon de contrôle externe en acier inoxydable 316 pour la vérification de l'étalonnage et la validation de l'échelle d'énergie.
Analytical range
32 éléments de série, les éléments varient selon l'application
Possibilité d'ajouter des éléments supplémentaires à la demande de l'utilisateur
Applications
Alliage, aluminium rapide, exploitation minière, sols, métaux précieux, catalyseurs automobiles, RoHS, empirique, peinture au plomb pour le logement et le développement urbain
De nouvelles applications sont régulièrement ajoutées
Grade library
La bibliothèque de série contient plus de 500 catégories, sans limite de taille
Prise en charge de plusieurs bibliothèques, possibilité d'ajouter des grades sur l'analyseur ou via un pack logiciel pour PC (ProfileBuilder)

Série Premium X : analyseur XRF X-555

Poids
1,35 kg avec batterie
Dimensions 8,5 x 9,5 x 2,4 pouces
Affichage Écran tactile interactif couleur haute luminosité de 2,7 pouces, accélérateur graphique Qualcomm Adreno 306 2D/3D de 400 MHz. Écran arrière permettant une visualisation facile des résultats, lisible quelles que soient les conditions.
Alimentation
Batterie Li-ion rechargeable intégrée, chargement dans l'appareil ou avec un chargeur externe, alimentation secteur. Remplacement à chaud (temps de remplacement 60 s max.)
Data Transfer
Connectivité Wi-Fi, Bluetooth et USB à la plupart des appareils, y compris le logiciel SciAps Profile Builder pour PC ou tablette.
Security
Prise en charge multi-utilisateurs protégée par mot de passe avec accès configurable.
Excitation source
Tube à rayons X de 5 W. Max. 55 kV, 200 µA. Anode d'Au.
Détecteur
Détecteur au silicium à diffusion de 50 mm2 (surface active), résolution < 140 eV, largeur à mi-hauteur à la raie Mn-K-alpha de 5,95.
Processing electronics and host processor
Microprocesseur ARM Cortex A53 quatre cœurs de 1,2 GHz, 64/32 bits. RAM : 2 Go de mémoire LPDDR3. Stockage : eMMC de 16 Go.
Pulse processor
12 bits avec vitesse de numérisation de 80 MSPS, analyseur multicanaux (AMC) 8 000 canaux, USB 2.0 pour un transfert de données haut débit vers le processeur hôte. Le filtrage numérique s'effectue sur FPGA pour un traitement haute vitesse des impulsions, 20 ns – 24 µs (délai de crête).
Plage de température
De -12 °C à 54 °C pour un cycle d'utilisation à 25 %.
Tests réglementaires
Homologations CE, RoHS, USFDA. Canada RED Act
Applications
Exploitation minière et des sols pour les terres rares
X-Ray filtering
Disque à filtres 6 emplacements pour l'optimisation du faisceau.
Calibration type
Étalon de contrôle interne en acier inoxydable 316 pour la vérification de l'étalonnage et la validation de l'échelle de longueur d'ondes.
Quantified elements
32 éléments de série, les éléments varient selon l'application
Possibilité d'ajouter des éléments supplémentaires à la demande de l'utilisateur
Calibration type
Paramètres fondamentaux
Pour les applications en géochimie et en analyse environnementale des sols, les utilisateurs peuvent également choisir la méthode « Normalisation Compton » et/ou utiliser des étalonnages dérivés empiriquement
Calibration check
Étalon de contrôle externe en acier inoxydable 316 pour la vérification de l'étalonnage et la validation de l'échelle d'énergie.

Série Premium X : analyseur XRF X-505

Poids
1,35 kg avec batterie
Dimensions
8,5 x 9,5 x 2,4 pouces
Alimentation
Batterie rechargeable Li-ion intégrée, chargement dans l'appareil ou avec un chargeur externe, alimentation secteur, remplacement à chaud (temps de remplacement 60 s max.)
Affichage
Écran tactile interactif couleurs de 2,7 pouces, accélérateur graphique Qualcomm Adreno 306 2D/3D de 400 MHz
Écran à l'arrière permettant une visualisation facile des résultats, lisible quelles que soient les conditions
Data Transfer
Connectivité Wi-Fi, Bluetooth et USB à la plupart des appareils, y compris le logiciel SciAps Profile Builder pour PC
Compatibilité GPS, options de gestion des données dans le cloud disponibles
Excitation source
Tube à rayons X de 5 W
Utilisation type : 40 kV, 200 μA anode de Rh et 10 kV, 200 μA pour la vérification des alliages ; 50 kV, 200 μA anode d'Au pour la plupart des autres applications
Détecteur
Détecteur au silicium à diffusion de 20 mm2 (surface active), résolution <140 eV, largeur à mi-hauteur à la raie Mn-K-alpha de 5,95
X-Ray filtering
Disque à filtres 6 emplacements pour l'optimisation du faisceau
Processing electronics and host processor
Microprocesseur ARM Cortex A53 quatre cœurs de 1,2 GHz, 64/32 bits
RAM : LPDDR3 de 2 Go
Stockage : eMMC de 16 Go
Pulse processor
ADC 14 bits avec vitesse de numérisation de 80 MSPS, analyseur multicanaux (AMC) 8 000 canaux, USB 2.0 pour un transfert de données haut débit vers le processeur hôte
Filtrage numérique implémenté sur FPGA pour un traitement haute vitesse des impulsions, 50 nS – 24 µS (délai de crête)
Calibration type
Paramètres fondamentaux ; pour les applications en géochimie et en analyse environnementale des sols, les utilisateurs peuvent également choisir la méthode « Normalisation Compton » et/ou utiliser des étalonnages dérivés empiriquement
Calibration check
Étalon de contrôle externe en acier inoxydable 316 pour la vérification de l'étalonnage et la validation de l'échelle d'énergie.
Plage de température
De -12 °C à 55 °C pour un cycle d'utilisation à 25 %
Security
Utilisation protégée par mot de passe (niveau utilisateur) et paramètres internes (admin)
Tests réglementaires
Conformité CE, RoHS, homologation USFDA, Canada RED Act.CE, RoHS, homologation USFDA, Canada RED Act

Série Value X : analyseur XRF X-200

Poids
1,4 kg avec batterie
Dimensions
238 x 283 x 84mm
Alimentation
Batterie rechargeable Li-ion intégrée, chargement dans l'appareil ou avec un chargeur externe, alimentation secteur, remplacement à chaud (temps de remplacement 60 s max.)
Affichage
Écran tactile interactif couleur haute luminosité de 3,5 pouces (89 mm), accélérateur graphique Qualcomm Adreno 306 2D/3D de 400 MHz.
Data Transfer
Connectivité Wi-Fi, Bluetooth et USB à la plupart des appareils, y compris le logiciel SciAps Profile Builder pour PC ; compatibilité GPS ; options de gestion des données dans le cloud disponibles
Excitation source
Tube à rayons X de 5 W. 50 kV max, 200 μA max, anode de Rh ou d'Au selon l'application
Détecteur
Détecteur au silicium à diffusion de 20 mm2 (surface active), résolution <140 eV, largeur à mi-hauteur à la raie Mn-K-alpha de 5,95
X-Ray filtering
Disque à filtres 6 emplacements pour l'optimisation du faisceau
Processing electronics and host processor
Microprocesseur ARM Cortex A53 quatre cœurs de 1,2 GHz, 64/32 bits
RAM : LPDDR3 de 2 Go
Stockage : eMMC de 16 Go
Pulse processor
ADC 14 bits avec vitesse de numérisation de 80 MSPS, analyseur multicanaux (AMC) 8 000 canaux, USB 2.0 pour un transfert de données haut débit vers le processeur hôte
Filtrage numérique implémenté sur FPGA pour un traitement haute vitesse des impulsions, 50 ns – 24 µS (délai de crête)
Calibration type
Paramètres fondamentaux ; pour les applications en géochimie et en analyse environnementale des sols, les utilisateurs peuvent également choisir la méthode « Normalisation Compton » et/ou utiliser des étalonnages dérivés empiriquement
Plage de température
De -12 °C à 54 °C pour un cycle d'utilisation à 25 %
Security
Utilisation protégée par mot de passe (niveau utilisateur) et paramètres internes (admin)
Tests réglementaires
CE, RoHS, homologation USFDA, Canada RED Act

Série Value X : analyseur XRF X-50

Poids
1,4 kg avec batterie
Dimensions
238 x 283 x 84mm
Alimentation
Batterie rechargeable Li-ion intégrée, chargement dans l'appareil ou avec un chargeur externe, alimentation secteur, remplacement à chaud (temps de remplacement 60 s max.)
Affichage
Écran tactile interactif couleur haute luminosité de 3,5 pouces (88,9 mm), accélérateur graphique Qualcomm Adreno 306 2D/3D de 400 MHz.
Data Transfer
Connectivité
Wi-Fi, Bluetooth et USB à la plupart des appareils, y compris le logiciel SciAps Profile Builder pour PC ou tablette
Excitation source
4 W, 40 kV Rh sur les alliages ; 50 kV Au sur les autres applications
Détecteur
Détecteur au silicium à diffusion (SDD) de 7 mm2 (surface active), résolution 170 eV, largeur à mi-hauteur à la raie Mn-K-alpha de 5,95
X-Ray filtering
Filtre à faisceau primaire simple pour les alliages, l'exploitation minière, les métaux précieux
Filtres multiples pour les sols, RoHS, les catalyseurs automobiles et certaines autres applications
Processing electronics and host processor
Microprocesseur ARM Cortex A53 quatre cœurs de 1,2 GHz, 64/32 bits
RAM : 2 Go de mémoire LPDDR3
Stockage : eMMC de 16 Go (stockage)
Pulse processor
12 bits avec vitesse de numérisation de 80 MSPS, analyseur multicanaux (AMC) 8 000 canaux, USB 2.0 pour un transfert de données haut débit vers le processeur hôte
Filtrage numérique implémenté sur FPGA pour un traitement haute vitesse des impulsions, 20 nS – 24 µS (délai de crête)
Calibration type
Paramètres fondamentaux
Calibration check
Étalon de contrôle externe en acier inoxydable 316 pour la vérification de l'étalonnage et la validation de l'échelle d'énergie.
Plage de température
De -12 °C à 54 °C pour un cycle d'utilisation à 25 %
Security
Utilisation protégée par mot de passe (niveau utilisateur) et paramètres internes (admin)
Tests réglementaires
CE, RoHS, homologation USFDA, Canada RED Act

Accessoires

Applications et packs d'éléments standard

Les packs d'éléments standard proposés pour les différents modèles et applications sont présentés dans le tableau ci-dessous. Il vous faut d'autres éléments ? N'hésitez pas à nous les demander ! Nous ajoutons ou remplaçons fréquemment des éléments pour des applications spécifiques.

X-555, X-550, X-505 et X-200

Application Faisceau 1 (40 kV) Faisceau 2 (10 kV) Faisceau 3 (50 kV)
Exploitation minière Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Au, Hg, Pb, Bi, U Mg, Al, Si, P, S, K, Ca Ag, Sn, Sb, Ba
Sols Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Mo, W, Tl, Hg, Pb, Bi Mg, Al, Si, P, S Ag, Cd, Sn, Sb, Ba
Alliages Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb Mg, Al, Si, P, S Non
Métaux précieux Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, W, Au, Ge, Ir, Pt, Au, Pb, Bi, Zr, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb Non Non

X-5 et X-50

Application Faisceau 1 (40 kV) Faisceau 2 (10 kV) Faisceau 3 (50 kV)
Exploitation minière Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Au, Hg, Pb, Bi, U, Ag, Sn, Sb S, K, Ca Non
Sols Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Mo, W, Tl, Hg, Pb, Bi, Ag, Cd, Sn, Sb Non Non
Alliages Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb Non Non
Métaux précieux Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, W, Au, Ge, Ir, Pt, Au, Pb, Bi, Zr, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb Non Non

Accessoires généraux

OneBox

Les analyseurs portatifs des séries Z et X s'exécutent sur la même plateforme logicielle, avec le même système d'exploitation, la même interface utilisateur, la même batterie et le même chargeur, ce qui simplifie la formation et la prise en main. 

Achetez le pack OneBox pour recevoir les deux.

Pour en savoir plus
OneBox

Analyseurs Premium XRF

Le X-550 est la nouvelle référence pour les systèmes XRF portatifs. Avec son poids de 1,3 kg (avec batterie), c'est l'analyseur XRF le plus compact, le plus léger et le plus rapide du marché. Il est rapide sur tous les alliages et aussi efficace sur l'aluminium que sur les métaux hautes températures pour le marché des déchets, et il est fourni avec des applications déjà installées pour les essais non destructifs (résidus, corrosion sulfurique, alliage).

Le X-550 s'appuie sur le tube à rayons X le plus puissant du secteur, avec une puissance jusqu'à trois fois supérieure en réglage Beam 2 (second faisceau) par rapport au SciAps X-505 et aux autres analyseurs XRF portatifs. Les capacités de géométrie et la puissance du tube uniques optimisent les performances pour les applications de mesure des éléments à faible numéro atomique, y compris la corrosion sulfurique (faible Si), le phosphore et le soufre, les alliages d'aluminium, ainsi que pour l'analyse des résidus conformément aux spécifications API 751 et 5L.

X-555

Les performances haut de gamme sont portées par la technologie XRF portable la plus avancée du marché, avec un tube à rayons X de 55 kV aux limites de détection très basses sur des éléments clés tels que Ag, Cd, Sn, Sb, et Ba. 

Jusqu'à trois paramètres de faisceau automatisés pour des performances optimales sur l'ensemble du tableau périodique, de Mg à U. 

Instrument robuste doté d'un logiciel de pointe et offrant une dissipation thermique exceptionnelle.

X-550 ou X-505 ?

Quelle est la différence entre les modèles haut de gamme X-550 et X-505 ? 

La réponse est simple : la vitesse sur les éléments à faible numéro atomique tels que Mg, Al, Si, P et S. 

Lorsque le X-550 fonctionne à une puissance de rayons X environ 3 fois supérieure au réglage « Beam 2 » (« Second faisceau », également appelé réglage basse tension) par rapport au X-505 ou à d'autres analyseurs XRF portatifs, les intensités des éléments Mg, Al, Si, P et S (ainsi que K, Ca et Cl dans d'autres applications) mesurées sont trois fois plus élevées. Les mesures produites par le X-550 sont donc trois fois plus rapides.

Analyseurs XRF Value

Vous recherchez la précision et le rendement des modèles haut de gamme, mais dans une série d'analyseurs moins chers ? La série « Value » a été entièrement repensée pour offrir une meilleure dissipation thermique, un poids réduit et une nouvelle interface utilisateur. Tous les composants électroniques internes utilisent moins d'énergie et fonctionnent à des températures plus élevées, sans dérive ni interruption.

  • Nouveau design léger de 1,4 kg avec batteries
  • Dissipation thermique repensée, peut désormais fonctionner en continu jusqu'à 43 °C
  • Logiciel et interface utilisateur modernisés, réétalonnage complet

X-200

Le SciAps X-200 offre une vitesse et une précision comparables à celles des marques haut de gamme concurrentes mais à un prix inférieur, le tout dans un format plus petit et plus léger. 

Le modèle X-200 avec détecteur au silicium à diffusion (SDD) est proposé à un prix compétitif pour toutes les exigences de performances. À peine plus lourd que la plateforme X-505/550, le X-200 offre toujours une vitesse et une précision de pointe. C'est la version économique du X-505.

  • Spécification : 40 kV, anode de Rh (alliage) ou 50 kV, anode d'Au (géochimie, sols, autres). Détecteur au silicium à diffusion de 20 mm2 de série et processeur d'impulsions numérique. 125k comptages/s, > 90 % sous tension.
  • Alliages : le meilleur rapport qualité/prix si le tri d'aluminium est quotidien, mais ne représente pas l'objectif principal. Nécessite un second test de faisceau de 8 – 10 s pour Mg à 0,8 % en base Al. Nécessite une durée de test du second faisceau de 5 – 6 secondes pour Al, Si, S et P. Nécessite 15 – 20 secondes pour mesurer Mg de 0,3 à 0,5 % dans les qualités 6063, 356, 3004, par exemple.
  • Géochimie et sols : offre une précision, des limites de détection et une plage élémentaire comparables à celles des autres grandes marques de spectrométrie XRF, mais dans un boîtier plus léger et à un prix inférieur.

X-50

Entièrement repensé, l'analyseur XRF SciAps X-50 est le plus performant du marché grâce à son détecteur SDD économique. 

Sa plateforme de détection offre des performances et une vitesse d'analyse de pointe pour sa catégorie, grâce à des fréquences 2 fois supérieures ou plus que les analyseurs des marques concurrentes.

Le X-50 est notre modèle le plus économique, pour une analyse de base très complète des transitions et des métaux lourds. 

  • Spécification : 40 kV, anode de Rh (alliage) ou anode d'Au (géochimie, sols, autres). Détecteur au silicium à diffusion (SDD) de 7 mm2, 15k comptages/s, 50 % sous tension.
  • Alliages : tri basique de l'acier inoxydable, des métaux haute température et des métaux rouges. Trie uniquement les alliages d'aluminium de MLC, de la série 2000 et de la série 7000.
  • Géochimie et sols : même suite d'éléments, mais avec une technologie de détecteur PiN à diode plus ancienne. Les durées de test seront beaucoup plus longues pour une précision identique, mais la plateforme X-50 est moins chère.

X-5

Le SciAps X-5 est un choix idéal pour l'analyse de base des métaux lourds et des transitions. 

Conçu pour les utilisateurs qui n'ont pas besoin des mesures de Mg, Al, Si, S ou P dans les alliages ou d'autres matériaux.

Pour ces utilisateurs, nous avons repensé une technologie classique et l'avons dotée de fonctionnalités supplémentaires adaptées à de nombreuses applications, pour un prix modique.

‍Alliages et déchets : pour les tâches de tests non destructifs/d'identification positive de matériaux (NDT/PMI) qui nécessitent la vérification d'alliages faibles, d'aciers Cr/Mo, d'alliages inoxydables et résistants à la corrosion, le X-5 offre souvent d'excellentes performances. Les applications sur les alliages comprennent le tri des aciers inoxydables, des alliages haute température et des métaux rouges.

Et ce n'est pas tout : le X-5 est également disponible pour les métaux précieux, la directive RoHS, les sols, l'exploitation minière, les catalyseurs automobiles, la peinture au plomb industrielle, ainsi que pour d'autres applications personnalisables par l'utilisateur.

Manuels d'utilisation

Veuillez contacter l'assistance pour obtenir les derniers manuels d'utilisation.

Téléchargements de logiciels

Veuillez contacter l'assistance pour obtenir la dernière version du logiciel.

La gamme XRF comme vous ne l'avez jamais vue.

La gamme XRF comme vous ne l'avez jamais vue.

La gamme d'analyseurs XRF haute précision la plus légère, la plus compacte et la plus rapide au monde. Pour des analyses poussées sur le terrain.

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