HighScore Plus

L'outil idéal pour l'analyse cristallographique et bien plus encore

Que vous soyez intéressé par l'amélioration du contrôle de procédé, ou que vous effectuiez des activités de recherche et développement, la compréhension de vos matériaux commence très souvent par comprendre la figure de diffraction de poudre.

Après l'identification de toutes les phases présentes dans votre échantillon avec le HighScore de Malvern Panalytical, cette suite logicielle tout-en-un avec l'option Plus continue à vous aider dans votre analyse. Que vous vous concentriez sur la quantification avec ou sans la méthode de Rietveld, l'ajustement de profil ou le traitement de figure, HighScore Plus est la solution qui vous permet d'effectuer vos analyses quotidiennes.

Nous sommes fiers de vous présenter les tutoriels vidéo de notre client, JIAM Diffraction Facility de l'Université du Tennessee (États-Unis). Faites défiler l'écran vers le bas pour voir d'autres vidéos.

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Présentation générale

Progiciel en développement continu

Nous innovons et mettons à jour en permanence la suite HighScore pour vous offrir la boîte à outils la plus complète et la plus conviviale pour la diffraction des rayons X. La dernière version (version 5.1) de l'option Plus comprend plusieurs nouvelles fonctions :

  • Lots intelligents comprenant des étapes décisionnelles et des boucles dans un organigramme
  • Génération plus rapide de modèles de régression des moindres carrés partiels (PLSR) avec optimisation automatique du modèle et rapport graphique
  • Ajout d'une méthode d'analyse par cluster t-SNE et de tracés (conservation des relations de voisinage locales par rapport à l'analyse en composantes principales (PCA), conservation des différences les plus importantes)
  • Prise en charge de la base de données structurelle de Cambridge version 2020

Lorsque vous utilisez HighScore/HighScore Plus dans un article scientifique, veuillez utiliser la citation suivante : 

The HighScore suite, T. Degen, M. Sadki, E. Bron, U. König, G. Nénert; Powder Diffraction / Volume 29 / Supplement S2 / December 2014, pp S13-S18

Fonctionnalités

Analyse cristallographique complète

HighScore doté de l'option Plus contient quatre routines d'indexation classiques (Ito, Dicvol, Treor ou McMaille). L'affinement de la maille élémentaire inclut un décalage nul ou un déplacement d'échantillon. Le test du groupe d'espace est effectué sur le profil complet (ajustement Le Bail) ou sur les pics indexés. Il est également possible de réaliser un ajustement Pawley pour affiner les paramètres de réseau.

Les transformations de réseau et de structure ainsi que les réductions de mailles sont prises en charge. Une standardisation automatique des paramètres de groupe d'espace non standard est possible lors du chargement de telles données de structure.

L'outil d'exploration de symétrie contient la symétrie des cristaux, les groupes de Laue et de points, les conditions de réflexion et les positions spéciales des 230 groupes d'espace standard. Des données supplémentaires couvrent les quelques 150 groupes d'espace non standard utilisés dans la base de données structurelle de l'ICSD.

Classification automatique ou analyse par cluster

HighScore doté de l'option Plus facilite le traitement rapide de gros volumes de données.

L'analyse par cluster trie automatiquement toutes les acquisitions d'une expérience en clusters étroitement liés et marque l'acquisition la plus représentative de chaque cluster, ainsi que les valeurs aberrantes. Ceci est particulièrement utile pour les expériences à environnement contrôlé, les échantillons miniers et la cartographie des sols, les campagnes de criblage à haut débit et le contrôle de l'uniformité des produits industriels.

Une analyse en composantes principales (PCA) permet de visualiser les clusters déterminés mathématiquement. Elle indique les zones de confiance autour de chaque cluster. 

La comparaison visuelle de toutes les acquisitions d'un cluster est possible ainsi que l'affichage de la distribution des clusters (sur une grille de mesure, sur une plaque à puits).

Visualisation de la structure

Avec la fonctionnalité de tracé de structure 3D, vous pouvez choisir les couleurs des atomes, la visualisation polyédrique, et décaler, tourner, faire pivoter et effectuer un zoom sur la structure afin d'obtenir la meilleure vue.

Solution de structure

HighScore doté de l'option Plus prend en charge l'algorithme de retournement de charge et les tracés de Fourier de différence pour la détermination de la structure cristalline à partir des données de diffraction de poudre.

Affinements de la structure/Rietveld

HighScore doté de l'option Plus présente de nombreux avantages pour les affinements de Rietveld.

Des lots et des stratégies automatiques permettent à l'utilisateur novice d'effectuer une analyse de phase quantitative, y compris la détermination d'un composant amorphe. La commande d'affinement affiche une image complète de l'ensemble des paramètres, limites et contraintes impliqués. 

La vérification de la gamme et les contraintes automatiques ou manuelles garantissent la stabilité et la reproductibilité des affinements. Aucune séquence d'activation de paramètre n'est requise ; c'est le solutionneur propriétaire qui s'en charge.

Trois fonctions de profil, dont une fonction Voigt véritable, sont prises en charge, ce qui est particulièrement important pour la détermination de la microdéformation de la taille des cristallites. Les ajustements Le Bail sont possibles et les ajustements de la phase hkl prennent en charge l'inclusion de phases structurelles inconnues.  L'algorithme « superflip » de L. Palatinus est inclus pour résoudre les structures cristallines à partir de données de poudre de haute qualité.

Nouvelles fonctionnalités de HighScore doté de l'option Plus 5.1

  • Analyse par cluster : ajout du tracé de mise à l'échelle multidimensionnelle métrique (MMDS) 
  • Ajout de l'importation de données au format matrice à partir du presse-papiers ou de MS-Excel
  • Échange facile des méthodes entre les utilisateurs

Spécifications

Bases de données de référence

HighScore Plus prend en charge l'utilisation simultanée de plusieurs bases de données de référence. Vous pouvez effectuer des recherches dans les bases de données inorganiques et organiques simultanément. Tous les types de bases de données de référence, des actuels aux anciens, des produits ICDD de qualité supérieure aux solutions de milieu de gamme en passant par les bases de données téléchargeables gratuitement, sont pris en charge.

Configuration système recommandée

Conçu pour les systèmes d'exploitation Windows 8.1 (64 bits) et Windows 10 (64 bits) option Current Branch for Business.

Une configuration PC correspondant à la configuration matérielle minimale requise pour le système d'exploitation Windows souhaité sera suffisante.

Version actuelle 5,1