Les informations spécifiques au secteur commencent ici : découvrez comment Aeris XRD fournit des résultats importants. Apprendre encore plus

Apprendre encore plus
Aeris 0
Aeris 1
Aeris 2
Aeris 3
Aeris 4
Aeris 5

Aeris

L'avenir est compact

  • Système XRD de paillasse haute précision
  • Résultats précis en moins de cinq minutes
  • Options de détecteurs 0D, 1D et 2D
  • Configurations de mesure flexibles

Vous cherchez plus d’informations ?

Pour demander un devis, plus d’informations ou télécharger une brochure, sélectionnez une option ci-dessous.

Demander un devis Demander une démonstration Contact commercial Télécharger la brochure

Aperçu

Vous allez être surpris par notre système XRD extrêmement précis et rapide : Aeris. Des résultats précis prêts en moins de cinq minutes. Une acquisition si rapide de données de haute qualité n'a été réalisée que par de grands systèmes XRD posés au sol. L'Aeris compact est petit, puissant et le premier en la matière. 

Le chargement de l'échantillon en une étape associé à son accès utilisateur contrôlé et la possibilité de concevoir des programmes de collecte de données hors ligne résultent en un système pratique et polyvalent pour tous les utilisateurs, des débutants aux experts.  

Que votre application soit polyvalente ou spécialisée, Aeris peut vous aider.  

Om_logo.png   Fonctionne avec OmniTrust : la solution de conformité de Malvern Panalytical pour les environnements réglementés

Fonctionnalités

Durable

La conception modulaire du diffractomètre moderne et polyvalent* Aeris facilite les mises à niveau et ajouts optionnels. La disponibilité garantie des produits signifie une tranquillité d'esprit pour l'avenir. 

*Environnement contrôlé, réflexion, transmission, incidence rasante, diffraction 2D.

Fonctionnalité plug-and-play simple

Avec Aeris, vous n'avez pas besoin de l'expertise XRD. 

Son interface intuitive, ses programmes de mesure préchargés et son positionnement facile des échantillons rendent des résultats reproductibles d'excellente qualité accessibles à tous.

Chargement facile et reproductible des échantillons

Les porte-échantillons de précision et le système de chargement externe d'Aeris permettent à tous les utilisateurs de charger correctement les échantillons à chaque fois, et ce pour tout type d'échantillon, des poudres aux solides. 

Compatibilité avec les environnements réglementés

Grâce à un accès utilisateur contrôlé et à un logiciel de conformité, Aeris est prêt pour tous les flux de travail réglementés (conformément à la norme 21 CFR Part 11). 

Plusieurs utilisateurs sont gérés facilement.

Rapide et précis

Avec son goniomètre classique et son ordinateur intégré, les composants haute performance et les supports d'échantillons de précision de l'Aeris fournissent des résultats précis en seulement cinq minutes. 

L'avenir est compact

Great value to purchase, fast and easy to use, fantastic data; it's a winner!

Damian G. Research

Spécifications

Manipulation des échantillons

Chargement d'échantillon
Chargement externe de l'échantillon
Divers grands porte-échantillons capables de répondre à toutes les exigences
Changement d'échantillon
Grand passeur d'échantillon à 6 positions
Automatisation
Compatible avec l'intégration de l'automatisation

Génération de rayons X

Longueur d'onde
Cu / Co
Options de 300 W à 600 W réglé sur 30 kV ou 40 kV
Conception brevetée avec technologie de trajectoire intelligente du faisceau incident résistante à la corrosion (CRISP)
La technologie CRISP empêche la corrosion dans la trajectoire du faisceau incident causée par l'air ionisé par les rayons X. Brevet n°US 8437451 B2.

Goniomètre

Base configuration
Goniomètre vertical, couplé et découplé θ-θ, échantillons toujours horizontaux
Bragg-Brentano, transmission, incidence rasante
145 mm
-4° < 2 θ ≤ 142° (avec détecteur à balayage et pleine longueur active)
Système de positionnement optique direct (DOPS3) avec précision de la position à vie
2,17°/s max
Résolution
< 0,04° 2 θ sur LaB6 (avec fentes Soller de 0,01 de rayon)
< 0,04° 2 θ
0,001 °

Supports et détecteurs

Divers supports tournants
Option support chauffant (BTS-500, BTS-150)
Échange de supports PreFIX sans alignement
Sur demande (manuel, MPSS, in situ)
Détecteur
Choix entre les détecteurs PIXcel1D, PIXcel3D et 1Der

Général

Dimensions
690 x 770 x 786 mm
Système fermé avec chargement externe des échantillons
Inutile
Inutile
Alimentation électrique
100 – 240 V, monophasé
Ordinateur
PC de l'instrument interne
Operation
Interface utilisateur intuitive avec écran tactile de 10,4 po
Interface LAN, USB, HDMI

Accessoires

Détecteurs

1Der

Polyvalence et clarté des données ultimes dans la détection 1D

Le 1Der est la toute dernière addition à un portefeuille de détecteurs à semi-conducteurs de pointe pour les applications de diffraction des rayons X (XRD). Associé à une gamme inégalée de configurations optiques, le 1Der s’intègre parfaitement aux plateformes XRD pour allier simplicité d’utilisation, flexibilité maximale et clarté des données pour toutes les applications 0D et 1D.

Le 1Der est compatible avec toutes les sources de rayons X utilisées sur l’Empyrean et l’Aeris.

PIXcel1D

Technologie Medipix comme détecteur de bande dédié

Avec le détecteur PIXcel1D, vous disposez d’un détecteur à bande dédié pour les applications 0D et 1D. Vous pouvez mesurer jusqu’à 255 fois plus rapidement qu’avec un détecteur ponctuel traditionnel, sans compromettre la qualité des données. Sans besoin d’eau de refroidissement, de flux d’azote liquide, de gaz de comptage ou de calibrations chronophages, c’est une solution rentable.

Grâce à une résolution et une plage dynamique inégalées, le PIXcel1D peut être utilisé avec l’ensemble de nos diffractomètres.

PIXcel3D

Le premier détecteur à apporter des données 0D-1D-2D et 3D à votre diffractomètre

Le PIXcel3D est un détecteur à pixels 2D hybride à semi-conducteurs unique. Chaque pixel mesure 55 microns x 55 microns et l'ensemble de détection est de 256 x 256 pixels. Le détecteur, désormais basé sur la technologie Medipix3, apporte un rapport signal/bruit inégalé grâce à sa fonction de diffusion d'un seul pixel et à ses multiples niveaux de discrimination énergétique.

Manipulation des échantillons

Aeris associe une manipulation externe simple des échantillons à une utilisation intuitive par simple pression d’un bouton. Il offre une gamme d'options évolutives pour positionner l’échantillon sur sa plateforme externe. Grâce à son design modulaire, Aeris s’adapte aux besoins croissants de votre laboratoire, y compris en termes de débit d’échantillons. Nos solutions couvrent divers besoins, de la manipulation manuelle unique à la gestion automatique de plusieurs échantillons dans des environnements à haut débit. Aeris peut également être entièrement intégré à un laboratoire automatisé. Les porte-échantillons sont manipulés avec précision via des stations de positionnement externes et peuvent être remplacés sans interrompre les analyses en cours.

Chargement manuel des échantillons

Pour les utilisateurs manipulant un faible volume d’échantillons ou effectuant des changements peu fréquents, la plateforme externe permet de charger et de remplacer un échantillon à la fois. L’échantillon est ensuite automatiquement transféré vers la zone de mesure XRD, garantissant une manipulation précise à chaque analyse.

Chargement manuel des échantillons

Changeur d’échantillons à 6 positions

Le changeur d’échantillons à 6 positions permet le traitement par lot de six échantillons simultanément, améliorant ainsi l’efficacité et réduisant les interventions de l’opérateur. Idéal pour les laboratoires à débit moyen.

Changeur d’échantillons à 6 positions

Changeur d’échantillons haute capacité

Pour les environnements à haut débit, le changeur d’échantillons haute capacité Aeris est la solution idéale. Sa technologie éprouvée de manipulation robotisée des échantillons permet une analyse autonome de plus de 60 échantillons, améliorant l’efficacité des ressources de 50 %.

Pour en savoir plus
Changeur d’échantillons haute capacité

Manipulation automatisée des échantillons

Aeris s'intègre parfaitement aux laboratoires automatisés multi-systèmes, où l’instrument est piloté via l’interface UAI. Les échantillons sont amenés à l’instrument soit par un convoyeur relié à notre changeur automatisable, soit par un bras robotisé qui place directement les échantillons sur la plateforme de chargement.

Manipulation automatisée des échantillons

Solutions logicielles

Les instruments et mesures Aeris sont gérés par son logiciel de collecte de données intégré avec des programmes de mesure préchargés. Les utilisateurs peuvent également écrire leurs propres programmes.

Pour la quantification de phase, le contenu amorphe et plus encore, le logiciel RoboRiet intégré peuvent effectuer une analyse automatisée fournissant une visualisation immédiate à l'écran et un transfert vers des bases de données de résultats.

La mesure et l'analyse peuvent également être automatisées via X'Pert Industry. Industry offre une fonction de script unique pour personnaliser les méthodes de quantification basées sur la droite d'étalonnage et la collecte de données pour n'importe quelle application de contrôle de procédé. Le rapport des résultats est entièrement configurable pour les systèmes LIMS également.

Vous pouvez également effectuer vos propres analyses approfondies à l'aide de nos progiciels HighScore Plus ou Stress Plus.

Pour assurer la conformité réglementaire et l'intégrité des données, Omnitrust couvre vos exigences en matière de gestion des utilisateurs et d'audit des données dans un environnement réglementé.

RoboRiet

Une mise en œuvre spéciale d'exécution uniquement de la méthode Rietveld et du profil adapté à la quantification de phase XRD, à la quantification amorphe et plus encore. 

Pour en savoir plus
RoboRiet

Industry

Logiciel pour l'analyse de routine par diffraction des rayons X dans un environnement industriel, allant des systèmes non réglementés aux systèmes entièrement réglementés, et des systèmes contrôlés manuellement aux systèmes entièrement automatisés.

Pour en savoir plus
Industry

HighScore Plus

Après l'identification de toutes les phases présentes dans votre échantillon, cette suite logicielle tout-en-un continue de prendre en charge votre analyse, de la quantification avec ou sans la méthode Rietveld à l'ajustement de profil et au traitement de figure.

Pour en savoir plus
HighScore Plus

Stress Plus

Le logiciel Stress Plus est dédié à l'analyse par diffraction des rayons X (XRD) de la contrainte résiduelle dans les revêtements polycristallins. Le logiciel effectue une analyse sin²ψ des contraintes résiduelles à l'aide de techniques unidirectionnelles et multidirectionnelles. 

Pour en savoir plus
Stress Plus

Éditions expertise

Aeris facilite la caractérisation et l'analyse de tout échantillon dans les environnements de recherche et industriels. Mais parfois, votre application a besoin d'une solution spécialisée, ou vous avez besoin d'une alternative à un système XRD de paillasse étalonnée et prête à l'emploi.

Pour répondre à ce besoin, des éditions d'Aeris sur mesure et spécifiques à l'industrie sont également disponibles prêtes à l'emploi. Ces versions spécialisées pour l'industrie sont fournies avec des progiciels d'expertise personnalisables, pré-étalonnés pour vos méthodes d'analyse spécifiques ou votre matériau d'échantillonnage. Votre Aeris sera préparé pour la mesure et l'analyse automatisées grâce au logiciel RoboRiet intégré. Toujours prêt ! 

Trouvez votre édition ci-dessous :

Manuels d'utilisation

Téléchargements de logiciels

23 June 2025

1.7a

OmniTrust software update v1.7a

1.7a

20 July 2023

1.60

OmniAccess   

  • Flexible/configurable roles in Empyrean and Aeris (now aligns with Zetasizer) 
  • Summary of roles/permissions 
  • Default roles for instrument applications 
  • Support for complex domains 
  • Wizard for initial set up and massively improved UI to improve configuration/set up 

OmniTrail  

  • Record Audit trail events viewable in OmniTrail. 
  • Show/compare authorization files 

More information can be found in the Release and Installation Notes.

1.60

16 December 2021

1.40

OmniAccess   

  • Flexible/configurable roles in Empyrean and Aeris (now aligns with Zetasizer) 
  • Summary of roles/permissions 
  • Default roles for instrument applications 
  • Support for complex domains 
  • Wizard for initial set up and massively improved UI to improve configuration/set up 

OmniTrail  

  • Record Audit trail events viewable in OmniTrail. 
  • Show/compare authorization files 

More information can be found in the Release and Installation Notes.

1.40

Assistance

Services

Solutions pour optimiser votre retour sur investissement

Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.

Assistance

Service à vie

  • Assistance téléphonique et à distance
  • Maintenance préventive et contrôles
  • Contrats de service client flexibles
  • Certificat de performances
  • Mises à niveau matérielles et logicielles
  • Assistance locale et mondiale

Expertise

Ajout de valeur à vos procédés 

  • Développement/optimisation de la préparation d'échantillons
  • Méthodes analytiques 
  • Solutions clé en main pour XRD 
  • Opérations via QI/QO/QP, assurance qualité (BPL, ISO17025) ou études d'essais comparatifs/interlaboratoires
  • Services de conseils

Formation et éducation

  • Formation sur site ou dans nos centres de compétence
  • Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels
Encombrement réduit, GRANDE importance.

Encombrement réduit, GRANDE importance.

La XRD rapide de haute qualité, adaptée à vos besoins. Prêt pour l'automatisation et l'intégration. Compact et moderne.

Demander un devis Demander une démonstration Contact commercial