Suite logicielle de diffraction des rayons X de Malvern Panalytical

Nos logiciels de diffraction des rayons X sont conçus pour extraire toutes les informations des matériaux. Notre logiciel intuitif de collecte de données est particulièrement adapté à la recherche ou à l'utilisation des contrôles de procédé. Nous proposons également des modules d'analyse de pointe pour toutes les applications de diffraction des rayons X disponibles sur nos instruments.

Logiciel d'acquisition de données pour diffractomètres polyvalents

Ces modules logiciels permettent de bénéficier de toutes les fonctionnalités des systèmes polyvalents Empyrean, X’Pert³ Powder ou X’Pert³ MRD.

Data Collector constitue la boîte à outils logicielle centrale de l'acquisition de données pour Empyrean, X’Pert³ MRD (XL) et X’Pert³ Powder. XRD2DScan permet de convertir facilement des ensembles de données 2D en tracés 1D pour une analyse plus approfondie. Nous proposons en option un module Audit Trail destiné aux environnements réglementés.

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Data Collector

Data Collector permet d'effectuer toutes les acquisitions de données sur les poudres, couches minces, nanomatériaux et solides.

XRD2DScan

Visualisez vos données de diffraction 2D et convertissez-les en différentes acquisitions 1D grâce à XRD2DSCAN.

Logiciel pour les applications de contrôle de procédé de diffraction de poudre

Contrôlez votre système CubiX³ ou X’Pert³ Powder en mesurant la diffraction des poudres et obtenez des résultats quantitatifs basés sur des droites d'étalonnage.

Industry est conçu pour les environnements industriels et dispose d'une interface à boutons et de nombreuses fonctionnalités LIMS et d'automatisation. Grâce à l'interface Walk-up en option, les environnements multi-utilisateurs sont bien pris en charge. Quantify est une version simplifiée équipée de 10 modules d'analyse quantitative préprogrammés.

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Industry

Notre logiciel Industry est conçu pour l'analyse de diffraction des rayons X de routine à haut volume dans un environnement industriel.

Quantify

Quantify est un logiciel autonome destiné à l'acquisition de données de base et à l'analyse de phase quantitative basée sur des droites d'étalonnage.

Interface Walk-up

Avec l'option Walk-up du logiciel Industry, vous optimisez votre CubiX³ pour les environnements multi-utilisateurs.

Audit Trail

Audit Trail est conçu pour permettre l'utilisation de nos diffractomètres de poudre dans les environnements réglementés.

Modules logiciels de diffraction de poudre

Notre gamme HighScore de logiciels de diffraction de poudre est conçue pour extraire toutes les informations de phase, des poudres libres et compactées, et autres échantillons polycristallins.

Découvrez HighScore, le logiciel de recherche-correspondance le plus avancé au monde grâce à sa prise en charge étendue de diverses bases de données de recherche-correspondance telles que CanDI-X. L'option HighScore Plus propose des programmes supplémentaires pour la cristallographie, l'analyse par cluster illimitée et l'analyse de Rietveld, en plus de toutes les fonctionnalités déjà présentes sur HighScore. RoboRiet offre une quantification Rietveld avec « exécution simple » et un ajustement des profils pour les environnements industriels.

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HighScore

HighScore, notre logiciel de diffraction de poudre, a également été conçu et optimisé pour l'identification de phase ainsi que pour l'affinement de profil de profondeur des phases dans les revêtements polycrystallins.

Option Plus pour HighScore 

À HighScore s'ajoute notre option Plus qui contient notamment des solutions de cristallographie, d'analyse par cluster illimitée ou d'affinement de structure/Rietveld au sein de la même interface utilisateur.

Bases de données de recherche-correspondance de référence

Nous prenons en charge un très grand nombre de bases de données de recherche-correspondance pour des performances optimales en identification de phase.

RoboRiet

RoboRiet est une mise en œuvre spécifique avec « exécution simple » de la méthode de Rietveld et de l'ajustement des profils pour les environnements industriels.

Analyse par diffraction des rayons X des couches minces

Nos modules logiciels pour couches minces permettent d'obtenir des informations détaillées sur l'épaisseur, la composition, l'orientation préférentielle, la qualité épitaxiale et la contrainte résiduelle des couches.

Ces paramètres essentiels des couches minces sont facilement et rapidement quantifiés avec la nouvelle suite logicielle complète AMASS (Advanced Material Analysis and Simulation Software, Logiciel avancé d'analyse et de simulation de matériaux). 

Pour les couches polycristallines et les empilements de couches, vous pouvez établir la composition de la phase, également en fonction de la profondeur, grâce à notre logiciel HighScore, et déterminer les contraintes résiduelles grâce à notre logiciel Stress Plus.

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AMASS

Notre suite logicielle AMASS offre toutes les fonctionnalités dont vous avez besoin pour caractériser vos structures multicouches, ce qui vous permet de déterminer rapidement et facilement les principaux paramètres des couches minces.

Stress Plus

Grâce à notre module Stress Plus qui complète notre logiciel Stress, il est possible de déterminer les contraintes résiduelles dans les couches polycristallines.

Analyse de la taille et de la forme des nanomatériaux

Logiciel d'analyse des données EasySAXS pour l'analyse des nanoparticules et des nanostructures. Il fournit des informations sur les structures et les dimensions à l'échelle nanométrique, les formes de nanoparticules et les surfaces spécifiques. Le logiciel permet également d'analyser des données de diffusion de rayons X aux ultra-petits angles (USAXS).

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Logiciel avancé d'analyse de données SAXS

Le logiciel EasySAXS est un programme avancé et convivial pour l'analyse des données SAXS (Small-Angle X-ray Scattering ou diffusion de rayons X aux petits angles).

Analyse des objets solides

Nos modules logiciels Texture et Stress indiquent l'orientation préférentielle et les contraintes résiduelles présentes dans les composants usinés tels que les métaux laminés et extrudés.

Stress est acclamé par des experts du monde entier pour ses nombreuses fonctionnalités intuitives. Le module optionnel Stress Plus ajoute au logiciel Stress la fonctionnalité d'analyse de la contrainte résiduelle dans les couches minces.
Texture offre de nombreuses fonctionnalités destinées à l'analyse des figures de pôles, des fonctions de distribution de l'orientation (ODF) et des figures de pôles inversées.

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Stress

Notre logiciel intuitif Stress calcule les contraintes résiduelles dans vos échantillons à l'aide de la méthode sin2Ψ.

Stress Plus

Grâce à l'option Stress Plus, vous étendez les fonctionnalités de votre logiciel Stress à l'analyse de couches polycristallines et minces.

Texture

Texture est notre logiciel qui vous permet d'analyser, de calculer et de visualiser les orientations privilégiées des cristallites.