Analyse des contraintes

Analyse des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X

Le logiciel Stress de Malvern Panalytical est dédié à l'analyse par diffraction des rayons X (XRD) de la contrainte résiduelle. Les valeurs sont calculées en fonction de la méthode simple-{hkl} sin²ψ bien connue. Les valeurs par défaut configurables par l'utilisateur et le recalcul instantané des résultats en fonction d'un changement des paramètres d'entrée rendent Stress idéal pour les applications d'analyse de routine et de recherche.

Télécharger la brochure
Demander un devis Demander une démonstration Contact commercial

Fonctionnalités

L'analyse de contrainte simple-{hkl} sin²ψ classique la plus complète

Le logiciel effectue une analyse des contraintes résiduelles sin²ψ en utilisant les techniques classiques de contrainte unidirectionnelle et multidirectionnelle (tenseur de contrainte totale). Les techniques de mesure de contrainte chi et de contrainte oméga sont intégrées.

Interface utilisateur intuitive, analyse automatique

Stress calcule instantanément tous les résultats intermédiaires et les données de contrainte finales. L'influence de tous les paramètres est donc directement reflétée dans le résultat final, ce qui permet aux utilisateurs novices et experts de juger directement l'influence des changements dans le résultat provenant, par exemple, de la détermination de la position de pic ou de l'application de corrections. 

Le logiciel Stress est fourni avec une aide en ligne complète et un guide de démarrage rapide. 

Les valeurs par défaut configurables par l'utilisateur et le recalcul instantané des résultats en fonction d'un changement des paramètres d'entrée rendent Stress idéal pour les applications d'analyse de routine et de recherche. L'analyse des contraintes résiduelles peut être entièrement automatisée selon des stratégies prédéfinies à l'aide du programme de traitement automatique inclus dans le logiciel Data Collector.

Base de données des constantes élastiques

Une base de données XEC dédiée contient plus de 400 entrées vérifiées sauvegardées avec des références documentaires et une calculatrice XEC intégrée. La récupération des données est possible pour les constantes élastiques isotropes, les constantes élastiques des rayons X et les constantes élastiques monocristiques.

Résultats fiables

Le logiciel Stress contient des routines permettant de traiter les désalignements mineurs et les précisions limitées du matériel. Les désalignements mineurs sont analysés sur la base de mesures effectuées sur un échantillon sans contrainte et peuvent être utilisés pour appliquer les corrections correspondantes dans l'analyse d'échantillons inconnus. Le processus complet est expliqué dans le système d'aide du logiciel.  

Spécifications

Systèmes de mesure 

Les systèmes suivants peuvent être utilisés pour la collecte et le stockage des données de contrainte :

  • Empyrean avec Data Collector 4.0 et version supérieure
  • X'Pert PRO avec X'Pert Data Collector 1.3 ou 2.0 et version supérieure
  • X'Pert³ avec la dernière version de Data Collector 4.3 et version supérieure

Configuration système recommandée

Conçu pour les systèmes d'exploitation Windows 8.1 (64 bits) et Windows 10 (64 bits) option Current Branch for Business.

Une configuration PC correspondant à la configuration matérielle minimale requise pour le système d'exploitation Windows souhaité sera suffisante.

Version actuelle 3,0