Aeris Guía de usuario
Numéro de version: 8
Améliorez la qualité du ciment et le contrôle des processus grâce à une analyse Aeris XRD rapide et fiable. Apprendre encore plus
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L'Édition Cement d'Aeris sonde directement la composition minéralogique du ciment et de ses intermédiaires.
Ces informations minéralogiques vous permettent de juger les propriétés physiques pour mieux contrôler le four, notamment lors de l'utilisation de combustibles de substitution.
L'assurance de la qualité des ciments (mélangés) s'en trouve en outre facilitée. L'Édition Cement d'Aeris est un diffractomètre à rayons X pour paillasse facile d'utilisation et automatisable pour toutes les usines de ciment.
La résistance du ciment, ses propriétés de prise et d'hydratation ainsi que sa résistance chimique sont directement liées à la minéralogie du ciment. La diffraction des rayons X est la méthode de sondage direct de ces minéraux dans le ciment, ce qui permet une meilleure prédiction des propriétés physiques du produit final même dans la phase de production et favorise un processus de production plus efficace et plus écologique.
L'Édition Cement d'Aeris est votre partenaire à chaque étape du processus de production de ciment, du cru au produit final en passant par le clinker et le ciment (mélangé).
L'analyse rapide minimise les boucles de rétroaction et permet une intervention précoce pour l'optimisation des processus. Le temps d'analyse standard pour le clinker ou le ciment est de seulement 5 minutes.
Le temps de fonctionnement de l'équipement d'analyse est la clé d'un contrôle de procédé fiable. Aeris a été conçu dès le départ pour garantir un temps de fonctionnement maximal.
Le diffractomètre à rayons X le plus intuitif. Avec l'écran tactile intégré, vos résultats sont toujours accessibles en quelques tapotements :
| Chargement d'échantillon | Chargement externe de l'échantillon |
|---|---|
| Sample holders | Chargement externe de l'échantillon |
| Changement d'échantillon | Choisissez entre une station de chargement manuelle, un passeur d'échantillons à 6 positions ou un passeur d'échantillons haute capacité à 67 positions
|
| Automatisation | Compatible avec l'intégration de l'automatisation |
| Longueur d'onde | Cu |
|---|---|
| Tube setting | Options de 300 W à 600 W réglé sur 30 kV ou 40 kV |
| Tube housing | Conception brevetée avec technologie de trajectoire intelligente du faisceau incident résistante à la corrosion (CRISP)
La technologie CRISP empêche la corrosion dans la trajectoire du faisceau incident causée par l'air ionisé par les rayons X. Brevet n°US 8437451 B2.
|
| Base configuration | Goniomètre vertical, couplé et découplé θ-θ, échantillons toujours horizontaux |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmission, incidence rasante |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2 θ ≤ 142° (avec détecteur à balayage et pleine longueur active) |
| Angle positioning | Système de positionnement optique direct (DOPS3) avec précision de la position à vie |
| Scan Speed | 2,17°/s max |
| Résolution | < 0,04° 2 θ sur LaB6 (avec fentes Soller de 0,01 de rayon) |
| 2θ linearity | < 0,04° 2 θ |
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Divers supports tournants |
|---|---|
| Non-ambient | Option support chauffant (BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | Échange de supports PreFIX sans alignement |
| Special stages | Sur demande (manuel, MPSS, in situ) |
| Détecteur | Choix entre les détecteurs PIXcel1D et 1Der |
| Dimensions | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Système fermé avec chargement externe des échantillons |
| External cooling water supply | Inutile |
| Compressed air supply | Inutile |
| Alimentation électrique | 100 – 240 V, monophasé |
| Ordinateur | PC de l'instrument interne |
| Operation | Interface utilisateur intuitive avec écran tactile de 10,4 po |
| Interface | LAN, USB, HDMI |
Polyvalence et clarté des données ultimes dans la détection 1D
Technologie Medipix comme détecteur de bande dédié
Approche de figure complète pour l'identification de phase et bien plus encore
L'outil idéal pour l'analyse cristallographique et bien plus encore
Bases de données de référence
Votre nouvelle solution pour l'analyse XRD sans surveillance à haut débit
Pour une grande stabilité de positionnement du foyer
La norme mondiale en matière de diffraction des rayons X
Numéro de version: 8
Numéro de version: 8
Numéro de version: 6
Numéro de version: 7
Numéro de version: 8
Numéro de version: 8
Numéro de version: 8
Numéro de version: 2
Numéro de version: 4
Numéro de version: 3
Numéro de version: 2
Numéro de version: 4
Numéro de version: 2
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.
Service à vie
Ajout de valeur à vos procédés
L'Édition Cement d'Aeris sonde directement la composition minéralogique du ciment et de ses intermédiaires.
Ces informations minéralogiques vous permettent de juger les propriétés physiques pour mieux contrôler le four, notamment lors de l'utilisation de combustibles de substitution.
L'assurance de la qualité des ciments (mélangés) s'en trouve en outre facilitée. L'Édition Cement d'Aeris est un diffractomètre à rayons X pour paillasse facile d'utilisation et automatisable pour toutes les usines de ciment.
La résistance du ciment, ses propriétés de prise et d'hydratation ainsi que sa résistance chimique sont directement liées à la minéralogie du ciment. La diffraction des rayons X est la méthode de sondage direct de ces minéraux dans le ciment, ce qui permet une meilleure prédiction des propriétés physiques du produit final même dans la phase de production et favorise un processus de production plus efficace et plus écologique.
L'Édition Cement d'Aeris est votre partenaire à chaque étape du processus de production de ciment, du cru au produit final en passant par le clinker et le ciment (mélangé).
L'analyse rapide minimise les boucles de rétroaction et permet une intervention précoce pour l'optimisation des processus. Le temps d'analyse standard pour le clinker ou le ciment est de seulement 5 minutes.
Le temps de fonctionnement de l'équipement d'analyse est la clé d'un contrôle de procédé fiable. Aeris a été conçu dès le départ pour garantir un temps de fonctionnement maximal.
Le diffractomètre à rayons X le plus intuitif. Avec l'écran tactile intégré, vos résultats sont toujours accessibles en quelques tapotements :
| Chargement d'échantillon | Chargement externe de l'échantillon |
|---|---|
| Sample holders | Chargement externe de l'échantillon |
| Changement d'échantillon | Choisissez entre une station de chargement manuelle, un passeur d'échantillons à 6 positions ou un passeur d'échantillons haute capacité à 67 positions
|
| Automatisation | Compatible avec l'intégration de l'automatisation |
| Longueur d'onde | Cu |
|---|---|
| Tube setting | Options de 300 W à 600 W réglé sur 30 kV ou 40 kV |
| Tube housing | Conception brevetée avec technologie de trajectoire intelligente du faisceau incident résistante à la corrosion (CRISP)
La technologie CRISP empêche la corrosion dans la trajectoire du faisceau incident causée par l'air ionisé par les rayons X. Brevet n°US 8437451 B2.
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| Base configuration | Goniomètre vertical, couplé et découplé θ-θ, échantillons toujours horizontaux |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmission, incidence rasante |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2 θ ≤ 142° (avec détecteur à balayage et pleine longueur active) |
| Angle positioning | Système de positionnement optique direct (DOPS3) avec précision de la position à vie |
| Scan Speed | 2,17°/s max |
| Résolution | < 0,04° 2 θ sur LaB6 (avec fentes Soller de 0,01 de rayon) |
| 2θ linearity | < 0,04° 2 θ |
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Divers supports tournants |
|---|---|
| Non-ambient | Option support chauffant (BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | Échange de supports PreFIX sans alignement |
| Special stages | Sur demande (manuel, MPSS, in situ) |
| Détecteur | Choix entre les détecteurs PIXcel1D et 1Der |
| Dimensions | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Système fermé avec chargement externe des échantillons |
| External cooling water supply | Inutile |
| Compressed air supply | Inutile |
| Alimentation électrique | 100 – 240 V, monophasé |
| Ordinateur | PC de l'instrument interne |
| Operation | Interface utilisateur intuitive avec écran tactile de 10,4 po |
| Interface | LAN, USB, HDMI |
Polyvalence et clarté des données ultimes dans la détection 1D
Technologie Medipix comme détecteur de bande dédié
Approche de figure complète pour l'identification de phase et bien plus encore
L'outil idéal pour l'analyse cristallographique et bien plus encore
Bases de données de référence
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Pour une grande stabilité de positionnement du foyer
La norme mondiale en matière de diffraction des rayons X
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