Système XRD pour paillasse Aeris

Aperçu

Vous allez être surpris par notre système XRD extrêmement précis et rapide : Aeris. Des résultats précis prêts en moins de cinq minutes. Une acquisition si rapide de données de haute qualité n'a été réalisée que par de grands systèmes XRD posés au sol. L'Aeris compact est petit, puissant et le premier en la matière.

Le chargement de l'échantillon en une étape associé à son accès utilisateur contrôlé et la possibilité de concevoir des programmes de collecte de données hors ligne résultent en un système pratique et polyvalent pour tous les utilisateurs, des débutants aux experts. 

Que votre application soit polyvalente ou spécialisée, Aeris peut vous aider. 

Fonctionne avec OmniTrust : la solution de conformité de Malvern Panalytical pour les environnements réglementés

Une analyse de phase pour chaque échantillon

Aeris Édition Research

Optimiser la production de ciment

Aeris Édition Cement

Optimiser le traitement des minerais

Aeris Édition Minerals

Optimiser le processus de fabrication de l'acier

Aeris Édition Metals

Analyse des formes solides pour le développement et la production de produi...

Aeris XRD pour l'industrie pharmaceutique

Fonctionnalités

Durable

La conception modulaire du diffractomètre moderne et polyvalent* Aeris facilite les mises à niveau et ajouts optionnels. La disponibilité garantie des produits signifie une tranquillité d'esprit pour l'avenir.

*Environnement contrôlé, réflexion, transmission, incidence rasante, diffraction 2D.

Fonctionnalité plug-and-play simple

Avec Aeris, vous n'avez pas besoin de l'expertise XRD.

Son interface intuitive, ses programmes de mesure préchargés et son positionnement facile des échantillons rendent des résultats reproductibles d'excellente qualité accessibles à tous.

Chargement facile et reproductible des échantillons

Les porte-échantillons de précision et le système de chargement externe d'Aeris permettent à tous les utilisateurs de charger correctement les échantillons à chaque fois, et ce pour tout type d'échantillon, des poudres aux solides.

Compatibilité avec les environnements réglementés

Grâce à un accès utilisateur contrôlé et à un logiciel de conformité, Aeris est prêt pour tous les flux de travail réglementés (conformément à la norme 21 CFR Part 11).

Plusieurs utilisateurs sont gérés facilement.

Rapide et précis

Avec son goniomètre classique et son ordinateur intégré, les composants haute performance et les supports d'échantillons de précision de l'Aeris fournissent des résultats précis en seulement cinq minutes.

L'avenir est compact

Great value to purchase, fast and easy to use, fantastic data; it's a winner!

Damian G. Research

Chargement d'échantillon	Chargement externe de l'échantillon
Sample holders	Divers grands porte-échantillons capables de répondre à toutes les exigences
Changement d'échantillon	Grand passeur d'échantillon à 6 positions
Automatisation	Compatible avec l'intégration de l'automatisation

Longueur d'onde	Cu / Co
Tube setting	Options de 300 W à 600 W réglé sur 30 kV ou 40 kV
Tube housing	Conception brevetée avec technologie de trajectoire intelligente du faisceau incident résistante à la corrosion (CRISP) La technologie CRISP empêche la corrosion dans la trajectoire du faisceau incident causée par l'air ionisé par les rayons X. Brevet n°US 8437451 B2.

Base configuration	Goniomètre vertical, couplé et découplé θ-θ, échantillons toujours horizontaux
Geometry	Bragg-Brentano, transmission, incidence rasante
Radius	145 mm
Maximum 2θ range	-4° < 2 θ ≤ 142° (avec détecteur à balayage et pleine longueur active)
Angle positioning	Système de positionnement optique direct (DOPS3) avec précision de la position à vie
Scan Speed	2,17°/s max
Résolution	< 0,04° 2 θ sur LaB6 (avec fentes Soller de 0,01 de rayon)
2θ linearity	< 0,04° 2 θ
Smallest addressable increment	0,001 °

Spinning	Divers supports tournants
Non-ambient	Option support chauffant (BTS-500, BTS-150)
Exchange of stages	Échange de supports PreFIX sans alignement
Special stages	Sur demande (manuel, MPSS, in situ)
Détecteur	Choix entre les détecteurs PIXcel1D, PIXcel3D et 1Der

Dimensions	690 x 770 x 786 mm
Dust protection	Système fermé avec chargement externe des échantillons
External cooling water supply	Inutile
Compressed air supply	Inutile
Alimentation électrique	100 – 240 V, monophasé
Ordinateur	PC de l'instrument interne
Operation	Interface utilisateur intuitive avec écran tactile de 10,4 po
Interface	LAN, USB, HDMI

Manipulation des échantillons

Aeris associe une manipulation externe simple des échantillons à une utilisation intuitive par simple pression d’un bouton. Il offre une gamme d'options évolutives pour positionner l’échantillon sur sa plateforme externe. Grâce à son design modulaire, Aeris s’adapte aux besoins croissants de votre laboratoire, y compris en termes de débit d’échantillons. Nos solutions couvrent divers besoins, de la manipulation manuelle unique à la gestion automatique de plusieurs échantillons dans des environnements à haut débit. Aeris peut également être entièrement intégré à un laboratoire automatisé. Les porte-échantillons sont manipulés avec précision via des stations de positionnement externes et peuvent être remplacés sans interrompre les analyses en cours.

Chargement manuel des échantillons

Pour les utilisateurs manipulant un faible volume d’échantillons ou effectuant des changements peu fréquents, la plateforme externe permet de charger et de remplacer un échantillon à la fois. L’échantillon est ensuite automatiquement transféré vers la zone de mesure XRD, garantissant une manipulation précise à chaque analyse.

Changeur d’échantillons à 6 positions

Le changeur d’échantillons à 6 positions permet le traitement par lot de six échantillons simultanément, améliorant ainsi l’efficacité et réduisant les interventions de l’opérateur. Idéal pour les laboratoires à débit moyen.

Changeur d’échantillons haute capacité

Pour les environnements à haut débit, le changeur d’échantillons haute capacité Aeris est la solution idéale. Sa technologie éprouvée de manipulation robotisée des échantillons permet une analyse autonome de plus de 60 échantillons, améliorant l’efficacité des ressources de 50 %.

Pour en savoir plus

Manipulation automatisée des échantillons

Aeris s'intègre parfaitement aux laboratoires automatisés multi-systèmes, où l’instrument est piloté via l’interface UAI. Les échantillons sont amenés à l’instrument soit par un convoyeur relié à notre changeur automatisable, soit par un bras robotisé qui place directement les échantillons sur la plateforme de chargement.

Solutions logicielles

Les instruments et mesures Aeris sont gérés par son logiciel de collecte de données intégré avec des programmes de mesure préchargés. Les utilisateurs peuvent également écrire leurs propres programmes.

Pour la quantification de phase, le contenu amorphe et plus encore, le logiciel RoboRiet intégré peuvent effectuer une analyse automatisée fournissant une visualisation immédiate à l'écran et un transfert vers des bases de données de résultats.

La mesure et l'analyse peuvent également être automatisées via X'Pert Industry. Industry offre une fonction de script unique pour personnaliser les méthodes de quantification basées sur la droite d'étalonnage et la collecte de données pour n'importe quelle application de contrôle de procédé. Le rapport des résultats est entièrement configurable pour les systèmes LIMS également.

Vous pouvez également effectuer vos propres analyses approfondies à l'aide de nos progiciels HighScore Plus ou Stress Plus.

Pour assurer la conformité réglementaire et l'intégrité des données, Omnitrust couvre vos exigences en matière de gestion des utilisateurs et d'audit des données dans un environnement réglementé.

RoboRiet

Une mise en œuvre spéciale d'exécution uniquement de la méthode Rietveld et du profil adapté à la quantification de phase XRD, à la quantification amorphe et plus encore.

Pour en savoir plus

Industry

Logiciel pour l'analyse de routine par diffraction des rayons X dans un environnement industriel, allant des systèmes non réglementés aux systèmes entièrement réglementés, et des systèmes contrôlés manuellement aux systèmes entièrement automatisés.

Pour en savoir plus

HighScore Plus

Après l'identification de toutes les phases présentes dans votre échantillon, cette suite logicielle tout-en-un continue de prendre en charge votre analyse, de la quantification avec ou sans la méthode Rietveld à l'ajustement de profil et au traitement de figure.

Pour en savoir plus

Stress Plus

Le logiciel Stress Plus est dédié à l'analyse par diffraction des rayons X (XRD) de la contrainte résiduelle dans les revêtements polycristallins. Le logiciel effectue une analyse sin²ψ des contraintes résiduelles à l'aide de techniques unidirectionnelles et multidirectionnelles.

Pour en savoir plus

Aeris

L'avenir est compact

Aperçu

Fonctionnalités

Durable

Fonctionnalité plug-and-play simple

Chargement facile et reproductible des échantillons

Compatibilité avec les environnements réglementés

Rapide et précis

L'avenir est compact

Spécifications

Manipulation des échantillons

Génération de rayons X

Goniomètre

Supports et détecteurs

Général

Accessoires

Détecteurs

Manipulation des échantillons

Chargement manuel des échantillons

Changeur d’échantillons à 6 positions

Changeur d’échantillons haute capacité

Manipulation automatisée des échantillons

Solutions logicielles

RoboRiet

Industry

HighScore Plus

Stress Plus

Éditions expertise

Manuels d'utilisation

Téléchargements de logiciels

Assistance

Services

Solutions pour optimiser votre retour sur investissement

Assistance

Expertise

Formation et éducation

Publications

Encombrement réduit, GRANDE importance.