Aeris Guía de usuario
Numéro de version: 8
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L'association de la convivialité et des performances permet à votre travail en laboratoire d'atteindre de nouveaux sommets.
Elle vous fournit des informations plus pertinentes et des données plus approfondies pour vous permettre d'obtenir des réponses de manière plus efficace, d'affiner vos matériaux, de faire progresser vos connaissances et de repousser cette frontière scientifique.
Quel que soit le projet sur lequel vous travaillez, l'acquisition rapide des informations de phase de votre échantillon peut être cruciale pour votre recherche.
Il vous suffit de recueillir les données de diffraction des rayons X à l'aide d'Aeris Research, puis d'employer la suite HighScore pour obtenir une mine d'informations cristallographiques.
Avec des configurations de mesure comprenant la réflexion, la transmission et la diffraction à incidence rasante des rayons X (GIXRD), vous avez tout le nécessaire pour obtenir les données les plus pertinentes pour tout type de matériau polycristallin.
Le diffractomètre à rayons X le plus intuitif : Aeris est un diffractomètre à rayons X pour paillasse facile d'utilisation et intuitif. Avec son fonctionnement intuitif, Aeris rend la diffraction des rayons X si facile qu'elle est accessible à tous.
L'interface utilisateur à écran tactile unique vous permet de suivre sans effort le processus de mesure de vos échantillons. Vos résultats sont toujours disponibles en quelques tapotements :
Des performances qui dépassent toutes les attentes
Aeris est l'instrument incontournable pour une identification de phase rapide et fiable, ainsi que pour l'analyse Rietveld des échantillons de poudre.
Grâce à l'incorporation des technologies qui ont déjà prouvé leurs avantages sur les systèmes haut de gamme de Malvern Panalytical, l'Édition Research d'Aeris fournit une qualité de données qui n'était auparavant possible qu'avec un système encombrant et posé au sol.
Avec le détecteur 2D en option, vous pouvez enseigner les éléments fondamentaux de la diffraction de poudre de manière visuelle.
Extrêmement flexible, Aeris rend possibles toutes sortes de mesures de diffraction de poudre.
Cet instrument peut accueillir différents types de porte-échantillons conjointement avec un passeur d'échantillon et peut être équipé d'un BTS 500 Benchtop Heating Stage.
Pas d'eau de refroidissement, pas de refroidisseur, pas d'air comprimé.
La seule chose dont vous ayez besoin est une prise électrique à phase unique.
The instrument is desktop, easy to use, analyzes the samples very quickly and is economic."
Sacari Sacari Elisban Juani — Universidad Nacional Jorge Basadre Grohmann
| Chargement d'échantillon | Chargement externe de l'échantillon |
|---|---|
| Sample holders | Divers grands porte-échantillons capables de répondre à toutes les exigences |
| Changement d'échantillon | Choisissez entre une station de chargement manuelle, un passeur d'échantillons à 6 positions ou un passeur d'échantillons haute capacité à 67 positions
|
| Automatisation | Grand passeur d'échantillon à 6 positions |
| Longueur d'onde | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | Options de 300 W à 600 W réglé sur 30 kV ou 40 kV |
| Tube housing | Conception brevetée avec technologie de trajectoire intelligente du faisceau incident résistante à la corrosion (CRISP)
La technologie CRISP empêche la corrosion dans la trajectoire du faisceau incident causée par l'air ionisé par les rayons X. Brevet n°US 8437451 B2.
|
| Base configuration | Goniomètre vertical, couplé et découplé θ-θ, échantillons toujours horizontaux |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmission, incidence rasante |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2 θ ≤ 142° (avec détecteur à balayage et pleine longueur active) |
| Angle positioning | Système de positionnement optique direct (DOPS3) avec précision de la position à vie |
| Scan Speed | 2,17°/s max |
| Résolution | < 0,04° 2 θ sur LaB6 (avec fentes Soller de 0,01 de rayon) |
| 2θ linearity | < 0,04° 2 θ |
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Divers supports tournants |
|---|---|
| Non-ambient | Option support chauffant (BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | Échange de supports PreFIX sans alignement |
| Special stages | Sur demande (manuel, MPSS, in situ) |
| Détecteur | Choix entre les détecteurs PIXcel1D, PIXcel3D et 1Der |
| Dimensions | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Système fermé avec chargement externe des échantillons |
| External cooling water supply | Inutile |
| Compressed air supply | Inutile |
| Alimentation électrique | 100 – 240 V, monophasé |
| Ordinateur | PC de l'instrument interne |
| Operation | Interface utilisateur intuitive avec écran tactile de 10,4 po |
| Interface | LAN, USB, HDMI |
Numéro de version: 8
Numéro de version: 8
Numéro de version: 6
Numéro de version: 7
Numéro de version: 8
Numéro de version: 8
Numéro de version: 8
Numéro de version: 2
Numéro de version: 4
Numéro de version: 3
Numéro de version: 2
Numéro de version: 4
Numéro de version: 2
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.
Service à vie
Ajout de valeur à vos procédés
L'association de la convivialité et des performances permet à votre travail en laboratoire d'atteindre de nouveaux sommets.
Elle vous fournit des informations plus pertinentes et des données plus approfondies pour vous permettre d'obtenir des réponses de manière plus efficace, d'affiner vos matériaux, de faire progresser vos connaissances et de repousser cette frontière scientifique.
Quel que soit le projet sur lequel vous travaillez, l'acquisition rapide des informations de phase de votre échantillon peut être cruciale pour votre recherche.
Il vous suffit de recueillir les données de diffraction des rayons X à l'aide d'Aeris Research, puis d'employer la suite HighScore pour obtenir une mine d'informations cristallographiques.
Avec des configurations de mesure comprenant la réflexion, la transmission et la diffraction à incidence rasante des rayons X (GIXRD), vous avez tout le nécessaire pour obtenir les données les plus pertinentes pour tout type de matériau polycristallin.
Le diffractomètre à rayons X le plus intuitif : Aeris est un diffractomètre à rayons X pour paillasse facile d'utilisation et intuitif. Avec son fonctionnement intuitif, Aeris rend la diffraction des rayons X si facile qu'elle est accessible à tous.
L'interface utilisateur à écran tactile unique vous permet de suivre sans effort le processus de mesure de vos échantillons. Vos résultats sont toujours disponibles en quelques tapotements :
Des performances qui dépassent toutes les attentes
Aeris est l'instrument incontournable pour une identification de phase rapide et fiable, ainsi que pour l'analyse Rietveld des échantillons de poudre.
Grâce à l'incorporation des technologies qui ont déjà prouvé leurs avantages sur les systèmes haut de gamme de Malvern Panalytical, l'Édition Research d'Aeris fournit une qualité de données qui n'était auparavant possible qu'avec un système encombrant et posé au sol.
Avec le détecteur 2D en option, vous pouvez enseigner les éléments fondamentaux de la diffraction de poudre de manière visuelle.
Extrêmement flexible, Aeris rend possibles toutes sortes de mesures de diffraction de poudre.
Cet instrument peut accueillir différents types de porte-échantillons conjointement avec un passeur d'échantillon et peut être équipé d'un BTS 500 Benchtop Heating Stage.
Pas d'eau de refroidissement, pas de refroidisseur, pas d'air comprimé.
La seule chose dont vous ayez besoin est une prise électrique à phase unique.
The instrument is desktop, easy to use, analyzes the samples very quickly and is economic."
Sacari Sacari Elisban Juani — Universidad Nacional Jorge Basadre Grohmann
| Chargement d'échantillon | Chargement externe de l'échantillon |
|---|---|
| Sample holders | Divers grands porte-échantillons capables de répondre à toutes les exigences |
| Changement d'échantillon | Choisissez entre une station de chargement manuelle, un passeur d'échantillons à 6 positions ou un passeur d'échantillons haute capacité à 67 positions
|
| Automatisation | Grand passeur d'échantillon à 6 positions |
| Longueur d'onde | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | Options de 300 W à 600 W réglé sur 30 kV ou 40 kV |
| Tube housing | Conception brevetée avec technologie de trajectoire intelligente du faisceau incident résistante à la corrosion (CRISP)
La technologie CRISP empêche la corrosion dans la trajectoire du faisceau incident causée par l'air ionisé par les rayons X. Brevet n°US 8437451 B2.
|
| Base configuration | Goniomètre vertical, couplé et découplé θ-θ, échantillons toujours horizontaux |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmission, incidence rasante |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2 θ ≤ 142° (avec détecteur à balayage et pleine longueur active) |
| Angle positioning | Système de positionnement optique direct (DOPS3) avec précision de la position à vie |
| Scan Speed | 2,17°/s max |
| Résolution | < 0,04° 2 θ sur LaB6 (avec fentes Soller de 0,01 de rayon) |
| 2θ linearity | < 0,04° 2 θ |
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Divers supports tournants |
|---|---|
| Non-ambient | Option support chauffant (BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | Échange de supports PreFIX sans alignement |
| Special stages | Sur demande (manuel, MPSS, in situ) |
| Détecteur | Choix entre les détecteurs PIXcel1D, PIXcel3D et 1Der |
| Dimensions | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Système fermé avec chargement externe des échantillons |
| External cooling water supply | Inutile |
| Compressed air supply | Inutile |
| Alimentation électrique | 100 – 240 V, monophasé |
| Ordinateur | PC de l'instrument interne |
| Operation | Interface utilisateur intuitive avec écran tactile de 10,4 po |
| Interface | LAN, USB, HDMI |
Numéro de version: 8
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Numéro de version: 6
Numéro de version: 7
Numéro de version: 8
Numéro de version: 8
Numéro de version: 8
Numéro de version: 2
Numéro de version: 4
Numéro de version: 3
Numéro de version: 2
Numéro de version: 4
Numéro de version: 2
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
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OmniTrail
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Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.
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