Diffractomètre à rayons X pour paillasse Aeris Édition Cement

Aperçu

L'Édition Cement d'Aeris sonde directement la composition minéralogique du ciment et de ses intermédiaires.

Ces informations minéralogiques vous permettent de juger les propriétés physiques pour mieux contrôler le four, notamment lors de l'utilisation de combustibles de substitution.

L'assurance de la qualité des ciments (mélangés) s'en trouve en outre facilitée. L'Édition Cement d'Aeris est un diffractomètre à rayons X pour paillasse facile d'utilisation et automatisable pour toutes les usines de ciment.

Plus écologique et plus efficace

La résistance du ciment, ses propriétés de prise et d'hydratation ainsi que sa résistance chimique sont directement liées à la minéralogie du ciment. La diffraction des rayons X est la méthode de sondage direct de ces minéraux dans le ciment, ce qui permet une meilleure prédiction des propriétés physiques du produit final même dans la phase de production et favorise un processus de production plus efficace et plus écologique.

L'Édition Cement d'Aeris est votre partenaire à chaque étape du processus de production de ciment, du cru au produit final en passant par le clinker et le ciment (mélangé).

Fonctionnalités

Intégration harmonieuse dans l'automatisation

Le seul diffractomètre de paillasse automatisable pour une cadence d'analyse élevée: Aeris peut être connecté à une courroie ou un robot pour un traitement rapide et automatisé des échantillons
La puissance de la combinaison technologique: La solution jumelle alliant Aeris et Zetium fournit une caractérisation complète des matériaux en ajoutant des informations sur la composition élémentaire (déterminée par Zetium) à l'identification de phase effectuée par Aeris
Porte-échantillons étalons adaptés à vos besoins: Ensemble de porte-échantillons 51,5 mm / Porte-échantillons 40 mm

Analyse rapide, temps de fonctionnement maximal

L'analyse rapide minimise les boucles de rétroaction et permet une intervention précoce pour l'optimisation des processus. Le temps d'analyse standard pour le clinker ou le ciment est de seulement 5 minutes.

Le temps de fonctionnement de l'équipement d'analyse est la clé d'un contrôle de procédé fiable. Aeris a été conçu dès le départ pour garantir un temps de fonctionnement maximal.

Solide et résistant

Conception robuste : Le seul instrument XRD pour paillasse avec chargement externe d'échantillons, pour une protection antipoussière ultime du cœur de l'instrument
Besoins minimums en infrastructure : Pas d'eau de refroidissement, pas de refroidisseur, pas d'air comprimé : la seule chose dont vous ayez besoin est une prise électrique à phase unique
Adapté aux besoins de l'industrie : Compatible avec toutes les normes communes de l'industrie, des protocoles d'interfaçage LIMS aux porte-échantillons conformes aux normes de l'industrie

Simple d'utilisation

Le diffractomètre à rayons X le plus intuitif. Avec l'écran tactile intégré, vos résultats sont toujours accessibles en quelques tapotements :

Placez votre échantillon
Sélectionnez le programme de mesure
Affichez les résultats

Diffraction des rayons X avec Aeris Cement et 1Der

Spécifications

Manipulation des échantillons

Chargement d'échantillon	Chargement externe de l'échantillon
	Chargement externe de l'échantillon
Changement d'échantillon	Choisissez entre une station de chargement manuelle, un passeur d'échantillons à 6 positions ou un passeur d'échantillons haute capacité à 67 positions
Automatisation	Compatible avec l'intégration de l'automatisation

Génération de rayons X

Longueur d'onde	Cu
	Options de 300 W à 600 W réglé sur 30 kV ou 40 kV
	Conception brevetée avec technologie de trajectoire intelligente du faisceau incident résistante à la corrosion (CRISP) La technologie CRISP empêche la corrosion dans la trajectoire du faisceau incident causée par l'air ionisé par les rayons X. Brevet n°US 8437451 B2.

Goniomètre

Base configuration	Goniomètre vertical, couplé et découplé θ-θ, échantillons toujours horizontaux
	Bragg-Brentano, transmission, incidence rasante
	145 mm
	-4° < 2 θ ≤ 142° (avec détecteur à balayage et pleine longueur active)
	Système de positionnement optique direct (DOPS3) avec précision de la position à vie
	2,17°/s max
Résolution	< 0,04° 2 θ sur LaB6 (avec fentes Soller de 0,01 de rayon)
	< 0,04° 2 θ
	0,001 °

Supports et détecteurs

	Divers supports tournants
	Option support chauffant (BTS-500, BTS-150)
	Échange de supports PreFIX sans alignement
	Sur demande (manuel, MPSS, in situ)
Détecteur	Choix entre les détecteurs PIXcel1D et 1Der

Général

Dimensions	690 x 770 x 786 mm
	Système fermé avec chargement externe des échantillons
	Inutile
	Inutile
Alimentation électrique	100 – 240 V, monophasé
Ordinateur	PC de l'instrument interne
Operation	Interface utilisateur intuitive avec écran tactile de 10,4 po
Interface	LAN, USB, HDMI